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      電源短路試驗(yàn)裝置的制造方法

      文檔序號:9973577閱讀:230來源:國知局
      電源短路試驗(yàn)裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種試驗(yàn)裝置,尤其涉及一種電源短路試驗(yàn)裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]電源在輸出短路或電源內(nèi)部輸出回路短路時,應(yīng)及時關(guān)機(jī)從而避免產(chǎn)生對電源本身或系統(tǒng)的進(jìn)一步傷害,短路時的大電流容易造成電源與系統(tǒng)的連接點(diǎn)過熱,從而導(dǎo)致連接點(diǎn)熱熔化或引發(fā)火災(zāi)。故廠家在出廠時會做短路試驗(yàn),以驗(yàn)證短路保護(hù)電路是否滿足要求,控制繼電器不斷的閉合和斷開,可以模擬電源輸出短路。但是繼電器存在響應(yīng)時間慢,壽命短的缺點(diǎn),且短路時回路阻抗不能動態(tài)變化,無法滿足更精確的短路試驗(yàn)。
      【實(shí)用新型內(nèi)容】
      [0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是:為了解決上述問題,本實(shí)用新型提供一種電源短路試驗(yàn)裝置來解決上述問題。
      [0004]本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:一種電源短路試驗(yàn)裝置,包含被測電源、功率器件單元、驅(qū)動單元和處理器模塊;所述處理器模塊的輸出端依次通過驅(qū)動單元、功率器件單元與被測電源的輸出端相連;其中所述處理器模塊產(chǎn)生一適于使功率器件單元導(dǎo)通的PWM脈沖。
      [0005]所述功率器件單元包括兩路IGBT模塊,以及所述處理器模塊的輸出端適于通過驅(qū)動單元中的兩路IGBT驅(qū)動模塊與相應(yīng)IGBT模塊相連;以及所述PffM脈沖適于使兩路IGBT模塊同時導(dǎo)通。
      [0006]所述驅(qū)動單元的供電端與一可調(diào)開關(guān)電源相連。
      [0007]所述IGBT模塊的表面設(shè)有散熱器。
      [0008]所述散熱器為水冷散熱器。
      [0009]所述電源短路試驗(yàn)裝置還包括顯示單元,所述的顯示單元與處理器模塊相連。
      [0010]所述的處理器模塊為MCU。
      [0011]本實(shí)用新型的有益效果是,本實(shí)用新型電源短路試驗(yàn)裝置,(I)利用處理器模塊發(fā)送一個PffM的信號脈沖給驅(qū)動單元,驅(qū)動單元控制功率器件模塊通斷,PWM信號脈沖的寬度決定了短路的時間,PWM信號脈沖的個數(shù)決定了短路的次數(shù),實(shí)現(xiàn)對短路過程的精確模擬,便于批量化應(yīng)用。(2)調(diào)整可調(diào)開關(guān)電源的輸出電壓可以調(diào)整功率器件單元的導(dǎo)通電阻,模擬不同回路阻抗下的短路狀況,本裝置實(shí)現(xiàn)對電源輸出短路試驗(yàn)的智能化控制,電路實(shí)現(xiàn)容易,可靠性高。
      【附圖說明】
      [0012]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本實(shí)用新型進(jìn)一步說明。
      [0013]圖1是本實(shí)用新型電源短路試驗(yàn)裝置最優(yōu)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖,
      [0014]圖2為IGBT模塊電路圖;
      [0015]圖3為IGBT導(dǎo)通電阻與柵射極驅(qū)動電壓的關(guān)系圖。
      [0016]圖中1、被測電源,2、功率器件單元,3、可調(diào)開關(guān)電源,4、驅(qū)動單元,5、處理器模塊,6、顯示單元。
      【具體實(shí)施方式】
      [0017]現(xiàn)在結(jié)合附圖對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說明。這些附圖均為簡化的示意圖,僅以示意方式說明本實(shí)用新型的基本結(jié)構(gòu),因此其僅顯示與本實(shí)用新型有關(guān)的構(gòu)成。
      [0018]如圖1所示,本實(shí)用新型電源短路試驗(yàn)裝置,包含被測電源1、功率器件單元2、驅(qū)動單元4和處理器模塊5 ;處理器模塊5的輸出端依次通過驅(qū)動單元4、功率器件單元2與被測電源I的輸出端相連;其中處理器模塊5產(chǎn)生一適于使功率器件單元2導(dǎo)通的PffM脈沖,功率器件單元2包括兩路IGBT模塊,以及處理器模塊5的輸出端適于通過驅(qū)動單元4中的兩路IGBT驅(qū)動模塊與相應(yīng)IGBT模塊相連;以及PffM脈沖適于使兩路IGBT模塊同時導(dǎo)通。驅(qū)動單元4的供電端與一可調(diào)開關(guān)電源3相連。IGBT模塊的表面設(shè)有散熱器。散熱器為水冷散熱器。電源短路試驗(yàn)裝置還包括顯示單元6,顯示單元6與處理器模塊5相連。處理器模塊為MCU。
