薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明提供一種薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，包括薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件、變形測量系統(tǒng)、變形控制系統(tǒng)和監(jiān)視控制系統(tǒng)；所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件包括薄膜陣面以及能夠調(diào)整薄膜陣面形面的調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)，采用兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在兩個(gè)不同角度拍攝薄膜陣面，將拍攝到的圖像發(fā)送至監(jiān)視控制系統(tǒng)，監(jiān)視控制系統(tǒng)通過圖像處理獲取薄膜陣面的三維形面數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)傳輸給變形控制系統(tǒng)，變形控制系統(tǒng)根據(jù)三維形面數(shù)據(jù)計(jì)算薄膜陣面所需調(diào)整量，并驅(qū)動(dòng)調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整到指定位置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。本發(fā)明能夠模擬真實(shí)被控對(duì)象，對(duì)采用的控制方法進(jìn)行充分驗(yàn)證，克服了理論仿真驗(yàn)證可信度不高的問題。
【專利說明】
薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及航天器結(jié)構(gòu)變形控制領(lǐng)域，具體說涉及一種薄膜結(jié)構(gòu)的變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]薄膜結(jié)構(gòu)，如:太陽帆、薄膜太陽電池陣、薄膜式天線結(jié)構(gòu)、薄膜式反射鏡結(jié)構(gòu)等，因其面積大、重量輕、收藏體積小等優(yōu)點(diǎn)在航天領(lǐng)域得到越來越廣泛的應(yīng)用。由于薄膜結(jié)構(gòu)面積大、剛度低、阻尼弱等特點(diǎn)，在熱載荷、姿態(tài)機(jī)動(dòng)載荷、軌道機(jī)動(dòng)載荷等干擾情況下，容易產(chǎn)生變形，其形面精度難以保持。而薄膜形面精度的降低將嚴(yán)重影響航天任務(wù)實(shí)施，或?qū)е鹿ぷ餍阅芟陆怠?br>[0003]現(xiàn)有解決方法中主要通過進(jìn)一步提高邊框加工精度和剛度來保證薄膜陣面的初始形面精度。但現(xiàn)有方法不具有可調(diào)整性，在軌飛行過程中不能實(shí)時(shí)地調(diào)整，以滿足薄膜陣面的高精度形面要求。另外目前該問題主要通過理論仿真進(jìn)行研究，但理論仿真驗(yàn)證建立在較多近似假設(shè)的基礎(chǔ)上，可信度不高，不能對(duì)控制算法的有效性進(jìn)行充分驗(yàn)證。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是提供一種薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，通過實(shí)驗(yàn)的方式實(shí)現(xiàn)對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)的變形測量與控制方法的有效性進(jìn)行充分驗(yàn)證。
[0005]本發(fā)明的技術(shù)方案是:
[0006]一種薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，包括薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件、變形測量系統(tǒng)、變形控制系統(tǒng)和監(jiān)視控制系統(tǒng);所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件包括薄膜陣面以及能夠調(diào)整薄膜陣面形面的調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)，采用兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在兩個(gè)不同角度拍攝薄膜陣面，將拍攝到的圖像發(fā)送至監(jiān)視控制系統(tǒng)，監(jiān)視控制系統(tǒng)通過圖像處理獲取薄膜陣面的三維形面數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)傳輸給變形控制系統(tǒng)，變形控制系統(tǒng)根據(jù)三維形面數(shù)據(jù)計(jì)算薄膜陣面所需調(diào)整量，并驅(qū)動(dòng)調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整到指定位置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。
[0007]本發(fā)明中，所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件包含邊框、張力拉索、薄膜陣面、調(diào)整機(jī)構(gòu)和若干反光標(biāo)志點(diǎn)，所述薄膜陣面固定在邊框內(nèi)，所述薄膜陣面的周邊設(shè)有一圈張力拉索，薄膜陣面周邊通過張力拉索提供張力而使整個(gè)薄膜陣面張緊，張力拉索通過多個(gè)調(diào)整結(jié)構(gòu)固定在邊框上，若干個(gè)反光標(biāo)志點(diǎn)以陣列的形式布置在薄膜陣面的表面。
