線束檢測(cè)裝置的制造方法
【專利摘要】一種線束檢測(cè)裝置，包括信號(hào)發(fā)生器、待測(cè)線束、感應(yīng)接收電路、測(cè)試模塊和計(jì)算機(jī)，所述待測(cè)線束的一端與信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)聯(lián)機(jī)，待測(cè)線束的另一端與感應(yīng)接收電路電連接，感應(yīng)接收電路與測(cè)試模塊電連接，測(cè)試模塊與計(jì)算機(jī)電連接，所述的測(cè)試模塊由測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器組成，測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器依次電連接；該線束檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)了對(duì)線束的智能化檢測(cè)，可以方便、快速且穩(wěn)定的檢測(cè)出線束的狀況，操作方便。
【專利說(shuō)明】
線束檢測(cè)裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，具體是一種線束檢測(cè)裝置，屬于電氣控制技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]在現(xiàn)代雷達(dá)批量生產(chǎn)中，線束測(cè)試的應(yīng)用較為廣泛。
[0003]對(duì)于少量線束的測(cè)試，可以采用人工測(cè)試方法，但是在測(cè)試點(diǎn)較多的場(chǎng)合下，需要設(shè)計(jì)專用的線束測(cè)試系統(tǒng)，如果還是采用人工測(cè)試，不僅測(cè)試效率低，還會(huì)帶來(lái)測(cè)試不準(zhǔn)確，不穩(wěn)定的現(xiàn)象發(fā)生。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型提供一種線束檢測(cè)裝置，性能穩(wěn)定，工作可靠，成本低，操作方便，可以快速的對(duì)線束做出檢測(cè)。
[0005]為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案是:一種線束檢測(cè)裝置，包括信號(hào)發(fā)生器、待測(cè)線束、感應(yīng)接收電路、測(cè)試模塊和計(jì)算機(jī)，所述待測(cè)線束的一端與信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)聯(lián)機(jī)，待測(cè)線束的另一端與感應(yīng)接收電路電連接，感應(yīng)接收電路與測(cè)試模塊電連接，測(cè)試模塊與計(jì)算機(jī)電連接，所述的測(cè)試模塊由測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器組成，測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器依次電連接；
[0006]測(cè)試模塊內(nèi)部電路包括芯片Ul、芯片U2、芯片ICl、芯片IC2、芯片IC3、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容Cl、電容C2、電容C3、電容C4、晶振Y1、按鈕SI，所述的芯片ICl的管腳3與電阻Rl的一端連接，電阻Rl的另一端與芯片U2的管腳13連接，芯片ICl的管腳5接地，芯片ICl的管腳6與芯片IC2的管腳I連接，芯片ICl的管腳7、管腳8連接后與+5V電壓連接，芯片IC2的管腳2分別與芯片IC3的管腳3、管腳6連接，芯片IC2的管腳4接地，芯片IC2的管腳6與電阻R4的一端連接，電阻R4的另一端接地，芯片IC2的管腳7與電阻R5的一端連接，電阻R5的另一端接地，芯片IC2的管腳8接+5 V電源;芯片IC3的管腳5接地，芯片IC3的管腳7、管腳8連接后與+5V電源連接；電阻R2的一端接+5V電源，電阻R2的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端分別與按鈕SI的一端、芯片U2的管腳17、芯片Ul的管腳9、電容C4的一端連接，電容C4的另一端、按鈕SI的另一端接地，芯片Ul的管腳39、管腳38、管腳37、管腳36、管腳35、管腳34、管腳33、管腳32分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳23、管腳24、管腳25、管腳26、管腳27、管腳28、管腳1、管腳2連接，芯片Ul的管腳40、管腳31接+5V電源，芯片Ul的管腳28與芯片U2的管腳4連接，芯片Ul的管腳12與芯片U2的管腳16連接，芯片Ul的管腳16、管腳17分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳5、管腳6連接，晶振Yl的一端分別與電容Cl的一端、芯片Ul的管腳19、芯片U2的管腳9連接，晶振Yl的另一端分別與電容C2的一端、芯片Ul的管腳18、芯片U2的管腳1連接，電容Cl的另一端、電容C2的另一端連接后接地，芯片Ul的管腳20接地。
