一種微控制器soc內(nèi)建io映射測試裝置的制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種微控制器SOC內(nèi)建IO映射測試裝置，包括外部測試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP1、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測試控制模塊和IO控制模塊。本發(fā)明的有益效果是：1、本方案可以高效地對微控制器SOC內(nèi)部的集成IP進行測試。在微控制器SOC出現(xiàn)失效的時候，也可以在測試模式下對內(nèi)部集成的IP進行失效分析。2、本方案能夠改善微控制器SOC的測試效率，只需要增加極少的資源來實現(xiàn)內(nèi)建IO映射測試邏輯，幾乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。
【專利說明】
一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一種主機系統(tǒng)，具體是一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在微控制器SOC中，往往除了微控制器內(nèi)核(mcu core)之外，還包括一些IP核。IP核是指由某一方提供的芯片設(shè)計的知識產(chǎn)權(quán)模塊(intellectual property core，簡稱為IP)。在微控制器SOC內(nèi)部，微控制器內(nèi)核(mcu core)與一些功能IP核通過金屬線相連接。在集成電路(Integrated Circuit，簡稱IC)產(chǎn)業(yè)中，IC測試成本占IC生產(chǎn)總成本的相當重要的一部分，測試費用在電路和系統(tǒng)總費用中所占的比例不斷上升。在IC生產(chǎn)設(shè)計中，如何降低IC的測試成本成為現(xiàn)今的一個重要課題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的在于提供一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置，以解決上述【背景技術(shù)】中提出的問題。
[0004]為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置，包括外部測試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測試控制模塊和1控制模塊，所述外部測試邏輯模塊包括串行通信接口和外部測試控制模塊，1控制模塊分別連接外部測試控制模塊、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、微控制器內(nèi)核和內(nèi)部測試控制模塊，所述內(nèi)部測試控制模塊還連接串行通信接口。
[0005]作為本發(fā)明的優(yōu)選方案:所述內(nèi)部測試控制模塊包括測試向量序號寄存器和內(nèi)部測試控制模塊。
[0006]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:1、本方案可以高效地對微控制器SOC內(nèi)部的集成IP進行測試。在微控制器SOC出現(xiàn)失效的時候，也可以在測試模式下對內(nèi)部集成的IP進行失效分析。2、本方案能夠改善微控制器SOC的測試效率，只需要增加極少的資源來實現(xiàn)內(nèi)建1映射測試邏輯，幾乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。
【附圖說明】
[0007]圖1為本發(fā)明的整體結(jié)構(gòu)框圖；
圖2為1控制模塊的原理圖。
【具體實施方式】
[0008]下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0009]請參閱圖1-2，一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置，包括外部測試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測試控制模塊和1控制模塊，所述夕卜部測試邏輯模塊包括串行通信接口和外部測試控制模塊，1控制模塊分別連接外部測試控制模塊、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、微控制器內(nèi)核和內(nèi)部測試控制模塊，所述內(nèi)部測試控制模塊還連接串行通信接口。