[0008]進(jìn)一步地，本發(fā)明中的張力拉索可以為一根，張力拉索穿設(shè)在薄膜陣面的周邊形成一個(gè)整圈?；蛘邚埩骺梢詾槎喔?，相鄰張力拉索之間首尾相接形成一個(gè)整圈。
[0009]進(jìn)一步地，本發(fā)明中的若干個(gè)反光標(biāo)志點(diǎn)通過印刷或粘貼的方式設(shè)置薄膜陣面的表面。
[0010]進(jìn)一步地，本發(fā)明所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件還包括支撐機(jī)構(gòu)，所述支撐機(jī)構(gòu)為三角支撐架，所述三角支撐架與邊框連接，支撐機(jī)構(gòu)為薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件整體提供支撐。[0011 ]進(jìn)一步地，本發(fā)明所述調(diào)整機(jī)構(gòu)為滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)。
[0012]本發(fā)明中，所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)和同步通訊控制器，攝影測量相機(jī)和同步通訊控制器之間通過通訊電纜連接，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在同步通訊控制器的控制下對(duì)薄膜陣面發(fā)射激光閃光并拍照，利用薄膜陣面上反光標(biāo)志點(diǎn)的反光特性，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)獲得極高反差的標(biāo)志點(diǎn)圖像，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)將從不同角度獲取的標(biāo)志點(diǎn)圖像通過同步通訊控制器轉(zhuǎn)發(fā)至監(jiān)視控制系統(tǒng)。
[0013]本發(fā)明中，所述變形控制系統(tǒng)包含dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)、多個(gè)與調(diào)整機(jī)構(gòu)一一對(duì)應(yīng)的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)控制步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器用于驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。
[OOM]本發(fā)明中，所述dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)與Matlab軟件無縫鏈接，能夠直接下載Ma11 ab S imu I i nk中的控制算法并進(jìn)行實(shí)時(shí)控制實(shí)驗(yàn)。
[0015]本發(fā)明中，所述監(jiān)視控制系統(tǒng)為一臺(tái)工控計(jì)算機(jī)，且其內(nèi)置Ma11ab軟件、dSPACEControl Desk軟件、圖像處理軟件和變形控制算法。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0017]圖2是初始形面調(diào)整后薄膜陣面形面。
[0018]圖3是變形加載后薄膜陣面。
[0019]圖4是變形控制后薄膜陣面。
【具體實(shí)施方式】
[0020]參照?qǐng)D1，本發(fā)明提供一種薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，包括薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件1、變形測量系統(tǒng)2、變形控制系統(tǒng)3和監(jiān)視控制系統(tǒng)4。所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件I包括薄膜陣面13以及能夠調(diào)整薄膜陣面13形面的滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14，所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)，采用兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在兩個(gè)不同角度拍攝薄膜陣面，將拍攝到的圖像發(fā)送至監(jiān)視控制系統(tǒng)，監(jiān)視控制系統(tǒng)通過圖像處理獲取薄膜陣面的三維形面數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)傳輸給變形控制系統(tǒng)，變形控制系統(tǒng)根據(jù)三維形面數(shù)據(jù)計(jì)算薄膜陣面所需調(diào)整量，并驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整到指定位置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。
