一種新型探針檢測(cè)治具的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及檢測(cè)治具應(yīng)用領(lǐng)域，尤其涉及一種用于PCB開(kāi)短路測(cè)試的新型探針檢測(cè)治具。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，現(xiàn)有的PCB的開(kāi)短路測(cè)試檢測(cè)治具存在如下缺點(diǎn):一是該檢測(cè)治具中的最小測(cè)試探針的直徑一般為0.15mm，在高精密PCB的產(chǎn)品中該測(cè)試探針因直徑過(guò)大而無(wú)法進(jìn)行正常的檢測(cè)；二是該檢測(cè)治具一般不具備浮動(dòng)的精準(zhǔn)設(shè)計(jì)，使測(cè)試用的探針外露無(wú)法有效的保護(hù)探針，同時(shí)也影響了使其檢測(cè)的結(jié)果。
[0003]在2011.07.06公告的、公告號(hào)為CN20189269U的中國(guó)實(shí)用新型專(zhuān)利中，公開(kāi)了一種改良的探針檢測(cè)結(jié)構(gòu)，是指檢測(cè)治具的針板內(nèi)設(shè)有預(yù)定數(shù)目的檢測(cè)用探針、供探針復(fù)位的彈性組件、及供檢測(cè)值傳輸至檢測(cè)機(jī)的導(dǎo)線(xiàn)；其中，針板包含有中間承板、底板和面板，它們相互通過(guò)數(shù)軸銷(xiāo)穿置結(jié)合，該中間承板設(shè)有容納孔供彈性組件容置，該底板位于中間承板下方承接著彈性組件，設(shè)有與中間承板的容納孔對(duì)應(yīng)并呈較小的穿孔，該導(dǎo)線(xiàn)一端連接在彈性組件一端，另端連接在檢測(cè)機(jī)或接頭；其特征在于:該面板設(shè)有上板、下板和夾設(shè)在上、下板之間的彈性薄板，在上、下板分別設(shè)有與彈性組件相對(duì)應(yīng)的針孔，該探針一端設(shè)為尖錐體，是由面板的上板針孔處插入，并刺破彈性薄板和經(jīng)過(guò)下板針孔而插置在對(duì)應(yīng)彈性組件的一端內(nèi)徑位置。本實(shí)用新型制作更具簡(jiǎn)易、方便和經(jīng)濟(jì)性，及可使探針高密度的布設(shè)在檢測(cè)治具，并對(duì)具有高密度被檢測(cè)點(diǎn)的被測(cè)物實(shí)施精準(zhǔn)、確實(shí)檢測(cè)效果，從而更加適于實(shí)用。
[0004]但該檢測(cè)結(jié)構(gòu)是在針板內(nèi)設(shè)置更多數(shù)目的探針，以高密度的布設(shè)來(lái)實(shí)現(xiàn)，因此，其仍沒(méi)有解決現(xiàn)有檢測(cè)治具中探針直徑過(guò)大和無(wú)法有效的保護(hù)探針的缺點(diǎn)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為克服上述缺點(diǎn)，本實(shí)用新型的目的在于提供一種新型探針檢測(cè)治具，已達(dá)到減小探針的直徑，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中正常檢測(cè)，并且更有效的保護(hù)探針，使其檢測(cè)結(jié)果更加精準(zhǔn)的目的。
[0006]為了達(dá)到以上目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種新型探針檢測(cè)治具，包括被測(cè)電路板、探針裝置和連接器，所述探針裝置包括針盤(pán)、探針和線(xiàn)盤(pán)所述針盤(pán)內(nèi)設(shè)置有卡住所述探針的卡槽，所述探針直徑設(shè)置為0.04mm，所述探針的表面設(shè)置有絕緣層；所述線(xiàn)盤(pán)設(shè)置在所述針盤(pán)的下方，所述線(xiàn)盤(pán)的頂端設(shè)置有電極面，所述線(xiàn)盤(pán)內(nèi)設(shè)置有浮動(dòng)部件，其可帶動(dòng)線(xiàn)盤(pán)進(jìn)行上下的壓縮和伸出運(yùn)動(dòng)，所述電極面通過(guò)漆包線(xiàn)與所述連接器電連接，所述探針通過(guò)與電極面接觸后與所述連接器通電連接，對(duì)被測(cè)電路板進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)。