[0010]內(nèi)部測試控制模塊包括測試向量序號寄存器和內(nèi)部測試控制模塊。
[0011]本發(fā)明的工作原理是:本文提供一種用于微控制器SOC的1映射測試方案與裝置。此方案用于微控制器SOC的測試。在測試微控制器SOC時，微控制器SOC外部的測試邏輯通過串行通信接口與芯片內(nèi)部測試控制模塊進行通過，請求芯片進入測試模式。微控制器SOC進入測試模式后，在微控制器SOC內(nèi)部的1映射測試邏輯的作用下，將待測試的IP引腳映射至微控制器SOC的外部引腳。微控制器SOC外部的測試邏輯將測試激勵由微控制器SOC的外部弓丨腳輸入，就可以在測試模式下驅(qū)動微控制器SOC內(nèi)部的集成IP。同時，微控制器SOC內(nèi)部的集成IP在測試激勵下的響應(yīng)也可以通過微控制器SOC外部引腳來監(jiān)測。本方案可以高效地對微控制器SOC內(nèi)部的集成IP進行測試。在微控制器SOC出現(xiàn)失效的時候，也可以在測試模式下對內(nèi)部集成的IP進行失效分析。本方案能夠改善微控制器SOC的測試效率，只需要增加極少的資源來實現(xiàn)內(nèi)建1映射測試邏輯，幾乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。
[0012]本發(fā)明提出一種面向鍵控類應(yīng)用的MCU芯片中低功耗管理方案，當MCU芯片處于休眠狀態(tài)，被工作于低頻的按鍵掃描邏輯喚醒之后，能夠立刻響應(yīng)接下來的休眠請求，而不是需要等等至少2個低頻的按鍵掃描時鐘周期。藉此使得MCU內(nèi)核才能夠及時重新進入休眠狀態(tài)，從而使芯片能夠適合對功耗要求更加嚴格的應(yīng)用場合。
[0013]外部測試邏輯:
外部測試邏輯可以通過內(nèi)部的串行通信接口與微控制器內(nèi)核中的內(nèi)部測試控制模塊進行通信?？梢詫⒁恍y試指令通過串行通信接口傳輸至微控制器SOC內(nèi)部。外部測試邏輯還負責產(chǎn)生用于驅(qū)動微控制器SOC內(nèi)部的IP的對應(yīng)的一些測試激勵，并且對IP的在測試激勵作用下的響應(yīng)進行監(jiān)測，以判斷微控制器SOC是否存在失效。
[0014]微控制器內(nèi)核(mcu_core):
微控制器內(nèi)核是整個微控制器SOC的核心單元。
[0015]IP1/IP2
由某一方提供的芯片設(shè)計的知識產(chǎn)權(quán)模塊(IP核)。一般是微控制器內(nèi)核(mCU_C0re)的功能外設(shè)單元。
[0016]內(nèi)部測試控制模塊(test_ctrl):
內(nèi)部測試控制模塊在是微控制器SOC內(nèi)部對整個測試邏輯進行控制的單元。內(nèi)部測試控制模塊負責與外部測試控制邏輯進行通信。內(nèi)部測試控制接收到外部測試指令后進入測試模式，并且接收外部發(fā)送的測試量序號傳送至內(nèi)部測試控制模塊(teSt_Ctrl)，保存于內(nèi)部的測試控制模塊(teSt_Ctrl)的測試向量序號寄存器中。內(nèi)部測試控制模塊對測試向量序號進行譯碼，得到各1映射方向控制信號(dir_pl，dir_p2，dir_p3......)，并將這些1
映射方向控制信號輸入于1控制模塊(gp1_ctrl)。
[0017]1控制模塊(gp1_ctrl):
gp1_ctrl模塊負責管理微控制器SOC的gp1功能以及微控制器SOC外設(shè)的輸入輸出在芯片引腳上的復用。在測試模式時，gp1_ctrl模塊內(nèi)部的測試1映射邏輯工作，負責將IPl
與IP2的待測試引腳(P1'，P2'，P3'......)對應(yīng)地映射至微控制器SOC的芯片引腳(PI，P2，
P3......)上面。
