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      一種涂層測厚儀的制作方法

      文檔序號:10744792閱讀:375來源:國知局
      一種涂層測厚儀的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種涂層測厚儀,包括機(jī)體,所述的機(jī)體的上方設(shè)置有兩個接頭;所述的接頭上設(shè)置有測量線;所述的測量線上設(shè)置有測量探頭;所述的測量探頭上設(shè)置有更換螺紋;所述的接頭分別連接電磁分析部件和渦流分析部件;所述的電磁分析部件和渦流分析部件的末端連接與信息分析模塊;所述的信息分析模塊的下方設(shè)置有A/D轉(zhuǎn)換器,其結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,操作簡單,制作簡單,使用壽命長,可根據(jù)測量材料的不同更換對應(yīng)的檢測探頭,采用電磁和渦流兩種方共同測定,測量精確度高,攜帶方便。
      【專利說明】
      一種涂層測厚儀
      技術(shù)領(lǐng)域
      [0001 ]本實(shí)用新型涉及檢測領(lǐng)域,具體涉及一種涂層測厚儀。
      【背景技術(shù)】
      [0002]涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。但是也存在著一些問題,比如,攜帶不方便,測量精準(zhǔn)度需要提高,市場上一般用渦流測厚法去探測厚度,這個方法精度不高且適用范圍不廣,所以需要設(shè)計(jì)出一種使用方便,精確度高,且使用范圍更廣的涂層測厚儀。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是提供一種涂層測厚儀。
      [0004]為解決上述問題,本實(shí)用新型采用如下技術(shù)方案:一種涂層測厚儀,包括機(jī)體,所述的機(jī)體的上方設(shè)置有兩個接頭;所述的接頭上設(shè)置有測量線;所述的測量線上設(shè)置有測量探頭;所述的測量探頭上設(shè)置有更換螺紋;所述的接頭分別連接電磁分析部件和渦流分析部件;所述的電磁分析部件和渦流分析部件的末端連接與信息分析模塊;所述的信息分析模塊的下方設(shè)置有A/D轉(zhuǎn)換器。
      [0005]進(jìn)一步地,所述的A/D轉(zhuǎn)換器的下方設(shè)置有單片機(jī)芯片。
      [0006]進(jìn)一步地,所述單片機(jī)芯片連接于顯示器。
      [0007]進(jìn)一步地,所述的信息分析模塊的另一端連接于按鍵盤。
      [0008]進(jìn)一步地,所述的機(jī)體的下端設(shè)置有電池倉。
      [0009]本實(shí)用新型一種涂層測厚儀的效果是:在投入使用時,將測量線連接于接頭上,可以根據(jù)測量材料的實(shí)際情況選擇對應(yīng)的測量探頭,更換螺紋的設(shè)置使得更換更加便捷快速,節(jié)省時間,電磁分析部件和渦流分析部件可以同時提供兩種測量方式,提高了機(jī)體測量的精確度,信息分析模塊連接電磁分析部件和渦流分析部件和按鍵盤,可以根據(jù)按鍵的選擇啟動相應(yīng)的功能,A/D轉(zhuǎn)換器將信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,再由單片機(jī)芯片進(jìn)行處理后顯示在顯示器上,供操作人員參考,電池倉提供電源,可以不用受場地充電電源的限制,攜帶方便,其結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,操作簡單,制作簡單,使用壽命長,可根據(jù)測量材料的不同更換對應(yīng)的檢測探頭,采用電磁和渦流兩種方共同測定,測量精確度高,攜帶方便。
      【附圖說明】
      [0010]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
      [0011]圖1為本實(shí)用新型一種涂層測厚儀的結(jié)構(gòu)示意。
      [0012]1-機(jī)體;2-按鍵盤;3-更換螺紋;4-接頭;5-測量線;6_渦流分析部件;7_接頭;8_電磁分析部件;9-信息分析模塊;10-A/D轉(zhuǎn)換器;11-顯示器;12-單片機(jī)芯片;13-電池倉。
      【具體實(shí)施方式】
      [0013]參閱圖1所示的一種涂層測厚儀,包括機(jī)體I,所述的機(jī)體I的上方設(shè)置有兩個接頭7;所述的接頭7上設(shè)置有測量線5;所述的測量線5上設(shè)置有測量探頭4;所述的測量探頭4上設(shè)置有更換螺紋3;所述的接頭4分別連接電磁分析部件8和渦流分析部件6;所述的電磁分析部件8和渦流分析部件6的末端連接與信息分析模塊9;所述的信息分析模塊9的下方設(shè)置有A/D轉(zhuǎn)換器10。
      [0014]作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述的A/D轉(zhuǎn)換器10的下方設(shè)置有單片機(jī)芯片12。
      [0015]作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述單片機(jī)芯片12連接于顯示器11。
      [0016]作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述的信息分析模塊9的另一端連接于按鍵盤2。
      [0017]作為優(yōu)選的技術(shù)方案,所述的機(jī)體I的下端設(shè)置有電池倉13。
      [0018]本實(shí)用新型一種涂層測厚儀的效果是:在投入使用時,將測量線連接于接頭上,可以根據(jù)測量材料的實(shí)際情況選擇對應(yīng)的測量探頭,更換螺紋的設(shè)置使得更換更加便捷快速,節(jié)省時間,電磁分析部件和渦流分析部件可以同時提供兩種測量方式,提高了機(jī)體測量的精確度,信息分析模塊連接電磁分析部件和渦流分析部件和按鍵盤,可以根據(jù)按鍵的選擇啟動相應(yīng)的功能,A/D轉(zhuǎn)換器將信息轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,再由單片機(jī)芯片進(jìn)行處理后顯示在顯示器上,供操作人員參考,電池倉提供電源,可以不用受場地充電電源的限制,攜帶方便,其結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,操作簡單,制作簡單,使用壽命長,可根據(jù)測量材料的不同更換對應(yīng)的檢測探頭,采用電磁和渦流兩種方共同測定,測量精確度高,攜帶方便。
      [0019]以上所述,僅為本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】,但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限于此,任何不經(jīng)過創(chuàng)造性勞動想到的變化或替換,都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此,本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)該以權(quán)利要求書所限定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
      【主權(quán)項(xiàng)】
      1.一種涂層測厚儀,其特征在于:包括機(jī)體,所述的機(jī)體的上方設(shè)置有兩個接頭;所述的接頭上設(shè)置有測量線;所述的測量線上設(shè)置有測量探頭;所述的測量探頭上設(shè)置有更換螺紋;所述的接頭分別連接電磁分析部件和渦流分析部件;所述的電磁分析部件和渦流分析部件的末端連接與信息分析模塊;所述的信息分析模塊的下方設(shè)置有A/D轉(zhuǎn)換器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的涂層測厚儀,其特征在于:所述的A/D轉(zhuǎn)換器的下方設(shè)置有單片機(jī)芯片。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的涂層測厚儀,其特征在于:所述單片機(jī)芯片連接于顯示器。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的涂層測厚儀,其特征在于:所述的信息分析模塊的另一端連接于按鍵盤。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的涂層測厚儀,其特征在于:所述的機(jī)體的下端設(shè)置有電池倉。
      【文檔編號】G01B7/06GK205426059SQ201521086871
      【公開日】2016年8月3日
      【申請日】2015年12月22日
      【發(fā)明人】唐建康, 宋慧奇, 杭小剛, 唐佳, 岳澤宇
      【申請人】江蘇鴻光桿塔有限公司
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