C2的兩端。晶體三極管Q18,其基極經(jīng)電阻R35接微處理器的輸出端Koutl,其發(fā)射極接地,其基極與發(fā)射極之間連有電阻R34。電容XC2,其上端連接測(cè)試儀工作電源的火線L,其下端連接主控板的第一輸出接口 Kl。第一輸出接口 Kl對(duì)應(yīng)的公共端口 COM接測(cè)試儀工作電源的零線N。
[0029]如圖5所示,第二控制輸出電路包括二極管D12、電子繼電器Relay5、電容XC3、電阻R43、電阻R42和晶體三極管Q19。二極管D12,其陰極接12V電源信號(hào),其陽(yáng)極接晶體管Q19的集電極。電子繼電器Relay5,其輸入端并聯(lián)在二極管D12的兩端,其輸出端并聯(lián)在電容XC3的兩端。晶體三極管Q19,其基極經(jīng)電阻R43接微處理器的輸出端Kout2,其發(fā)射極接地,其基極與發(fā)射極之間連有電阻R42。電容XC3,其上端連接測(cè)試儀工作電源的火線L,其下端連接主控板的第二輸出接口 K2。第二輸出接口 K2對(duì)應(yīng)的公共端口 COM接測(cè)試儀工作電源的零線N。
[0030]如圖6所示,第三控制輸出電路包括二極管D13、電子繼電器Relay6、電容XC4、電阻R50、電阻R48和晶體三極管Q20。二極管D13,其陰極接12V電源信號(hào),其陽(yáng)極接晶體管Q20的集電極。電子繼電器Relay6,其輸入端并聯(lián)在二極管D13的兩端,其輸出端并聯(lián)在電容XC4的兩端。晶體三極管Q20,其基極經(jīng)電阻R50接微處理器的輸出端BreakPower,其發(fā)射極接地,其基極與發(fā)射極之間連有電阻R48。電容XC4,其上端連接測(cè)試儀工作電源的火線L,其下端連接主控板的第三輸出接口 K3。第二輸出接口 K3對(duì)應(yīng)的公共端口 COM接測(cè)試儀工作電源的零線N。
[0031]進(jìn)一步的,如圖1所示,所述的插拔模擬測(cè)試電路2包括用于控制被測(cè)設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件Relayl。第一開關(guān)器件Relayl,其控制端接主控板的第一輸出接口 Kl和公共端COM ;其輸入端接被測(cè)設(shè)備工作電源的火線L-EUT與零線N-EUT ;其輸出端分別與被測(cè)設(shè)備4、電容沖擊模擬測(cè)試電路3的輸入端相連。在實(shí)際使用過(guò)程中,要根據(jù)被測(cè)設(shè)備的電壓及功率等級(jí)來(lái)確定第一開關(guān)器件Relayl的參數(shù)。
[0032]進(jìn)一步的,如圖1所示,所述的電容沖擊模擬測(cè)試電路3包括開關(guān)器件、沖擊電容Cl和放電電阻R1。根據(jù)需要的沖擊電流大小確定沖擊電容的參數(shù),根據(jù)放電快慢確定放電電阻的阻值及功率大小。所述的開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件Relay2和用于控制放電電阻通斷的第二開關(guān)器件Relay3。第二開關(guān)器件Relay2,其控制端接主控板的第二輸出接口 K2和公共端COM ;其輸入端分別與第一開關(guān)器件Relayl的輸出端、被測(cè)設(shè)備的輸入端相連;其輸出端并聯(lián)在沖擊電容Cl兩端。如圖1所示,放電電阻Rl與第三開關(guān)器件Relay3串聯(lián)后,再并聯(lián)在放電電容Cl的兩端。第三開關(guān)器件Relay3的控制端與主控板的第三輸出接口 K3及公共端COM相連。
[0033]本實(shí)用新型的工作原理為:
[0034]當(dāng)本實(shí)用新型進(jìn)行電源插拔模擬測(cè)試時(shí),通過(guò)第一控制輸出電路使第一開關(guān)器件Relayl通斷,同時(shí)通過(guò)第二控制輸出電路使第二開關(guān)器件Relay2保持關(guān)斷,從而實(shí)現(xiàn)被測(cè)設(shè)備的模擬電源插拔的測(cè)試。
[0035]當(dāng)本實(shí)用新型進(jìn)行電容沖擊模擬測(cè)試時(shí),通過(guò)第一控制輸出電路使第一開關(guān)器件Relayl始終為閉合狀態(tài),再通過(guò)第二控制輸出電路控制沖擊電容Cl的投入與切除,同時(shí)通過(guò)第三控制輸出電路控制放電電阻的通斷。當(dāng)沖擊電容Cl投入時(shí),放電電阻Rl關(guān)斷;當(dāng)沖擊電容Cl切除時(shí),放電電阻Rl閉合,保證電容沖擊效果。