[0018]本方案的原理如圖1所示。微控制器SOC內(nèi)部包括有微控制器內(nèi)核、IPl和IP2兩個功能IP(本方案一樣能夠適用于微控制器SOC內(nèi)部包含更多IP的情況)。外部測試邏輯通過串行通信接口與微控制器SOC內(nèi)部的測試控制模塊(test_ctrl)進行通信。請求微控器SOC進入測試模式。當微控制器SOC內(nèi)部進入測試模式后，內(nèi)部測試控制模塊輸出控制信號testjnode的狀態(tài)為高有效。微控制器SOC內(nèi)部進入測試模式后，外部測試控制邏輯繼續(xù)通過串行通信接口將測試向量序號傳送至內(nèi)部測試控制模塊(teSt_Ctrl)，保存于內(nèi)部的測試控制模塊(teSt_Ctrl)的測試向量序號寄存器中。在teSt_Ctrl根據(jù)測試向量序號進行譯碼，得到各1映射方向控制信號(dir_pl，dir_p2，dir_p3......)，并將這些1映射方向控制信號輸入于1控制模塊(gp1_ctrl)。在微控制器SOC正常工作模式時，gp1_ctrl模塊負責管理微控制器SOC的gp1功能以及微控制器SOC外設(shè)的輸入輸出在芯片引腳上的復用。在本方案中，gp1_ctrl模塊除了上述功能之外，還附加了測試1映射邏輯。測試1映射邏輯的開啟和關(guān)閉由測試模式控制信號(testjnode)來控制。通過測試1映射邏輯將IPl與IP2
的待測試引腳(P1'，P2'，P3'......)對應(yīng)地映射至微控制器SOC的芯片引腳(P1，P2，P3......)上面。映射關(guān)系受1映射方向控制信號的控制。
[00?9 ] 1控制模塊(gp i o_ctrl)的設(shè)計原理如圖2所示。當內(nèi)部測試控制模塊(t e s t_(^!■1)輸入至10控制模塊(〖？;[0_01:1'1)的控制信號丨681:_1]10(16為高有效狀態(tài)時，微控制器SOC處于正常工作模式，muxl選擇器選擇pl_oen作為輸出緩沖buf I的控制信號，mux2選擇器選擇pl_o作為輸出緩沖器bufl的輸入信號，門控開關(guān)gl斷開。此時，引腳Pl作為通用輸入輸出(gp1)功能來使用。當內(nèi)部測試控制模塊(test_ctrl)輸入至1控制模塊(gp1_ctrl)的控制信號test_mode為低電平狀態(tài)時，muxl選擇器選擇1映射方向控制信號(dir_pl)作為輸出緩沖器bufl的控制信號。對應(yīng)的1映射的方向受1映射方向控制信號的控制。如1映射方向控制信號(dir_pl)為低電平時，門控開關(guān)gl導通，門控開關(guān)g2關(guān)閉，Pl作為輸入口，Pl'作為輸出口，外部測試激勵可以由PI 口輸入，通過PI'直接驅(qū)動IP。如1映射方向控制信號(dir_pl)為高電平時，門控開關(guān)g2導通，門控開關(guān)gl關(guān)閉，Pl作為輸出口，Pl'作為輸入口，外部測試邏輯可以通過Pl 口來監(jiān)測內(nèi)部IP的響應(yīng)。其它對應(yīng)1映射控制關(guān)系，如上述相同。通過此控制機制，微控制器SOC外部的測試邏輯將測試激勵由微控制器SOC的外部引腳輸入，就可以在測試模式下驅(qū)動微控制器SOC內(nèi)部的集成IP。同時，微控制器SOC內(nèi)部的集成IP在測試激勵下的響應(yīng)也可以通過微控制器SOC外部引腳來監(jiān)測，外部測試邏輯通過差別響應(yīng)的正確與否就能夠判斷微控制器SOC外部及其內(nèi)部的IP是否失效。
【主權(quán)項】
1.一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置，包括外部測試邏輯模塊、微控制器內(nèi)核、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、內(nèi)部測試控制模塊和1控制模塊，其特征在于，所述外部測試邏輯模塊包括串行通信接口和外部測試控制模塊，1控制模塊分別連接外部測試控制模塊、知識產(chǎn)權(quán)模塊IPl、知識產(chǎn)權(quán)模塊IP2、微控制器內(nèi)核和內(nèi)部測試控制模塊，所述內(nèi)部測試控制模塊還連接串行通信接口。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微控制器SOC內(nèi)建1映射測試裝置，其特征在于，所述內(nèi)部測試控制模塊包括測試向量序號寄存器和內(nèi)部測試控制模塊。
【文檔編號】G05B23/02GK105929818SQ201610525950
【公開日】2016年9月7日
【申請日】2016年7月5日
【發(fā)明人】萬上宏, 葉媲舟, 黎冰, 涂柏生
【申請人】深圳市博巨興實業(yè)發(fā)展有限公司