分立器件的測試轉接裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種測試轉接工裝，具體涉及一種分立器件的測試轉接裝置。
【背景技術】
[0002]在制得半導體分立器件成品后，需要對分立器件進行電性能測試，即在分立器件測試過程中，需要將測試設備的測試線通過測試轉接頭與物料分選設備的測試座相連接，然后對測試座上的分立器件進行電性能測試;所述測試轉接頭包括公母接頭，母接頭與物料分選設備的測試座固定連接，公接頭與測試設備的測試線是焊接連接的，這樣，當機臺變更或產品變更需要調整測試線與公接頭的焊接位置，就必須先將已有的測試線與公接頭的焊接處熔融后再按照新的技術要求，調整兩者之間的焊接位置并將兩者焊接連接，這樣，不僅浪費了測試人員的時間，使得測試效率低，而且長時間這樣重復焊接會影響公接頭的使用壽命。
【發(fā)明內容】
[0003]本實用新型的目的是:提供一種不僅省時省力、無需焊接連接，而且測試效率高的分立器件的測試轉接裝置，以克服現有技術的不足。
[0004]為了達到上述目的，本實用新型的技術方案是:一種分立器件的測試轉接裝置，包括轉接座、第一測試片副、第二測試片副、第一緊固螺釘和第二緊固螺釘;而:
[0005]所述轉接座具有第一連接凹腔和第二連接凹腔，且轉接座內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針，第二排為第二測試插針，在第一連接凹腔內有由與第一測試插針連接的第一動測試片，和與轉接座連接的第一定測試片有間距相對布置所組成的第一測試片副，在第二連接凹腔內有由與第二測試插針連接的第二動測試片，和與轉接座連接的第二定測試片有間距相對布置所組成的第二測試片副；
[0006]所述第一緊固螺釘穿過第一動測試片并指向第一定測試片，所述第二緊固螺釘穿過第二動測試片并指向第二定測試片。
[0007]在上述技術方案中，所述轉接座的兩端均具有與其互為一體或固定連接的連接耳，且連接耳上設有定位安裝孔。
[0008]在上述技術方案中，所述轉接座具有與其互為一體或固定連接的保護罩，且保護罩位于第一測試插針和第二測試插針的外周，所述保護罩為腰圓形。
[0009]在上述技術方案中，所述第一測試插針和第二測試插針的個數均為2?20個。
[0010]本實用新型所具有的積極效果是:采用本實用新型的測試轉接裝置后，使用時，根據測試的技術要求，將測試設備的測試線的一端伸入到第一連接凹腔和/或第二連接凹腔內的動測試片和定測試片之間的縫隙中，然后通過第一緊固螺釘和/或第二緊固螺釘將測試片副與測試線緊固連接，即可對分立器件進行電性能測試，這樣，本實用新型取代了已有技術中測試線需要與接頭焊接連接的結構，不僅省時省力、無需焊接連接，而且測試效率高，實現了本實用新型的目的。
【附圖說明】
[0011 ]圖1是本實用新型一種【具體實施方式】的結構示意圖；
[0012]圖2是圖1的后視不意圖；
[0013]圖3是圖1的右視示意圖；
[0014]圖4是圖1的俯視不意圖；
[0015]圖5是圖1的仰視不意圖；
[0016]圖6是圖4的A-A剖視示意圖。
【具體實施方式】
[0017]以下結合附圖以及給出的實施例，對本實用新型作進一步的說明，但并不局限于此。
[0018]如圖1、2、3、4、5、6所示，一種分立器件的測試轉接裝置，包括轉接座1、第一測試片副2、第二測試片副3、第一緊固螺釘4和第二緊固螺釘5;而:
[0019]所述轉接座I具有第一連接凹腔1-1和第二連接凹腔1-2，且轉接座I內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針6-1，第二排為第二測試插針6-2，在第一連接凹腔1-1內有由與第一測試插針6-1連接的第一動測試片2-1，和與轉接座I連接的第一定測試片2-2有間距相對布置所組成的第一測試片副2，在第二連接凹腔1-2內有由與第二測試插針6-2連接的第二動測試片3-1，和與轉接座I連接的第二定測試片3-2有間距相對布置所組成的第二測試片副3;
[0020]所述第一緊固螺釘4穿過第一動測試片2-1并指向第一定測試片2-2，所述第二緊固螺釘5穿過第二動測試片3-1并指向第二定測試片3-2。
