一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于電子元件測試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)代電控技術(shù)領(lǐng)域?qū)Ω哳l高壓整流的使用越來越多，如X射線檢測設(shè)備，這些設(shè)備的高頻高壓整流多數(shù)是用多個高頻高壓整流二極管串接而成；在使用中發(fā)現(xiàn)，在多個串接的高頻高壓整流二極管中，反向恢復(fù)時間快的高頻高壓整流二極管容易損壞，這樣就必須對所購買的高頻高壓整流二極管進(jìn)行分類篩選，而篩選時的測試條件要符合產(chǎn)品的使用條件。目前，國內(nèi)無法對U型器件在大電流、快恢復(fù)測試條件的特殊條件下進(jìn)行反向恢復(fù)時間測試。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]為解決上述技術(shù)問題，本實用新型提供了一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置。
[0004]本實用新型通過以下技術(shù)方案得以實現(xiàn)。
[0005]本實用新型提供的一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，包括控制回路、信號源、測試采樣回路和示波器；所述控制回路的信號輸出端與信號源的信號輸入端連接，所述信號源的信號輸出端與被測器件D的正極連接，所述被測器件D的負(fù)極通過測試采樣回路與示波器的信號輸入端連接。
[0006]所述控制回路包括電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2，所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2分別直接與信號源的輸入端連接。
[0007]所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2均設(shè)置于測試盒內(nèi)。
[0008]所述光控開關(guān)K2為高精度光控開關(guān)。
[0009]所述測試采樣回路包括電阻Rl和電阻R2，所述電阻Rl和電阻R2的一端相連并與被測器件D的負(fù)極連接，所述電阻Rl的另一端接地，電阻R2的另一端與示波器的信號輸入端連接。
[0010]所述測試采樣回路設(shè)置于測試盒內(nèi)。
[0011]本實用新型的有益效果在于:利用該測試電路對U型器件在大電流、快恢復(fù)測試條件的特殊條件下進(jìn)行反向恢復(fù)時間測試，根據(jù)實際的測試結(jié)果，器件的反向恢復(fù)時間測試值在規(guī)定范圍內(nèi)，測試盒產(chǎn)生的振蕩、測試波型都與國外同類測試盒基本一致，滿足測試元器件的測試目的，測試電路簡單，易于制作且測試方便。
【附圖說明】
[0012]圖1是本實用新型的原理框圖；
[0013]圖2是圖1的電路圖。
【具體實施方式】
[0014]下面進(jìn)一步描述本實用新型的技術(shù)方案，但要求保護(hù)的范圍并不局限于所述。
[0015]如圖1和圖2所示的一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，包括控制回路、信號源、測試采樣回路和示波器；所述控制回路的信號輸出端與信號源的信號輸入端連接，所述信號源的信號輸出端與被測器件D的正極連接，所述被測器件D的負(fù)極通過測試采樣回路與示波器的信號輸入端連接。設(shè)置在測試盒內(nèi)的控制回路將控制信號提供給信號源，打開軟件控制開關(guān)、保證信號源正常輸出。
[0016]所述控制回路包括電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2，所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2分別直接與信號源的輸入端連接。所述光控開關(guān)K2為高精度光控開關(guān)。
[0017]所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2均設(shè)置于測試盒內(nèi)，所述測試采樣回路設(shè)置于測試盒內(nèi)。
[0018]所述測試采樣回路包括電阻Rl和電阻R2，所述電阻Rl和電阻R2的一端相連并與被測器件D的負(fù)極連接，所述電阻Rl的另一端接地，電阻R2的另一端與示波器的信號輸入端連接。
[0019]利用國有設(shè)計技術(shù)、國有器件與國外進(jìn)口器件相結(jié)合，先進(jìn)的設(shè)計理念，解決原國有器件在此類測試上達(dá)不到國外器件同等水平的問題，在同類測試盒中，測試數(shù)據(jù)優(yōu)于國外測試盒。U型封裝整流二極管反向恢復(fù)時間測試盒，主要含從信號源輸出到示波器檢測的前端全套，集合在一個測試盒內(nèi)，含測試線路、對應(yīng)信號源測試用開關(guān)檢測線路、高頻電纜及夾具的制作。測試原理，符合MIL-STD-750E-METH0D4031標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)規(guī)定。
[0020]基于反向恢復(fù)時間的測試原理及方式方法，信號源提供根據(jù)測試條件給出的電流或電壓信號，施加在被測器件D上，由電阻Rl及電阻R2組成的測試采樣回路，以原始信號進(jìn)入示波器中顯示并讀取。電控開關(guān)Kl及高精度光控開關(guān)K2控制信號源正常輸出信號。測試盒產(chǎn)生的振蕩、測試波型都與國外同類測試盒基本一致，前沿小于國外同類測試盒。
[0021]利用該測試電路對U型器件在大電流、快恢復(fù)測試條件的特殊條件下進(jìn)行反向恢復(fù)時間測試，根據(jù)實際的測試結(jié)果，器件的反向恢復(fù)時間測試值在規(guī)定范圍內(nèi)，測試盒產(chǎn)生的振蕩、測試波型都與國外同類測試盒基本一致，滿足測試元器件的測試目的，測試電路簡單，易于制作且測試方便。
【主權(quán)項】
1.一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，包括控制回路、信號源、測試采樣回路和示波器，其特征在于:所述控制回路的信號輸出端與信號源的信號輸入端連接，所述信號源的信號輸出端與被測器件D的正極連接，所述被測器件D的負(fù)極通過測試采樣回路與示波器的信號輸入端連接。
2.如權(quán)利要求1所述的整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，其特征在于:所述控制回路包括電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2，所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2分別直接與信號源的輸入端連接。
3.如權(quán)利要求2所述的整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，其特征在于:所述電控開關(guān)Kl和光控開關(guān)K2均設(shè)置于測試盒內(nèi)。
4.如權(quán)利要求2或3所述的整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，其特征在于:所述光控開關(guān)K2為尚精度光控開關(guān)。
5.如權(quán)利要求1所述的整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，其特征在于:所述測試采樣回路包括電阻Rl和電阻R2，所述電阻Rl和電阻R2的一端相連并與被測器件D的負(fù)極連接，所述電阻Rl的另一端接地，電阻R2的另一端與示波器的信號輸入端連接。
6.如權(quán)利要求1或5所述的整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，其特征在于:所述測試采樣回路設(shè)置于測試盒內(nèi)。
【專利摘要】本實用新型提供了一種整流器件反向恢復(fù)時間測試裝置，包括控制回路、信號源、測試采樣回路和示波器；所述控制回路的信號輸出端與信號源的信號輸入端連接，所述信號源的信號輸出端與被測器件D的正極連接，所述被測器件D的負(fù)極通過測試采樣回路與示波器的信號輸入端連接。本實用新型利用該測試電路對U型器件在大電流、快恢復(fù)測試條件的特殊條件下進(jìn)行反向恢復(fù)時間測試，根據(jù)實際的測試結(jié)果，器件的反向恢復(fù)時間測試值在規(guī)定范圍內(nèi)，測試盒產(chǎn)生的振蕩、測試波型都與國外同類測試盒基本一致，滿足測試元器件的測試目的，測試電路簡單，易于制作且測試方便。
【IPC分類】G01R31-26
【公開號】CN204302445
【申請?zhí)枴緾N201420847539
【發(fā)明人】許秀群, 劉海洋, 朱芝友, 朱以東, 付立榮, 段天敏
【申請人】中國振華集團(tuán)永光電子有限公司（國營第八七三廠）
【公開日】2015年4月29日
【申請日】2014年12月26日