[0036]當(dāng)本實(shí)用新型未進(jìn)行任何模擬測(cè)試時(shí),通過(guò)第三控制輸出電路使第三開關(guān)器件Relay3始終為閉合狀態(tài),使沖擊電容Cl的充電量為0,從而保證本實(shí)用新型及被測(cè)設(shè)備的安全。
[0037]以上所述的實(shí)施例僅僅是對(duì)本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式進(jìn)行描述,并非對(duì)本實(shí)用新型的范圍進(jìn)行限定,在不脫離本實(shí)用新型設(shè)計(jì)精神的前提下,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案作出的各種變形和改進(jìn),均應(yīng)落入本實(shí)用新型權(quán)利要求書確定的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗(yàn)的測(cè)試儀,其特征在于:包括主控板(1)、插拔模擬測(cè)試電路(2 )和電容沖擊模擬測(cè)試電路(3 ); 所述的主控板(I)包括微處理器(5)、顯示模塊電路(6)、調(diào)節(jié)控制電路(7)和控制輸出電路(8);所述的微處理器(5),其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路(7)的輸出端相連,其輸出端分別與顯示模塊電路(6)、控制輸出電路(8)的輸入端相連; 所述的插拔模擬測(cè)試電路(2)包括用于控制被測(cè)設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件; 所述的電容沖擊模擬測(cè)試電路(3)包括開關(guān)器件、沖擊電容和放電電阻;所述的開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件和用于控制放電電阻通斷的第三開關(guān)器件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗(yàn)的測(cè)試儀,其特征在于:所述的調(diào)節(jié)控制電路(7)包括用于控制投入時(shí)間的第一調(diào)節(jié)控制電路和用于控制斷開時(shí)間的第二調(diào)節(jié)控制電路;所述的第一調(diào)節(jié)控制電路和第二調(diào)節(jié)控制電路的電路結(jié)構(gòu)相同,均包括旋鈕開關(guān)Keyl、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容C2和電容C3。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗(yàn)的測(cè)試儀,其特征在于:所述的控制輸出電路(8)包括用于控制被測(cè)設(shè)備電源通斷的第一控制輸出電路、用于控制沖擊電容通斷的第二控制輸出電路和用于控制放電電阻通斷的第三控制輸出電路; 所述的第一控制輸出電路、第二控制輸出電路和第三控制輸出電路的電路結(jié)構(gòu)相同,均包括電子繼電器、二極管、電容、晶體三極管和電阻。
【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種模擬電源插拔及電容沖擊性試驗(yàn)的測(cè)試儀,包括主控板、插拔模擬測(cè)試電路和電容沖擊模擬測(cè)試電路。主控板包括微處理器、顯示模塊電路、調(diào)節(jié)控制電路和控制輸出電路。微處理器,其輸入端與調(diào)節(jié)控制電路的輸出端相連,其輸出端分別與顯示模塊電路、控制輸出電路的輸入端相連。插拔模擬測(cè)試電路包括用于控制被測(cè)設(shè)備電源通斷的第一開關(guān)器件。電容沖擊模擬測(cè)試模塊包括開關(guān)器件、沖擊電容和放電電阻。開關(guān)器件包括用于控制沖擊電容通斷的第二開關(guān)器件和用于控制放電電阻通斷的第三開關(guān)器件。該儀器能夠?qū)﹄娖髟O(shè)備進(jìn)行模擬電源插拔及電容沖擊性試驗(yàn),保證電器設(shè)備成品的工作穩(wěn)定性。
【IPC分類】G01R31-00
【公開號(hào)】CN204314392
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201420738035
【發(fā)明人】陳君, 張寶玉, 蔣大勇
【申請(qǐng)人】合肥市航嘉電子技術(shù)有限公司
【公開日】2015年5月6日
【申請(qǐng)日】2014年12月1日