[0021]參照?qǐng)D1，所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件I包含邊框11、張力拉索12、薄膜陣面13、滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14、三角支撐架15和若干反光標(biāo)志點(diǎn)16，所述三角支撐架15與邊框11連接，三角支撐架15為薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件I整體提供支撐。
[0022]所述薄膜陣面固定在邊框內(nèi)，所述薄膜陣面的周邊設(shè)有一圈張力拉索，薄膜陣面周邊通過張力拉索提供張力而使整個(gè)薄膜陣面張緊，張力拉索12通過多個(gè)調(diào)整結(jié)構(gòu)固定在邊框上，若干個(gè)反光標(biāo)志點(diǎn)16通過印刷或粘貼的方式以陣列的形式布置在薄膜陣面13的表面。本實(shí)施例中，調(diào)整機(jī)構(gòu)為10個(gè)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)。所述邊框11為長方形邊框，邊框11內(nèi)部張緊的薄膜陣面13整體也是長方形。10個(gè)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)分別設(shè)置在長方形邊框的四邊上，其中長方形邊框的四個(gè)頂點(diǎn)各設(shè)置有一個(gè)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)，長方形邊框的長邊中間均等間距設(shè)置有三個(gè)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)。設(shè)置有滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)處的張力拉索12連接固定在滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)上。
[0023]所述變形測量系統(tǒng)2包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21、通訊電纜22、同步通訊控制器23、三腳架24和反光標(biāo)志點(diǎn)16。兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21和同步通訊控制器23之間分別通過通訊電纜22連接，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21在同步通訊控制器23的控制下對(duì)薄膜陣面發(fā)射激光閃光并拍照，利用薄膜陣面上反光標(biāo)志點(diǎn)16的反光特性，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21獲得極高反差的標(biāo)志點(diǎn)圖像，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21將從不同角度獲取的標(biāo)志點(diǎn)圖像通過同步通訊控制器23轉(zhuǎn)發(fā)至監(jiān)視控制系統(tǒng)4，并由圖像處理軟件處理計(jì)算出標(biāo)志點(diǎn)的三維坐標(biāo)。
[0024]所述變形控制系統(tǒng)3包含dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)31、多個(gè)與調(diào)整機(jī)構(gòu)一一對(duì)應(yīng)的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器32，dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)控制步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器32用于驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。所述dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)與Matlab軟件無縫鏈接，能夠直接下載Mat lab Simul ink中的控制算法并進(jìn)行實(shí)時(shí)控制實(shí)驗(yàn)。
[0025]所述監(jiān)視控制系統(tǒng)4為一臺(tái)工控計(jì)算機(jī)，且其內(nèi)置Matlab軟件、dSPACE ControlDesk軟件、圖像處理軟件和變形控制算法。
[0026]對(duì)薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件進(jìn)行變形測量與控制的過程如下:
[0027]首先對(duì)所有設(shè)備上電預(yù)熱，開啟相關(guān)的軟件和硬件。調(diào)整兩臺(tái)攝影測量相機(jī)的視場，使其覆蓋薄膜陣面上的所有標(biāo)志點(diǎn)，調(diào)整合適的相機(jī)曝光參數(shù)，并對(duì)攝影測量相機(jī)進(jìn)行標(biāo)定。然后進(jìn)行初始形面調(diào)整，使得薄膜陣面形面精度滿足設(shè)計(jì)要求。利用變形測量系統(tǒng)記錄初始形面數(shù)據(jù)。在薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件邊框上加載任意載荷，模擬太空干擾。利用變形測量系統(tǒng)測量干擾后的薄膜陣面形面。根據(jù)變形后形面，利用變形控制算法計(jì)算出各個(gè)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)的調(diào)整量。dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整到指定位置。利用變形測量系統(tǒng)測量形面控制后的膜陣面形面。最后可以對(duì)比實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