[0007]進(jìn)一步，所述的芯片Ul的型號(hào)為89C51、芯片U2的型號(hào)為SJA1000。
[0008]進(jìn)一步，芯片IC1、芯片IC3的型號(hào)為6N137，芯片IC2的型號(hào)為82C250。
[0009]本實(shí)用新型的有益效果是:該線束檢測(cè)裝置實(shí)現(xiàn)了對(duì)線束的智能化檢測(cè)，可以方便、快速且穩(wěn)定的檢測(cè)出線束的狀況，操作方便。
【附圖說(shuō)明】
[0010]圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)框圖；
[0011]圖2是本實(shí)用新型測(cè)試模塊的電路原理圖。
【具體實(shí)施方式】
[0012]下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。
[0013]如圖1和圖2所示，一種線束檢測(cè)裝置，包括信號(hào)發(fā)生器、待測(cè)線束、感應(yīng)接收電路、測(cè)試模塊和計(jì)算機(jī)，所述待測(cè)線束的一端與信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)聯(lián)機(jī)，待測(cè)線束的另一端與感應(yīng)接收電路電連接，感應(yīng)接收電路與測(cè)試模塊電連接，測(cè)試模塊與計(jì)算機(jī)電連接，所述的測(cè)試模塊由測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器組成，測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器依次電連接；
[0014]測(cè)試模塊內(nèi)部電路包括芯片Ul、芯片U2、芯片ICl、芯片IC2、芯片IC3、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容Cl、電容C2、電容C3、電容C4、晶振Y1、按鈕SI，所述的芯片ICl的管腳3與電阻Rl的一端連接，電阻Rl的另一端與芯片U2的管腳13連接，芯片ICl的管腳5接地，芯片ICl的管腳6與芯片IC2的管腳I連接，芯片ICl的管腳7、管腳8連接后與+5V電壓連接，芯片IC2的管腳2分別與芯片IC3的管腳3、管腳6連接，芯片IC2的管腳4接地，芯片IC2的管腳6與電阻R4的一端連接，電阻R4的另一端接地，芯片IC2的管腳7與電阻R5的一端連接，電阻R5的另一端接地，芯片IC2的管腳8接+5 V電源;芯片IC3的管腳5接地，芯片IC3的管腳7、管腳8連接后與+5V電源連接；電阻R2的一端接+5V電源，電阻R2的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端分別與按鈕SI的一端、芯片U2的管腳17、芯片Ul的管腳9、電容C4的一端連接，電容C4的另一端、按鈕SI的另一端接地，芯片Ul的管腳39、管腳38、管腳37、管腳36、管腳35、管腳34、管腳33、管腳32分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳23、管腳24、管腳25、管腳26、管腳27、管腳28、管腳1、管腳2連接，芯片Ul的管腳40、管腳31接+5V電源，芯片Ul的管腳28與芯片U2的管腳4連接，芯片Ul的管腳12與芯片U2的管腳16連接，芯片Ul的管腳16、管腳17分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳5、管腳6連接，晶振Yl的一端分別與電容Cl的一端、芯片Ul的管腳19、芯片U2的管腳9連接，晶振Yl的另一端分別與電容C2的一端、芯片Ul的管腳18、芯片U2的管腳1連接，電容Cl的另一端、電容C2的另一端連接后接地，芯片Ul的管腳20接地。
[0015]進(jìn)一步，所述的芯片Ul的型號(hào)為89C51、芯片U2的型號(hào)為SJA1000。
