天線相位的雙軸向全自動測試設備的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及天線相位測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種天線相位的雙軸向全自動測試設備。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，國內(nèi)一些天線廠家對天線進行相位測試時，多數(shù)還是依靠傳統(tǒng)的手工移動探頭來測試，這種人工測試方式不僅測試速度慢、效率低、質(zhì)量差，且操作人員易于疲勞。為了提高測試效率，市場上也出現(xiàn)了一些自動相位測試設備，但大多結(jié)構(gòu)較復雜，自動化程度低，實用性不高。
【實用新型內(nèi)容】
[0003]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，提供一種結(jié)構(gòu)簡單、定位精度高的雙軸向、全自動天線相位的測試設備。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提出如下技術(shù)方案:一種天線相位的雙軸向全自動測試設備，包括驅(qū)動控制器、X軸驅(qū)動機構(gòu)、Y軸驅(qū)動機構(gòu)、探頭、滑軌架和相位分析儀，所述驅(qū)動控制器與所述X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)相連，控制兩者分別沿X軸和Y軸方向運行；所述探頭安裝在所述滑軌架上，所述滑軌架與所述X軸驅(qū)動機構(gòu)、Y軸驅(qū)動機構(gòu)均相連，且在兩者的驅(qū)動下帶動所述探頭沿X軸和Y軸方向接收位于探頭下方天線測試點發(fā)送出的信號；所述相位分析儀與所述天線和探頭均連接，用于根據(jù)所述探頭獲取的信號以及自身發(fā)送給所述天線的信號分析得到所述天線多個測試點的相位。
[0005]優(yōu)選地，所述設備還包括用于承載天線的測試框架。
[0006]優(yōu)選地，所述驅(qū)動控制器包括用于分別控制所述X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)運行的X軸控制卡和Y軸控制卡。
[0007]優(yōu)選地，所述X軸、Y軸驅(qū)動機構(gòu)均包括驅(qū)動器、齒輪和與所述齒輪相嚙合的齒條，所述驅(qū)動器與所述驅(qū)動控制器相連，所述X軸方向的齒條和Y軸方向的齒條通過各自的導軌架與所述測試框架相連，所述齒輪在所述驅(qū)動器驅(qū)動下沿相應的齒條滾動。
[0008]優(yōu)選地，在所述測試框架的X軸和Y軸方向上各設置一位置傳感器，所述位置傳感器與所述探頭信號連接，用于將測試點的位置信息反饋給所述探頭。
[0009]優(yōu)選地，所述測試框架的X軸和Y軸方向上均設置有滑軌，所述滑軌架通過滑塊與各軸方向上的所述滑軌相滑動連接。
[0010]優(yōu)選地，所述驅(qū)動器為步進電機或伺服電機。
[0011]優(yōu)選地，所述測試框架為鋁質(zhì)框架。
[0012]優(yōu)選地，所述滑軌為直線導軌。
[0013]本實用新型的有益效果是:本實用新型通過X軸、Y軸驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動探頭，實現(xiàn)了對天線上全部測試點的自動測試，結(jié)構(gòu)簡單，且具有定位精度高，速度快，測試效率高，方便操作者使用等優(yōu)點。
【附圖說明】
[0014]圖1是本實用新型天線相位的雙軸向全自動測試設備的立體結(jié)構(gòu)示意圖；
[0015]圖2是圖1的側(cè)視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]圖3是圖1的主視結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]附圖標記:10、測試設備，20、測試框架，21、位置傳感器，30、探頭，40、滑軌架，50、X軸驅(qū)動機構(gòu)，51、第一驅(qū)動器，52、第一齒輪，53、第一齒條，54、X軸滑軌，55、X軸滑塊，60、Y軸驅(qū)動機構(gòu)，61、第二驅(qū)動器，62、第二齒輪，63、第二齒條，64、Y軸滑軌，65、Y軸滑塊，70、驅(qū)動控制器，80、相位分析儀，90、天線。
