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      一種用于pcb檢測通孔低阻測試裝置的制造方法

      文檔序號:8826932閱讀:569來源:國知局
      一種用于pcb檢測通孔低阻測試裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種PCB測試裝置,尤其是涉及一種用于PCB檢測通孔低阻測試
      目.ο
      【背景技術(shù)】
      [0002]隨著電子模塊功能的不斷增強(qiáng),集成度越來越高,器件體積小,密度高,PCB成品出貨前就需要進(jìn)行飛針測試。一般來說,飛針測試機(jī)裝有4一8個(gè)由電機(jī)通過皮帶傳動(dòng)來帶動(dòng)的測試探針,探針的移動(dòng)包括X、Y、Z三個(gè)方向,測試前需將原CAD數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成可使用的測試數(shù)據(jù)文件,飛針測試先進(jìn)行開路測試,其中開路測試原理是對某一待測網(wǎng)絡(luò)的一端施加電流,在該網(wǎng)絡(luò)的另一端進(jìn)行測量。根據(jù)電流的變化值來判斷這一網(wǎng)絡(luò)是否導(dǎo)通,存在電阻大小或斷開。方法是對2個(gè)具有相同網(wǎng)絡(luò)值的焊點(diǎn),移動(dòng)2個(gè)探針分別與2個(gè)焊點(diǎn)相接觸。讀取反饋數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析,電路原理是探針與焊點(diǎn)接觸后形成回路。在該回路中有一個(gè)恒壓源,如果2個(gè)焊點(diǎn)是通的,則回路中有電流通過,否則沒有。反饋到計(jì)算機(jī)中的數(shù)據(jù)就是這個(gè)電流值經(jīng)過電阻R轉(zhuǎn)換后的電壓值。
      [0003]電鍍孔內(nèi)銅薄和孔內(nèi)斷路是不可容忍的缺陷,普通的飛針測試可將過孔斷路檢測出,但對于過孔銅薄、微連接的現(xiàn)象不能檢測出來,流入到客戶手中在高溫焊接過程,由于經(jīng)過多次熱沖擊,出現(xiàn)孔銅斷裂,產(chǎn)品失效。
      [0004]隨著線路板向高、精、尖發(fā)展,難度和要求的提高,故引進(jìn)四線微阻測試飛針機(jī)進(jìn)行測試。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0005]本實(shí)用新型的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種實(shí)現(xiàn)精確測量的用于PCB檢測通孔低阻測試裝置。
      [0006]本實(shí)用新型的目的可以通過以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):
      [0007]一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,包括測試作業(yè)區(qū)、操作盤、測試控制板、機(jī)臺輸入信號線、界面板卡及伺服器,所述的測試作業(yè)區(qū)用于對PCB進(jìn)行通孔低阻測試,所述的測試作業(yè)區(qū)內(nèi)含有探針盒,所述的伺服器控制著測試作業(yè)區(qū)內(nèi)探針盒的移動(dòng),所述的測試控制板與測試作業(yè)區(qū)連接,控制測試作業(yè)區(qū)的運(yùn)行,所述的界面板卡通過機(jī)臺輸入信號線與外界的信息輸入設(shè)備和信息接收設(shè)備連接,所述的操作盤與測試控制板及界面板卡連接,為測試控制板與界面板卡的操作控制界面。
      [0008]所述的測試作業(yè)區(qū)包括探針盒、導(dǎo)軌、絲桿及固定板夾具,所述的固定板夾具用于夾持PCB,所述的導(dǎo)軌設(shè)置在固定板夾具的四周,所述的絲桿設(shè)置在導(dǎo)軌上,所述的探針盒設(shè)置在絲桿上,所述的伺服器包括控制絲桿轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服器和控制導(dǎo)軌移動(dòng)的伺服器。
      [0009]所述的探針盒內(nèi)為四線測試探針。
      [0010]所述的絲桿的兩端設(shè)有絲軸防撞感應(yīng)器。
      [0011]所述的操作盤包括開關(guān)鍵、重啟鍵、急停鍵、探針控制鍵,主要用于機(jī)臺開關(guān)機(jī)、重起、探針的移動(dòng)切換、緊急停止。
      [0012]所述的測試控制板包括CPU控制板、馬達(dá)控制板、電壓發(fā)生器控制板、CCD圖像輸入控制板、A/D轉(zhuǎn)換控制板。
      [0013]所述的機(jī)臺輸入信號線包括聯(lián)機(jī)線、視頻線、電源開關(guān)、加密線、電源插頭,主要用于飛針機(jī)與電腦主機(jī)連接及電源連接。