      [0019]如圖1和2所示,被測電源I的正極與功率器件單元2的c處主電極相連,被測電源I的負(fù)極與功率器件單元2的b處主電極相連,兩路IGBT模塊分為上橋驅(qū)動模塊和下橋驅(qū)動模塊,上橋驅(qū)動模塊的輸出連接功率器件單元2的d處和e處端口,下橋驅(qū)動單元輸出連接功率器件單元2的f處和g處端口。可調(diào)開關(guān)電源3為驅(qū)動單元4提供工作電壓,MCU的一個輸出端口連接驅(qū)動單元4,顯示單元6與MCU通過總線連接
      [0020]可調(diào)開關(guān)電源3技術(shù)指標(biāo)為:1)交流輸入電壓AC220V±20%,2)直流輸出電壓4?18V可調(diào),3)輸出電流O?10A,4)輸出電壓調(diào)整率彡1%,5)紋波電壓Upp ( 50mV。
      [0021]IGBT模塊型號為BSM100GB120DN2,額定電壓1200V,電流100A,電路圖如圖2所不,IGBT模塊主電極c和a,a和b之間分別接一個分壓電阻,IGBT模塊安裝于水冷散熱器上。
      [0022]該試驗(yàn)方法所需短路的導(dǎo)通電阻可以通過設(shè)定可調(diào)開關(guān)電源3的輸出電壓獲得,IGBT模塊集電極電流與柵射極電壓的關(guān)系如圖3所示,通過此圖可得出柵射極電壓與IGBT導(dǎo)通電阻的關(guān)系。
      [0023]MCU型號為MC9S12DG128,通過設(shè)置短路時間及次數(shù),設(shè)置的參數(shù)可由顯示單元6顯示,設(shè)置OK后,啟動PffM脈沖發(fā)送程序,兩路IGBT驅(qū)動模塊同時接受到PffM信號,兩個IGBT模塊同時導(dǎo)通,電源輸出短路。
      [0024]工作原理:被測電源I輸出電壓為5V,經(jīng)試驗(yàn),短路時電流最大為100A。顯示單元6對短路次數(shù)達(dá)到設(shè)定值時,IGBT模塊處于截止?fàn)顟B(tài),電源空載,短路試驗(yàn)完成。
      [0025]以上述依據(jù)本實(shí)用新型的理想實(shí)施例為啟示,通過上述的說明內(nèi)容,相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項(xiàng)實(shí)用新型技術(shù)思想的范圍內(nèi),進(jìn)行多樣的變更以及修改。本項(xiàng)實(shí)用新型的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容,必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:包含被測電源(I)、功率器件單元(2)、驅(qū)動單元⑷和處理器模塊(5); 所述處理器模塊(5)的輸出端依次通過驅(qū)動單元(4)、功率器件單元(2)與被測電源(I)的輸出端相連;其中 所述處理器模塊(5)產(chǎn)生一適于使功率器件單元(2)導(dǎo)通的PffM脈沖。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述功率器件單元(2)包括兩路IGBT模塊,以及所述處理器模塊(5)的輸出端適于通過驅(qū)動單元(4)中的兩路IGBT驅(qū)動模塊與相應(yīng)IGBT模塊相連;以及 所述PffM脈沖適于使兩路IGBT模塊同時導(dǎo)通。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述驅(qū)動單元(4)的供電端與一可調(diào)開關(guān)電源(3)相連。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述IGBT模塊的表面設(shè)有散熱器。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述散熱器為水冷散熱器。6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述電源短路試驗(yàn)裝置還包括顯示單元¢),所述的顯示單元(6)與處理器模塊(5)相連。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源短路試驗(yàn)裝置,其特征在于:所述的處理器模塊(5)為MCU0
      【專利摘要】本實(shí)用新型涉及一種電源短路試驗(yàn)裝置,包含被測電源、功率器件單元、驅(qū)動單元和處理器模塊;處理器模塊的輸出端依次通過驅(qū)動單元、功率器件單元與被測電源的輸出端相連;其中處理器模塊產(chǎn)生一適于使功率器件單元導(dǎo)通的PWM脈沖。本實(shí)用新型利用處理器模塊發(fā)送一個PWM的信號脈沖給驅(qū)動單元,驅(qū)動單元控制功率器件模塊通斷,PWM信號脈沖的寬度決定了短路的時間,PWM信號脈沖的個數(shù)決定了短路的次數(shù),實(shí)現(xiàn)對短路過程的精確模擬,便于批量化應(yīng)用。
      【IPC分類】G01R31/40
      【公開號】CN204882835
      【申請?zhí)枴緾N201520070687
      【發(fā)明人】周炳, 郝建勇
      【申請人】張家港意發(fā)功率半導(dǎo)體有限公司
      【公開日】2015年12月16日
      【申請日】2015年1月30日
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