一種電場強度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本申請?zhí)峁┝艘环N電場強度的調(diào)節(jié)方法，包括：檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。應(yīng)用本申請?zhí)峁┑碾妶鰪姸日{(diào)節(jié)方法，當(dāng)電容極板組產(chǎn)生的電場強度不能對被檢測物體進行覆蓋時，通過改變各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，增大電容極板組產(chǎn)生的電場強度，使電容極板組產(chǎn)生的電場強度能夠繼續(xù)對被檢測物體進行覆蓋。
【專利說明】一種電場強度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本申請涉及電場檢測領(lǐng)域，特別涉及一種電場強度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]電容隔空檢測技術(shù)為下一代touch提供3D輸入，通過電容極板產(chǎn)生電場對被檢測物體進行覆蓋，從而檢測被檢測物體與電容極板之間的距離。
[0003]現(xiàn)有的電容極板組是固定設(shè)置的，其產(chǎn)生的電場的強度是固定的，即產(chǎn)生電場的覆蓋范圍有限，對處于電場覆蓋范圍之外的被檢測物體不能進行有效的距離檢測。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本申請所要解決的技術(shù)問題是提供一種電場強度的增強方法，能夠?qū)﹄娙輼O板產(chǎn)生的電場強度進行調(diào)節(jié)，提升對被檢測物體的檢測精度。
[0005]本申請還提供了一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)，用以保證上述方法在實際中的實現(xiàn)及應(yīng)用。
[0006]為了解決上述問題，本申請公開了一種電場強度的調(diào)節(jié)方法，包括:
[0007]檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，
[0008]改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，
[0009]調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
[0010]上述的方法，優(yōu)選的，所述檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值包括:
[0011]確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向；
[0012]當(dāng)所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向上不能覆蓋所述被檢測物體時，判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
[0013]上述的方法，優(yōu)選的，所述改變電容極板組中各個電容極板之間的相對位置包括:
[0014]改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。
[0015]上述的方法，優(yōu)選的，在執(zhí)行所述方法前，還包括:
[0016]預(yù)設(shè)至少兩組電容極板組；其中各個電容極板組所產(chǎn)生探測電容的最大電容不同。
[0017]上述的方法，優(yōu)選的，還包括:
[0018]當(dāng)檢測到當(dāng)前電容極板組相對被檢測物體產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，
[0019]將所述當(dāng)前電容極板組切換為第一電容極板組；所述第一極板組產(chǎn)生探測電容的最大電容大于當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生探測電容的最大電容。
[0020]上述的方法，優(yōu)選的，所述改變電容極板組中各個電容極板之間的連接關(guān)系包括:
[0021]在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板；
[0022]對選取的各個電容極板進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組；
[0023]所述第二電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
[0024]一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)，包括:
[0025]檢測單元，用于檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值是否達到預(yù)設(shè)臨界值；
[0026]調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)所述檢測單元檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
[0027]上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述檢測單元包括:
[0028]確定子單元，用于確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向；
[0029]判定子單元，用于當(dāng)所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向不能覆蓋所述被檢測物體時，判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
[0030]上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述調(diào)節(jié)單元包括:
[0031]第一調(diào)節(jié)子單元，用于改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。
[0032]上述的系統(tǒng)，優(yōu)選的，所述調(diào)節(jié)單元包括:
[0033]第二調(diào)節(jié)子單元，用于在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板；對選取的各個電容極板組進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組；所述第二電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
[0034]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請包括以下優(yōu)點:
