電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，包括待測(cè)電源芯片、用于為待測(cè)電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下輸入電流的電流測(cè)試模塊、用于為所述待測(cè)電源芯片提供目標(biāo)負(fù)載的負(fù)載模塊、用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測(cè)試模塊及與所述直流源模塊、所述電流測(cè)試模塊、所述負(fù)載模塊及所述電壓測(cè)試模塊相連的用于控制和管理對(duì)所述待測(cè)電源芯片的整個(gè)測(cè)試過(guò)程的上位機(jī)。本實(shí)用新型可以對(duì)被測(cè)電源芯片進(jìn)行自動(dòng)線(xiàn)性調(diào)整、負(fù)載調(diào)整的測(cè)試，自動(dòng)采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測(cè)試數(shù)據(jù)信息進(jìn)行記錄并輸出。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
電源芯片測(cè)試系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及集成電路測(cè)試領(lǐng)域，特別是涉及一種電源芯片測(cè)試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]在集成電路的測(cè)試中，為了保證電源芯片的穩(wěn)定性，往往會(huì)對(duì)電源芯片的各項(xiàng)工作參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。
[0003]現(xiàn)有的電源測(cè)試方案主要應(yīng)用于解決大功率開(kāi)關(guān)電源在生產(chǎn)線(xiàn)上的量產(chǎn)測(cè)試，針對(duì)電源芯片的測(cè)試，其成套系統(tǒng)的造價(jià)非常昂貴，且軟硬件配置過(guò)剩。因此，在對(duì)電源芯片進(jìn)行測(cè)試時(shí)，不得不采用人工測(cè)試的方法，一邊調(diào)整輸入電壓與負(fù)載大小，一邊記錄輸入電流與輸出電壓，假設(shè)有9個(gè)以上樣片、4種溫度條件、4個(gè)以上輸入電壓條件、6個(gè)左右負(fù)載條件的情況下，至少有864個(gè)輸入電流數(shù)據(jù)及864個(gè)輸出電壓數(shù)據(jù)需要測(cè)試并記錄，這無(wú)疑是一項(xiàng)巨大的工作量。而且，人工測(cè)試難免出現(xiàn)部分?jǐn)?shù)據(jù)記錄有誤的情況，對(duì)后續(xù)數(shù)據(jù)分析工作造成了影響。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]本實(shí)用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試的電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，可以對(duì)被測(cè)電源芯片進(jìn)行自動(dòng)線(xiàn)性調(diào)整、負(fù)載調(diào)整的測(cè)試，自動(dòng)采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測(cè)試數(shù)據(jù)信息進(jìn)行記錄并輸出。
[0005]本實(shí)用新型的目的是通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn)的:一種電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，所述電源芯片測(cè)試系統(tǒng)包括待測(cè)電源芯片、用于為待測(cè)電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、與所述直流源模塊及所述待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下輸入電流的電流測(cè)試模塊、與所述待測(cè)電源芯片相連用于為所述待測(cè)電源芯片提供目標(biāo)負(fù)載的負(fù)載模塊、與所述待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測(cè)試模塊及與所述直流源模塊、所述電流測(cè)試模塊、所述負(fù)載模塊及所述電壓測(cè)試模塊相連的用于控制和管理對(duì)所述待測(cè)電源芯片的整個(gè)測(cè)試過(guò)程的上位機(jī)。
[0006]所述上位機(jī)包括系統(tǒng)總控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述直流源模塊的工作狀態(tài)的直流源單控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述負(fù)載模塊的工作狀態(tài)的負(fù)載單控模塊及與所述系統(tǒng)總控模塊相連的測(cè)試數(shù)據(jù)信息輸出模塊。
[0007]所述系統(tǒng)總控模塊包括用于設(shè)置控制所述直流源模塊與所述負(fù)載模塊控制指令的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測(cè)試狀態(tài)切換時(shí)間間隔的時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊及用于設(shè)置測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑及名稱(chēng)的存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊。
[0008]所述系統(tǒng)總控模塊還包括用于啟動(dòng)或停止測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制子模塊及用于實(shí)時(shí)顯示所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試條件下的輸入輸出數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)顯示子模塊。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果是:可以對(duì)被測(cè)電源芯片進(jìn)行自動(dòng)線(xiàn)性調(diào)整、負(fù)載調(diào)整的測(cè)試，自動(dòng)采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測(cè)試數(shù)據(jù)信息進(jìn)行記錄并輸出，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集、存儲(chǔ)并輸出，使得設(shè)計(jì)人員能夠更快更準(zhǔn)確的獲得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1為本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；
[0011 ]圖2為本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖進(jìn)一步詳細(xì)描述本實(shí)用新型的技術(shù)方案，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍不局限于以下所述。
[0013]如圖1所示，圖1為本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖，其包括待測(cè)電源芯片、用于為待測(cè)電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、與直流源模塊及待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下輸入電流的電流測(cè)試模塊、與待測(cè)電源芯片相連用于為待測(cè)電源芯片提供目標(biāo)負(fù)載的負(fù)載模塊、與待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測(cè)試模塊及與直流源模塊、電流測(cè)試模塊、負(fù)載模塊及電壓測(cè)試模塊相連的用于控制和管理對(duì)待測(cè)電源芯片的整個(gè)測(cè)試過(guò)程的上位機(jī)。
