一種功函數(shù)測量裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種功函數(shù)測量裝置，特別適用于實驗室或企業(yè)對微粉煤、半生礦物質(zhì)以及摩擦材料的功函數(shù)測量。
【背景技術】
[0002]目前，測量功函數(shù)的方法有光電子發(fā)射法、熱電子發(fā)射法、場致發(fā)射法、掃描隧道顯微鏡以及開爾文探針法等。前面的幾種方法均有一定的局限性，光電子發(fā)射法、熱電子發(fā)射法、場致發(fā)射法只適合固體樣品的測量。掃描隧道顯微鏡法則要求樣品表面必須帶電，故只適用于導體的測量。綜上所述對于粉體類大部分絕緣體，因其表面不能導電，故上述方法均不宜采用。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]針對上述方法的局限性，提供了一種方便、快捷測量粉體類物質(zhì)表面功函數(shù)的裝置。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本實用新型功函數(shù)測量裝置包括屏蔽裝置與測量裝置。屏蔽裝置主要是一個屏蔽罩以及上面兩個金屬端面，二者合在一起構(gòu)成一個金屬屏蔽空間，供測量裝置進行功函數(shù)測定。測量裝置部分主要是振動器、固定接觸端以及盛放物料的托盤與支架。
[0005]—種功函數(shù)測量裝置，其特征在于:內(nèi)部測量裝置主要包括振動器與物料托盤，振動器產(chǎn)生的規(guī)則振動使得固定接觸端與物料間距往復改變產(chǎn)生電勢;底部接線從物料托盤穿過物料臺與外部電路連接。
[0006]根據(jù)上述的一種功函數(shù)測量裝置，其特征在于:屏蔽外殼、上頂面以及下底面全部為金屬材料。
[0007]有益效果:本實用新型中，振動器振動頻率由信號源實時給定，對于不同樣品參數(shù)所需的振動頻率不同，可以實現(xiàn)方便的調(diào)節(jié)，讓裝置的測量用途有很大的提升。在測量過程中，信號源的實時調(diào)節(jié)可以在振動器上直接觀察出來，便于調(diào)節(jié)出最佳效果;下端信號經(jīng)外部電路可在示波器上實時顯示記錄，便于后期處理;測量裝置結(jié)構(gòu)簡單，制作成本低，無需借助大型復雜儀器，可以有效降低功函數(shù)測量成本。
【附圖說明】
[0008]圖1:本實用新型測量裝置屏蔽外殼正等軸測圖
[0009]圖2:本實用新型測量裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)正等軸測圖
[0010]圖中:I一屏蔽外殼，2—接線出口，3—上頂面，4一振動器，5—連接軸，6—固定接觸端，7—物料托盤，8—支架，9一下底面，1—物料臺
【具體實施方式】
[0011]下面結(jié)合附圖對本實用新型作具體描述:
[0012]如圖1所示，測量裝置的金屬屏蔽外殼，在其上有接線口2，全金屬的材料，完全屏蔽外界信號的干擾；
[0013]如圖2所示，內(nèi)部的測量裝置，上端與外界信號源連接，下端通過連接軸5與固定接觸端6連接;所述固定接觸端6與物料托盤7之間存在5-10mm間距，用于放置物料以及預留振動空間；物料托盤7置于物料臺10上面，物料臺10放置于下底面9上;物料托盤7內(nèi)部有導線通過物料臺10與鎖相放大器連接。
[0014]工作過程:測量時，信號源導線與振動器4連接，物料托盤7添加好測量樣品，內(nèi)部導線與外部電路連接;檢查連線，調(diào)整信號源振動頻率，觀察振動器4振動情況，目測固定接觸端6與物料托盤7上的樣品距離約為2-5mm;振動穩(wěn)定后，將屏蔽外殼I完全罩在測量裝置上，內(nèi)部所有導線全部通過接線出口 2與外界連接。
【主權項】
1.一種功函數(shù)測量裝置，其特征在于:內(nèi)部測量裝置主要包括振動器(4)與物料托盤(7)；底部接線從物料托盤(7 )穿過物料臺(1 )與外部電路連接。2.根據(jù)權利要求1所述的一種功函數(shù)測量裝置，其特征在于:屏蔽外殼(1)、上頂面(3)以及下底面(9)全部為金屬材料。
【專利摘要】一種功函數(shù)測量裝置，適用于企業(yè)或者實驗室對微粉煤、伴生礦物質(zhì)和摩擦材料的功函數(shù)進行測量研究。裝置主要包括屏蔽罩、測量裝置。測量裝置放置于屏蔽罩里面，測量裝置主要有振動器、連接軸、固定接觸端、物料托盤以及物料支撐架組成。該裝置振動器與振動信號源連接，產(chǎn)生給定頻率振動；物料托盤與外部電路連接，進行接觸電勢差的測量，進而得出所測物質(zhì)功函數(shù)。
【IPC分類】G01N27/22
【公開號】CN205210013
【申請?zhí)枴緾N201520816443
【發(fā)明人】朱勁松, 何鑫, 陳曉煒
【申請人】中國礦業(yè)大學
【公開日】2016年5月4日
【申請日】2015年10月22日