線上。步進(jìn)電機(jī)41采用商品化可編程控制步進(jìn)電機(jī);步進(jìn)電機(jī)固定套由結(jié)構(gòu)基本相同的步進(jìn)電機(jī)固定塊A7和步進(jìn)電機(jī)固定塊MO組成，步進(jìn)電機(jī)固定塊是在長(zhǎng)方形金屬塊上設(shè)置一個(gè)半圓柱形凹槽構(gòu)成，凹槽的橫截面半徑與步進(jìn)電機(jī)的外形尺寸相匹配。步進(jìn)電機(jī)固定塊MO的凹槽的底面中心位置設(shè)有一排帶有沉孔的通孔149，通過(guò)通孔149固定在可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板5上。步進(jìn)電機(jī)固定塊A7和步進(jìn)電機(jī)固定塊MO的凹槽兩側(cè)平臺(tái)上，各設(shè)置一排通孔144和螺紋孔148，通過(guò)通孔144和螺紋孔148將步進(jìn)電機(jī)固定塊A7和步進(jìn)電機(jī)固定塊MO固為一體，步進(jìn)電機(jī)41夾持在步進(jìn)電機(jī)固定塊A7和步進(jìn)電機(jī)固定塊MO之間。光電探測(cè)器固定滑塊9是一個(gè)長(zhǎng)方體形狀的金屬塊，其上設(shè)有螺紋孔J52、通孔K51、狹縫45和一個(gè)長(zhǎng)方形臺(tái)階，長(zhǎng)方形臺(tái)階位于狹縫的背面，用于安裝光電探測(cè)器。滑塊導(dǎo)軌8是一根兩頭帶有螺紋的金屬細(xì)桿。導(dǎo)軌支架6是長(zhǎng)方形金屬塊，其上設(shè)有兩個(gè)帶有沉孔的通孔H43和一個(gè)通孔J50。裝配時(shí)，將兩塊導(dǎo)軌支架6固定在可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板5的上底面的兩端，再將步進(jìn)電機(jī)固定塊MO固定在可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板5的上底面，并將步進(jìn)電機(jī)41置于步進(jìn)電機(jī)固定塊MO的凹槽內(nèi)，然后將另一個(gè)步進(jìn)電機(jī)固定塊A7同軸壓在步進(jìn)電機(jī)上面，并用螺絲將兩個(gè)步進(jìn)電機(jī)固定塊固為一體。將光電探測(cè)器固定滑塊9分別套在步進(jìn)電機(jī)的螺紋桿42和導(dǎo)軌8上，然后將導(dǎo)軌8固定在導(dǎo)軌支架6上，光電探測(cè)器固定滑塊9可以在步進(jìn)電機(jī)的帶動(dòng)下沿導(dǎo)軌8移動(dòng)。裝配完成后，將可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板5插入光學(xué)元件固定架集成底板I的可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板限位槽56內(nèi)，通過(guò)螺絲連接通孔LlO和可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板5下底面的螺紋孔。
[0038]完成組裝后，光源接入法蘭盤22可接入待測(cè)量光源，相當(dāng)于一個(gè)光源，與后面的縫元件29組成一個(gè)雙縫干涉系統(tǒng)，為了將波長(zhǎng)測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀小型化，經(jīng)過(guò)雙縫的光在照到光電探測(cè)器的狹縫45之前，先后經(jīng)過(guò)一次反射鏡39和二次反射鏡20的反射。雙縫干涉所形成的干涉光強(qiáng)的分布用可移動(dòng)光電探測(cè)單元及固定系統(tǒng)測(cè)量，光電探測(cè)器的位置可以通過(guò)步進(jìn)電機(jī)41記錄，光強(qiáng)則由光電探測(cè)器給出，然后根據(jù)雙縫干涉的光強(qiáng)和光電探測(cè)器的位置信息，可得到雙縫干涉條紋之間的距離，繼而根據(jù)雙縫干涉中雙縫間距、雙縫到探測(cè)器之間的距離以及干涉條紋之間的距離，推算出所測(cè)量激光的波長(zhǎng)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種基于雙縫干涉的連續(xù)激光波長(zhǎng)測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀包括光學(xué)元件固定架集成底板、光源、雙縫元件法蘭盤及可移動(dòng)光電探測(cè)單元;所述光源、雙縫元件法蘭盤和可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定設(shè)于所述光學(xué)元件固定架集成底板上;所述雙縫元件法蘭盤上設(shè)有雙狹縫;所述可移動(dòng)光電探測(cè)單元包括光電探測(cè)器固定滑塊;所述光電探測(cè)器固定滑塊可左右滑動(dòng)地設(shè)于所述光學(xué)元件固定架集成底板上;所述光電探測(cè)固定滑塊一側(cè)設(shè)有狹縫，光電探測(cè)固定滑塊另一側(cè)、對(duì)應(yīng)狹縫位置處設(shè)有光電探測(cè)器;所述光源的出射光依次通過(guò)所述雙縫元件法蘭盤的雙狹縫、光電探測(cè)固定滑塊的狹縫入射光電探測(cè)器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀還包括一次反射鏡和二次反射鏡;所述一次反射鏡和二次反射鏡分別固定設(shè)于所述光學(xué)元件固定架集成底板上;所述光源的出射光依次通過(guò)所述雙縫元件法蘭盤的雙狹縫、一次反射鏡、二次反射鏡、光電探測(cè)固定滑塊的狹縫入射光電探測(cè)器。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀還包括光源接入法蘭與二次反射鏡固定板;所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板垂直設(shè)于所述光學(xué)元件固定架集成底板上;所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板的左端設(shè)有通光孔A;所述光源通過(guò)光源接入法蘭盤固定在所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板的前側(cè)面，且位于通光孔A處。