[0028]本發(fā)明通過薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件模擬衛(wèi)星薄膜SAR，通過變形測量系統(tǒng)測量薄膜陣面的形面，通過變形控制系統(tǒng)對(duì)薄膜陣面實(shí)施變形控制，從而建立了薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)。本發(fā)明能夠模擬真實(shí)被控對(duì)象，對(duì)采用的控制方法進(jìn)行充分驗(yàn)證，克服了理論仿真驗(yàn)證可信度不高的問題。
[0029]所述的變形測量系統(tǒng)采用雙相機(jī)攝影測量系統(tǒng)，測量時(shí)對(duì)薄膜陣面發(fā)射激光閃光并拍照，獲得反光標(biāo)志點(diǎn)的極大反差圖像，再利用圖像處理軟件計(jì)算得到標(biāo)志點(diǎn)的三維坐標(biāo)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)薄膜結(jié)構(gòu)的非接觸測量，克服了接觸式測量方法會(huì)對(duì)薄膜形面產(chǎn)生干擾的缺點(diǎn)，同時(shí)利用激光閃光和反光標(biāo)志點(diǎn)結(jié)合的方式，測量系統(tǒng)能夠不依賴環(huán)境光源，對(duì)被測環(huán)境要求較低。
[0030]所述的變形控制系統(tǒng)采用dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真試驗(yàn)系統(tǒng)，該系統(tǒng)與Matlab軟件無縫鏈接，可以直接下載Matlab Simul ink中的控制算法并進(jìn)行實(shí)時(shí)控制實(shí)驗(yàn)。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)變形控制算法的快速開發(fā)和實(shí)時(shí)實(shí)驗(yàn)測試，克服了傳統(tǒng)方法控制算法開發(fā)流程復(fù)雜的缺點(diǎn)。
[0031]最后通過對(duì)比實(shí)驗(yàn)來驗(yàn)證采用本發(fā)明進(jìn)行形面控制實(shí)驗(yàn)的控制效果。
[0032]第一步:系統(tǒng)初始化
[0033]啟動(dòng)監(jiān)視控制系統(tǒng)4及其軟件，打開變形測量系統(tǒng)2和變形控制系統(tǒng)3，通電預(yù)熱10分鐘。調(diào)整兩臺(tái)攝影測量相機(jī)21的角度使其覆蓋薄膜陣面上所有測量標(biāo)志點(diǎn)，調(diào)整其曝光參數(shù)，使拍攝的照片保留極大反差同時(shí)不過曝，標(biāo)定相機(jī)。將滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14調(diào)整至行程中間位置。
[0034]第二步:初始形面精度調(diào)整
[0035]由于系統(tǒng)機(jī)械加工存在誤差，系統(tǒng)初始化后薄膜陣面13的形面會(huì)存在較大誤差，通過調(diào)整滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14，使薄膜陣面13的形面精度小于3mm(3o)。經(jīng)試驗(yàn)測定初始形面調(diào)整后薄膜陣面13的形面如圖2所示，形面精度為2.779mm(3o)。
[0036]第三步:無控狀態(tài)下
[0037]在邊框11上的端部角點(diǎn)處施加集中力載荷10N，待結(jié)構(gòu)穩(wěn)定后利用變形測量系統(tǒng)2對(duì)薄膜陣面13進(jìn)行攝影測量，獲得干擾狀態(tài)下無控的薄膜陣面13形面，如圖3所示，形面精度為5.596mm(3o)。
[0038]第四步:有控狀態(tài)下
[0039]運(yùn)行變形控制算法，算法根據(jù)薄膜陣面13的形面數(shù)據(jù)，計(jì)算得到滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14所需的調(diào)整量，由dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)31發(fā)出控制脈沖信號(hào)，經(jīng)由步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器32轉(zhuǎn)換成PffM波信號(hào)，驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)14調(diào)整相應(yīng)的位移。調(diào)整完畢后，利用變形測量系統(tǒng)2對(duì)薄膜陣面13進(jìn)行攝影測量，獲得變形控制后薄膜陣面13的形面，如圖4所示，形面精度為2.299mm(3o)。
