專利名稱：電子組件錯誤檢測顯示方法
技術領域：
本發(fā)明有關一種電子組件錯誤檢測顯示方法。
在數據處理系統(tǒng)的架構中，所述的基本輸入輸出系統(tǒng)(basic input-outputsystem，BIOS)是數據處理系統(tǒng)開機后所執(zhí)行的第一道程序，為整個系統(tǒng)把守第一關，倘若無法完成BIOS程序，通常代表某些硬件可能有問題。
每當我們將數據處理系統(tǒng)開機后，中央處理器(CPU)便會自動執(zhí)行一連串的指令，這些指令分成(一)系統(tǒng)組態(tài)分析(System Configuration Analysis)分析CPU型號、內存大小、軟硬盤機的數量與型式、是否安裝浮點運算器等，作為后續(xù)動作的重要參考數據。(二)開機自我測試(POST，Power-on Self Test)測試內存、芯片組、CMOS儲存數據、鍵盤和磁盤驅動器等硬件。(三)加載操作系統(tǒng)借助一小段引導裝入程序(Bootstrap Loader)，找出操作系統(tǒng)(如MS DOS、Windows 2000/98)在硬盤的位置并予以加載。
由于數據處理系統(tǒng)開機后，開機自我測試部分，基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)裝置測試系統(tǒng)依序為首先動態(tài)隨機存取內存(DRAM)，基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)裝置本身，顯示(VGA)卡然后其它外圍裝置測試，然而若在檢測顯示卡之前發(fā)生錯誤則無從由監(jiān)視器(monitor)上得知包括BIOS本身、動態(tài)隨機純取內存、顯示卡何者發(fā)生錯誤，使用者必須將數據處理系統(tǒng)機殼拆開確認，即使送至維修機構，若無法事先得知何項零件發(fā)生故障或裝置錯誤，還必須花費時間逐一檢測，造成使用者的困擾，也增加維修人員的維修時間。
在解決所述的檢測問題上，現(xiàn)有技術方法一如

圖1所示，是于計算機開機后逐一測試機存取內存(DRAM)2，基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)本身1，顯示(VGA)卡3，當所述組件發(fā)生錯誤時，則通過系統(tǒng)芯片組中的南橋芯片4傳遞至系統(tǒng)揚聲器(speaker)5分別發(fā)出不同頻率的蜂鳴聲，表示所述組件何項發(fā)生錯誤，然而事實上使用者并不容易以聲音分辨其差異。
現(xiàn)有技術方法二，如圖2所示，是在數據處理系統(tǒng)主機板上，安裝不同顏色的發(fā)光二極管(15，16，17)，于計算機開機后逐一測試機存取內存(DRAM)12，基本輸入輸出系統(tǒng)裝置(BIOS)11本身，顯示(VGA)卡13，當所述組件發(fā)生錯誤時，則通過系統(tǒng)芯片組中的南橋芯片14傳遞至所述主機板上不同顏色的發(fā)光二極管(15，16，17)，分別顯示不同組件的正確或錯誤，然而現(xiàn)有技術的這種方法必須增加發(fā)光二極管，從而增加了制造成本，且由于安裝于主機板上，僅方便生產測試階段的測試，在數據處理系統(tǒng)組裝完成交至消費者手中后，消費者仍必須將數據處理系統(tǒng)機殼拆開后方能以現(xiàn)有技術方法二判斷是何組件發(fā)生錯誤，實屬不便。
本發(fā)明的目的在于提供一種電子組件錯誤檢測顯示方法，采用該方法在不需額外增加發(fā)光二極管以及使用者以及維修或檢測人員不需拆開數據處理系統(tǒng)機殼的情況下，可在開機后監(jiān)視器顯示畫面前，方便顯示基本輸入輸出系統(tǒng)測試于所述階段發(fā)生的錯誤。
為實現(xiàn)上述目的，根據本發(fā)明一方面的檢測顯示方法，它用以檢測并顯示至少一種電子組件是否錯誤，所述電子組件內建于數據處理系統(tǒng)中，所述數據處理系統(tǒng)包括一主機，所述主機外殼設有一發(fā)光二極管，主機內部具有至少一基本輸入輸出系統(tǒng)裝置及一譯碼裝置，它包括通過所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試所述第一種電子組件是否錯誤；若檢查結果為錯誤時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置傳遞第一信號至所述譯碼裝置，所述譯碼裝置傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管使所述發(fā)光二極管以一特定頻率閃爍；若檢查結果為正確時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第二電子組件。
為實現(xiàn)上述目的，根據本發(fā)明另一方面的檢測顯示方法，它除了可單純的由發(fā)光二極管以不同頻率閃爍表示某一電子組件損壞外也可搭配系統(tǒng)揚聲器發(fā)出的蜂鳴聲，以實現(xiàn)加強顯示的效果，所述方法包括通過所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試所述所述第一種電子組件是否錯誤；若檢查結果為錯誤時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置傳遞第一信號至所述譯碼裝置，所述譯碼裝置傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管使所述發(fā)光二極管以一特定頻率閃爍并同時傳遞第三信號至系統(tǒng)揚聲器使系統(tǒng)揚聲器以所述特定頻率發(fā)出聲音；若檢查結果為正確時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第二電子組件。
