一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請(qǐng)涉及一種鐵氧體電感測(cè)試裝置，特別是一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]2010年12月29日公布的申請(qǐng)?zhí)枮?01020140997.8號(hào)的中國(guó)實(shí)用新型專(zhuān)利，該專(zhuān)利公開(kāi)了一種磁環(huán)測(cè)試裝置。該測(cè)試裝置包括上蓋板、下蓋板和兩個(gè)防護(hù)皮套，所述上蓋板上沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置有多個(gè)插針，下蓋板上設(shè)置有與插針相配合的若干個(gè)插槽，每個(gè)外圈插針和內(nèi)圈插針通過(guò)設(shè)置在插針根部的導(dǎo)線(xiàn)連接，相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)插槽根部也用導(dǎo)線(xiàn)連接，形成一個(gè)完整的單根通路。
[0003]上述測(cè)試裝置確實(shí)解決了同一種磁環(huán)繞線(xiàn)測(cè)試?yán)щy的技術(shù)問(wèn)題，帶來(lái)了有益的技術(shù)效果，但也存在著如下不足:
[0004]每次測(cè)試前，需要操作人員將帶有插針的上蓋與帶有插槽的下蓋進(jìn)行配合，而插針和插槽數(shù)量多，每個(gè)都準(zhǔn)確配合，需要較長(zhǎng)時(shí)間，測(cè)試效率低下，另外，還需出現(xiàn)個(gè)別插針與插槽配合不良的現(xiàn)象，導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。
[0005]申請(qǐng)內(nèi)容
[0006]本申請(qǐng)要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，而提供一種自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測(cè)試效率高的電感自動(dòng)測(cè)試裝置。
[0007]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本申請(qǐng)采用的技術(shù)方案是:
[0008]一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置，包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán)，每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔，且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)其中一個(gè)大通孔的正上方，上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針，兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接；所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)的下方，下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線(xiàn)插孔，兩圈接線(xiàn)插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線(xiàn)插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線(xiàn)插孔通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出，并與相應(yīng)的接線(xiàn)插孔相配合。
[0009]所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán)，所述大通孔有8個(gè)。
[0010]所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)分別與分度器和電機(jī)相連接。
[0011]本申請(qǐng)采用上述結(jié)構(gòu)后，自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測(cè)試效率高。
【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1是本申請(qǐng)一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2顯示了圖1中支撐盤(pán)的放大結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]其中有:1.多分度回轉(zhuǎn)盤(pán);2.大通孔;21.支撐盤(pán);22.小通孔;3.上蓋;31.插針;4.下蓋；41.接線(xiàn)插孔。
【具體實(shí)施方式】
[0015]下面結(jié)合附圖和具體較佳實(shí)施方式對(duì)本申請(qǐng)作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0016]如圖1所示，一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置，包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置。
[0017]多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔2，每個(gè)大通孔2內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán)21。
[0018]如圖2所示，每個(gè)支撐盤(pán)21均設(shè)置有兩圈小通孔22，且兩圈小通孔22沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置。
[0019]上述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋3和下蓋4。
[0020]上蓋3位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I其中一個(gè)大通孔2的正上方，上蓋3的下表面設(shè)置有兩圈插針31，兩圈插針31沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針31和相鄰的內(nèi)圈的插針31通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接。
[0021 ] 下蓋4位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I的下方，下蓋4的上表面設(shè)置有兩圈接線(xiàn)插孔41，兩圈接線(xiàn)插孔41也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線(xiàn)插孔41和相鄰的內(nèi)圈的接線(xiàn)插孔41通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接。
[0022]當(dāng)上蓋3的高度下降和下蓋4的高度上升后，上述所有插針31均能從相應(yīng)的小通孔2中穿出，并與相應(yīng)的接線(xiàn)插孔41相配合。
[0023]進(jìn)一步，上述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán)，大通孔2有8個(gè)。
[0024]進(jìn)一步，多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)I分別與分度器和電機(jī)相連接。
[0025]以上所述，僅為本申請(qǐng)較佳的【具體實(shí)施方式】，但本申請(qǐng)的保護(hù)范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本申請(qǐng)揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng)涵蓋在本申請(qǐng)的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本申請(qǐng)的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán)，每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔，且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括同軸設(shè)置且高度均能夠升降的上蓋和下蓋，其中，上蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)其中一個(gè)大通孔的正上方，上蓋的下表面設(shè)置有兩圈插針，兩圈插針沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的插針和相鄰的內(nèi)圈的插針通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接；所述下蓋位于多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)的下方，下蓋的上表面設(shè)置有兩圈接線(xiàn)插孔，兩圈接線(xiàn)插孔也沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；每個(gè)外圈的接線(xiàn)插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線(xiàn)插孔通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出，并與相應(yīng)的接線(xiàn)插孔相配合。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電感自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)為8分度回轉(zhuǎn)盤(pán)，所述大通孔有8個(gè)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電感自動(dòng)測(cè)試裝置，其特征在于:所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)分別與分度器和電機(jī)相連接。
【專(zhuān)利摘要】本申請(qǐng)公開(kāi)了一種電感自動(dòng)測(cè)試裝置，包括一個(gè)多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)和一套磁環(huán)電感測(cè)試裝置，所述多分度回轉(zhuǎn)盤(pán)沿周向均勻設(shè)置有若干個(gè)大通孔，每個(gè)大通孔內(nèi)固定設(shè)置有一個(gè)用于支撐待測(cè)磁環(huán)的支撐盤(pán)，每個(gè)支撐盤(pán)均設(shè)置有兩圈小通孔，且兩圈小通孔沿同一圓心不同半徑的兩個(gè)圓周方向設(shè)置；所述磁環(huán)電感測(cè)試裝置包括上蓋和下蓋；上蓋的下表面設(shè)兩圈不同半徑的插針；下蓋的上表面設(shè)置有兩圈不同半徑的接線(xiàn)插孔；每個(gè)外圈的接線(xiàn)插孔和相鄰的內(nèi)圈的接線(xiàn)插孔通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)相連接；當(dāng)上蓋的高度下降和下蓋的高度上升后，所述插針能從相應(yīng)的小通孔中穿出，并與相應(yīng)的接線(xiàn)插孔相配合。采用上述結(jié)構(gòu)后，自動(dòng)化程度高，不需人工將上蓋和下蓋進(jìn)行配合，測(cè)試效率高。
【IPC分類(lèi)】G01R1/04, G01R27/26
【公開(kāi)號(hào)】CN204740294
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520408823
【發(fā)明人】李玲
【申請(qǐng)人】李玲
【公開(kāi)日】2015年11月4日
【申請(qǐng)日】2015年6月15日