[0014]其中，上位機(jī)包括系統(tǒng)總控模塊、與系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視直流源模塊的工作狀態(tài)的直流源單控模塊、與系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視負(fù)載模塊的工作狀態(tài)的負(fù)載單控模塊及與系統(tǒng)總控模塊相連的測(cè)試數(shù)據(jù)信息輸出模塊。系統(tǒng)總控模塊包括用于設(shè)置控制直流源模塊與負(fù)載模塊控制指令的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測(cè)試狀態(tài)切換時(shí)間間隔的時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑及名稱(chēng)的存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊、用于啟動(dòng)或停止測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制子模塊及用于實(shí)時(shí)顯示待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試條件下的輸入輸出數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)顯示子模塊。
[0015]如圖2所示，圖2為本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法流程圖，本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試方法包括以下步驟:
[0016]步驟一，開(kāi)始。
[0017]步驟二，上位機(jī)初始化。
[0018]步驟三，對(duì)上位機(jī)的系統(tǒng)總控模塊進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，包括通過(guò)系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置控制直流源模塊與負(fù)載模塊控制指令、通過(guò)系統(tǒng)總控模塊的時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測(cè)試狀態(tài)切換時(shí)間間隔、通過(guò)系統(tǒng)總控模塊的存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊設(shè)置測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑及名稱(chēng)。
[0019]步驟四，系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊通過(guò)直流源單控模塊及負(fù)載單控模塊給直流源模塊及負(fù)載模塊發(fā)送控制指令，并通過(guò)系統(tǒng)控制子模塊切換測(cè)試狀態(tài)。
[0020]步驟五，系統(tǒng)總控模塊的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊及存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊給電流測(cè)試模塊及電壓測(cè)試模塊發(fā)送測(cè)試指令，對(duì)待測(cè)電源芯片進(jìn)行測(cè)試。
[0021]步驟六，電流測(cè)試模塊及電壓測(cè)試模塊將測(cè)試數(shù)據(jù)返回至系統(tǒng)總控模塊的數(shù)據(jù)顯示子模塊及測(cè)試數(shù)據(jù)信息輸出模塊進(jìn)行顯示并輸出。
[0022]步驟七，結(jié)束。
[0023]在本實(shí)用新型中，用戶(hù)可通過(guò)上位機(jī)加載、勾選、更改10組以?xún)?nèi)的直流源控制指令，以滿(mǎn)足線(xiàn)性調(diào)整所需的不同輸入電壓;可加載、勾選、更改10組以?xún)?nèi)的負(fù)載控制指令，以滿(mǎn)足負(fù)載調(diào)整所需的不同負(fù)載;可選擇只測(cè)試輸入電流或者輸出電壓，或者二者同時(shí)測(cè)試；可選擇測(cè)試結(jié)果存放路徑、存放文件名；上位機(jī)可實(shí)時(shí)顯示輸入電壓、輸入電流、輸出電壓及負(fù)載的數(shù)值等，可根據(jù)需求設(shè)置不同測(cè)試條件間的切換時(shí)間間隔及測(cè)試系統(tǒng)的啟動(dòng)或者停止。
[0024]綜上所述，本實(shí)用新型電源芯片測(cè)試系統(tǒng)可以對(duì)被測(cè)電源芯片進(jìn)行自動(dòng)線(xiàn)性調(diào)整、負(fù)載調(diào)整的測(cè)試，自動(dòng)采集輸入電流、輸出電壓數(shù)據(jù)，并能將完整的測(cè)試數(shù)據(jù)信息進(jìn)行記錄并輸出，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)數(shù)據(jù)的自動(dòng)采集、存儲(chǔ)并輸出，使得設(shè)計(jì)人員能夠更快更準(zhǔn)確的獲得實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述電源芯片測(cè)試系統(tǒng)包括待測(cè)電源芯片、用于為待測(cè)電源芯片提供工作電壓的直流源模塊、與所述直流源模塊及所述待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下輸入電流的電流測(cè)試模塊、與所述待測(cè)電源芯片相連用于為所述待測(cè)電源芯片提供目標(biāo)負(fù)載的負(fù)載模塊、與所述待測(cè)電源芯片相連用于測(cè)試所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試狀態(tài)下的輸出電壓的電壓測(cè)試模塊及與所述直流源模塊、所述電流測(cè)試模塊、所述負(fù)載模塊及所述電壓測(cè)試模塊相連的用于控制和管理對(duì)所述待測(cè)電源芯片的整個(gè)測(cè)試過(guò)程的上位機(jī)。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述上位機(jī)包括系統(tǒng)總控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述直流源模塊的工作狀態(tài)的直流源單控模塊、與所述系統(tǒng)總控模塊相連用于控制并監(jiān)視所述負(fù)載模塊的工作狀態(tài)的負(fù)載單控模塊及與所述系統(tǒng)總控模塊相連的測(cè)試數(shù)據(jù)信息輸出模塊。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述系統(tǒng)總控模塊包括用于設(shè)置控制所述直流源模塊與所述負(fù)載模塊控制指令的控制指令預(yù)設(shè)子模塊、用于設(shè)置測(cè)試狀態(tài)切換時(shí)間間隔的時(shí)間間隔預(yù)設(shè)子模塊及用于設(shè)置測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)路徑及名稱(chēng)的存儲(chǔ)預(yù)設(shè)子模塊。4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電源芯片測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于:所述系統(tǒng)總控模塊還包括用于啟動(dòng)或停止測(cè)試系統(tǒng)的系統(tǒng)控制子模塊及用于實(shí)時(shí)顯示所述待測(cè)電源芯片在不同測(cè)試條件下的輸入輸出數(shù)據(jù)信息的數(shù)據(jù)顯示子模塊。
【文檔編號(hào)】G01R31/28GK205484704SQ201620255987
【公開(kāi)日】2016年8月17日
【申請(qǐng)日】2016年3月30日
【發(fā)明人】楊旸, 韓濤
【申請(qǐng)人】成都銳成芯微科技有限責(zé)任公司