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      一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置的制造方法

      文檔序號:10093584閱讀:416來源:國知局
      一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置的制造方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實用新型涉及電子檢測領(lǐng)域,具體地說,是一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置。
      【背景技術(shù)】
      [0002]耐壓測試是指對各種低壓電器裝置,絕緣材料和絕緣結(jié)構(gòu)的耐壓能力進(jìn)行測試。耐壓測試的基礎(chǔ)理論是將一個產(chǎn)品暴露在非常惡劣的環(huán)境之下,如果產(chǎn)品能夠在這種惡劣的環(huán)境之下還能維持正常狀況,就可以確定在正常的環(huán)境之下工作,也一定可以維持正常的狀況。不同的產(chǎn)品有不同的技術(shù)規(guī)格,基本上在耐壓測試時是將一個高電壓加在產(chǎn)品上測試,這個電壓必須持續(xù)一段規(guī)定的時間。如果一個組件在規(guī)定的時間內(nèi),其擊穿電流亦保持在規(guī)定的范圍內(nèi),就可以確定這個零組件在正常的條件下運(yùn)轉(zhuǎn)非常安全。
      [0003]目前,現(xiàn)有的耐壓測試儀的數(shù)據(jù)顯示區(qū)域只顯示時間、電壓、電流值,對于在測試過程中出現(xiàn)的閃絡(luò)、拉弧現(xiàn)象,必須借助示波器才能進(jìn)行分析。隨著新材料的發(fā)展,對耐壓測試儀的要求越來越高,以往只重視測試結(jié)果不重視測試過程的耐壓測試儀已經(jīng)無法滿足測試要求。
      【實用新型內(nèi)容】
      [0004]實用新型目的:本實用新型的目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,該圖形顯示裝置顯示被測器件的采集時間以及對應(yīng)的電壓、電流圖形,能夠?qū)φ麄€測試過程中的數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。
      [0005]技術(shù)方案:為達(dá)到上述目的,本實用新型所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,包括:數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)庫模塊、CPU處理模塊、接口電路模塊、實時圖形顯示模塊、時間顯示模塊、電流顯示模塊、電壓顯示模塊,所述數(shù)據(jù)采集模塊輸出端與數(shù)據(jù)分析模塊輸入端連接,所述數(shù)據(jù)分析模塊的輸出端與數(shù)據(jù)庫模塊輸入端連接,所述數(shù)據(jù)庫模塊的輸出端與CPU處理模塊的輸入端連接,所述CPU處理模塊的輸出端與接口電路模塊的輸入端連接,所述接口電路模塊的輸出端與實時圖形顯示模塊、時間顯示模塊、電流顯示模塊、電壓顯示模塊連接。
      [0006]本實用新型所述數(shù)據(jù)采集模塊采集測試過程中的時間、電壓、電流的數(shù)據(jù)。
      [0007]本實用新型所述電壓顯示模塊和電流顯示模塊分別顯示采集時間相對應(yīng)的電壓值和電流值。
      [0008]本實用新型所述數(shù)據(jù)分析模塊設(shè)有數(shù)據(jù)模型,將采集到的數(shù)據(jù)通過軟件分析后以數(shù)據(jù)及曲線圖形的形式顯示。
      [0009]本實用新型所述數(shù)據(jù)庫模塊內(nèi)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)器件圖形庫。
      [0010]本實用新型的有益效果為:本實用新型能夠顯示被測器件與標(biāo)準(zhǔn)器件的圖形對比,能夠更直觀的找出整個電介質(zhì)強(qiáng)度試驗過程中的問題,解決了以往測試過程中出現(xiàn)閃絡(luò)、拉弧必須借助示波器的問題。
      【附圖說明】
      [0011]圖1為本實用新型的圖形顯示框架圖。
      【具體實施方式】
      [0012]下面結(jié)合附圖和具體實施例,進(jìn)一步闡明本實用新型。
      [0013]如圖1本實用新型所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,包括:數(shù)據(jù)采集模塊1、數(shù)據(jù)分析模塊2、數(shù)據(jù)庫模塊3、CPU處理模塊4、接口電路模塊5、實時圖形顯示模塊6、時間顯示模塊7、電流顯示模塊8、電壓顯示模塊9,所述數(shù)據(jù)采集模塊1輸出端與數(shù)據(jù)分析模塊2輸入端連接,所述數(shù)據(jù)分析模塊2的輸出端與數(shù)據(jù)庫模塊3輸入端連接,所述數(shù)據(jù)庫模塊3的輸出端與CPU處理模塊4的輸入端連接,所述CPU處理模塊4的輸出端與接口電路模塊5的輸入端連接,所述接口電路模塊5的輸出端與實時圖形顯示模塊6、時間顯示模塊7、電流顯示模塊8、電壓顯示模塊9連接。