所述系統(tǒng)揚聲器所發(fā)出聲音的前述頻率是指一定時間內揚聲器發(fā)出聲音的次數，而非聲音本身的頻率(舉例音速＝波常*頻率其中的頻率)。
此方法尚有一優(yōu)點在于若不幸電源LED損壞時，尚有系統(tǒng)揚聲器可發(fā)出聲音作為檢測電子組件是否錯誤的方法與裝置；又若為系統(tǒng)揚聲器故障時，尚有LED以不同頻率閃爍作為檢測電子組件是否錯誤的方法與裝置，具有雙重保障。
前述電子組件可為態(tài)隨機存取內存(DRAM)，基本輸入輸出系統(tǒng)(BIOS)裝置或顯示(VGA)卡，而BIOS判斷DRAM是否錯誤的方法為若無法正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存的規(guī)格型號時為錯誤，反之則為正確；BIOS判斷BIOS本身是否錯誤的方法為檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置的檢總(Checksum)值是否錯誤；BIOS判斷VGA卡是否錯誤的方法為若無法正確判斷所述VGA卡的規(guī)格型號時為錯誤，反之則為正確。
所述情況在CPU無錯誤且BIOS執(zhí)行自我測試部分程序正常時，可進行BIOS的自我測試程序；如果CPU錯誤或BIOS完全損壞(無法進行自我測試)則由于電源LED的初始設定為全亮，開機后若出現(xiàn)電源LED全亮而監(jiān)視器沒有畫面的情況，則可知是CPU錯誤或BIOS完全損壞。至于DRAM、BIOS及VGA錯誤則可借助本發(fā)明依電源LED閃爍頻率得知是何組件損壞。VGA測試完成的后的電子組件測試則可由監(jiān)視器畫面獲得相關信息。
前述的譯碼裝置將基本輸入輸出裝置傳遞的命令譯碼轉換成硬件設備可讀取的硬件信號；前述第一信號為命令信號，前述第二、三信號為硬件信號。
發(fā)光二極管閃爍頻率可為單一頻率(例如每滅亮滅1次)，也可以是兩種以上頻率組合(例如每秒亮滅1次緊接著每秒亮滅3次)。
由于過近的閃爍頻率不易由肉眼判斷其中的差異，故代表不同電子組件錯誤的LED閃爍頻率互不相同彼此間相差兩倍以上為佳。所述位于數據處理系統(tǒng)主機外殼設置的發(fā)光二極管為電源顯示發(fā)光二極管，其優(yōu)點為不必另外增設新的發(fā)光二極管，當然位于數據處理系統(tǒng)主機外殼上的其它發(fā)光二極管也不超脫本發(fā)明的構想范圍；又所述的譯碼裝置為系統(tǒng)芯片組的南橋芯片或具有同效功能的電路布局。
為更清楚理解本發(fā)明的目的、特點和優(yōu)點，下面將結合附圖對本發(fā)明的較佳實施例進行詳細說明。
圖1是現(xiàn)有技術一的系統(tǒng)方塊圖；圖2是現(xiàn)有技術二的系統(tǒng)方塊圖；圖3是本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例一的系統(tǒng)方塊圖；圖4是本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例一的流程圖；圖5是本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例二的系統(tǒng)方塊圖；圖6是本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例二的流程圖。
較佳實施例一請參見圖3及圖4，其中圖3為本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例一的系統(tǒng)方塊圖，圖4為本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法較佳實施例一的流程圖。
本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法，是用以檢測并顯示包含動態(tài)隨機存取內存102、基本輸入輸出系統(tǒng)裝置101、顯示卡103等電子組件是否錯誤，所述電子組件內建于數據處理系統(tǒng)(臺式計算機或筆記本式計算機或及服務器)中，所述數據處理系統(tǒng)包括一主機，所述主機外殼設置一發(fā)光二極管106，內部具有至少一基本輸入輸出系統(tǒng)裝置101及一系統(tǒng)芯片組中俗稱南橋的芯片105(也可為輸入輸出(I/O)芯片或等效的電路布局)，所述檢測顯示方法包括將外殼設置的發(fā)光二極管106初始設定為全亮，當數據處理系統(tǒng)開機后(步驟11)，以所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置101測試動態(tài)隨機存取內存102可否正確判斷其型號規(guī)格(判斷式12)，如無法正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