[0021]如圖1、2、4、5所示，為了便于與測試設備定位安裝，所述轉接座I的兩端均具有與其互為一體或固定連接的連接耳1-3，且連接耳1-3上設有定位安裝孔1-3-1。
[0022]如圖1、3、4、5、6所示，為了防止測試插針與外界硬物發(fā)生碰撞導致折彎變形，所述轉接座I具有與其互為一體或固定連接的保護罩1-4，且保護罩1-4位于第一測試插針6-1和第二測試插針6-2的外周，所述保護罩1-4為腰圓形。
[0023]如圖1、2、4、5所示，為了使得本實用新型能更好的與多種不同規(guī)格的產品配套使用，所述第一測試插針6-1和第二測試插針6-2的個數均為2?20個。本實用新型的第一測試插針6-1和第二測試插針6-2的個數總共為25個。
[0024]本實用新型使用時，根據測試的技術要求，將測試設備的測試線的一端伸入到第一連接凹腔1-1和/或第二連接凹腔1-2內的第一測試片副2的動定測試片和/或第二測試片副3的動定測試片之間的縫隙中，然后通過第一緊固螺釘4和/或第二緊固螺釘5將第一測試片副2的動定測試片和/或第二測試片副3動定測試片與測試線緊固連接，即可對分立器件進行電性能測試，這樣，本實用新型取代了已有技術中測試線需要與接頭焊接連接的結構，不僅省時省力、無需焊接連接，而且測試效率高。
[0025]本實用新型小試結果顯示，其效果是十分滿意的。
【主權項】
1.一種分立器件的測試轉接裝置，其特征在于:包括轉接座(I)、第一測試片副(2)、第二測試片副(3)、第一緊固螺釘(4)和第二緊固螺釘(5);而: 所述轉接座(I)具有第一連接凹腔(1-1)和第二連接凹腔(1-2)，且轉接座(I)內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針(6-1)，第二排為第二測試插針(6-2)，在第一連接凹腔(1-1)內有由與第一測試插針(6-1)連接的第一動測試片(2-1)，和與轉接座(I)連接的第一定測試片(2-2)有間距相對布置所組成的第一測試片副(2)，在第二連接凹腔(1-2)內有由與第二測試插針(6-2)連接的第二動測試片(3-1)，和與轉接座(I)連接的第二定測試片(3-2)有間距相對布置所組成的第二測試片副(3); 所述第一緊固螺釘(4)穿過第一動測試片(2-1)并指向第一定測試片(2-2)，所述第二緊固螺釘(5)穿過第二動測試片(3-1)并指向第二定測試片(3-2)。2.根據權利要求1所述的分立器件的測試轉接裝置，其特征在于:所述轉接座(I)的兩端均具有與其互為一體或固定連接的連接耳(1-3)，且連接耳(1-3)上設有定位安裝孔(1-3-1) ο3.根據權利要求1或2所述的分立器件的測試轉接裝置，其特征在于:所述轉接座(I)具有與其互為一體或固定連接的保護罩(1-4)，且保護罩(1-4)位于第一測試插針(6-1)和第二測試插針(6-2)的外周，所述保護罩(1-4)為腰圓形。4.根據權利要求1所述的分立器件的測試轉接裝置，其特征在于:所述第一測試插針(6-1)和第二測試插針(6-2)的個數均為2?20個。
【專利摘要】本實用新型涉及一種分立器件的測試轉接裝置，包括轉接座、測試片副和緊固螺釘；所述轉接座具有第一連接凹腔和第二連接凹腔，且轉接座內沿其長度方向插入有兩排測試插針，第一排為第一測試插針，第二排為第二測試插針，在第一連接凹腔內有由與第一測試插針連接的第一動測試片，和與轉接座連接的第一定測試片有間距相對布置所組成的第一測試片副，在第二連接凹腔內有由與第二測試插針連接的第二動測試片，和與轉接座連接的第二定測試片有間距相對布置所組成的第二測試片副；所述第一緊固螺釘穿過第一動測試片并指向第一定測試片，所述第二緊固螺釘穿過第二動測試片并指向第二定測試片。本實用新型不僅省時省力、無需焊接連接，而且測試效率高。
【IPC分類】G01R1/04
【公開號】CN205193111
【申請?zhí)枴緾N201520980786
【發(fā)明人】王雙
【申請人】常州銀河世紀微電子有限公司
【公開日】2016年4月27日
【申請日】2015年12月1日