      [0014]所述的測試控制板包括CPU控制板、馬達(dá)控制板、電壓發(fā)生器控制板、CXD圖像輸入控制板、A/D轉(zhuǎn)換控制板,主要用于CPU控制及馬達(dá)、CXD鏡頭等控制。
      [0015]所述的界面板卡為機(jī)臺的總控制臺。
      [0016]與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:
      [0017]一、實(shí)現(xiàn)精確測量:本實(shí)用新型的用于PCB檢測通孔低阻測試裝置為四線低阻飛針測試機(jī),電流供給回路與電壓測定回路完全獨(dú)立,其排線阻抗探針阻抗與接觸完全忽略,所測阻抗值就是PCB本身待測線路位置德爾阻值,可精確測定被測PCB之微小阻值,其四線測試的測試精度可到達(dá)πιΩ級。
      [0018]二、四線測試針:超細(xì)微加工,不因組裝復(fù)雜而引致其成本高昂。
      [0019]三、本實(shí)用新型的用于PCB檢測通孔低阻測試裝置功能強(qiáng)大,不但將過孔斷路、線路開路檢測出,但對于過孔銅薄、微連接和線路微開的現(xiàn)象也能檢測出來。
      [0020]四、本實(shí)用新型的裝置測量精確,使用方便,自動(dòng)化程度高。
      【附圖說明】
      [0021]圖1為用于PCB檢測通孔低阻測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0022]圖2為測試作業(yè)區(qū)的結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0023]圖3為導(dǎo)體的立體結(jié)構(gòu)示意圖;
      [0024]圖4為導(dǎo)體的豎截面示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0025]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
      [0026]實(shí)施例
      [0027]如圖1所示,一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,包括測試作業(yè)區(qū)1、操作盤2、測試控制板3、機(jī)臺輸入信號線4、界面板卡5及伺服器6,測試作業(yè)區(qū)I用于對PCB進(jìn)行通孔低阻測試,測試作業(yè)區(qū)I內(nèi)含有探針盒11,伺服器6控制著測試作業(yè)區(qū)I內(nèi)探針盒11的移動(dòng),測試控制板3與測試作業(yè)區(qū)I連接,控制測試作業(yè)區(qū)I的運(yùn)行,界面板卡5通過機(jī)臺輸入信號線4與外界的信息輸入設(shè)備和信息接收設(shè)備連接,操作盤2與測試控制板3及界面板卡5連接,為測試控制板3與界面板卡5的操作控制界面。
      [0028]如圖2所示,測試作業(yè)區(qū)I包括探針盒11、導(dǎo)軌12、絲桿13及固定板夾具14,固定板夾具14用于夾持PCB,導(dǎo)軌12設(shè)置在固定板夾具14的四周,絲桿13設(shè)置在導(dǎo)軌12上,探針盒11設(shè)置在絲桿13上,伺服器6包括控制絲桿13轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服器和控制導(dǎo)軌12移動(dòng)的伺服器。探針盒11內(nèi)為四線測試探針。絲桿13的兩端設(shè)有絲軸防撞感應(yīng)器15。
      [0029]其中,操作盤2包括開關(guān)鍵、重啟鍵、急停鍵、探針控制鍵,主要用于機(jī)臺開關(guān)機(jī)、重起、探針的移動(dòng)切換、緊急停止。測試控制板3包括CPU控制板、馬達(dá)控制板、電壓發(fā)生器控制板、CCD圖像輸入控制板、A/D轉(zhuǎn)換控制板。機(jī)臺輸入信號線4包括聯(lián)機(jī)線、視頻線、電源開關(guān)、加密線、電源插頭,主要用于飛針機(jī)與電腦主機(jī)連接及電源連接。測試控制板3包括CPU控制板、馬達(dá)控制板、電壓發(fā)生器控制板、C⑶圖像輸入控制板、A/D轉(zhuǎn)換控制板,主要用于CPU控制及馬達(dá)、CXD鏡頭等控制。界面板卡5為機(jī)臺的總控制臺。
      [0030]四線測試有兩個(gè)要求,對于每個(gè)測試點(diǎn)都要一條激勵(lì)線和一條檢測線,二者嚴(yán)格分開,各自構(gòu)成獨(dú)立回路,同時(shí)要求檢測線必須接到一個(gè)有極高輸入阻抗的測試回路上,使流過檢測線的電流極小,近似為零。激勵(lì)線即是電流供給回路,檢測線是電壓測定回路。電流、電壓兩回路各自獨(dú)立,電流供給回路兩端子與電壓測定回路兩端子共計(jì)四端子,共稱四線測試。
      [0031]電阻計(jì)算方法如下(參考圖3、圖4):
      [0032]R= P L/S = PL/ π { (D/2)2-(d/2)2 }
      [0033]R:導(dǎo)體的電阻.單位是歐姆
      [0034]P:導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率.單位是歐姆.平方米/米
