一種探針檢測治具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及檢測治具應用領域，尤其涉及一種用于PCB開短路測試的探針檢測治具。
【背景技術】
[0002]目前，現(xiàn)有的PCB的開短路測試檢測治具存在如下缺點:一是該檢測治具中的最小測試探針的直徑一般為0.15mm，在高精密PCB的產(chǎn)品中該測試探針因直徑過大而無法進行正常的檢測；二是該檢測治具的測試探針一般不具備精準的卡環(huán)設計，而固定測試探針的黑膠棉無法起到穩(wěn)定固定的作用，黑膠棉老化后，會導致測試探針掉落，從而導致壓傷或損壞所要測試的產(chǎn)品。
[0003]在2011.07.06公告的、公告號為CN20189269U的中國實用新型專利中，公開了一種改良的探針檢測結構，是指檢測治具的針板內(nèi)設有預定數(shù)目的檢測用探針、供探針復位的彈性組件、及供檢測值傳輸至檢測機的導線；其中，針板包含有中間承板、底板和面板，它們相互通過數(shù)軸銷穿置結合，該中間承板設有容納孔供彈性組件容置，該底板位于中間承板下方承接著彈性組件，設有與中間承板的容納孔對應并呈較小的穿孔，該導線一端連接在彈性組件一端，另端連接在檢測機或接頭；其特征在于:該面板設有上板、下板和夾設在上、下板之間的彈性薄板，在上、下板分別設有與彈性組件相對應的針孔，該探針一端設為尖錐體，是由面板的上板針孔處插入，并刺破彈性薄板和經(jīng)過下板針孔而插置在對應彈性組件的一端內(nèi)徑位置。本實用新型制作更具簡易、方便和經(jīng)濟性，及可使探針高密度的布設在檢測治具，并對具有高密度被檢測點的被測物實施精準、確實檢測效果，從而更加適于實用。
[0004]但該檢測結構是在針板內(nèi)設置更多數(shù)目的探針，以高密度的布設來實現(xiàn)，因此，其仍沒有解決現(xiàn)有檢測治具中測試探針直徑過大和固定不穩(wěn)定的缺點。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為克服上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種探針檢測治具，已達到減小測試探針的直徑，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中正常檢測，并且使測試探針固定得更穩(wěn)定，避免其掉落的目的。
[0006]為了達到以上目的，本實用新型采用的技術方案是:一種探針檢測治具，包括被測電路板、探針裝置和連接器，所述探針裝置包括針盤、探針和線盤，所述針盤內(nèi)設置有卡住所述探針的卡槽，所述探針直徑設置為0.08mm，所述探針下部的八分之一處設置有卡環(huán)；所述線盤設置在所述針盤的下方，所述線盤內(nèi)設置有與所述探針位置相配合的彈簧，所述彈簧的底端與所述連接器電連接，所述探針通過壓入彈簧內(nèi)與所述連接器通電連接進而對被測電路板進行開短路檢測。通過將探針的直徑設置為0.08_，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中可正常的檢測，探針可高密度分布，使其更高效的進行檢測；在探針的下部設置有卡環(huán)，卡環(huán)可較好的控制探針的突量，使探針固定的更加穩(wěn)定，避免其掉落，也避免了壓傷或損壞所要測試的產(chǎn)品，有效的提升了測試的良品率。
[0007]進一步地，所述針盤設置為堆棧的板材結構，其包括面板、間隔層、導引層和擋針層，針盤采取多層堆棧的結構，以此替代傳統(tǒng)的黑膠棉，減少了探針上下運行的阻力，使探針運行更加順暢。
[0008]進一步地，所述針盤還包括一備用調(diào)節(jié)板，以調(diào)節(jié)探針露出所述面板的高度。
[0009]進一步地，所述針盤相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，保證了探針的突出量，有效的控制針痕。
[0010]進一步地，所述彈簧的表面鍍有一鍍金層，以增強彈簧的通導性。
【附圖說明】
[0011 ] 圖1為本實施例的結構示意圖。
[0012]圖中:
[0013]1-被測電路板；2_探針裝置；3_連接器；4-針盤；5-探針；6-線盤；7-卡槽；8-卡環(huán)；9-彈簧。
【具體實施方式】