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板上、通光孔A的外周側(cè)設(shè)有O圈槽A;所述O圈槽A內(nèi)設(shè)有O圈A，所述O圈A位于光源接入法蘭與二次反射鏡固定板和光源接入法蘭盤之間;所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板和光源接入法蘭盤之間通過(guò)螺絲固定相連。5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述二次反射鏡設(shè)于所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板右端的后側(cè)面上。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀還包括二次反射鏡托盤;所述二次反射鏡托盤呈長(zhǎng)方形;所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板的右端的后側(cè)面上設(shè)有與二次反射鏡托盤相對(duì)應(yīng)的長(zhǎng)方形臺(tái)階；所述二次反射鏡通過(guò)二次反射鏡托盤固定在長(zhǎng)方形臺(tái)階處;所述二次反射鏡托盤的一條對(duì)角線的上端通過(guò)螺絲和光源接入法蘭與二次反射鏡固定板固定，另一條對(duì)角線的兩端通過(guò)微調(diào)螺絲和光源接入法蘭與二次反射鏡固定板相連。7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:實(shí)驗(yàn)儀還包括雙縫元件法蘭盤固定板；所述雙縫元件法蘭盤固定板垂直設(shè)于所述光學(xué)元件固定架集成底板上，且位于所述光源接入法蘭與二次反射鏡固定板和一次反射鏡之間;所述雙縫元件法蘭盤固定板上設(shè)有通光孔B;所述雙縫元件法蘭盤固定在所述雙縫元件法蘭盤固定板的通光孔B處;所述雙縫元件法蘭盤固定板上、通光孔B的外周側(cè)設(shè)有O圈槽B ；所述O圈槽B內(nèi)設(shè)有O圈B，所述O圈B位于光源接入法蘭與二次反射鏡固定板和光源接入法蘭盤之間；所述雙縫元件法蘭盤固定板和雙縫元件法蘭盤之間通過(guò)螺絲固定相連。8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀還包括一次反射鏡固定板和一次反射鏡托盤;所述一次反射鏡托盤呈圓形;所述一次反射鏡固定板垂直固定于所述光學(xué)元件固定架集成底板上，且位于二次反射鏡和光電探測(cè)固定滑塊之間；所述一次反射鏡固定板上設(shè)有與一次反射鏡托盤相適配的圓形臺(tái)階;所述一次反射鏡通過(guò)一次反射鏡托盤設(shè)于所述一次反射鏡固定板上，且位于圓形臺(tái)階處;所述一次反射鏡托盤上端通過(guò)螺絲與一次反射鏡固定板固定，中部?jī)啥朔謩e通過(guò)微調(diào)螺絲與一次反射鏡固定板相連。9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的實(shí)驗(yàn)儀，其特征在于:所述實(shí)驗(yàn)儀還包括步進(jìn)電機(jī)、可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板、滑塊導(dǎo)軌、導(dǎo)軌支架;所述可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板垂直固定于所述光學(xué)元件固定架集成底板上;所述步進(jìn)電機(jī)固定設(shè)于所述可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板上；所述可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定板的左右兩端分別設(shè)有所述導(dǎo)軌支架;所述滑塊導(dǎo)軌設(shè)于兩個(gè)導(dǎo)軌支架之間；所述光電探測(cè)固定滑塊可滑動(dòng)地設(shè)于所述滑塊導(dǎo)軌上，且一端與步進(jìn)電機(jī)的螺紋桿相連。
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種基于雙縫干涉的連續(xù)激光波長(zhǎng)測(cè)量實(shí)驗(yàn)儀，該實(shí)驗(yàn)儀包括光學(xué)元件固定架集成底板、光源、雙縫元件法蘭盤及可移動(dòng)光電探測(cè)單元；光源、雙縫元件法蘭盤和可移動(dòng)光電探測(cè)單元固定設(shè)于光學(xué)元件固定架集成底板上；雙縫元件法蘭盤上設(shè)有雙狹縫；可移動(dòng)光電探測(cè)單元包括光電探測(cè)器固定滑塊；光電探測(cè)器固定滑塊可左右滑動(dòng)地設(shè)于光學(xué)元件固定架集成底板上；光電探測(cè)固定滑塊一側(cè)設(shè)有狹縫，光電探測(cè)固定滑塊另一側(cè)、對(duì)應(yīng)狹縫位置處設(shè)有光電探測(cè)器；光源的出射光依次通過(guò)雙縫元件法蘭盤的雙狹縫、光電探測(cè)固定滑塊的狹縫入射光電探測(cè)器。采用本實(shí)用新型實(shí)驗(yàn)儀，能夠直觀看到實(shí)驗(yàn)儀的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，有效掌握楊氏雙縫實(shí)驗(yàn)測(cè)量激光波長(zhǎng)的原理和方法。
【IPC分類】G01J9/02
【公開(kāi)號(hào)】CN205352560
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201620068108
【發(fā)明人】裴世鑫, 崔芬萍, 李金花
【申請(qǐng)人】南京信息工程大學(xué)
【公開(kāi)日】2016年6月29日
【申請(qǐng)日】2016年1月25日