穩(wěn)壓器的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明提供無需追加測試端子而能夠精度良好地調(diào)合差動放大電路的尾電流的穩(wěn)壓器。具備：向用于測定保護(hù)電路的特性的測試端子輸出使差動放大電路的尾電流流過的恒流電路的電流的電流輸出電路；停止保護(hù)電路的功能的開關(guān)電路；以及在測試端子與電流輸出電路之間的熔絲。
【專利說明】穩(wěn)壓器

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及穩(wěn)壓器，更具體涉及穩(wěn)壓器的測試電路。

【背景技術(shù)】
[0002]圖2示出現(xiàn)有的穩(wěn)壓器的框圖。
[0003]現(xiàn)有的穩(wěn)壓器具備基準(zhǔn)電壓電路2、分壓電路3、輸出晶體管4、差動放大電路10、和恒流電路11，從輸入電壓Vin輸出既定的輸出電壓Vout。
[0004]穩(wěn)壓器具備用于過電流保護(hù)或過熱保護(hù)的保護(hù)電路13。保護(hù)電路13是保護(hù)穩(wěn)壓器的電路的重要的電路，因此要求精度。因而，在制造工序中，測定其特性，進(jìn)行精度的調(diào)整。為此，具備測試用的電路或測試端子。
[0005]此外，穩(wěn)壓器要求為低消耗電流，因此例如需要精度良好地調(diào)整差動放大電路10的尾電流110。一般，尾電流IlO是通過修整(trimming)恒流電路11的晶體管等來調(diào)整的(例如，參照專利文獻(xiàn)I)。
[0006]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:日本特開平4 - 195613號公報。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]然而，因為僅在集成電路內(nèi)部使用的恒流，而為了精度良好地調(diào)整尾電流110，需要測定用的端子，因此存在面積變大的課題。
[0008]于是，本發(fā)明的穩(wěn)壓器，通過將測定差動放大電路10的尾電流IlO的端子與保護(hù)電路13的測試端子共用，不增加測試端子而能夠精度良好地進(jìn)行測定。
[0009]本發(fā)明的穩(wěn)壓器，將測定尾電流IlO的端子和保護(hù)電路13的測試端子共用，因此不會增加測試端子而能夠精度良好地進(jìn)行測定。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0010]圖1是示出第一實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖；
圖2是現(xiàn)有的穩(wěn)壓器的框圖；
圖3是示出第二實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖；
圖4是示出第三實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖。

【具體實施方式】
[0011]以下，參照附圖，對本發(fā)明的穩(wěn)壓器進(jìn)行說明。
[0012]<第一實施方式>
圖1是示出第一實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖。
[0013]第一實施方式的穩(wěn)壓器具備:基準(zhǔn)電壓電路2、分壓電路3、輸出晶體管4、差動放大電路10、恒流電路11、保護(hù)電路13、電流輸出電路14、控制電路15、開關(guān)電路16、和熔絲17及18。第一實施方式中，以過熱保護(hù)電路為例說明保護(hù)電路13，但是也可為過電流保護(hù)電路或其它的保護(hù)電路。
[0014]輸出晶體管4連接在電源端子I與輸出端子5之間。分壓電路3連接在輸出端子5與接地端子6之間。差動放大電路10的輸入端子與基準(zhǔn)電壓電路2的輸出端子和分壓電路3的輸出端子連接，輸出端子與輸出晶體管4的控制端子連接。恒流電路11與差動放大電路10連接。保護(hù)電路13的輸出端子與輸出晶體管4的控制端子連接。