【具體實施方式】
[0018]下面將結(jié)合本實用新型的附圖，對本實用新型實施例的技術(shù)方案進行清楚、完整的描述。
[0019]結(jié)合圖1、圖2和圖3所示，本實用新型所揭示的一種天線相位的雙軸向全自動測試設備10，包括測試框架20、探頭30、滑軌架40、X軸驅(qū)動機構(gòu)50、Y軸驅(qū)動機構(gòu)60、驅(qū)動控制器70和相位分析儀80，測試框架20上端用于承載天線90，整個框架20可由40*40mm和40*80mm銷型材制作而成。
[0020]探頭30安裝在滑軌架40上，且位于測試框架20上的天線90上方，用于獲得天線90發(fā)送出的信號。
[0021 ] 滑軌架40與X軸驅(qū)動機構(gòu)50和Y軸驅(qū)動機構(gòu)60均相連，且在兩者的驅(qū)動下帶動探頭30沿X軸和Y軸運行，以使探頭30能夠獲取到天線90上全部測試點發(fā)出的信號。X軸驅(qū)動機構(gòu)50包括第一驅(qū)動器51、第一齒輪52和第一齒條53，第一齒輪52與第一驅(qū)動器51相連，第一齒條53通過導軌架(圖未示)固定在測試框架20的X軸方向上，且與第一齒輪52相嗤合，第一齒輪52在第一驅(qū)動器51的驅(qū)動下在第一齒條53上沿X軸方向移動，繼而帶動滑軌架40沿X軸方向移動。
[0022]測試框架20的X軸方向上還固定安裝有滑軌54，滑軌架40通過滑塊55沿X軸方向的滑軌54滑行。
[0023]Y軸驅(qū)動機構(gòu)60同樣包括第二驅(qū)動器61、第二齒輪62和第二齒條63，第二齒輪62與第二驅(qū)動器61相連，第二齒條63通過導軌架(圖未示)設置在測試框架20的Y軸方向上，且與第二齒輪62相嚙合，第二齒輪62在第二驅(qū)動器61的驅(qū)動下在第二齒條63上沿Y軸方向移動，繼而帶動滑軌架40沿Y軸方向移動。
[0024]測試框架20的Y軸方向上同樣設置有與滑軌架40沿X軸同步移動的滑軌64，滑軌架40通過滑塊65沿Y軸方向的滑軌滑行，X軸方向和Y軸方向上的滑軌54，64均可采用直線導軌。
[0025]第一和第二驅(qū)動器51，61可選用步進電機或者伺服電機，優(yōu)選步進電機，因為伺服電機的價格遠遠大于步進電機，而且當前的步進電機可以滿足我們的使用要求。
[0026]驅(qū)動控制器70與第一驅(qū)動器51和第二驅(qū)動器61相連，用于控制X軸驅(qū)動機構(gòu)50和Y軸驅(qū)動機構(gòu)60驅(qū)動滑軌架40在測試框架20上分別沿X軸和Y軸運行。驅(qū)動控制器70包括分別控制X軸驅(qū)動機構(gòu)50和Y軸驅(qū)動機構(gòu)60運行的X軸控制卡和Y軸控制卡。各控制卡還可控制對應軸的運動速度和加速度等。
[0027]測試框架20的X軸和Y軸方向上還各設置有一位置傳感器21，位置傳感器21與探頭30信號連接，用于將探頭30所在測試點的位置信息通過探頭反饋給驅(qū)動控制器70。
[0028]相位分析儀80與天線90和探頭30均相連，用于首先向天線90發(fā)射第一信號，天線90根據(jù)該信號發(fā)出第二信號，探頭30獲取天線90發(fā)出的第二信號，相位分析儀80根據(jù)自身發(fā)出的第一信號和從探頭30獲取的第二信號，分析得到天線90多個測試點的相位。
[0029]本實用新型的工作原理為:操作員將被測天線90置于測試框架20上，且將滑軌架40初始調(diào)整到測試起點；將相位分析儀80接口接入被測天線90上，點擊開始測試按鈕，滑軌架40會在X軸、Y軸步進電51，61驅(qū)動下，按照驅(qū)動控制器70設定好的程序，延著各自的滑軌54，64自動運行到下一個目標測試點，等待設備自動抓取數(shù)據(jù)后，會繼續(xù)移動到下一個目標測試點。直到整個測試點被測完，滑軌架40會自動回歸到測試起點，等待下一個天線測試。
[0030]本實用新型的技術(shù)內(nèi)容及技術(shù)特征已揭示如上，然而熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員仍可能基于本實用新型的教示及揭示而作種種不背離本實用新型精神的替換及修飾，因此，本實用新型保護范圍應不限于實施例所揭示的內(nèi)容，而應包括各種不背離本實用新型的替換及修飾，并為本專利申請權(quán)利要求所涵蓋。