通過(guò)將探針的直徑設(shè)置為0.04_，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中可正常的檢測(cè)，探針可高密度分布，使其更高效的進(jìn)行檢測(cè)；在探針的表面設(shè)置絕緣層，可有效的避免因探針彎曲造成的誤測(cè)；在線(xiàn)盤(pán)內(nèi)設(shè)置有浮動(dòng)部件，浮動(dòng)部件可根據(jù)需要對(duì)線(xiàn)盤(pán)進(jìn)行壓縮或伸出，控制電極面與探針的接觸距離，可有效的控制探針突量，進(jìn)而更有效的保護(hù)探針，還使其檢測(cè)結(jié)果更加精準(zhǔn)，提高其檢測(cè)精度。
[0007]進(jìn)一步地，所述針盤(pán)設(shè)置為堆棧的板材結(jié)構(gòu)，多層堆棧的結(jié)構(gòu)可減少探針上下運(yùn)行的阻力，使探針運(yùn)行更加順暢。
[0008]進(jìn)一步地，所述針盤(pán)相鄰兩層之間設(shè)置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤(pán)更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，有效的控制針痕。
[0009]進(jìn)一步地，所述電極面的表面鍍有一鍍金層，以增強(qiáng)電極面的通導(dǎo)性，使其通導(dǎo)后反應(yīng)更加靈敏。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1為本實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0011]圖中:
[0012]1-被測(cè)電路板；2_探針裝置；3_連接器；4-針盤(pán)；5-探針；6-線(xiàn)盤(pán)；7-卡槽；8_電極面；9_浮動(dòng)部件。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)闡述，以使本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對(duì)本實(shí)用新型的保護(hù)范圍做出更為清楚明確的界定。
[0014]參見(jiàn)附圖1所示，本實(shí)施例的一種新型探針檢測(cè)治具，包括被測(cè)電路板1、探針裝置2和連接器3，探針裝置2包括針盤(pán)4、探針5和線(xiàn)盤(pán)6，針盤(pán)4內(nèi)設(shè)置有卡住探針5的卡槽7，針盤(pán)4設(shè)置為多層堆棧的板材結(jié)構(gòu)，可減少探針5上下運(yùn)行的阻力，使探針5運(yùn)行更加順暢；針盤(pán)4相鄰兩層之間設(shè)置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤(pán)4更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，有效的控制針痕。探針5直徑設(shè)置為0.04_，使其在高精密PCB的產(chǎn)品中可正常的檢測(cè)，探針5可高密度分布，使其更高效的進(jìn)行檢測(cè)；探針5的表面設(shè)置有絕緣層，使得探針5在彎曲時(shí)不易短路，具有較好的韌性；線(xiàn)盤(pán)6設(shè)置在針盤(pán)4的下方，線(xiàn)盤(pán)6的頂端設(shè)置有電極面8，電極面8的表面鍍有一鍍金層，以增強(qiáng)電極面8的通導(dǎo)性；線(xiàn)盤(pán)6內(nèi)設(shè)置有浮動(dòng)部件9，其可帶動(dòng)線(xiàn)盤(pán)6進(jìn)行上下的壓縮和伸出運(yùn)動(dòng)，以控制電極面8與探針5的接觸距離，可有效的控制探針5突量，進(jìn)而更有效的保護(hù)探針5 ;電極面8通過(guò)漆包線(xiàn)與連接器3電連接，探針5通過(guò)與電極面8接觸后與連接器3通電連接，對(duì)被測(cè)電路板1進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)。
