一種玻璃表面粒子檢測儀的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種玻璃表面粒子檢測儀，包括用于支撐待檢測的玻璃的機臺，位于機臺上方的發(fā)射光源，機臺的支撐面上設(shè)有吸光層，吸光層可吸收發(fā)射光源照射向機臺的支撐面的光。上述玻璃表面粒子檢測儀，通過在機臺的支撐面上設(shè)置吸光層，可以使得發(fā)射光源折射向支撐面的一面上的光被吸光層吸收，使得發(fā)射光源發(fā)出的光折射向待檢測的玻璃朝向支撐面的一面具有的粒子時，不會發(fā)生反射或反射的光較弱不會照射向檢測光學元件。故上述玻璃表面粒子檢測儀可以減少玻璃朝向機臺的一面具有的粒子對檢測造成干擾的現(xiàn)象的發(fā)生，提高玻璃表面粒子檢測儀的檢測準確度。
【專利說明】
_種玻璃表面粒子檢測儀
技術(shù)領(lǐng)域
[0001 ]本實用新型涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種玻璃表面粒子檢測儀。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著顯示技術(shù)的不斷發(fā)展，顯示裝置逐漸趨向超薄化，生產(chǎn)顯示裝置所需的玻璃也就變得越來越超薄，顯示裝置在生產(chǎn)中，玻璃表面的粒子會引起某些工藝不良，可導致顯示面板出現(xiàn)缺陷，如點缺陷，線缺陷，封裝缺陷等，在顯示裝置的實際生產(chǎn)中，需要對玻璃表面的粒子的數(shù)量、大小、位置進行監(jiān)測。
[0003]如圖1所示，圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的玻璃表面粒子檢測儀檢測原理示意圖，現(xiàn)有技術(shù)中的玻璃表面粒子檢測儀包括:機臺01，位于機臺01上方的檢測光學元件02、發(fā)射光源03以及傳感器04，發(fā)射光源03發(fā)出的光照射到玻璃05上后，玻璃05表面的粒子06會發(fā)生反射，反射向檢測光學元件02和傳感器04，但是隨著顯示裝置越來越薄，玻璃也越來越薄，玻璃對光線的分離作用越來越弱，玻璃表面粒子檢測儀在檢測較薄的玻璃時，玻璃05朝向機臺01的一面具有的粒子06也會將發(fā)射光源03照射后的光反射向檢測光學元件02，這樣便會影響玻璃表面粒子檢測儀的檢測效果。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型提供了一種玻璃表面粒子檢測儀，用以減少玻璃朝向機臺的一面具有的粒子對檢測造成干擾的現(xiàn)象的發(fā)生，提高玻璃表面粒子檢測儀的檢測準確度。
[0005]為達到上述目的，本實用新型提供以下技術(shù)方案:
[0006]本實用新型提供了一種玻璃表面粒子檢測儀，包括:用于支撐待檢測的玻璃的機臺，位于所述機臺上方的發(fā)射光源，所述機臺的支撐面上設(shè)有吸光層，所述吸光層可吸收所述發(fā)射光源照射向所述機臺的支撐面的光。
[0007]本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀，通過在機臺的支撐面上設(shè)置吸光層，可以使得發(fā)射光源折射向支撐面的一面上的光被吸光層吸收，使得發(fā)射光源發(fā)出的光折射向待檢測的玻璃朝向支撐面的一面具有的粒子時，不會對玻璃表面粒子檢測儀的檢測結(jié)果造成干擾，即光折射向待檢測的玻璃朝向支撐面的一面具有的粒子時不會發(fā)生反射或反射的光較弱不會照射向檢測光學元件和傳感器。
[0008]故，本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀，可以減少玻璃朝向機臺的一面具有的粒子對檢測造成干擾的現(xiàn)象的發(fā)生，提高玻璃表面粒子檢測儀的檢測準確度。
[0009]在一些可選的實施方式中，所述吸光層背離所述機臺的支撐面的一面上設(shè)有平坦層。平坦層的設(shè)置可以提高待檢測的玻璃被放置的平整性。
[0010]在一些可選的實施方式中，所述平坦層的厚度為10納米?50納米。
[0011]在一些可選的實施方式中，所述平坦層為具有吸光功能的金屬材料的平坦層或具有吸光功能的有機物材料的平坦層。
[0012]在一些可選的實施方式中，所述吸光層為無機復合材料的吸光層、或納米材料的吸光層、或金屬材料的吸光層、或有機復合材料的吸光層。
[0013]在一些可選的實施方式中，所述無機復合材料的吸光層包括:鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層;所述納米材料的吸光層包括:稀土摻雜熒光納米粉的吸光層;所述金屬材料的吸光層包括:氧化鋅材料的吸光層、氧化銅材料的吸光層、氧化鎳材料的吸光層中的任意一種;所述有機復合材料的吸光層包括:蒽三酚的衍生物材料的吸光層。
[0014]在一些可選的實施方式中，所述發(fā)射光源為795納米低頻激光源，所述吸光層為鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層。
[0015]在一些可選的實施方式中，所述吸光層的厚度為I厘米?5厘米。
【附圖說明】
[0016]此處所說明的附圖用來提供對本實用新型的進一步理解，構(gòu)成本實用新型的一部分，本實用新型的示意性實施例及其說明用于解釋本實用新型，并不構(gòu)成對本實用新型的不當限定。在附圖中:
[0017]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中的玻璃表面粒子檢測儀檢測原理示意圖；
[0018]圖2為本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀檢測原理示意圖。
[0019]圖中:
[0020]01-機臺02-檢測光學元件[0021 ] 03-發(fā)射光源 04-傳感器
[0022]05-玻璃06-粒子
[0023]1-發(fā)射光源 2-機臺
[0024]3-吸光層4-平坦層
[0025]5-粒子6-傳感器
[0026]7-檢測光學元件8-玻璃
【具體實施方式】
[0027]下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。