【主權(quán)項】
1.一種天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，包括驅(qū)動控制器、X軸驅(qū)動機構(gòu)、Y軸驅(qū)動機構(gòu)、探頭、滑軌架和相位分析儀，所述驅(qū)動控制器與所述X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)相連，控制兩者分別沿X軸和Y軸方向運行；所述探頭安裝在所述滑軌架上，所述滑軌架與所述X軸驅(qū)動機構(gòu)、Y軸驅(qū)動機構(gòu)均相連，且在兩者的驅(qū)動下帶動所述探頭沿X軸和Y軸方向接收位于探頭下方天線測試點發(fā)送出的信號；所述相位分析儀與所述天線和探頭均連接，用于根據(jù)所述探頭獲取的信號以及自身發(fā)送給所述天線的信號分析得到所述天線多個測試點的相位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述設備還包括用于承載天線的測試框架。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述驅(qū)動控制器包括用于分別控制所述X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)運行的X軸控制卡和Y軸控制卡。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述X軸、Y軸驅(qū)動機構(gòu)均包括驅(qū)動器、齒輪和與所述齒輪相嚙合的齒條，所述驅(qū)動器與所述驅(qū)動控制器相連，所述X軸方向的齒條和Y軸方向的齒條通過各自的導軌架與所述測試框架相連，所述齒輪在所述驅(qū)動器驅(qū)動下沿相應的齒條滾動。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，在所述測試框架的X軸和Y軸方向上各設置一位置傳感器，所述位置傳感器與所述探頭信號連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述測試框架的X軸和Y軸方向上均設置有滑軌，所述滑軌架通過滑塊與各軸方向上的所述滑軌相滑動連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述驅(qū)動器為步進電機。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述驅(qū)動器為伺服電機。
9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述測試框架為鋁質(zhì)框架。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的天線相位的雙軸向全自動測試設備，其特征在于，所述滑軌為直線導軌。
【專利摘要】本實用新型揭示了一種天線相位的雙軸向全自動測試設備，包括探頭、滑軌架、X軸驅(qū)動機構(gòu)、Y軸驅(qū)動機構(gòu)、驅(qū)動控制器和相位分析儀，探頭安裝在滑軌架上，滑軌架與X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)相連，在驅(qū)動控制器的控制下，X軸驅(qū)動機構(gòu)和Y軸驅(qū)動機構(gòu)驅(qū)動滑軌架帶動探頭分別沿X軸和Y軸方向移動，以獲取到天線上全部測試點的信號，相位分析儀與天線和探頭均相連，用于根據(jù)探頭獲取的信號以及自身發(fā)送給天線的信號測試得到天線多個測試點的相位。本實用新型實現(xiàn)了對天線上全部測試點的自動化測試，結(jié)構(gòu)簡單，且具有定位精度高，速度快，測試效率高，方便操作者使用等優(yōu)點。
【IPC分類】G01R25-00
【公開號】CN204495906
【申請?zhí)枴緾N201520149816
【發(fā)明人】劉文斌, 楊術(shù)朋
【申請人】羅森伯格（上海）通信技術(shù)有限公司
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2015年3月17日