一種通用集成電路測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及集成電路制造領(lǐng)域，特別涉及一種通用集成電路測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]市場上集成電路競爭非常激烈，大部份國內(nèi)外芯片制造廠都具備各種集成電路的制造能力，從目前的趨勢來看，測試是影響價(jià)格的關(guān)鍵因素之一。在兼顧測試可靠性的前提下，如何提高測試效率并降低測試成本，是一個(gè)非常重要的問題。
[0003]通常，為了模仿使用環(huán)境，通常在測試集成電路時(shí)，需要對(duì)集成電路進(jìn)行加熱，在高溫的環(huán)境下對(duì)集成電路進(jìn)行各種測試。集成電路在制造過程中涉及多種測試，而且對(duì)于不同的型號(hào)的集成電路其測試條件要不盡相同。也就是說，每一次測試的溫度條件都不相同。例如，第一次測試的溫度條件遠(yuǎn)高于第二次測試的溫度條件，這時(shí)，在完成第一次測試后第二次測試前，需要對(duì)測試平臺(tái)進(jìn)行自然降溫，當(dāng)溫度降低到第二次測試溫度條件范圍內(nèi)時(shí)，才能夠進(jìn)行第二次測試。如果兩次測試條件的溫度落差較大時(shí)，等待自然降溫的時(shí)間將非常長，有時(shí)甚至超過120分鐘，嚴(yán)重降低了測試效率，導(dǎo)致了測試成本的上升。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種降溫時(shí)間短可以完全自動(dòng)根據(jù)溫度調(diào)整開關(guān)以及具有溫度顯示器和聲控提醒裝置，更具人性化，更加節(jié)約人力成本的通用集成電路測試裝置。
[0005]本實(shí)用新型解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:
[0006]—種通用集成電路測試裝置，包括測試平臺(tái)，其特征在于:測試平臺(tái)上方設(shè)置有加熱裝置和數(shù)個(gè)小型散熱裝置，測試平臺(tái)下方設(shè)置有冷卻裝置，所述測試平臺(tái)與溫度檢測裝置連接，所述加熱裝置與加熱控制裝置連接，所述小型散熱裝置和冷卻裝置與冷卻控制裝置連接，溫度檢測裝置與加熱控制裝置和冷卻控制裝置連接，冷卻控制裝置與加熱控制裝置之間連接有自動(dòng)控制開關(guān)裝置，冷卻控制裝置、加熱控制裝置和自動(dòng)控制開關(guān)裝置與輸入輸出控制裝置連接。
[0007]進(jìn)一步的，所述溫度檢測裝置上設(shè)置有溫度顯示器和聲控提醒裝置。
[0008]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置設(shè)置有兩個(gè)分別在加熱裝置兩端。
[0009]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置設(shè)置有四個(gè)均勻分布在加熱裝置四周。
[0010]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置和冷卻裝置為陶瓷制成。
[0011]本實(shí)用新型所述的一種通用集成電路測試裝置的優(yōu)點(diǎn)在于，降溫時(shí)間短可以完全自動(dòng)根據(jù)溫度調(diào)整開關(guān)以及具有溫度顯示器和聲控提醒裝置，更具人性化，更加節(jié)約人力成本的。
【附圖說明】
[0012]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的說明:
[0013]圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]1、測試平臺(tái)，2、加熱裝置，3、小型散熱裝置，4、溫度檢測裝置，4-1、溫度顯示器，4-2、聲控提醒裝置，5、加熱控制裝置，6、自動(dòng)控制開關(guān)裝置，7、冷卻控制裝置，8、輸入輸出控制裝置，9、冷卻裝置。
【具體實(shí)施方式】
[0015]—種通用集成電路測試裝置，包括測試平臺(tái)1，其特征在于:測試平臺(tái)1上方設(shè)置有加熱裝置2和數(shù)個(gè)小型散熱裝置3，測試平臺(tái)1下方設(shè)置有冷卻裝置9，所述測試平臺(tái)1與溫度檢測裝置4連接，所述加熱裝置2與加熱控制裝置5連接，所述小型散熱裝置3和冷卻裝置9與冷卻控制裝置7連接，溫度檢測裝置4與加熱控制裝置5和冷卻控制裝置7連接，冷卻控制裝置7與加熱控制裝置5之間連接有自動(dòng)控制開關(guān)裝置6，冷卻控制裝置7、加熱控制裝置5和自動(dòng)控制開關(guān)裝置6與輸入輸出控制裝置8連接。
[0016]進(jìn)一步的，所述溫度檢測裝置4上設(shè)置有溫度顯示器4-1和聲控提醒裝置4-2。
