一種芯片測試夾的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及測試夾技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片測試夾。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著科技的發(fā)展，電子芯片已經(jīng)越來越多的被運(yùn)用到我們的生活及生產(chǎn)中。芯片以其高度的集成功能及穩(wěn)定的性能被廣泛應(yīng)用。在測試集成芯片功能及好壞時(shí)，為了測試的方便快捷，通常都會用到測試夾。
[0003]當(dāng)遇到空間較緊密的器件時(shí)，傳統(tǒng)的芯片測試夾的結(jié)構(gòu)過寬無法在芯片布局較緊密的電路板上使用，通常都需要利用獨(dú)立的小夾子與各測試腳單獨(dú)連接進(jìn)行測試，使用極為不便。
[0004]因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，需要改進(jìn)。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005]本實(shí)用新型的目的是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種芯片測試夾。
[0006]本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:本實(shí)用新型提供一種芯片測試夾，包括第一本體、第二本體和連接裝置，所述第一本體和所述第二本體通過連接裝置旋轉(zhuǎn)連接，所述第一本體和所述第二本體的一端設(shè)置有若干連接腳，所述第一本體和所述第二本體的另一端上設(shè)置有滑動片，所述滑動片一側(cè)上設(shè)置有若干測試腳，所述滑動片的另一側(cè)設(shè)置有與所述測試腳連接的金屬片，所述金屬片與所述連接腳連接的金屬槽連接，所述金屬片能夠卡合于所述金屬槽內(nèi)。
[0007]本實(shí)用新型優(yōu)選的，所述滑動片通過滑動卡槽安裝于所述第一本體和第二本體的一端上。
[0008]本實(shí)用新型優(yōu)選的，所述連接裝置包括第一連接桿、第二連接桿、旋轉(zhuǎn)軸和弧形旋轉(zhuǎn)片，所述第一連接桿和所述第二連接桿的一端安裝于所述旋轉(zhuǎn)軸的兩側(cè)，所述第一連接桿的另一端與所述第一本體連接，所述第二連接桿的另一端與所述第二本體連接，所述弧形旋轉(zhuǎn)片上設(shè)置有滑槽，所述第一本體和所述第二本體上設(shè)置的第一滑竿和第二滑竿置于所述滑槽內(nèi)，且能夠滑動。
[0009]采用上述方案，本實(shí)用新型將油熱輥涂膠機(jī)上所有和溫度控制有關(guān)的所有設(shè)備都集成在了主機(jī)內(nèi)部，并通過觸摸屏的工控程序把所有和溫度有關(guān)的控制體統(tǒng)整合在了主機(jī)臺操作人員的右手邊，操作人員無需離開控制臺，即可簡單直觀的對幾臺所有溫度點(diǎn)進(jìn)行監(jiān)控及控制。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型所述一種芯片測試夾的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0011 ]圖2為本實(shí)用新型所述滑動片的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0012]圖3為本實(shí)用新型所述第一本體的仰視結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例，對本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0014]請參閱圖1、圖2和圖3，本實(shí)用新型提供一種芯片測試夾，包括第一本體1、第二本體2和連接裝置，第一本體I和第二本體2通過連接裝置旋轉(zhuǎn)連接，第一本體I和第二本體2的一端設(shè)置有若干連接腳10，第一本體I和第二本體2的另一端上設(shè)置有滑動片3，滑動片3—側(cè)上設(shè)置有若干測試腳5，滑動片3的另一側(cè)設(shè)置有與測試腳5連接的金屬片13，金屬片13與連接腳10連接的金屬槽14連接，金屬片13能夠卡合于金屬槽14內(nèi)，滑動片3通過滑動卡槽4安裝于第一本體I和第二本體2的一端上。
[0015]如圖1所示，連接裝置包括第一連接桿8、第二連接桿7、旋轉(zhuǎn)軸6和弧形旋轉(zhuǎn)片9，第一連接桿8和第二連接桿7的一端安裝于旋轉(zhuǎn)軸6的兩側(cè)，第一連接桿8的另一端與第一本體I連接，第二連接桿7的另一端與第二本體2連接，弧形旋轉(zhuǎn)片9上設(shè)置有滑槽15，第一本體I和第二本體2上設(shè)置的第一滑竿12和第二滑竿11置于滑槽15內(nèi)，且能夠滑動。
[0016]綜上所述，本實(shí)用新型提供一種芯片測試夾，一方面通過將滑動片設(shè)置為滑動式結(jié)構(gòu)，并且測試腳和連接腳通過金屬片和金屬槽進(jìn)行滑動位置后接觸，另一方面通過設(shè)置連接裝置，可以調(diào)節(jié)第一本體和第二本體上設(shè)置的測試腳之間的間距，可以應(yīng)對不同大小的芯片測試需求;本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、性能穩(wěn)定和實(shí)用壽命較長的優(yōu)點(diǎn)。
[0017]以上僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用于限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種芯片測試夾，其特征在于，包括第一本體、第二本體和連接裝置，所述第一本體和所述第二本體通過連接裝置旋轉(zhuǎn)連接，所述第一本體和所述第二本體的一端設(shè)置有若干連接腳，所述第一本體和所述第二本體的另一端上設(shè)置有滑動片，所述滑動片一側(cè)上設(shè)置有若干測試腳，所述滑動片的另一側(cè)設(shè)置有與所述測試腳連接的金屬片，所述金屬片與所述連接腳連接的金屬槽連接，所述金屬片能夠卡合于所述金屬槽內(nèi)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測試夾，其特征在于，所述滑動片通過滑動卡槽安裝于所述第一本體和所述第二本體的一端上。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片測試夾，其特征在于，所述連接裝置包括第一連接桿、第二連接桿、旋轉(zhuǎn)軸和弧形旋轉(zhuǎn)片，所述第一連接桿和所述第二連接桿的一端安裝于所述旋轉(zhuǎn)軸的兩側(cè)，所述第一連接桿的另一端與所述第一本體連接，所述第二連接桿的另一端與所述第二本體連接，所述弧形旋轉(zhuǎn)片上設(shè)置有滑槽，所述第一本體和所述第二本體上設(shè)置的第一滑竿和第二滑竿置于所述滑槽內(nèi)，且能夠滑動。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種芯片測試夾，包括第一本體、第二本體和連接裝置，所述第一本體和所述第二本體通過連接裝置旋轉(zhuǎn)連接。本實(shí)用新型一方面通過將滑動片設(shè)置為滑動式結(jié)構(gòu)，并且測試腳和連接腳通過金屬片和金屬槽進(jìn)行滑動位置后接觸，另一方面通過設(shè)置連接裝置，可以調(diào)節(jié)第一本體和第二本體上設(shè)置的測試腳之間的間距，可以應(yīng)對不同大小的芯片測試需求；本實(shí)用新型具有結(jié)構(gòu)簡單、性能穩(wěn)定和實(shí)用壽命較長的優(yōu)點(diǎn)。
【IPC分類】G01R1/04
【公開號】CN205333682
【申請?zhí)枴緾N201520821392
【發(fā)明人】徐建高
【申請人】北京易豪偉業(yè)弱電系統(tǒng)工程技術(shù)有限公司
【公開日】2016年6月22日
【申請日】2015年10月23日