一種厚度測(cè)量系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及計(jì)量技術(shù)，特別是涉及一種厚度測(cè)量系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]現(xiàn)有的厚度測(cè)量方式之一是采用X射線測(cè)厚儀，由于X射線的輸出功率和穿透力是成正比的，所以要想穿透比重密度越大的被測(cè)物質(zhì)其輸出功率也就越大，這就導(dǎo)致在一些被測(cè)物比重很大的情況下，需要使用輸出功率大的X射線才能夠穿透被測(cè)物從而有效的進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和測(cè)量。
[0003]X射線的輸出功率過(guò)大時(shí)會(huì)對(duì)操作者產(chǎn)生危害，因?yàn)殚L(zhǎng)時(shí)間大劑量的X照射生物死亡率可以達(dá)到100%，但是如果為了安全降低其輸出功率(國(guó)家環(huán)保局有相關(guān)規(guī)定)則無(wú)法達(dá)到正常檢測(cè)量程的目地。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型提供一種厚度測(cè)量系統(tǒng)，該系統(tǒng)既能保證被測(cè)產(chǎn)品的精度，也能降低X射線輻射。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:一種厚度測(cè)量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測(cè)量裝置，其中至少有I組測(cè)量裝置為X射線測(cè)量裝置，X射線測(cè)量裝置為小量程測(cè)量裝置。各測(cè)量裝置分別對(duì)被測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量。至少兩組的測(cè)量裝置按照現(xiàn)有技術(shù)的方式安裝在被測(cè)產(chǎn)品旁，各測(cè)量裝置之間不連接。各測(cè)量裝置獲得的測(cè)量數(shù)據(jù)，選取與測(cè)量裝置測(cè)量量程對(duì)應(yīng)測(cè)量數(shù)據(jù)為被測(cè)產(chǎn)品的厚度數(shù)據(jù)。
[0006]所述厚度測(cè)量系統(tǒng)具有I組X射線測(cè)量裝置。
[0007]所述非X射線測(cè)量裝置采用電磁測(cè)量裝置或激光測(cè)量裝置。
[0008]所述X射線測(cè)量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
[0009]所述厚度測(cè)量系統(tǒng)測(cè)量的被測(cè)產(chǎn)品是是在加工過(guò)程中厚度逐漸降低的產(chǎn)品。
[0010]所述X射線測(cè)量裝置包括高壓電源、X射線裝置光管和電離室，高壓電源與X射線裝置光管電連接，電離室接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線。
[0011]所述厚度測(cè)量系統(tǒng)還包括控制器和顯示裝置，控制器根據(jù)不同測(cè)量裝置的測(cè)量范圍選取相應(yīng)落入測(cè)量范圍的測(cè)量值顯示在顯示裝置。由于X射線測(cè)量裝置的量程范圍較小，因此在加工過(guò)程中，控制器根據(jù)加工產(chǎn)品的厚度范圍確定該范圍落入哪一組測(cè)量裝置的測(cè)量范圍，從而選取該組測(cè)量裝置測(cè)量的數(shù)值進(jìn)行顯示。保證了顯示的測(cè)量數(shù)值的精度。
[0012]本實(shí)用新型采用至少2組測(cè)量裝置，其中至少I(mǎi)組是X射線測(cè)量裝置(X射線測(cè)量裝置是現(xiàn)有技術(shù)中用于厚度測(cè)量的X射線測(cè)量裝置，包括X光管，高壓電源以及X射線強(qiáng)度感應(yīng)器等(X射線強(qiáng)度感應(yīng)器是指電離室、固態(tài)電離室或者能夠感應(yīng)X射線強(qiáng)度的相關(guān)裝置))。由于采用了 I組X射線測(cè)量裝置，就保證了最終產(chǎn)品測(cè)量的精度，因?yàn)樵摻MX射線測(cè)量裝置的作用是專門(mén)針對(duì)測(cè)量的厚度值以及測(cè)量的范圍比較小時(shí)，這個(gè)時(shí)候可以滿足很高的測(cè)量精度；其X射線測(cè)量裝置的工作原理就是利用X光管工作在一個(gè)固定的輸出功率下其最佳測(cè)量范圍也是相對(duì)固定的這一個(gè)特性，而本實(shí)用新型利用了該特性，只使用X射線測(cè)量裝置測(cè)量其最佳測(cè)量范圍的厚度，其輸出功率也就較小，減少了輻射，同時(shí)保證了成品的精度。而較大厚度范圍則采用其它厚度測(cè)量裝置進(jìn)行測(cè)量。本實(shí)用新型在整個(gè)產(chǎn)品加工過(guò)程，比如軋鋼過(guò)程中，既保證了最終產(chǎn)品的測(cè)量精度，也降低了 X射線測(cè)量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒(méi)有測(cè)量量程的限制，對(duì)產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
[0013]采用本實(shí)用新型的測(cè)量厚度的系統(tǒng)，當(dāng)被測(cè)物的厚度在較大量程裝置的測(cè)量范圍時(shí)，控制器使用和顯示的是較大量程測(cè)量裝置測(cè)量獲得一組數(shù)據(jù)，當(dāng)被測(cè)物的厚度變化到較大量程裝置的測(cè)量下限但又進(jìn)入較小量程測(cè)量裝置的量程上限時(shí)，控制器使用和顯示較小量程裝置測(cè)量獲得一組數(shù)據(jù)。如果實(shí)際需要測(cè)量范圍更大可以采用更多組的測(cè)量裝置進(jìn)行多段測(cè)量已完成實(shí)際測(cè)量需求。
