全自動鍵盤按鍵測高機的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開一種全自動鍵盤按鍵測高機，包括機臺、X向驅(qū)動機構(gòu)、Y向驅(qū)動機構(gòu)、治具、支架、第一Z向驅(qū)動機構(gòu)、第二Z向驅(qū)動機構(gòu)、CCD檢測裝置、測高裝置及控制系統(tǒng)，所述X向驅(qū)動機構(gòu)設(shè)置于所述機臺上，所述Y向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述X向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述治具固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述支架與所述機臺固定，所述第一Z向驅(qū)動機構(gòu)及第二Z向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述支架上且位于所述治具的上方；所述CCD檢測裝置連接于所述第一Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述測高裝置連接于所述第二Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端。本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機能對鍵盤按鍵進行自動測高、檢測準確、效率高。
【專利說明】
全自動鍵盤按鍵測高機
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實用新型涉及一種檢測裝置，尤其涉及一種全自動鍵盤按鍵測高機。
【背景技術(shù)】
[0002]在手機、電腦等電子設(shè)備的生產(chǎn)過程中，為了檢查各個部件的裝配是否符合要求，通常需要對電子設(shè)備進行檢測。例如，在鍵盤的生產(chǎn)過程中，需要對鍵盤PCB板上的按鍵的焊接點高度(即彈片高度)進行檢測，確保鍵盤按鍵的質(zhì)量。
[0003]現(xiàn)有的鍵盤按鍵檢測方式通常是手動檢測或者鐳身光掃描檢測，手動檢測是通過人工測量高度，通過計算高度差，并對比范圍，從而判定產(chǎn)品是否需合要求;而鐳射光掃描檢測是通過鐳射光一次掃過測高。然而，上述無論是手動檢測或者是鐳射光掃描檢測，測量準確度都不夠，而對工人的操作要求高，勞動強度大，測量效率低，不能滿足生產(chǎn)的需要。
【實用新型內(nèi)容】
[0004]本實用新型的目的在于提供一種對鍵盤按鍵進彳丁自動測尚、檢測準確、效率尚的全自動鍵盤按鍵測高機。
[0005]為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供的全自動鍵盤按鍵測高機包括機臺、X向驅(qū)動機構(gòu)、Y向驅(qū)動機構(gòu)、治具、支架、第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)、CXD檢測裝置、測高裝置及控制系統(tǒng)，所述X向驅(qū)動機構(gòu)設(shè)置于所述機臺上，所述Y向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述X向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述治具固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述支架與所述機臺固定，所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述支架上且位于所述治具的上方;所述CCD檢測裝置連接于所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述測高裝置連接于所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端;所述控制系統(tǒng)控制所述X向驅(qū)動機構(gòu)、所述Y向驅(qū)動機構(gòu)、所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)、所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)、所述CCD檢測裝置及所述測高裝置的運作。
[0006]本實用新型通過設(shè)置所述X向驅(qū)動機構(gòu)、Y向驅(qū)動機構(gòu)，使治具固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，從而可以使承載鍵盤按鍵的治具能進行X、Y向移動，實現(xiàn)測高前的位置的調(diào)整;又通過設(shè)置所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)，使所述CCD檢測裝置及所述測高裝置分別連接于所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)上，從而通過所述CCD檢測裝置即可對所述治具的位置進行精確調(diào)整，并通過所述測高裝置進行準確測高;整個設(shè)備均由所述控制系統(tǒng)自動控制，自動檢測，因此，檢測十分準確，檢測效率高。
[0007]較佳地，所述全自動鍵盤按鍵測高機還包括真空系統(tǒng)，所述治具上設(shè)置若干真空吸盤，所述真空吸盤與所述真空系統(tǒng)連通。由于所述鍵盤按鍵為軟板，直接放置于治具上時未必會完全貼合于治具內(nèi)，從而會造成測量不準確，因此，通過設(shè)置所述真空吸盤，利用真空系統(tǒng)對所述鍵盤按鍵盤真空吸附，可以使所述鍵盤按鍵完全貼于所述治具上，保證在測量時的精準性。
[0008]較佳地，所述治具表面設(shè)有若干對鍵盤按鍵限位的限位塊。所述限位塊在放置鍵盤按鍵時能快速地對其進行定位，提高檢測前的準備速度。
[0009]較佳地，所述治具表面設(shè)有若干對鍵盤按鍵定位的定位銷。所述定位銷在放置鍵盤按鍵時能快速地對其進行定位，提高檢測前的準備速度。
[0010]較佳地，所述治具與所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端之間連接有承載座。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖2是本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機的主視圖。
[0013]圖3是本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機的治具的結(jié)構(gòu)圖。
[0014]圖4是本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機的治具的側(cè)視圖。
【具體實施方式】
[0015]為詳細說明本實用新型的技術(shù)內(nèi)容、構(gòu)造特征、所實現(xiàn)的效果，以下結(jié)合實施方式并配合附圖詳予說明。
[0016]如圖1、圖2所示，本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機100包括機臺1、X向驅(qū)動機構(gòu)
