一種電磁參數(shù)測試樣品厚度修整裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于微波性能測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及微波電磁參數(shù)測試技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]材料的電磁參數(shù)是用于描述材料電磁特性的特征參數(shù)，表征材料與電磁場的相互作用。測量材料電磁參數(shù)的方法有很多，主要分為傳輸反射法和諧振腔法。根據(jù)所用夾具的不同，又分為同軸法、波導(dǎo)法、自由空間法和開口同軸探頭法等；目前應(yīng)用較廣的測試裝置是7mm同軸空氣線，測試前需要制備形態(tài)為內(nèi)徑3.04mm、外徑7mm的圓筒或圓環(huán)形樣品。
[0003]在測試時，微波在λ/4ε處會發(fā)生諧振，這會使得測試曲線發(fā)生嚴重失真。為了避免此種曲線波動，一般采取改變樣品厚度的方法來避免產(chǎn)生波動。同時，樣品的厚度對電磁參數(shù)測試結(jié)果有一定的影響，實際應(yīng)用中常需要制備一批厚度相同的樣品以便對測試結(jié)果進行比對。但在實際操作中，用刀切割容易弄碎樣品，用砂紙打磨耗時較長，又不易保證兩端面平整、平行，通過砂紙打磨，不容易控制樣品的厚度，無法得到特定厚度的樣品。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實用新型的目的在于控制電磁參數(shù)測試樣品的厚度，確保樣品兩端面平整、平行，提供一種可精確控制厚度的樣品修整裝置。
[0005]本實用新型的目的是這樣實現(xiàn)的，利用螺旋測微技術(shù)，精確控制電磁參數(shù)樣品的位置和高度，實現(xiàn)電磁參數(shù)樣品厚度的控制。
[0006]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品修整裝置，其特征在于:由夾具1、螺旋測器、平臺3組成，夾具I與平臺3為固定為一體的一對具有同心圓孔的空心筒組合體，圓心與組合體上表面垂直；螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2的外套固定于平臺3的內(nèi)徑；螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2的頂端面與組合體上表面平行；螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2刻度為O時，其頂端與夾具I的上表面處于同一平面。結(jié)構(gòu)如附圖1所示。
[0007]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:夾具I的高度為1mm?20mm，內(nèi)徑為Φ (7?10) mm。
[0008]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微器調(diào)節(jié)頭的頂端直徑為Φ (4?7)_。
[0009]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微器的分度為0.01mm。
[0010]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微器的量程為50mm。
[0011]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:平臺3的內(nèi)徑為Φ (4?7)mm，高度為1mm?20mmo
[0012]本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品修整裝置，適用于同軸電磁參數(shù)試樣的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的電磁參數(shù)樣品，所制得的樣品兩端面平整、平行，操作過程不會對樣品造成破壞。
【附圖說明】
[0013]附圖1 一種電磁參數(shù)測試樣品厚度修整裝置示意圖
[0014]其中:1_夾具；2_螺旋測微調(diào)節(jié)頭；3-平臺；4_電磁參數(shù)測試樣品。
【具體實施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖1對本實用新型涉及的電磁參數(shù)測試樣品厚度修整工具作進一步詳細說明，但不作為對本實用新型涉及技術(shù)方案的限制。任何一種可以實現(xiàn)本實用新型目的技術(shù)方案均構(gòu)成本實用新型的一部分。
[0016]實施例一
[0017]一種電磁參數(shù)測試樣品厚度修整工具，由夾具1、螺旋測微器、平臺3組成，夾具1、螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2、平臺3為鋼質(zhì)。夾具I為同心圓環(huán)，內(nèi)徑為Φ7_，高度為10_。夾具I與平臺3通過螺紋固定，平臺3的內(nèi)徑中固定有螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2，螺旋測微器調(diào)節(jié)頭2頂端的直徑為Φ6.8mm。平臺3內(nèi)徑為Φ6.9mm，高度為20mmo
[0018]通過螺旋測微調(diào)節(jié)頭2可以控制電磁參數(shù)樣品4在夾具I中的長度。
[0019]將電磁參數(shù)測試樣品4放入夾具I中，調(diào)節(jié)螺旋測微調(diào)節(jié)頭2至8.0Omm,此時電磁參數(shù)測試樣品4在夾具I內(nèi)的長度為8mm，將露出夾具的部分使用細砂紙打磨掉。螺旋測微調(diào)節(jié)頭2歸零，便可將電磁參數(shù)測試樣品頂出，即得到長度為8_的電磁參數(shù)測試樣品。
【主權(quán)項】
1.一種電磁參數(shù)測試樣品修整裝置，其特征在于:由夾具(I)、螺旋測微器、平臺(3)組成，夾具(I)與平臺(3)為固定為一體的一對具有同心圓孔的空心筒組合體，圓心與組合體上表面垂直；螺旋測微器調(diào)節(jié)頭(2)的外套固定于平臺(3)的內(nèi)徑；螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)的頂端面與組合體上表面平行；螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)刻度為O時，其頂端與夾具(I)的上表面處于同一平面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:夾具(I)的高度為ICtam?2Ctam，內(nèi)徑為Φ (7?10)mmo
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微調(diào)節(jié)頭的頂端直徑為Φ (4?7)mm0
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微裝置的分度為0.0lmm0
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:螺旋測微裝置的的量程為50mm。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁參數(shù)測試樣品長度修整裝置，其特征在于:平臺(3)的內(nèi)徑為Φ (4?7)_，高度為10_?20_。
【專利摘要】本實用新型屬于微波性能測試技術(shù)領(lǐng)域。利用螺旋測微技術(shù)，精確控制電磁參數(shù)樣品的位置和高度，實現(xiàn)電磁參數(shù)樣品厚度的控制。本實用新型所涉及的電磁參數(shù)測試樣品修整裝置，由夾具(1)、螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)、平臺(3)組成，夾具(1)與平臺(3)為固定為一體的一對具有同心圓孔的空心筒組合體，圓心與組合體上表面垂直；螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)的外套固定于平臺(3)的內(nèi)徑；螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)的頂端面與組合體上表面平行；螺旋測微調(diào)節(jié)頭(2)刻度為0時，其頂端與夾具(1)的上表面處于同一平面。該裝置，適用于同軸電磁參數(shù)試樣的厚度修整，操作方便，可以快速制得特定厚度的電磁參數(shù)樣品，所制得的樣品兩端面平整、平行，操作過程不會對樣品造成破壞。
【IPC分類】G01N1-28
【公開號】CN204594768
【申請?zhí)枴緾N201520243530
【發(fā)明人】張雨, 林帥, 冀克儉, 荀其寧, 劉運峰, 張軍英, 姜維維, 劉霞, 張符, 滕巖, 李承榮
【申請人】中國兵器工業(yè)集團第五三研究所
【公開日】2015年8月26日
【申請日】2015年4月21日