一種表面檢測(cè)裝置的制造方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型涉及一種表面檢測(cè)裝置，包括聚光單元組，所述聚光單元組包括第一聚光單元組和第二聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測(cè)相機(jī)，所述第一聚光單元組射出的光線(xiàn)與所述第二聚光單元組射出的光線(xiàn)垂直；所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中射出的光線(xiàn)與所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中光源的方向具有夾角。本實(shí)用新型通過(guò)兩個(gè)帶角度線(xiàn)光源相對(duì)平行放置，且之間的出射光相互垂直，可以將平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來(lái)。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
_種表面檢測(cè)裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實(shí)用新型涉及一種表面檢測(cè)裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]目前線(xiàn)掃描相機(jī)所用重要光源是線(xiàn)光源，由于線(xiàn)光源的出射角度比較固定。如圖1所示，第一線(xiàn)光源I包括，光源11以及聚光單元12，光源11將光線(xiàn)垂直射入聚光單元12，使得現(xiàn)有的線(xiàn)光源具有一定的局限性。如圖2所示，為利用現(xiàn)有線(xiàn)光源檢測(cè)表面的裝置，包括第一線(xiàn)光源I，以及用于檢測(cè)的檢測(cè)相機(jī)7，第一線(xiàn)光源I在待檢測(cè)表面3上形成第一光帶4，同時(shí)檢測(cè)相機(jī)7形成掃描線(xiàn)6，若劃痕或異物與掃描線(xiàn)6平行，掃描相機(jī)7并不能檢測(cè)到異物。如果添加一個(gè)與第一線(xiàn)光源I垂直入射的第二線(xiàn)光源2，但是此第二線(xiàn)光源2無(wú)法將線(xiàn)掃描相機(jī)的成像范圍全部照明，所以實(shí)際中無(wú)法使用。
[0003]有鑒于上述的缺陷，本設(shè)計(jì)人，積極加以研究創(chuàng)新，以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的表面檢測(cè)裝置，使其更具有產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的是提供一種通過(guò)兩個(gè)線(xiàn)光源能夠快速檢測(cè)表面的裝置。
[0005]本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:
[0006]—種表面檢測(cè)裝置，包括聚光單元組，所述聚光單元組包括第一聚光單元組和第二聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測(cè)相機(jī)，其特征在于:所述第一聚光單元組射出的光線(xiàn)與所述第二聚光單元組射出的光線(xiàn)垂直;所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中射出的光線(xiàn)與所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中光源的方向具有夾角。
[0007]進(jìn)一步的，所述聚光單元組包括多個(gè)聚光單元和外殼組成，所述聚光單元包括光源和聚光Lens，所述光源和所述聚光Lens均傾斜放置在所述外殼內(nèi)。
[0008]進(jìn)一步的，所述聚光Lens優(yōu)選為圓柱體。
[0009]進(jìn)一步的，所述聚光Lens優(yōu)選與所述光源接觸的一半為立方體結(jié)構(gòu)，另一半為半圓柱體結(jié)構(gòu)。
[0010]進(jìn)一步的，所述檢測(cè)裝置還包括固定裝置，用于固定所述聚光單元和檢測(cè)相機(jī)。[0011 ]進(jìn)一步的，所述聚光單元的外殼優(yōu)選為金屬件。
[0012]進(jìn)一步的，所述光源為L(zhǎng)ED光源。
[0013]進(jìn)一步的，第一聚光單元組射出的光線(xiàn)與所述第二聚光單元組射出的光線(xiàn)的方向在被測(cè)表面的投影夾角范圍為60?120度。借由上述方案，本實(shí)用新型至少具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0014]本實(shí)用新型通過(guò)兩個(gè)帶角度線(xiàn)光源相對(duì)平行放置，且之間的出射光相互垂直，可以將平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來(lái)。
[0015]上述說(shuō)明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段，并可依照說(shuō)明書(shū)的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說(shuō)明如后。
【附圖說(shuō)明】
[0016]圖1是本實(shí)用新型【背景技術(shù)】中線(xiàn)光源結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖2是本實(shí)用新型【背景技術(shù)】中檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0018]圖3是本實(shí)用新型聚光單元組結(jié)構(gòu)示意圖；
