一種非接觸式高度測量儀的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于測量工具技術領域，具體涉及一種非接觸式高度測量儀。
【背景技術】
[0002]測量物體高度、長度等尺寸時，最常用的量具是游標卡尺、千分尺、高度尺等，它們都屬于接觸式測量，對強度低的物體，比如陶瓷壓制生坯，接觸測量很容易對其造成損傷，所以，此種情況下非接觸測量很有必要。
[0003]激光具有直線性好、發(fā)散角小、能量集中等特點。激光檢測是一種非接觸式測量，具有精度高、測量范圍大、檢測時間短、空間分辨率高等特點。激光檢測技術應用已十分廣泛，如激光干涉測長、激光測距、激光測振、激光測速、激光散斑測量、激光全息、激光掃描、激光跟蹤、激光光譜分析等，這些都顯示了激光測量的巨大優(yōu)越性。隨著激光技術的發(fā)展，微型激光發(fā)生器的應用也日益普遍，激光測量的精度、便攜性都得到大大提高，使得利用激光進行非接觸檢測成為可能。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型的目的是克服現(xiàn)有技術的不足而提供一種非接觸測量的高度尺，該裝置在檢測強度低的物體尺寸時，可以避免接觸測量時造成的測量對象人為損傷。
[0005]為了達到上述目的，本實用新型采用如下技術方案:
[0006]本實用新型提供一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；在所述固定板與尺柱軌道之間設有與刻度尺尺柱相平行的激光發(fā)生器尺柱，激光發(fā)生器尺柱的上端嵌入固定板中，激光發(fā)生器尺柱的下端可拆卸安裝在尺柱軌道上；激光發(fā)生處理器通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器中的激光發(fā)生器尺柱上，在刻度尺尺柱上與激光發(fā)生處理器相對應位置連接有數(shù)顯裝置。
[0007]一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；激光發(fā)生處理器通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器中的刻度尺尺柱上。
[0008]所述尺柱軌道為橢圓環(huán)型凹槽。
[0009]與現(xiàn)有技術相比，本實用新型取得的有益效果:
[0010]本實用新型通過非接觸測量，可以避免對強度低物體的人為損傷，并可提高測量效率。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖之一；
[0012]圖中，1、底座，2、尺柱軌道，3、激光發(fā)生處理器，4、刻度尺尺柱，5、激光發(fā)生器尺柱，6、刻度數(shù)顯表；
[0013]圖2是本實用新型結(jié)構(gòu)示意圖之二 ；
[0014]圖中，1、底座，2、尺柱軌道，3、激光發(fā)生處理器，4、刻度尺尺柱；
[0015]圖3是兩種典型的激光光束形狀；
[0016]圖4是本實用新型實施示意圖之一；
[0017]圖5是本實用新型的實施示意圖之二。
【具體實施方式】
[0018]下面結(jié)合附圖對本實用新型進一步說明，本實用新型主要應用在低強度物體的高度測量，比如陶瓷制品壓制濕坯件。
[0019]實施例1
[0020]參照圖1所示，一種非接觸式高度測量儀，包括底座I和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4與底座I的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座I上開設的尺柱軌道2上，尺柱軌道2為橢圓環(huán)型凹槽；在固定板與尺柱軌道2之間設有與尺柱相平行的激光發(fā)生器尺柱5，激光發(fā)生器尺柱5的上端嵌入固定板中，激光發(fā)生器尺柱5的下端可拆卸安裝在尺柱軌道2上；激光發(fā)生處理器3通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器3中的激光發(fā)生器尺柱5上，在刻度尺尺柱4上與激光發(fā)生處理器相對應位置連接有刻度數(shù)顯表6。
[0021]實施例2
[0022]參照圖2所示，一種非接觸式高度測量儀，包括底座I和刻度尺尺柱4，刻度尺尺柱4與底座I的上表面相垂直，刻度尺尺柱4的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱4的下端固定在底座I上開設的尺柱軌道2上，尺柱軌道2為橢圓環(huán)型凹槽；激光發(fā)生處理器3通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器3中的刻度尺尺柱4上。
[0023]實施例3:
[0024]參照圖1、圖3和圖4所示，將陶瓷塊放置在底座I上面，調(diào)節(jié)激光發(fā)生處理器3的位置，使激光光束與陶瓷塊的上端面平齊，讀取刻度尺尺柱4上的數(shù)值，即為所測陶瓷塊的高度。如激光發(fā)生處理器3所處位置不便于測量，可以沿尺柱軌道2改變其位置。
[0025]實施例4:
[0026]參照圖2、圖3和圖5所示，將需要檢測的陶瓷塊a、b放在底座I上，將激光發(fā)生處理器3在刻度尺尺柱4上的位置調(diào)整至陶瓷塊的要求高度，激光光束落在陶瓷塊a的上端面以下，說明陶瓷塊a的高度超出要求高度，為測量陶瓷塊b，調(diào)整激光發(fā)生處理器3的位置至圖中虛線處，激光光束沒有落在陶瓷塊b上，說明陶瓷塊b的高度比控制高度低。
【主權項】
1.一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，其特征在于:所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；在所述固定板與尺柱軌道之間設有與刻度尺尺柱相平行的激光發(fā)生器尺柱，激光發(fā)生器尺柱的上端嵌入固定板中，激光發(fā)生器尺柱的下端可拆卸安裝在尺柱軌道上；激光發(fā)生處理器通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器中的激光發(fā)生器尺柱上，在刻度尺尺柱上與激光發(fā)生處理器相對應位置連接有數(shù)顯裝置。
2.一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，其特征在于:所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；激光發(fā)生處理器通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器中的刻度尺尺柱上。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的非接觸式高度測量儀，其特征在于:所述尺柱軌道為橢圓環(huán)型凹槽。
【專利摘要】本實用新型涉及一種非接觸式高度測量儀，包括底座和刻度尺尺柱，所述刻度尺尺柱與底座的上表面相垂直，刻度尺尺柱的上端嵌入帶盲孔的固定板中，刻度尺尺柱的下端固定在底座上開設的尺柱軌道上；在所述固定板與尺柱軌道之間設有與刻度尺尺柱相平行的激光發(fā)生器尺柱，激光發(fā)生器尺柱的上端嵌入固定板中，激光發(fā)生器尺柱的下端可拆卸安裝在尺柱軌道上；激光發(fā)生處理器通過鎖緊機構(gòu)固定在穿入激光發(fā)生處理器中的激光發(fā)生器尺柱上，在刻度尺尺柱上與激光發(fā)生處理器相對應位置連接有數(shù)顯裝置。使用本實用新型裝置在檢測強度低的物體尺寸時，可以避免接觸測量時造成的測量對象人為損傷。
【IPC分類】G01B11-02
【公開號】CN204329895
【申請?zhí)枴緾N201420746550
【發(fā)明人】郭森林, 李鶴南
【申請人】鄭州磨料磨具磨削研究所有限公司
【公開日】2015年5月13日
【申請日】2014年12月3日