[0035]在本申請中公開了一種電場強度的調(diào)節(jié)方法，當(dāng)檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。應(yīng)用。應(yīng)用本申請?zhí)峁┑碾妶鰪姸鹊恼{(diào)節(jié)方法，當(dāng)當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生的電場強度不能對被檢測物體進行覆蓋時，通過改變各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，增大電容極板組產(chǎn)生的電場強度，使電容極板組產(chǎn)生的電場強度能夠繼續(xù)對被檢測物體進行覆蓋，從而提成對被檢測物體的檢測精度。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0036]為了更清楚地說明本申請實施例中的技術(shù)方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0037]圖1是本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法實施例一的流程圖；
[0038]圖2是本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法實施例一的又一流程圖；
[0039]圖3是本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法實施例二的流程圖；
[0040]圖4是本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法實施例一的又一流程圖；
[0041]圖5為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法一具體實例的第一示意圖；
[0042]圖6為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法一具體實例的第二示意圖；[0043]圖7為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法一具體實例的第三示意圖；
[0044]圖8為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法的又一具體實例的第一示意圖；
[0045]圖9為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法的又一具體實例的第二示意圖；
[0046]圖10為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法的又一具體實例的第三示意圖；
[0047]圖11為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)的實施例一的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0048]圖12為本申請的一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)的實施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0049]下面將結(jié)合本申請實施例中的附圖,對本申請實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本申請一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本申請中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。
[0050]本申請可用于眾多通用或?qū)Ｓ玫挠嬎阊b置環(huán)境或配置中。例如:個人計算機、服務(wù)器計算機、手持設(shè)備或便攜式設(shè)備、平板型設(shè)備、多處理器裝置、包括以上任何裝置或設(shè)備的分布式計算環(huán)境等等。
[0051]參考圖1，示出了本申請一種電場強度的調(diào)節(jié)方法的方法流程圖，包括:
[0052]步驟SlOl:檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到與臨界值時，執(zhí)行步驟S102 ；
[0053]應(yīng)用電容極板組產(chǎn)生電場對被測物體進行覆蓋，從而檢測被測物體與電容極板之間的距離時，當(dāng)被檢測物體距離電容極板組之間的距離很遠，超過電容極板組的覆蓋范圍時，此時不能很好的完成被檢測物體與電容極板組之間距離的檢測。
[0054]本申請中提供了一種檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值是否達到臨界值的方法，其執(zhí)行過程如圖2所示，包括:
[0055]步驟S201:確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向；
[0056]步驟S202:判斷電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向上是否能夠覆蓋被檢測物體，如果否，執(zhí)行步驟S203 ；
[0057]步驟S203:判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
[0058]電容極板組產(chǎn)生探測電容對被測物體進行覆蓋時，由于電容極板組的擺放位置及方向等因素，電容極板組與被測物體之間存在一矢量方向，在所述矢量方向上電容極板組產(chǎn)生的探測電容可能并不是電容極板組所能產(chǎn)生的最大電容，當(dāng)所述電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容閾值達到臨界值，即不能對被測物體進行覆蓋時，即執(zhí)行步驟S102。
[0059]步驟S102:改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系；
[0060]當(dāng)電容極板組在所述矢量方向上，產(chǎn)生的探測電容不能對被測物體進行覆蓋時，可以通過改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系來增大電容極板組產(chǎn)生的電容強度。
[0061]其中，所述改變電容極板組中各個電容極板之間的相對位置包括:
[0062]改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。[0063]所述曲度為所述電容極板組中各個電容極板所形成的整體電容極板向下凹出一定曲度，此時具有一定曲度的電容極板組所產(chǎn)生的探測電容強度大于初始電容極板組所產(chǎn)生的探測電容。
[0064]針對如何改變電容極板組中各個電容極板之間的相對位置這一具體實施過程，本申請?zhí)峁┝艘痪唧w實例對其進行描述，如下:
