一種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法
【專利摘要】本發(fā)明提供了一種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法，將超出控制圖統(tǒng)計點標準偏差2σs范圍的統(tǒng)計點稱作預警點，設第m+1點為預警點，在后續(xù)樣本計算統(tǒng)計點時，工藝參數(shù)母體均值μ采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計：如果第m+2和第m+3統(tǒng)計量中任意一點也超出了2σs范圍，則判定過程已經失控，此后的統(tǒng)計點計算均采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計；否則，認為工藝過程仍處于受控狀態(tài)，從第m+4批樣本開始，采用(1)式計算統(tǒng)計量，當工藝過程失控后，Q控制圖統(tǒng)計點超出控制限的概率有明顯提升；尤其當圖運行長度RL≤5時，運行長度的概率質量函數(shù)有顯著提高，在一定程度上降低了引入異常數(shù)據的概率，控制圖的性能得到了優(yōu)化，提高生產效率。
【專利說明】—種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及工業(yè)生產【技術領域】,尤其涉及一種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法。
【背景技術】
[0002]統(tǒng)計過程控制技術(Statistical Process Control, SPC)是生產過程中常用的質量控制方法。在小批量生產模式下，產品質量特性參數(shù)的樣本數(shù)據較少，但控制圖的建立需要大量數(shù)據，如何在小批量生產環(huán)境下有效地應用SPC技術，這是質量控制的難點。
[0003]現(xiàn)有技術中，國外學者提出了一系列基于Q統(tǒng)計量用于小批量生產模式的過程控制技術——Q控制圖，這一研究成果對于過程控制領域具有深遠影響。Q控制圖采用了“自啟動”(Self-starting)技術，具有自啟動特點的控制圖無需經歷分析用控制圖階段，即--無需數(shù)據積累即可建立第二階段控制圖。這一特點使得自啟動控制圖更適合于小批量生產模式的質量控制。即使樣本量較少，亦可繪出Q控制圖并實施質量過程監(jiān)控。
[0004]然而，自啟動技術存在一個缺陷:當工藝參數(shù)母體均值μ未知時，異常原因出現(xiàn)的越早，控制圖的檢測能力越差，甚至無法檢測到該異常。
[0005]如果工藝參數(shù)母體均值μ未知，標準偏差O已知，當各批次樣本容量η=1時，Q控
制圖的統(tǒng)計量采用下式計算
【權利要求】
1.一種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法,其特征在于， 將控制圖統(tǒng)計點標準偏差σ s的2倍，即將超出2 σ s范圍的統(tǒng)計點稱作預警點，并在此狀態(tài)下稱為控制圖進入預警狀態(tài)； 預警點之后的統(tǒng)計點計算方法采用如下方法進行: 設第m+1點為預警點，在后續(xù)樣本計算統(tǒng)計點時，工藝參數(shù)母體均值μ采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計: 如果第m+2和第m+3統(tǒng)計量中任意一點也超出了 2 σ s范圍，則判定過程已經失控，此后的統(tǒng)計點計算均采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計； 否則，認為工藝過程仍處于受控狀態(tài)，從第m+4批樣本開始，統(tǒng)計量采用下式計算:
2.根據權利要求1所述的一種基于self-starting技術的生產過程質量控制方法,其特征在于，一種以如下方法進行所述預警點之后的統(tǒng)計點計算方法: 設從第m+1點開始，控制圖進入預警狀態(tài)，在后續(xù)樣本計算統(tǒng)計點時，工藝參數(shù)母體均值μ采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計: 如果從第m+2點開始，連續(xù)4個統(tǒng)計點出現(xiàn)在中心線的同一側，則判定過程已經失控，此后的統(tǒng)計點計算均采用前m批數(shù)據樣本進行參數(shù)估計； 否則，認為工藝過程仍處于受控狀態(tài)，從第m+6批樣本開始，采用原表達式計算統(tǒng)計量。
【文檔編號】G05B13/02GK103777519SQ201410077317
【公開日】2014年5月7日 申請日期:2014年3月5日 優(yōu)先權日:2014年3月5日
【發(fā)明者】顧鎧 申請人:西安詮釋軟件有限公司