[0028]如圖2所示，圖2為本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀檢測原理示意圖，本實用新型提供了一種玻璃表面粒子檢測儀，包括:用于支撐待檢測的玻璃8的機臺2，位于機臺2上方的發(fā)射光源1，機臺2的支撐面上設(shè)有吸光層3，吸光層3可吸收發(fā)射光源I照射向機臺2的支撐面的光。
[0029]需要說明的是:機臺的支撐面用于支撐待檢測的玻璃。
[0030]本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀，通過在機臺2的支撐面上設(shè)置吸光層3，可以使得發(fā)射光源I折射向支撐面的一面上的光被吸光層3吸收，使得發(fā)射光源I發(fā)出的光折射向待檢測的玻璃8朝向支撐面的一面具有的粒子5時，不會對玻璃表面粒子檢測儀的檢測結(jié)果造成干擾，即光折射向待檢測的玻璃8朝向支撐面的一面具有的粒子5時不會發(fā)生反射或反射的光較弱不會照射向檢測光學元件7和傳感器6。
[0031]故，本實用新型提供的玻璃表面粒子檢測儀，可以減少玻璃8朝向機臺2的一面具有的粒子5對檢測造成干擾的現(xiàn)象的發(fā)生，提高玻璃表面粒子檢測儀的檢測準確度。
[0032]為了提高檢測的精確度，吸光層3背離機臺2的支撐面的一面上設(shè)有平坦層4。平坦層4的設(shè)置可以提高待檢測的玻璃8被放置的平整性。
[0033]可選的，平坦層4的厚度為10納米?50納米。例如:10納米、12納米、20納米、30納米、40納米、50納米等，這里就不再一一列舉。
[0034]上述平坦層4的具體材料可以有多種，可選的，平坦層4為具有吸光功能的金屬材料的平坦層4或具有吸光功能的有機物材料的平坦層4。
[0035]同樣，上述吸光層3的材料也可以有多種，可選的，吸光層3為無機復合材料的吸光層3、或納米材料的吸光層3、或金屬材料的吸光層3、或有機復合材料的吸光層3。上述吸光層3的材料的選擇以發(fā)射光源I的波段頻率為依據(jù)，吸光層3的厚度的設(shè)置也與吸光材料的吸光成度有關(guān)，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)實際需要選擇和設(shè)置。
[0036]進一步的，無機復合材料的吸光層3包括:鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層3;納米材料的吸光層3包括:稀土摻雜熒光納米粉的吸光層3;金屬材料的吸光層3包括:氧化鋅材料的吸光層3、氧化銅材料的吸光層3、氧化鎳材料的吸光層3中的任意一種;有機復合材料的吸光層3包括:蒽三酚的衍生物材料的吸光層3。
[0037]—種具體的實施方式中，當發(fā)射光源I為795納米低頻激光源，上述吸光層3可以選擇為鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層3。
[0038]可選的，上述吸光層3的厚度為I厘米?5厘米。例如:I厘米、2厘米、2.2厘米、2.6厘米、3厘米、3.5厘米、4厘米、4.5厘米、5厘米等，這里就不再一一贅述。
[0039]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本實用新型進行各種改動和變型而不脫離本實用新型的精神和范圍。這樣，倘若本實用新型的這些修改和變型屬于本實用新型權(quán)利要求及其等同技術(shù)的范圍之內(nèi)，則本實用新型也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種玻璃表面粒子檢測儀，包括:用于支撐待檢測的玻璃的機臺，位于所述機臺上方的發(fā)射光源，其特征在于，所述機臺的支撐面上設(shè)有吸光層，所述吸光層可吸收所述發(fā)射光源照射向所述機臺的支撐面的光。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述吸光層背離所述機臺的支撐面的一面上設(shè)有平坦層。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述平坦層的厚度為10納米?50納米。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述平坦層為具有吸光功能的金屬材料的平坦層或具有吸光功能的有機物材料的平坦層。5.根據(jù)權(quán)利要求1?4任一項所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述吸光層為無機復合材料的吸光層、或納米材料的吸光層、或金屬材料的吸光層、或有機復合材料的吸光層。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述無機復合材料的吸光層包括:鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層;所述納米材料的吸光層包括:稀土摻雜熒光納米粉的吸光層;所述金屬材料的吸光層包括:氧化鋅材料的吸光層、氧化銅材料的吸光層、氧化鎳材料的吸光層中的任意一種;所述有機復合材料的吸光層包括:蒽三酚的衍生物材料的吸光層。7.根據(jù)權(quán)利要求1?4任一項所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述發(fā)射光源為795納米低頻激光源，所述吸光層為鎳鐵氧體與二氧化鈦復合介孔材料的吸光層。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的玻璃表面粒子檢測儀，其特征在于，所述吸光層的厚度為I厘米?5厘米。
【文檔編號】G01N21/958GK205562434SQ201620366049
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年4月27日
【發(fā)明人】王利娜, 王子峰, 李發(fā)順, 陳靜靜, 李旭偉
【申請人】鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司, 京東方科技集團股份有限公司