一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及太陽方位檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體是一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭。
【背景技術(shù)】
[0002]在太陽能利用領(lǐng)域，雙軸太陽自動跟蹤控制是效率最高的一種，實(shí)現(xiàn)自動跟蹤太陽，太陽方位檢測頭起到重要的性能決定作用，目前在尋光跟蹤控制方案中，基本上是采用光敏電阻作為檢測元件，輔以能夠產(chǎn)生陰影的結(jié)構(gòu)，以及相應(yīng)電路，檢測太陽的方位。此方案的不足之處在于，光敏元件屬于可見光敏感元件，在多云天氣和陰天時(shí)，其檢測效果失真，會產(chǎn)生錯(cuò)亂的方位指示。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本新型解決了光敏元件進(jìn)行太陽方位檢測時(shí)的陽光較弱時(shí)和多云，陰天時(shí)的跟蹤精確性難題。
[0004]本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:
[0005]一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭，包括中央造影立柱、硅晶板、固定螺栓；所述中央造影立柱通過螺栓與硅晶板貫穿連接。
[0006]還包括固定平臺，通過固定螺栓將中央造影立柱和硅晶板固定到固定平臺上。
[0007]所述硅晶板為方形板塊，其中部開設(shè)有供固定螺栓貫穿的圓孔。
[0008]所述硅晶板上呈十字形布置有4片硅晶片，在方形的第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片中間形成方形空白區(qū)；硅晶片為市購產(chǎn)品。
[0009]所述第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片分別輸出電壓信號。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:
[0011]1、本實(shí)用新型采用硅晶作為檢測原件，可以在陰天多云天氣時(shí)，正常工作，提高了太陽跟蹤的效率。
[0012]2、本實(shí)用新型還可以提高霧霾天氣狀態(tài)下的跟蹤準(zhǔn)確性。
【附圖說明】
[0013]圖1為本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖2為本實(shí)用新型的中央造影立柱示意圖。
[0015]圖3本實(shí)用新型的硅晶板示意圖。
[0016]圖4為本實(shí)用新型的固定螺栓示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0017]結(jié)合說明書附圖及實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0018]如圖1-4所述，一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭，包括中央造影立柱、硅晶板、固定螺栓；所述中央造影立柱通過螺栓與硅晶板貫穿連接。
[0019]還包括固定平臺，通過固定螺栓將中央造影立柱和硅晶板固定到固定平臺上。
[0020]所述硅晶板為方形板塊，其中部開設(shè)有供固定螺栓貫穿的圓孔。
[0021]所述硅晶板上呈十字形布置有4片硅晶片，在方形的第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片中間形成方形空白區(qū)；硅晶片為市購產(chǎn)品。
[0022]所述第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片分別輸出電壓信號。
[0023]中央造影立柱上部為方形柱體，下部為梯臺體；中央造影立柱為鋁材質(zhì)制成，梯臺體與方形空白區(qū)對應(yīng)連接；梯臺體的斜面將陽光反射到硅晶片上。
[0024]實(shí)施例
[0025]本新型采用硅晶為檢測元件，硅晶的特點(diǎn)是對陽光輻射敏感，即使在多云的天氣甚至陰天，也能夠檢測空中有效的陽光，進(jìn)而確定陽光照射的方向。硅晶片采用四個(gè)方向布置，硅晶片通過陽光照射強(qiáng)度輸出4個(gè)電壓值，通過獨(dú)立的電壓值可以確定太陽的照射角度。通過設(shè)計(jì)新穎的中央造影立柱，實(shí)現(xiàn)對陽光的造影功能和側(cè)光反射功能；將各個(gè)同角度的陽光對硅晶片形成不同的光線照射或陰影遮擋，進(jìn)而形成4個(gè)方形上的硅晶片產(chǎn)生的不同的電壓輸出值，通過該電壓輸出值可以判斷陽光照射的方向。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 包括中央造影立柱、硅晶板、固定螺栓； 所述中央造影立柱通過螺栓與硅晶板貫穿連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 還包括固定平臺，通過固定螺栓將中央造影立柱和硅晶板固定到固定平臺上。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 所述硅晶板為方形板塊，其中部開設(shè)有供固定螺栓貫穿的圓孔。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 所述娃晶板上呈十字形布置有4片娃晶片，在方形的第一娃晶片、第二娃晶片、第二娃晶片、第四硅晶片中間形成方形空白區(qū)；所述第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片分別輸出電壓信號。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 中央造影立柱上部為方形柱體，下部為梯臺體；梯臺體與方形空白區(qū)對應(yīng)連接；梯臺體的斜面將陽光反射到硅晶片上。6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度硅晶式太陽方位檢測頭，其特征在于: 中央造影立柱為鋁材質(zhì)制成。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種高精度硅晶式太陽方位檢測頭，包括中央造影立柱、硅晶板、固定螺栓；所述中央造影立柱通過螺栓與硅晶板貫穿連接。還包括固定平臺，通過固定螺栓將中央造影立柱和硅晶板固定到固定平臺上。所述硅晶板為方形板塊，其中部開設(shè)有供固定螺栓貫穿的圓孔。所述硅晶板上呈十字形布置有4片硅晶片，在方形的第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片中間形成方形空白區(qū)；所述第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片分別輸出電壓信號。本實(shí)用新型采用硅晶作為檢測原件，可以在陰天多云天氣時(shí)，正常工作，提高了太陽跟蹤的效率。本實(shí)用新型還可以提高霧霾天氣狀態(tài)下的跟蹤準(zhǔn)確性。
【IPC分類】G01C1/00
【公開號】CN204718582
【申請?zhí)枴緾N201520420584
【發(fā)明人】趙連新, 欒祿祥
【申請人】趙連新
【公開日】2015年10月21日
【申請日】2015年6月17日