      [0014]本實施例中數(shù)據(jù)分析模塊2設(shè)有數(shù)據(jù)模型,數(shù)據(jù)分析模塊2通過軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析以數(shù)據(jù)和曲線圖形兩種形式顯示電壓、電流值。
      [0015]本實施例中所述數(shù)據(jù)庫模塊3內(nèi)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)器件圖形庫,通過被測器件圖形與標(biāo)準(zhǔn)器件圖形對比能夠更直觀的找出整個電介質(zhì)強(qiáng)度試驗過程中的問題,通過對本實用新型的開發(fā)研究可以起到本行業(yè)的發(fā)展方向示范作用,從而推動絕緣材料的進(jìn)一步發(fā)展。
      [0016]實施例僅用于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的范圍,在閱讀了本實用新型之后,本領(lǐng)域技術(shù)人員對本實用新型的各種等價形式的修改均落于本申請所附權(quán)利要求所限定的范圍。
      【主權(quán)項】
      1.一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,其特征在于,包括:數(shù)據(jù)采集模塊(1)、數(shù)據(jù)分析模塊(2 )、數(shù)據(jù)庫模塊(3 )、CPU處理模塊(4 )、接口電路模塊(5 )、實時圖形顯示模塊(6)、時間顯示模塊(7)、電流顯示模塊(8)、電壓顯示模塊(9),所述數(shù)據(jù)采集模塊(1)輸出端與數(shù)據(jù)分析模塊(2)輸入端連接,所述數(shù)據(jù)分析模塊(2)的輸出端與數(shù)據(jù)庫模塊(3)輸入端連接,所述數(shù)據(jù)庫模塊(3)的輸出端與CPU處理模塊(4)的輸入端連接,所述CPU處理模塊(4)的輸出端與接口電路模塊(5)的輸入端連接,所述接口電路模塊(5)的輸出端與實時圖形顯示模塊(6)、時間顯示模塊(7)、電流顯示模塊(8)、電壓顯示模塊(9)連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù)采集模塊(1)采集測試過程中的時間、電壓、電流的數(shù)據(jù)。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,其特征在于:所述電壓顯示模塊(8)和電流顯示模塊(9)分別顯示采集時間相對應(yīng)的電壓值和電流值。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù)分析模塊(2)設(shè)有數(shù)據(jù)模型,將采集到的數(shù)據(jù)通過軟件分析后以數(shù)據(jù)及曲線圖形的形式顯示。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,其特征在于:所述數(shù)據(jù)庫模塊(3)內(nèi)設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)器件圖形庫。
      【專利摘要】本實用新型公開了一種用于耐壓測試儀在試驗中數(shù)據(jù)分析的圖形顯示裝置,包括:數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)庫模塊、CPU處理模塊、接口電路模塊、實時圖形顯示模塊、時間、電流、電壓顯示模塊,數(shù)據(jù)采集模塊輸出端與數(shù)據(jù)分析模塊輸入端連接,數(shù)據(jù)分析模塊的輸出端與數(shù)據(jù)庫模塊輸入端連接,數(shù)據(jù)庫模塊的輸出端與CPU處理模塊的輸入端連接,CPU處理模塊的輸出端與接口電路模塊的輸入端連接,接口電路模塊的輸出端與實時圖形顯示模塊、時間、電流、電壓顯示模塊連接。本實用新型能夠?qū)崟r顯示被測器件與標(biāo)準(zhǔn)器件的圖形對比,能夠更直觀的找出整個電介質(zhì)強(qiáng)度試驗過程中的問題,解決了以往測試過程中出現(xiàn)閃絡(luò)、拉弧借助示波器的問題。
      【IPC分類】G01R31/12, G01R1/00
      【公開號】CN205003174
      【申請?zhí)枴緾N201520721042
      【發(fā)明人】李求龍
      【申請人】南京民盛電子儀器有限公司
      【公開日】2016年1月27日
      【申請日】2015年9月17日
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