【附圖說(shuō)明】
[0014]圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例中的厚度測(cè)量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖并以實(shí)施例的方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)描述。
[0016]如圖1所示，本實(shí)用新型的厚度測(cè)量系統(tǒng)包括兩組厚度測(cè)量裝置，一組由高壓電源l、x射線裝置光管2、電離室3等構(gòu)成的X射線測(cè)量裝置，高壓電源I與X射線裝置光管2電連接，電離室3接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線.一組為電磁傳感器4和電磁傳感器5組成的電磁測(cè)量裝置，X射線測(cè)量裝置的測(cè)量量程小于電磁測(cè)量裝置的測(cè)量量程。X射線測(cè)量裝置的輸出功率與被測(cè)產(chǎn)品的最終厚度相匹配，也就是以產(chǎn)品最終厚度的范圍來(lái)確定X射線測(cè)量裝置的最佳測(cè)量量程范圍。電磁裝置也可以更換為激光裝置。兩組厚度測(cè)量裝置分別與控制器(圖中未顯示)連接，控制器讀取兩組厚度測(cè)量裝置的測(cè)量數(shù)據(jù)，根據(jù)被測(cè)產(chǎn)品的厚度選取對(duì)應(yīng)在某一測(cè)量裝置最佳測(cè)量范圍的測(cè)量裝置測(cè)量的數(shù)值顯示在顯示裝置上并用于加工程序中。
[0017]被測(cè)產(chǎn)品6在實(shí)際生產(chǎn)環(huán)節(jié)中是由厚變薄的，比如軋鋼，原料厚度達(dá)到(3.5毫米)，最終成品厚度(0.1毫米?0.5毫米)，因此本實(shí)用新型為了降低X射線測(cè)量裝置的輻射，采用了兩組測(cè)量裝置，其實(shí)際測(cè)量過(guò)程是由厚(既大量程大變化量)到薄(小量程微變化量)轉(zhuǎn)變的，首先用電磁裝置作為大量程測(cè)量使用，兩組測(cè)量裝置采用控制器來(lái)連接并控制切換，當(dāng)加工過(guò)程中被測(cè)產(chǎn)品的厚度還在一個(gè)大量程范圍時(shí)，獲取電磁裝置的測(cè)量數(shù)據(jù)并顯示厚度讀數(shù)；當(dāng)加工到被測(cè)產(chǎn)品的厚度進(jìn)入X射線測(cè)量裝置的量程范圍時(shí)，控制器獲取X射線測(cè)量裝置的測(cè)量數(shù)值并顯示顯示該厚度讀數(shù)。本實(shí)用新型能夠保證其最終被測(cè)產(chǎn)品的測(cè)量精度更高的同時(shí)而且不會(huì)受到厚度上限的影響，還大大降低了輻射強(qiáng)度即做到了超低的輻射標(biāo)準(zhǔn)又做到了不管被測(cè)物被測(cè)厚度多厚其上限是多少都不影響最終成品的測(cè)量精度。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種厚度測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，包括至少兩組具有不同量程范圍的測(cè)量裝置，還包括控制器和顯示裝置，控制器分別與各組測(cè)量裝置連接，控制器與顯示器連接，控制器根據(jù)不同測(cè)量裝置的測(cè)量范圍選取相應(yīng)落入測(cè)量范圍的測(cè)量值顯示在顯示裝置上；其中至少有I組測(cè)量裝置為X射線測(cè)量裝置，X射線測(cè)量裝置為小量程測(cè)量裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述厚度測(cè)量系統(tǒng)具有I組X射線測(cè)量裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，非X射線測(cè)量裝置采用電磁測(cè)量裝置或激光測(cè)量裝置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述X射線測(cè)量裝置的輸出功率與最終產(chǎn)品的厚度相匹配。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的厚度測(cè)量系統(tǒng)，其特征在于，所述X射線測(cè)量裝置包括高壓電源、X射線裝置光管和電離室，高壓電源與X射線裝置光管電連接，電離室接收X射線裝置光管發(fā)射的X射線。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種厚度測(cè)量系統(tǒng)，包括至少兩組具有不同量程范圍的測(cè)量裝置，其中至少有1組測(cè)量裝置為X射線測(cè)量裝置，X射線測(cè)量裝置為小量程測(cè)量裝置。本實(shí)用新型采用至少2組測(cè)量裝置，其中至少1組是X射線測(cè)量裝置，既保證了最終產(chǎn)品的測(cè)量精度，也降低了X射線測(cè)量裝置的輸出功率，減少了輻射，也沒(méi)有測(cè)量量程的限制，對(duì)產(chǎn)品加工提供了更佳的控制。
【IPC分類】G01B7-06, G01B11-06, G01B15-02
【公開(kāi)號(hào)】CN204286384
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420615640
【發(fā)明人】趙剛
【申請(qǐng)人】北京市東方瀚釔科技有限公司
【公開(kāi)日】2015年4月22日
【申請(qǐng)日】2014年10月22日