帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀的制作方法
【技術領域】
[〇〇〇1] 本實用新型涉及一種動態(tài)顆粒圖像粒度分析技術，具體的說是一種帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀。
【背景技術】
[0002]以往的顯微圖像顆粒粒度粒形分析儀都是在傳統(tǒng)的顯微鏡下，需要人為去移動顯微平臺來捕捉顆粒圖像信息，非常繁瑣，而且人為因素的干擾對測量結果的精度影響較大。顯微物鏡的視場有限，對于放大后超出視場范圍的大顆粒無法分析，影響了儀器單物鏡倍數(shù)下的測量動態(tài)范圍。如不具備掃描拼接功能的20倍物鏡，分析的粒徑范圍僅僅為1-100微米，不具備掃描功能的顯微顆粒分析儀測試10000個顆粒大概要幾十分鐘，并且顆粒的清晰度需要人為手動的去對焦，精度不夠，不具備實時對焦功能，圖像清晰度差、分析視場范圍有限的問題。
【實用新型內容】
[0003]針對現(xiàn)有技術中顯微圖像顆粒粒度粒形分析儀精度低、圖像清晰度差、不具備實時對焦功能等不足，本實用新型要解決的技術問題是提供一種帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型采用的技術方案是:
[0005]本實用新型帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺，還包括X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸移動機構以及CCD相機，其中X軸移動機構和Y軸移動機構分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺上，Z軸移動機構安裝在鏡架上；CCD相機安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計算機。
[0006]所述載物臺具有三層結構，原有載物臺在底層，與鏡架轉動連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動機構中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進電機輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動機構中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進電機輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設有導軌。Z軸移動機構安裝在鏡架上，通過第三步進電機驅動；三層結構共同作為一個整體，沿Z軸移動機構上下運動，進行焦距調整。
[0007]本實用新型具有以下有益效果及優(yōu)點:
[0008]1.本實用新型將X、Y、Z三方向可以控制自動移動平臺的顯微鏡應用到顆粒的粒度粒形分析系統(tǒng)中，很好的解決了手動顯微鏡帶來的不足，提高了測量精度，改善了圖像清晰度，解決了分析視場范圍有限的問題；控制平臺Z軸上下移動可以實現(xiàn)自動對焦功能，而且軟件可以實時判斷圖像的清晰度，從而實現(xiàn)圖像的實時自動對焦，保證圖像時刻都是最清晰的。
[0009]2.本實用新型計算機控制平臺X、Y軸移動，可以實現(xiàn)二維平面內的全區(qū)域掃描，從而實現(xiàn)快速的、大量的顆粒圖像進行分析，提高了代表性，同時可以對X、Y軸自動移動時拍攝的圖像進行拼接，形成一幅全區(qū)域范圍的全景圖像，然后再對全景圖像進行分析，可以很好的擴大單物鏡下的顆粒粒徑分析范圍，如不具備掃描拼接功能的20倍物鏡，分析的粒徑范圍是1-100微米，那么具備掃描拼接功能后，粒徑的分析范圍可以擴大到1-50000微米。
[0010]3.本實用新型方法結合多線程的快速顆粒識別軟件技術，大大的提高了分析速度，如不具備掃描功能的顯微顆粒分析儀測試10000個顆粒大概要幾十分鐘，而具備掃描功能后分析10000個顆粒只需要2-3分鐘。
[0011]4.本實用新型在對顆粒測量時，從準確性、重復性、測量精度、分辨率以及測量時間上都有非常大的提高，是以往顯微圖像顆粒分析儀不能比擬的。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型結構示意圖。
[0013]其中，1為顯微鏡，2為Z軸移動機構，3為Y軸移動機構，4為X軸移動機構，5為(XD相機，6為計算機。
【具體實施方式】
[0014]下面結合說明書附圖對本實用新型作進一步闡述。
[0015]如圖1所示，本實用新型帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡，載物臺以可移動方式安裝在鏡架上，還包括X軸移動機構4、Y軸移動機構3、Ζ軸移動機構2以及CCD相機5，其中X軸移動機構4和Υ軸移動機構3分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡1的載物臺上，Ζ軸移動機構2安裝在鏡架上；CCD相機5安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計算機6。
[0016]所述載物臺具有三層結構，原有載物臺在底層，與鏡架轉動連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動機構3中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進電機輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動機構4中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進電機輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設有導軌；Z軸移動機構2安裝在鏡架上，通過第三步進電機驅動；三層結構共同作為一個整體，沿Z軸移動機構2上下運動，進行焦距調整。
[0017]本實施例中，Z軸移動機構2沿用原有的斜齒輪齒條，原有顯微鏡的兩個對稱手輪，其中一個更換為步進電機驅動Z軸移動機構2的齒輪傳送機構上下運動，進行焦距調整。X、Y、Z三個方向行程的極限位置處安裝有限位開關。
[0018]底層與中層、中層與頂層之間的導軌采用交叉滾柱導軌，特點是無間隙，高剛性，低摩擦。
[0019]本實用新型將具有X、Y、Z三方向可以控制自動移動平臺的顯微鏡應用到顆粒的粒度粒形分析系統(tǒng)中來，配合控制部分很好的解決了手動顯微鏡測量精度低、圖像清晰度差、分析視場范圍有限的問題。
【主權項】
1.一種帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺，其特征在于:還包括X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸移動機構以及CCD相機，其中X軸移動機構和Y軸移動機構分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺上，Z軸移動機構安裝在鏡架上；CCD相機安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計算機。2.按權利要求1所述的帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，其特征在于:所述載物臺具有三層結構，原有載物臺在底層，與鏡架轉動連接，在底層上方加裝了中層和頂層，Y軸移動機構中的絲杠安裝在中層的下端面上，絲杠端部與一步進電機輸出軸連接，絲母與底層固定連接；X軸移動機構中的絲杠安裝在中層的端面上，絲杠端部與另一步進電機輸出軸連接，絲母與上層固定連接，上層上設有壓片夾；底層與中層、中層與頂層之間設有導軌。3.按權利要求1所述的帶有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，其特征在于:Z軸移動機構安裝在鏡架上，通過第三步進電機驅動；三層結構共同作為一個整體，沿Z軸移動機構上下運動，進行焦距調整。
【專利摘要】本實用新型涉及一種有掃描、拼接的動態(tài)顆粒圖像粒度粒形分析儀，具有三目顯微鏡和載物臺，還包括X軸移動機構、Y軸移動機構、Z軸移動機構以及CCD相機，其中X軸移動機構和Y軸移動機構分別以橫向和縱向的方式安裝在顯微鏡載物臺上，Z軸移動機構安裝在鏡架上；CCD相機安裝在顯微鏡的第三目位置上，其數(shù)據(jù)線連接至計算機。本實用新型解決了手動顯微鏡帶來的不足，提高了測量精度，改善了圖像清晰度，解決了分析視場范圍有限的問題，實現(xiàn)圖像的實時自動對焦，保證圖像時刻都是最清晰的。
【IPC分類】G01N15/00, G01N15/02
【公開號】CN205027634
【申請?zhí)枴緾N201520817767
【發(fā)明人】范繼來, 李闖, 孟慶學, 劉峰源
【申請人】丹東百特儀器有限公司
【公開日】2016年2月10日
【申請日】2015年10月20日