[0016]進(jìn)一步，芯片IC1、芯片IC3的型號(hào)為6N137，芯片IC2的型號(hào)為82C250。
[0017]線束檢測(cè)系統(tǒng)工作原理:線束檢測(cè)系統(tǒng)由若干測(cè)試模塊組成，待測(cè)線束檢測(cè)到信號(hào)發(fā)生器傳來(lái)的信號(hào)開(kāi)始啟動(dòng)工作程序，感應(yīng)接收電路對(duì)待測(cè)線束傳出的信號(hào)進(jìn)行接收，然后將信號(hào)傳給測(cè)試模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，測(cè)試模塊通過(guò)CAN控制器進(jìn)行擴(kuò)展，實(shí)現(xiàn)對(duì)多線束的檢測(cè)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種線束檢測(cè)裝置，其特征在于，包括信號(hào)發(fā)生器、待測(cè)線束、感應(yīng)接收電路、測(cè)試模塊和計(jì)算機(jī)，所述待測(cè)線束的一端與信號(hào)發(fā)生器點(diǎn)聯(lián)機(jī)，待測(cè)線束的另一端與感應(yīng)接收電路電連接，感應(yīng)接收電路與測(cè)試模塊電連接，測(cè)試模塊與計(jì)算機(jī)電連接，所述的測(cè)試模塊由測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器組成，測(cè)試接口、微處理器、CAN控制器依次電連接； 測(cè)試模塊內(nèi)部電路包括芯片U1、芯片U2、芯片IC1、芯片IC2、芯片IC3、電阻R1、電阻R2、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電容Cl、電容C2、電容C3、電容C4、晶振Yl、按鈕SI，所述的芯片I Cl的管腳3與電阻Rl的一端連接，電阻Rl的另一端與芯片U2的管腳13連接，芯片ICl的管腳5接地，芯片ICl的管腳6與芯片IC2的管腳I連接，芯片ICl的管腳7、管腳8連接后與+5V電壓連接，芯片IC2的管腳2分別與芯片IC3的管腳3、管腳6連接，芯片IC2的管腳4接地，芯片IC2的管腳6與電阻R4的一端連接，電阻R4的另一端接地，芯片IC2的管腳7與電阻R5的一端連接，電阻R5的另一端接地，芯片IC2的管腳8接+5V電源;芯片IC3的管腳5接地，芯片IC3的管腳7、管腳8連接后與+5V電源連接；電阻R2的一端接+5V電源，電阻R2的另一端與電容C3的一端連接，電容C3的另一端分別與按鈕SI的一端、芯片U2的管腳17、芯片Ul的管腳9、電容C4的一端連接，電容C4的另一端、按鈕SI的另一端接地，芯片Ul的管腳39、管腳38、管腳37、管腳36、管腳35、管腳34、管腳33、管腳32分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳23、管腳24、管腳25、管腳26、管腳27、管腳28、管腳1、管腳2連接，芯片Ul的管腳40、管腳31接+5V電源，芯片Ul的管腳28與芯片U2的管腳4連接，芯片Ul的管腳12與芯片U2的管腳16連接，芯片Ul的管腳16、管腳17分別對(duì)應(yīng)與芯片U2的管腳5、管腳6連接，晶振Yl的一端分別與電容Cl的一端、芯片Ul的管腳19、芯片U2的管腳9連接，晶振Yl的另一端分別與電容C2的一端、芯片Ul的管腳18、芯片U2的管腳1連接，電容Cl的另一端、電容C2的另一端連接后接地，芯片Ul的管腳20接地。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線束檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的芯片Ul的型號(hào)為89C51、芯片U2的型號(hào)為SJA1000。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的線束檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的芯片IC1、芯片IC3的型號(hào)為6N137，芯片IC2的型號(hào)為82C250。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK205594095SQ201620330170
【公開(kāi)日】2016年9月21日
【申請(qǐng)日】2016年4月19日
【發(fā)明人】張玉鳳
【申請(qǐng)人】江蘇建筑職業(yè)技術(shù)學(xué)院