[0017]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置3設(shè)置有兩個(gè)分別在加熱裝置2兩端。
[0018]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置3設(shè)置有四個(gè)均勻分布在加熱裝置2四周。
[0019]進(jìn)一步的，所述小型散熱裝置3和冷卻裝置9為陶瓷制成。
[0020]具體實(shí)施時(shí)，溫度檢測裝置4可以設(shè)定第一次檢測所需的溫度數(shù)值A(chǔ)和下一次檢測所需的溫度數(shù)值B，加熱控制裝置5啟動(dòng)后市的測試平臺(tái)的溫度達(dá)到了第一次檢測所需溫度A時(shí)，發(fā)出聲控提醒提醒進(jìn)行第一次測試；第一次檢測結(jié)束后自動(dòng)通過冷卻控制裝置7降溫到第二次所需溫度B，發(fā)出聲控提醒提醒進(jìn)行第二次測試，第二次檢測結(jié)束后自動(dòng)控制開關(guān)裝置6自動(dòng)關(guān)閉，防止能源浪費(fèi)。
[0021]以上所述僅為本實(shí)用新型的實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍，凡是利用本實(shí)用新型說明書內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換或直接或間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
[0022]綜上所述，本實(shí)用新型所述的一種通用集成電路測試裝置的優(yōu)點(diǎn)在于，降溫時(shí)間短可以完全自動(dòng)根據(jù)溫度調(diào)整開關(guān)以及具有溫度顯示器和聲控提醒裝置，更具人性化，更加節(jié)約人力成本的。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種通用集成電路測試裝置，包括測試平臺(tái)(1 )，其特征在于:測試平臺(tái)(1)上方設(shè)置有加熱裝置(2 )和數(shù)個(gè)散熱裝置(3 )，測試平臺(tái)(1)下方設(shè)置有冷卻裝置(9 )，所述測試平臺(tái)(1)與溫度檢測裝置(4)連接，所述加熱裝置(2)與加熱控制裝置(5)連接，所述散熱裝置(3)和冷卻裝置(9)與冷卻控制裝置(7)連接，溫度檢測裝置(4)與加熱控制裝置(5)和冷卻控制裝置(7)連接，冷卻控制裝置(7)與加熱控制裝置(5)之間連接有自動(dòng)控制開關(guān)裝置(6)，冷卻控制裝置(7)、加熱控制裝置(5)和自動(dòng)控制開關(guān)裝置(6)與輸入輸出控制裝置(8)連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種通用集成電路測試裝置，其特征在于:所述溫度檢測裝置(4 )上設(shè)置有溫度顯示器(4-1)和聲控提醒裝置(4-2 )。3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種通用集成電路測試裝置，其特征在于:所述散熱裝置(3 )設(shè)置有兩個(gè)分別在加熱裝置(2 )兩端。4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種通用集成電路測試裝置，其特征在于:所述散熱裝置(3)設(shè)置有四個(gè)均勻分布在加熱裝置(2)四周。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種通用集成電路測試裝置，其特征在于:所述散熱裝置(3)和冷卻裝置(9)為陶瓷制成。
【專利摘要】一種通用集成電路測試裝置，包括測試平臺(tái)，測試平臺(tái)上方設(shè)置有加熱裝置和數(shù)個(gè)小型散熱裝置，測試平臺(tái)下方設(shè)置有冷卻裝置，所述測試平臺(tái)與溫度檢測裝置連接，所述加熱裝置與加熱控制裝置連接，所述小型散熱裝置和冷卻裝置與冷卻控制裝置連接，溫度檢測裝置與加熱控制裝置和冷卻控制裝置連接，冷卻控制裝置與加熱控制裝置之間連接有自動(dòng)控制開關(guān)裝置，冷卻控制裝置、加熱控制裝置和自動(dòng)控制開關(guān)裝置與輸入輸出控制裝置連接。本實(shí)用新型所述的一種通用集成電路測試裝置的優(yōu)點(diǎn)在于，降溫時(shí)間短可以完全自動(dòng)根據(jù)溫度調(diào)整開關(guān)以及具有溫度顯示器和聲控提醒裝置，更具人性化，更加節(jié)約人力成本的。
【IPC分類】H05K7/20, G01R31/28
【公開號(hào)】CN205103370
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201520790007
【發(fā)明人】朱旭, 姜蕾, 黃彩明
【申請(qǐng)人】上海浦壹電子科技有限公司
【公開日】2016年3月23日
【申請(qǐng)日】2015年10月13日