[0019]圖4是本實(shí)用新型聚光單元組內(nèi)部結(jié)構(gòu)第一實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0020]圖5是本實(shí)用新型聚光單元組內(nèi)部結(jié)構(gòu)第二實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖；
[0021 ]圖6是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0022]圖7是本實(shí)用新型檢測(cè)裝置上視結(jié)構(gòu)示意圖；
【具體實(shí)施方式】
[0023]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型的【具體實(shí)施方式】作進(jìn)一步詳細(xì)描述。以下實(shí)施例用于說(shuō)明本實(shí)用新型，但不用來(lái)限制本實(shí)用新型的范圍。
[0024]參見(jiàn)圖6和圖7，本實(shí)用新型包括聚光單元組，其中聚光單元組包括第一聚光單元組10和第二聚光單元組20，以及與聚光單元組配合使用的一個(gè)檢測(cè)相機(jī)40，其中第一聚光單元組10和第二聚光單元組20為相同的聚光單元組，平行放置。參見(jiàn)圖3，為本實(shí)用新型聚光單元組，其中包括外殼21和多個(gè)聚光單元組成，每一個(gè)聚光單元均包括光源22和聚光Lens23，聚光Lens可根據(jù)需要設(shè)置成多種形狀，如圖4，聚光Lens231為圓柱體，如圖5，聚光Lens232與光源接觸的一般為立方體結(jié)構(gòu)，另一半為半圓柱體結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型還包括連接單元，用于連接聚光單元和檢測(cè)相機(jī)，以及一固定裝置(圖中未標(biāo)出)用于固定聚光單元和檢測(cè)相機(jī)，聚光單元的外殼一般優(yōu)選為金屬件。本實(shí)用新型中光源為L(zhǎng)ED光源。
[0025]本實(shí)用新型原理如下，第一聚光單元組10中光源的主光線(xiàn)出射方向與聚光單元組的排列方向成一定角度，檢測(cè)相機(jī)40在待檢測(cè)物30上形成掃描線(xiàn)31，聚光單元組的光線(xiàn)會(huì)以一定的角度照射到掃描線(xiàn)31上，而第二聚光單元組20中射出的光線(xiàn)與第一聚光單元組中射出的光線(xiàn)垂直，相互垂直的光線(xiàn)彌補(bǔ)了光照的不足，通過(guò)兩個(gè)帶角度線(xiàn)光源相對(duì)平行放置，且之間的出射光相互垂直，就可以將待檢測(cè)物平面內(nèi)各方向的缺陷都很好的顯現(xiàn)出來(lái)。光帶32為第一聚光組合第二聚光組照射形成的。
[0026]以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，并不用于限制本實(shí)用新型，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和變型，這些改進(jìn)和變型也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種表面檢測(cè)裝置，包括聚光單元組，所述聚光單元組包括第一聚光單元組和第二聚光單元組，以及與所述聚光單元組配合使用的一檢測(cè)相機(jī)，其特征在于:所述第一聚光單元組射出的光線(xiàn)與所述第二聚光單元組射出的光線(xiàn)的方向在被測(cè)表面的投影垂直;所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中射出的光線(xiàn)與所述第一聚光單元組和第二聚光單元組中光源的方向具有夾角。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述聚光單元組包括多個(gè)聚光單元和外殼組成，所述聚光單元包括光源和聚光Lens，所述光源和所述聚光Lens均傾斜放置在所述外殼內(nèi)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述聚光Lens優(yōu)選為圓柱體。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述聚光Lens優(yōu)選與所述光源接觸的一半為立方體結(jié)構(gòu)，另一半為半圓柱體結(jié)構(gòu)。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述檢測(cè)裝置還包括固定裝置，用于固定所述聚光單元和檢測(cè)相機(jī)。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述聚光單元的外殼優(yōu)選為金屬件。7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:所述光源為L(zhǎng)ED光源。8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種表面檢測(cè)裝置，其特征在于:第一聚光單元組射出的光線(xiàn)與所述第二聚光單元組射出的光線(xiàn)的方向在被測(cè)表面的投影夾角范圍為60?120度。
【文檔編號(hào)】G01N21/88GK205426804SQ201520876442
【公開(kāi)日】2016年8月3日
【申請(qǐng)日】2015年11月5日
【發(fā)明人】張智海, 易永祥
【申請(qǐng)人】蘇州威盛視信息科技有限公司