      [0035]L:導(dǎo)體長度.單位是米
      [0036]S:導(dǎo)體的橫截面積.單位是平方米
      [0037]D:鉆孔直徑
      [0038]d:除去孔銅外空心直徑
      [0039]上述的對實(shí)施例的描述是為便于該技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員能理解和使用實(shí)用新型。熟悉本領(lǐng)域技術(shù)的人員顯然可以容易地對這些實(shí)施例做出各種修改,并把在此說明的一般原理應(yīng)用到其他實(shí)施例中而不必經(jīng)過創(chuàng)造性的勞動(dòng)。因此,本實(shí)用新型不限于上述實(shí)施例,本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本實(shí)用新型的揭示,不脫離本實(shí)用新型范疇所做出的改進(jìn)和修改都應(yīng)該在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,包括測試作業(yè)區(qū)(1)、操作盤(2)、測試控制板(3)、機(jī)臺輸入信號線(4)、界面板卡(5)及伺服器(6),所述的測試作業(yè)區(qū)(I)用于對PCB進(jìn)行通孔低阻測試,所述的測試作業(yè)區(qū)(I)內(nèi)含有探針盒(11),所述的伺服器(6)控制著測試作業(yè)區(qū)⑴內(nèi)探針盒(11)的移動(dòng),所述的測試控制板(3)與測試作業(yè)區(qū)(I)連接,控制測試作業(yè)區(qū)(I)的運(yùn)行,所述的界面板卡(5)通過機(jī)臺輸入信號線(4)與外界的信息輸入設(shè)備和信息接收設(shè)備連接,所述的操作盤(2)與測試控制板(3)及界面板卡(5)連接,為測試控制板(3)與界面板卡(5)的操作控制界面。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的測試作業(yè)區(qū)⑴包括探針盒(11)、導(dǎo)軌(12)、絲桿(13)及固定板夾具(14),所述的固定板夾具(14)用于夾持PCB,所述的導(dǎo)軌(12)設(shè)置在固定板夾具(14)的四周,所述的絲桿(13)設(shè)置在導(dǎo)軌(12)上,所述的探針盒(11)設(shè)置在絲桿(13)上,所述的伺服器(6)包括控制絲桿(13)轉(zhuǎn)動(dòng)的伺服器和控制導(dǎo)軌(12)移動(dòng)的伺服器。
      3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的絲桿(13)的兩端設(shè)有絲軸防撞感應(yīng)器(15)。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的操作盤(2)包括開關(guān)鍵、重啟鍵、急停鍵、探針控制鍵。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的測試控制板(3)包括CPU控制板、馬達(dá)控制板、電壓發(fā)生器控制板、CXD圖像輸入控制板、A/D轉(zhuǎn)換控制板。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的機(jī)臺輸入信號線(4)包括聯(lián)機(jī)線、視頻線、電源開關(guān)、加密線、電源插頭。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,其特征在于,所述的探針盒(11)內(nèi)為四線測試探針。
      【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種用于PCB檢測通孔低阻測試裝置,包括測試作業(yè)區(qū)、操作盤、測試控制板、機(jī)臺輸入信號線、界面板卡及伺服器,所述的測試作業(yè)區(qū)用于對PCB進(jìn)行通孔低阻測試,所述的測試作業(yè)區(qū)內(nèi)含有探針盒,所述的伺服器控制著測試作業(yè)區(qū)內(nèi)探針盒的移動(dòng),所述的測試控制板與測試作業(yè)區(qū)連接,控制測試作業(yè)區(qū)的運(yùn)行,所述的界面板卡通過機(jī)臺輸入信號線與外界的信息輸入設(shè)備和信息接收設(shè)備連接,所述的操作盤與測試控制板及界面板卡連接,為測試控制板與界面板卡的操作控制界面。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型的裝置測量精確,使用方便,自動(dòng)化程度高。
      【IPC分類】G01R31-28, G01R31-02
      【公開號】CN204536491
      【申請?zhí)枴緾N201520151474
      【發(fā)明人】魏勇, 魯龍輝, 嚴(yán)學(xué)鋒
      【申請人】上海嘉捷通電路科技有限公司
      【公開日】2015年8月5日
      【申請日】2015年3月17日
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