[0015]探針5在未受壓力時(shí)藏在針盤(pán)4內(nèi)，受到壓力后探針5再?gòu)棾?，這樣可更有效的保護(hù)了探針5，延長(zhǎng)其使用壽命。
[0016]本檢測(cè)治具可以通過(guò)連接器實(shí)現(xiàn)與ICT治具的配合，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試的需求。
[0017]以上實(shí)施方式只為說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思及特點(diǎn)，其目的在于讓熟悉此項(xiàng)技術(shù)的人了解本實(shí)用新型的內(nèi)容并加以實(shí)施，并不能以此限制本實(shí)用新型的保護(hù)范圍，凡根據(jù)本實(shí)用新型精神實(shí)質(zhì)所做的等效變化或修飾，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種新型探針檢測(cè)治具，包括被測(cè)電路板(1)、探針裝置(2)和連接器(3)，其特征在于:所述探針裝置(2 )包括針盤(pán)(4 )、探針(5 )和線(xiàn)盤(pán)(6 )，所述針盤(pán)(4 )內(nèi)設(shè)置有卡住所述探針(5 )的卡槽(7 )，所述探針(5 )直徑設(shè)置為0.04mm，所述探針(5 )的表面設(shè)置有絕緣層；所述線(xiàn)盤(pán)(6 )設(shè)置在所述針盤(pán)(4 )的下方，所述線(xiàn)盤(pán)(6 )的頂端設(shè)置有電極面(8 )，所述線(xiàn)盤(pán)(6)內(nèi)設(shè)置有浮動(dòng)部件(9)，其可帶動(dòng)線(xiàn)盤(pán)(6)進(jìn)行上下的壓縮和伸出運(yùn)動(dòng)，所述電極面(8)通過(guò)漆包線(xiàn)與所述連接器(3)電連接，所述探針(5)通過(guò)與電極面(8)接觸后與所述連接器(3 )通電連接，對(duì)被測(cè)電路板(1)進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型探針檢測(cè)治具，其特征在于:所述針盤(pán)(4)設(shè)置為堆棧的板材結(jié)構(gòu)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種新型探針檢測(cè)治具，其特征在于:所述針盤(pán)(4)相鄰兩層之間設(shè)置有銅支柱。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種新型探針檢測(cè)治具，其特征在于:所述電極面(8)的表面鍍有一鍍金層。
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種新型探針檢測(cè)治具，包括被測(cè)電路板（1）、探針裝置（2）和連接器（3），探針裝置（2）包括針盤(pán)（4）、探針（5）和線(xiàn)盤(pán)（6），針盤(pán)（4）內(nèi)設(shè)置有卡住探針（5）的卡槽（7），探針（5）直徑設(shè)置為0.04mm，探針（5）表面設(shè)置有絕緣層；線(xiàn)盤(pán)（6）設(shè)置在針盤(pán)（4）下方，線(xiàn)盤(pán)（6）頂端設(shè)置有電極面（8），線(xiàn)盤(pán)（6）內(nèi)設(shè)置有浮動(dòng)部件（9），電極面（8）通過(guò)漆包線(xiàn)與連接器（3）電連接，探針（5）通過(guò)與電極面（8）接觸后與連接器（3）通電連接，對(duì)被測(cè)電路板（1）進(jìn)行開(kāi)短路檢測(cè)。本實(shí)用新型減小探針的直徑，使其在高精密PCB產(chǎn)品中正常檢測(cè)，更有效的保護(hù)探針，使其檢測(cè)結(jié)果更精準(zhǔn)。
【IPC分類(lèi)】G01R31/02, G01R1/067
【公開(kāi)號(hào)】CN204989253
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520452598
【發(fā)明人】蘇軍梅
【申請(qǐng)人】深圳市芽莊電子有限公司
【公開(kāi)日】2016年1月20日
【申請(qǐng)日】2015年6月29日