[0065]參見圖5，圖5為一電容極板組，所述電容極板組中包括電容極板la，電容極板2a，電容極板3a和電容極板4a ；當(dāng)電容極板組產(chǎn)生的探測電容不能對被測物體進行覆蓋時，改變各個電容極板組之間的相對位置，改變位置后的電容極板組整體形狀如圖6所示，此時，電容極板2a和電容極板3a之間存在一向下凹的曲度，由于該曲度的存在，改變整體形狀后的電容極板組在相對被測物體的矢量方向上產(chǎn)生的探測電容的強度大于初始電容極板組所產(chǎn)生的探測電容強度。
[0066]本申請中提供的電場強度的調(diào)節(jié)方法，在改變各個電容極板之間相對位置這一執(zhí)行過程的基礎(chǔ)上，提供了電場強度的調(diào)節(jié)方法的另一具體實施過程，如本申請實施例提供的圖3所示,包括:
[0067]步驟S301:預(yù)設(shè)至少兩組電容極板組；其中各個電容極板組所述產(chǎn)生探測電容的最大電容不同；
[0068]步驟S302:判斷當(dāng)前電容極板組相對被檢測物體產(chǎn)生的探測電容閾值是否達到預(yù)設(shè)臨界值；如果是，執(zhí)行步驟S303 ；
[0069]步驟S303:將所述當(dāng)前電容極板組切換為第一電容極板組；所述第一極板組產(chǎn)生探測電容的最大電容大于當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生探測電容的最大強度。
[0070]參見圖7，設(shè)置有兩組電容極板組，其中:
[0071]電容極板la，電容極板2a，電容極板3a和電容極板4a組成當(dāng)前電容極板，產(chǎn)生探測電容對被測物體進行電場覆蓋；
[0072]電容極板lb，電容極板2b，電容極板3b和電容極板4b為第一電容極板組，在當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生探測電容對被測物體進行電場覆蓋的過程中，第一電容極板組為備用電容極板組，不產(chǎn)生探測電容，當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生的探測電容達到預(yù)設(shè)臨界值，不能繼續(xù)對探測物體進行覆蓋時，停止當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生探測電容，啟用第一電容極板組產(chǎn)生探測電容對被測物體進行電場覆蓋。
[0073]由圖7可知，第一電容極板組中電容極板2b和電容極板3b之間形成一下凹曲度，由于該下凹曲度的存在，增大了電容極板之間的電容感應(yīng)，從而增大了整體電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
[0074]所述改變電容極板組中各個電容極板之間的連接關(guān)系包括，如本申請實施例圖4所示:
[0075]步驟S401:在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板；
[0076]步驟S402:對選取的各個電容極板進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組；所述第二電容極板組在所述矢量方向產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
[0077]參見本申請實施例提供的圖8，電容極板lc，電容極板2c，電容極板3c和電容極板4c，組成一電容極板組，產(chǎn)生探測電容對被測試物體A進行電場覆蓋；當(dāng)電容極板組產(chǎn)生的探測電容達到預(yù)設(shè)臨界值，不能對被測物體進行電場覆蓋時，改變電容極板lc，電容極板2c，電容極板3c和電容極板4c之間的連接關(guān)系；
[0078]其中一種改變可參見圖9，圖9中各個電容極板之間的連接關(guān)系的改變，使得形成的新的電容極板組產(chǎn)生一下凹曲度，這一原理如上述改變各個電容極板之間的相對位置的執(zhí)行過程相一致。
[0079]另一中實現(xiàn)方式可參見圖10，針對不同的被測試物體可擺放多個電容極板，圖10中，從電容極板Id至電容極板13d，各自的擺放位置不同，如針對某一被測物體A，選擇其中電容極板ld，電容極板2d，電容極板3d和電容極板4d組成一電容極板組a，即可產(chǎn)生探測電容對被測物體A進行電場覆蓋。
[0080]當(dāng)更換一被測物體Al，而該被測物體相對電容極板ld，電容極板2d，電容極板3d和電容極板4d組成的電容極板組a距離較遠，電容極板組a產(chǎn)生的探測電容不能對被測物體Al進行覆蓋時,重新選取電容極板,如選取電容極板IOd,電容極板7d,電容極板8d及電容極板13d，組成第二電容極板組；對被測物體Al進行電場覆蓋。
[0081]步驟S103:調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的強度。
[0082]通過以上各種實現(xiàn)方式，可以達到對電容極板組產(chǎn)生的電場強度的調(diào)節(jié)作用，從而能夠更好的被測物體進行探測，獲得更高的探測精度和精準(zhǔn)的探測距離。
[0083]與圖1所示一種電場強度的調(diào)節(jié)方法相對應(yīng)，參見圖11，本申請還提供一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可以包括:
[0084]檢測單元501和調(diào)節(jié)單元502 ；
[0085]其中:
[0086]所述檢測單元501用于檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值是否達到預(yù)設(shè)臨界值；
[0087]所述調(diào)節(jié)單元502用于當(dāng)所述檢測單元501檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
[0088]在圖11的基礎(chǔ)上，本申請還提供了一種電場強度調(diào)節(jié)系統(tǒng)的另一結(jié)構(gòu)示意圖，如圖12所示，其中:
[0089]檢測單元501包括:
[0090]確定子單元503和判定子單元504 ；
[0091]所述確定子單元503用于確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向；
[0092]所述判定子單元504用于當(dāng)所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向上不能覆蓋所述被檢測物體時，判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
[0093]調(diào)節(jié)單元502包括:
[0094]第一調(diào)節(jié)子單元505，用于改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。
[0095]第二調(diào)節(jié)子單元506，用于在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板；對選取的各個電容極板組進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組；所述第二電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