[0015]在此關(guān)于保護(hù)電路13，這里以作為過熱保護(hù)電路進(jìn)行說明。保護(hù)電路13中感溫元件101的輸出端子經(jīng)由熔絲18與測試端子T1連接。此外，被供給工作電流的電流路徑上連接有開關(guān)電路16。開關(guān)電路16是通過控制電路15來控制導(dǎo)通斷開?？刂齐娐?5也可為例如在檢測到輸出端子5的過電流時使開關(guān)電路16導(dǎo)通的電路。此外，控制電路15也可為例如在檢測到輸出端子5上輸入了表示測試開始的電壓時使開關(guān)電路16斷開的電壓檢測電路。恒流電路11是使差動放大電路10的工作電流流過的電路，具備恒流源和構(gòu)成電流鏡的晶體管和修整用熔絲。電流輸出電路14經(jīng)由熔絲17連接在測試端子T1與恒流電路11之間。電流輸出電路14具備將恒流電路11的電流鏡像的NMOS晶體管21和PMOS晶體管22、23。
[0016]如上所述的穩(wěn)壓器如下工作，從而能夠測定電路的特性。
[0017]首先，說明測定恒流電路11的電流的方法。
[0018]控制電路15以使開關(guān)電路16斷開的方式進(jìn)行控制。因而，測試端子T1成為在與接地端子6之間連接二極管的狀態(tài)。在該狀態(tài)下，對電源端子I輸入電源電壓Vin，使穩(wěn)壓器工作。
[0019]NMOS晶體管21將恒流電路11的電流鏡像。而且，PMOS晶體管22和23構(gòu)成電流鏡電路，將NMOS晶體管21的電流鏡像。
[0020]因而，若在測試端子T1與接地間連接電流計，則電流計的阻抗比二極管的阻抗低，因此能夠測定恒流電路11的電流。
[0021]然后，基于該測定值，修整恒流電路11的電流值、即差動放大電路10的尾電流110，可精度良好地進(jìn)行調(diào)合。
[0022]接著，說明測定保護(hù)電路13的特性的方法。
[0023]由于結(jié)束了恒流電路11的測定，所以熔絲17被切斷。控制電路15使開關(guān)電路16導(dǎo)通。在該狀態(tài)下，對電源端子I輸入電源電壓Vin，使穩(wěn)壓器工作。穩(wěn)壓器從輸出端子5輸出既定的輸出電壓Vout。
[0024]在此，作為保護(hù)電路13的特性，例如在測定開始過熱保護(hù)的溫度的情況下，從測試端子T1輸入代替電壓。通過監(jiān)視輸出端子5的輸出電壓Vout，能夠從保護(hù)電路13的保護(hù)動作和其代替電壓值，測定開始過熱保護(hù)的溫度。
[0025]并且，基于該測定值，能夠通過修整等來精度良好地調(diào)合保護(hù)電路13的特性。
[0026]最后，通過切斷熔絲18，測試端子T1與內(nèi)部電路被隔離。
[0027]如以上說明的那樣，第一實施方式的穩(wěn)壓器具備:向測試端子T1輸出恒流電路11的電流的電流輸出電路14 ;使保護(hù)電路13的功能停止的開關(guān)電路16 ;以及用于測定保護(hù)電路13的特性的測試端子T1與電流輸出電路14之間的熔絲17，因此無需追加用于測定差動放大電路10的尾電流IlO的測試端子，因而，無需增加芯片尺寸，而能夠精度良好地調(diào)合差動放大電路10的尾電流110。
[0028]<第二實施方式>
圖3是示出第二實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖。與圖1的不同點在于將開關(guān)電路16中有兩個的開關(guān)設(shè)為一個。
[0029]保護(hù)電路13由檢測電路301和傳感電路303構(gòu)成。傳感電路303由恒流電路302和感溫元件101構(gòu)成。檢測電路301的輸出與輸出晶體管4的柵極連接，輸入經(jīng)由熔絲18與測試端子T1連接，電源與電源端子I連接。感溫元件101的輸出端子經(jīng)由熔絲18與測試端子T1連接。恒流電路302連接在感溫元件101的輸出端子與開關(guān)電路16之間。其它與圖1相同。
[0030]控制電路15以使開關(guān)電路16斷開的方式進(jìn)行控制。因而，測試端子T1成為在與接地端子6之間連接二極管的狀態(tài)。在該狀態(tài)下，對電源端子I輸入電源電壓Vin，使穩(wěn)壓器工作。
[0031 ] NMOS晶體管21將恒流電路11的電流鏡像。而且，PMOS晶體管22和23構(gòu)成電流鏡電路，將NMOS晶體管21的電流鏡像。
[0032]因而，若在測試端子T1與接地間連接電流計，則電流計的阻抗比二極管的阻抗低，因此能夠測定恒流電路11的電流。