[0040]綜上所述，雖然本發(fā)明已以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種更動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視權(quán)利要求書界定的范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:包括薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件、變形測量系統(tǒng)、變形控制系統(tǒng)和監(jiān)視控制系統(tǒng);所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件包括薄膜陣面以及能夠調(diào)整薄膜陣面形面的調(diào)整機(jī)構(gòu)，所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)，采用兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在兩個(gè)不同角度拍攝薄膜陣面，將拍攝到的圖像發(fā)送至監(jiān)視控制系統(tǒng)，監(jiān)視控制系統(tǒng)通過圖像處理獲取薄膜陣面的三維形面數(shù)據(jù)并將該數(shù)據(jù)傳輸給變形控制系統(tǒng)，變形控制系統(tǒng)根據(jù)三維形面數(shù)據(jù)計(jì)算薄膜陣面所需調(diào)整量，并驅(qū)動(dòng)調(diào)整機(jī)構(gòu)調(diào)整到指定位置，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件包含邊框、張力拉索、薄膜陣面、調(diào)整機(jī)構(gòu)和若干反光標(biāo)志點(diǎn)，所述薄膜陣面固定在邊框內(nèi)，所述薄膜陣面的周邊設(shè)有一圈張力拉索，薄膜陣面周邊通過張力拉索提供張力而使整個(gè)薄膜陣面張緊，張力拉索通過多個(gè)調(diào)整結(jié)構(gòu)固定在邊框上，若干個(gè)反光標(biāo)志點(diǎn)以陣列的形式布置在薄膜陣面的表面。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:張力拉索為一根，張力拉索穿設(shè)在薄膜陣面的周邊形成一個(gè)整圈；或者張力拉索為多根，相鄰張力拉索之間首尾相接形成一個(gè)整圈。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:若干個(gè)反光標(biāo)志點(diǎn)通過印刷或粘貼的方式設(shè)置薄膜陣面的表面。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件還包括支撐機(jī)構(gòu)，所述支撐機(jī)構(gòu)為三角支撐架，所述三角支撐架與邊框連接，支撐機(jī)構(gòu)為薄膜結(jié)構(gòu)試驗(yàn)件整體提供支撐。6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述調(diào)整機(jī)構(gòu)為滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)。7.根據(jù)權(quán)利要求2至6中任一權(quán)利要求所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述變形測量系統(tǒng)包括兩臺(tái)攝影測量相機(jī)和同步通訊控制器，攝影測量相機(jī)和同步通訊控制器之間通過通訊電纜連接，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)在同步通訊控制器的控制下對(duì)薄膜陣面發(fā)射激光閃光并拍照，利用薄膜陣面上反光標(biāo)志點(diǎn)的反光特性，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)獲得標(biāo)志點(diǎn)圖像，兩臺(tái)攝影測量相機(jī)將從不同角度獲取的標(biāo)志點(diǎn)圖像通過同步通訊控制器轉(zhuǎn)發(fā)至監(jiān)視控制系統(tǒng)。8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述變形控制系統(tǒng)包含dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)、多個(gè)與調(diào)整機(jī)構(gòu)——對(duì)應(yīng)的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)控制步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器，步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)器用于驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿調(diào)整機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)薄膜陣面的平面度控制。9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:dSPACE半物理實(shí)時(shí)仿真系統(tǒng)與Matlab軟件無縫鏈接，能夠直接下載Mat lab Simul ink中的控制算法并進(jìn)行實(shí)時(shí)控制實(shí)驗(yàn)。10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的薄膜結(jié)構(gòu)變形測量與控制實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于:所述監(jiān)視控制系統(tǒng)為一臺(tái)工控計(jì)算機(jī)，且其內(nèi)置Matlab軟件、dSPACE Control Desk軟件、圖像處理軟件和變形控制算法。
【文檔編號(hào)】G05B17/02GK106094562SQ201610365206
【公開日】2016年11月9日
【申請(qǐng)日】2016年5月27日
【發(fā)明人】許睿, 李東旭, 蔣建平, 鄒杰, 劉望
【申請(qǐng)人】中國人民解放軍國防科學(xué)技術(shù)大學(xué)