2、Y向驅(qū)動機構(gòu)3、治具4、支架5、第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7、CCD檢測裝置8、測高裝置9及控制系統(tǒng)(圖中未示)；所述X向驅(qū)動機構(gòu)2設(shè)置于所述機臺I上，所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3固定于所述X向驅(qū)動機構(gòu)2的輸出端，所述治具4固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3的輸出端，所述治具4與所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3的輸出端之間連接有承載座10。所述X向驅(qū)動機構(gòu)2及所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3為絲螺螺母機構(gòu)，并通過電機驅(qū)動。所述支架5與所述機臺I固定，所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7固定于所述支架5上且位于所述治具4的上方;所述CCD檢測裝置8連接于所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6的輸出端，所述測高裝置9連接于所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7的輸出端;所述所述第一Z向驅(qū)動機構(gòu)6及第二Z向驅(qū)動機構(gòu)7可以是絲桿螺母機構(gòu)，也可以是氣缸。所述控制系統(tǒng)控制所述X向驅(qū)動機構(gòu)2、所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3、所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6、所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7、所述CCD檢測裝置8及所述測高裝置9的運作。
[0017]請參閱圖3，所述全自動鍵盤按鍵測高機100還包括真空系統(tǒng)，所述治具4上設(shè)置若干真空吸盤(圖中未示)，所述真空吸盤與所述真空系統(tǒng)連通。由于所述鍵盤按鍵200為軟板，直接放置于治具4上時未必會完全貼合于治具4內(nèi)，從而會造成測量不準確，因此，通過設(shè)置所述真空吸盤，利用真空系統(tǒng)對所述鍵盤按鍵200盤真空吸附，可以使所述鍵盤按鍵200完全貼于所述治具4上，保證在測量時的精準性。
[0018]再請參閱圖3及圖4，所述治具4表面設(shè)有若干對鍵盤按鍵200限位的限位塊41及定位銷42。所述限位塊41在放置鍵盤按鍵200時能快速地對其進行定位，提高檢測前的準備速度。同樣，所述定位銷42在放置鍵盤按鍵200時能快速地對其進行定位，提高檢測前的準備速度。
[0019]工作時，將所述鍵盤按鍵200放置于所述治具4上，使所述定位銷42插于所述鍵盤按鍵200的定位孔中；然后，啟動所述真空系統(tǒng)，通過所述真空吸盤將所述鍵盤按鍵200吸合于治具4上。之后，在所述CCD檢測裝置8及控制系統(tǒng)的控制下，通過所述X向驅(qū)動機構(gòu)2及Y向驅(qū)動機構(gòu)3對所述治具4進行X向、Y向的位置調(diào)整，使鍵盤按鍵200需要檢測的位置位于所述測高裝置9的正下方，然后，在所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7的驅(qū)動下，所述測高裝置9向下移動靠近直到其探針抵觸于鍵盤按鍵200上進行測量，通過所述治具4的基準高度與測量的數(shù)據(jù)進行計算，從而得到所述鍵盤按鍵200的高度H。
[0020]本實用新型通過設(shè)置所述X向驅(qū)動機構(gòu)2、Y向驅(qū)動機構(gòu)3，使治具4固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)3的輸出端，從而可以使承載鍵盤按鍵200的治具4能進行Χ、Υ向移動，實現(xiàn)測高前的位置的調(diào)整;又通過設(shè)置所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7，使所述CCD檢測裝置8及所述測高裝置9分別連接于所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)6及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)7上，從而通過所述CCD檢測裝置8即可對所述治具4的位置進行精確調(diào)整，并通過所述測高裝置9進行準確測高;整個設(shè)備均由所述控制系統(tǒng)自動控制，自動檢測，因此，檢測十分準確，檢測效率高。[0021 ]本實用新型全自動鍵盤按鍵測高機100所涉及到的控制系統(tǒng)的控制方法均為本領(lǐng)域普通技術(shù)人員所熟知，在此不再做詳細的說明。
[0022]以上所揭露的僅為本實用新型的較佳實例而已，當然不能以此來限定本實用新型之權(quán)利范圍，因此依本實用新型申請專利范圍所作的等同變化，仍屬于本實用新型所涵蓋的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種全自動鍵盤按鍵測高機，其特征在于:包括機臺、X向驅(qū)動機構(gòu)、Y向驅(qū)動機構(gòu)、治具、支架、第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)、第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)、CCD檢測裝置、測高裝置及控制系統(tǒng)，所述X向驅(qū)動機構(gòu)設(shè)置于所述機臺上，所述Y向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述X向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述治具固定于所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述支架與所述機臺固定，所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)及第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)固定于所述支架上且位于所述治具的上方;所述CCD檢測裝置連接于所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端，所述測高裝置連接于所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端;所述控制系統(tǒng)控制所述X向驅(qū)動機構(gòu)、所述Y向驅(qū)動機構(gòu)、所述第一 Z向驅(qū)動機構(gòu)、所述第二 Z向驅(qū)動機構(gòu)、所述CCD檢測裝置及所述測高裝置的運作。2.如權(quán)利要求1所述的全自動鍵盤按鍵測高機，其特征在于:所述全自動鍵盤按鍵測高機還包括真空系統(tǒng)，所述治具上設(shè)置若干真空吸盤，所述真空吸盤與所述真空系統(tǒng)連通。3.如權(quán)利要求1所述的全自動鍵盤按鍵測高機，其特征在于:所述治具表面設(shè)有若干對鍵盤按鍵限位的限位塊。4.如權(quán)利要求1所述的全自動鍵盤按鍵測高機，其特征在于:所述治具表面設(shè)有若干對鍵盤按鍵定位的定位銷。5.如權(quán)利要求1所述的全自動鍵盤按鍵測高機，其特征在于:所述治具與所述Y向驅(qū)動機構(gòu)的輸出端之間連接有承載座。
【文檔編號】G01B11/06GK205642299SQ201620303705
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年4月12日
【發(fā)明人】張華禮, 黃兆元, 張帆
【申請人】東莞市沃德精密機械有限公司