[0014]下面結合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細闡述，以使本實用新型的優(yōu)點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0015]參見附圖1所示，本實施例的一種探針檢測治具，包括被測電路板1、探針裝置2和連接器3，探針裝置I包括針盤4、探針5和線盤6，針盤4內(nèi)設置有卡住探針5的卡槽7，針盤4設置為多層堆棧的板材結構，可減少探針5上下運行的阻力，使探針5運行更加順暢；針盤4包括面板、間隔層、備用調(diào)節(jié)板、導引層和擋針層，面板位于自上而下的第一層，為測試點定位層，間隔層和導引層均設置有六層，間隔層與導引層穿插設置，備用調(diào)節(jié)板設置在面板與最上方的間隔層之間，以調(diào)節(jié)探針5露出面板的高度，擋針層位于最下層，防止探針5掉落；針盤4相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤4更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，保證了探針5的突出量，有效的控制針痕。探針5直徑設置為0.08mm，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中可正常的檢測，探針5可高密度分布，使其更高效的進行檢測；探針5下部的八分之一處設置有卡環(huán)8，卡環(huán)8可較好的控制探針5的突量，使探針5固定的更加穩(wěn)定，避免其掉落，也避免了壓傷或損壞所要測試的產(chǎn)品，提升了測試的良品率；線盤6設置在針盤4的下方，線盤6內(nèi)設置有與探針5位置相配合的彈簧9，彈簧9的表面鍍有一鍍金層，以增強彈簧9的通導性，彈簧9的底端與連接器3電連接，探針5通過壓入彈簧9內(nèi)與連接器3通電連接，進而對被測電路板I進行開短路檢測。
[0016]以上實施方式只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人了解本實用新型的內(nèi)容并加以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍，凡根據(jù)本實用新型精神實質所做的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍內(nèi)。
【主權項】
1.一種探針檢測治具，包括被測電路板(I)、探針裝置(2)和連接器(3)，其特征在于:所述探針裝置(2 )包括針盤(4 )、探針(5 )和線盤(6 )，所述針盤(4 )內(nèi)設置有卡住所述探針(5)的卡槽(7)，所述探針(5)直徑設置為0.08_，所述探針(5)下部的八分之一處設置有卡環(huán)(8);所述線盤(6)設置在所述針盤(4)的下方，所述線盤(6)內(nèi)設置有與所述探針(5)位置相配合的彈簧(9 )，所述彈簧(9 )的底端與所述連接器(3 )電連接，所述探針(5 )通過壓入彈簧(9 )內(nèi)與所述連接器(3 )通電連接進而對被測電路板(I)進行開短路檢測。2.根據(jù)權利要求1所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)設置為堆棧的板材結構，其包括面板、間隔層、導引層和擋針層。3.根據(jù)權利要求2所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)還包括一備用調(diào)節(jié)板，以調(diào)節(jié)探針露出所述面板的高度。4.根據(jù)權利要求3所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)相鄰兩層之間設置有銅支柱。5.根據(jù)權利要求1所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述彈簧(9)的表面鍍有一鍍金層。
【專利摘要】本實用新型公開了一種探針檢測治具，包括被測電路板（1）、探針裝置（2）和連接器（3），探針裝置（2）包括針盤（4）、探針（5）和線盤（6），針盤（4）內(nèi)設置有卡住探針（5）的卡槽（7），探針（5）直徑設置為0.08mm，探針（5）下部的八分之一處設置有卡環(huán)（8）；線盤（6）設置在針盤（4）的下方，線盤（6）內(nèi)設置有與探針（5）位置相配合的彈簧（9），彈簧（9）的底端與連接器（3）電連接，探針（5）通過壓入彈簧（9）內(nèi)與連接器（3）通電連接進而對被測電路板（1）進行開短路檢測。本實用新型減小了探針的直徑，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中正常檢測，并使探針固定得更穩(wěn)定，避免其掉落。
【IPC分類】G01R1/073
【公開號】CN204758649
【申請?zhí)枴緾N201520447950
【發(fā)明人】蘇軍梅
【申請人】深圳市芽莊電子有限公司
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年6月26日