[0033]然后，基于該測定值修整恒流電路11的電流值、即差動放大電路10的尾電流110，能夠精度良好地進(jìn)行調(diào)合。此外，當(dāng)測定恒流電路11的電流時，檢測電路301工作，但是，由于在檢測電路301的輸入連接有晶體管的柵極等(未圖示)，所以電流不會從檢測電路301流到測試端子T1。因此，即便檢測電路301工作，電流也不會從檢測電路301或傳感電路303流入，能夠用測試端子T1來測定恒流電路11的電流。其它與第一實施方式的動作相同。
[0034]如以上說明的那樣，第二實施方式的穩(wěn)壓器無需追加用于測定差動放大電路10的尾電流I1的測試端子，可以使檢測電路301動作的狀態(tài)下精度良好地調(diào)合差動放大電路10的尾電流110。
[0035]<第三實施方式>
圖4是示出第三實施方式的穩(wěn)壓器的電路圖。與圖3的不同點在于將開關(guān)電路16移動到檢測電路301的電源與電源端子I之間，對電源端子I連接恒流電路302。其它與圖3相同。
[0036]控制電路15以使開關(guān)電路16斷開的方式進(jìn)行控制。因而，測試端子T1成為在與接地端子6之間連接二極管的狀態(tài)，使保護(hù)電路13的動作停止。在該狀態(tài)下，對電源端子I輸入電源電壓Vin，使穩(wěn)壓器工作。
[0037]NMOS晶體管21將恒流電路11的電流鏡像。而且，PMOS晶體管22和23構(gòu)成電流鏡電路，將NMOS晶體管21的電流鏡像。
[0038]因而，若在測試端子T1與接地間連接電流計，則電流計的阻抗比二極管的阻抗低，因此能夠測定恒流電路11的電流。如果將流入感溫元件101的電流設(shè)定為對差動放大電路10的尾電流IlO成正比的電流，并且比流過PMOS晶體管23的電流非常小，則在恒流電路11的電流的測定中不受很大影響，能夠精度良好地測定恒流電路11的電流。
[0039]基于該電流值，修整恒流電路11的電流值、即差動放大電路10的尾電流110，能夠精度良好地進(jìn)行調(diào)合。其它與第二實施方式的動作相同。
[0040]如以上說明的那樣，第三實施方式的穩(wěn)壓器能夠使保護(hù)電路13的動作停止并使流入感溫元件101的電流與差動放大電路10的尾電流IlO成正比，從而能夠精度良好地測定恒流電路11的電流并能精度良好地調(diào)合差動放大電路10的尾電流110。
[0041]標(biāo)號說明
10差動放大電路；11恒流電路；13保護(hù)電路；14電流輸出電路；15控制電路；101感溫元件；301檢測電路；302恒流電路；303傳感電路。
【權(quán)利要求】
1.一種穩(wěn)壓器，具備:誤差放大電路、供給所述誤差放大電路的工作電流的恒流電路、保護(hù)電路、和用于測定所述保護(hù)電路的特性的測試端子，所述穩(wěn)壓器的特征在于，包括: 用于向所述測試端子輸出所述恒流電路的電流的電流輸出電路； 設(shè)在所述電流輸出電路與所述測試端子之間的熔絲；以及 用于停止所述保護(hù)電路的動作的開關(guān)電路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的穩(wěn)壓器，其特征在于， 具備用于控制所述開關(guān)電路的控制電路， 當(dāng)從所述測試端子輸出所述恒流電路的電流時，所述控制電路控制所述開關(guān)電路，使所述保護(hù)電路的動作停止。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的穩(wěn)壓器，其特征在于， 所述保護(hù)電路具備: 用所述開關(guān)電路來停止動作的傳感電路；以及 檢測所述傳感電路的電壓的檢測電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的穩(wěn)壓器，其特征在于， 所述傳感電路是檢測溫度的二極管。
【文檔編號】G05F1/56GK104181966SQ201410223523
【公開日】2014年12月3日 申請日期:2014年5月23日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月23日
【發(fā)明者】矢萩顯仁, 井村多加志 申請人:精工電子有限公司