[0096]需要說明的是，本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。對于裝置類實施例而言，由于其與方法實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關(guān)之處參見方法實施例的部分說明即可。
[0097]最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實體或者操作與另一個實體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實體或操作之間存在任何這種實際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。
[0098]為了描述的方便，描述以上裝置時以功能分為各種單元分別描述。當(dāng)然，在實施本申請時可以把各單元的功能在同一個或多個軟件和/或硬件中實現(xiàn)。
[0099]通過以上的實施方式的描述可知，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到本申請可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn)?；谶@樣的理解，本申請的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品可以存儲在存儲介質(zhì)中，如R0M/RAM、磁碟、光盤等，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本申請各個實施例或者實施例的某些部分所述的方法。
[0100]以上對本申請所提供的一種電場強度的調(diào)節(jié)方法及系統(tǒng)進行了詳細介紹，本文中應(yīng)用了具體個例對本申請的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本申請的方法及其核心思想；同時，對于本領(lǐng)域的一般技術(shù)人員，依據(jù)本申請的思想，在【具體實施方式】及應(yīng)用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內(nèi)容不應(yīng)理解為對本申請的限制。
【權(quán)利要求】
1.一種電場強度的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，包括: 檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時， 改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系， 調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值包括: 確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向； 當(dāng)所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向上不能覆蓋所述被檢測物體時，判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述改變電容極板組中各個電容極板之間的相對位置包括: 改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在執(zhí)行所述方法前，還包括: 預(yù)設(shè)至少兩組電容極板組；其中各個電容極板組所產(chǎn)生探測電容的最大電容不同。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，還包括: 當(dāng)檢測到當(dāng)前電容極板組相對被檢測物體產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，將所述當(dāng)前電容極板組切換為第一電容極板組；所述第一極板組產(chǎn)生探測電容的最大電容大于當(dāng)前電容極板組產(chǎn)生探測電容的最大電容。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述改變電容極板組中各個電容極板之間的連接關(guān)系包括: 在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板； 對選取的各個電容極板進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組； 所述第二電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
7.一種電場強度的調(diào)節(jié)系統(tǒng)，其特征在于，包括: 檢測單元，用于檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值是否達到預(yù)設(shè)臨界值； 調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)所述檢測單元檢測電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值時，改變所述電容極板組中各個電容極板之間的相對位置或連接關(guān)系，調(diào)節(jié)所述電容極板組產(chǎn)生的電場強度。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測單元包括: 確定子單元，用于確定被檢測物體相對所述電容極板組的矢量方向； 判定子單元，用于當(dāng)所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容在所述矢量方向不能覆蓋所述被檢測物體時，判定所述電容極板組產(chǎn)生的探測電容閾值達到預(yù)設(shè)臨界值。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述調(diào)節(jié)單元包括: 第一調(diào)節(jié)子單元，用于改變所述電容極板組的整體形狀，使所述電容極板組在所述矢量方向上形成曲度。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述調(diào)節(jié)單元包括: 第二調(diào)節(jié)子單元，用于在所述電容極板組中選取至少兩個電容極板；對選取的各個電容極板組進行關(guān)聯(lián)，組成第二電容極板組；所述第二電容極板組在所述矢量方向上產(chǎn)生的探測電容能夠覆蓋被測物體。
【文檔編號】G05F3/00GK103677068SQ201210345544
【公開日】2014年3月26日 申請日期:2012年9月17日 優(yōu)先權(quán)日:2012年9月17日
【發(fā)明者】陽光 申請人:聯(lián)想(北京)有限公司