存102的規(guī)格型號時則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置101傳遞第一信號至所述芯片105，所述芯片105再傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管(步驟13)使所述發(fā)光二極管以第一頻率(例如0.25赫茲)閃爍(步驟14)，若檢查結果為正確時則以位于所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置內的程序檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置的檢查總值(Checksum)104是否錯誤(判斷式15)，當檢查結果為錯誤時則傳遞第三信號至所述芯片105，所述芯片105再傳遞第四信號至所述發(fā)光二極管(步驟16)使所述發(fā)光二極管以第二頻率(例如1赫茲)閃爍(步驟17)，如可正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存的規(guī)格型號時則測試顯示(VGA)卡103可否正確判斷其型號規(guī)格(判斷式18)，如無法正確判斷所述顯示(VGA)卡103的規(guī)格型號時則傳遞第五信號至所述芯片105，所述芯片105再傳遞第六信號至所述發(fā)光二極管(步驟19)，使所述發(fā)光二極管以第三頻率(例如10赫茲)閃爍(步驟20)，如可正確判斷所述顯示(VGA)卡103的規(guī)格型號時則繼續(xù)其它基本輸入輸出系統(tǒng)測試(步驟21)。較佳實施例二請參見圖5及圖6，其中圖5為本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法與裝置較佳實施例二系統(tǒng)方塊圖，圖6為本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法與裝置較佳實施例二的流程圖。
本發(fā)明的電子組件錯誤檢測顯示方法與裝置，是用以檢測并顯示包含動態(tài)隨機存取內存202、基本輸入輸出系統(tǒng)裝置201、顯示卡203等電子組件是否錯誤，所述電子組件內建于數據處理系統(tǒng)(臺式計算機或筆記本式計算機或及服務器)中，所述數據處理系統(tǒng)包括一主機，所述主機外殼設置一發(fā)光二極管206，內部具有至少一基本輸入輸出系統(tǒng)裝置201、一系統(tǒng)芯片組中俗稱南橋的芯片205(也可為輸入輸出(I/O)芯片或等效的電路布局)及一系統(tǒng)揚聲器207，所述檢測顯示方法與裝置包括將外殼設置的發(fā)光二極管206初始設定為全亮，當數據處理系統(tǒng)開機后(步驟31)，以所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置201測試動態(tài)隨機存取內存202可否正確判斷其型號規(guī)格(判斷式32)，如無法正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存202的規(guī)格型號時則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置201傳遞第一信號至所述芯片205，所述芯片205再傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管206(步驟23)使所述發(fā)光二極206體以第一頻率(例如0.33赫茲)閃爍，所述芯片并同時傳遞第三信號至系統(tǒng)揚聲器207使系統(tǒng)揚聲器207以第一頻率發(fā)出聲音(步驟34)；若檢查結果為正確時則以位于所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置內的程序，檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置的檢查總值(Checksum)204是否錯誤(判斷式35)，當檢查結果為錯誤時則傳遞第四信號至所述芯片205，所述芯片205再傳遞第五信號至所述所述發(fā)光二極管(步驟36)使所述發(fā)光二極管以第二頻率(例如1赫茲)閃爍，所述芯片并同時傳遞第三信號至系統(tǒng)揚聲器207使系統(tǒng)揚聲器207以第二頻率發(fā)出聲音(步驟37)；如可正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存的規(guī)格型號時則測試顯示(VGA)卡203可否正確判斷其型號規(guī)格(判斷式38)，如無法正確判斷所述顯示(VGA)卡203的規(guī)格型號時則傳遞第五信號至所述芯片205，所述芯片205再傳遞第六信號至所述發(fā)光二極管(步驟30)，使所述發(fā)光二極管以第三頻率(例如16赫茲)閃爍，所述芯片并同時傳遞第三信號至系統(tǒng)揚聲器207使系統(tǒng)揚聲器207以第三頻率發(fā)出聲音(步驟40)；如可正確判斷所述顯示(VGA)卡203的規(guī)格型號時則繼續(xù)其它基本輸入輸出系統(tǒng)測試(步驟41)。
權利要求
1.一種檢測顯示方法，用以檢測并顯示至少一種電子組件是否錯誤，所述電子組件內建于數據處理系統(tǒng)中，所述數據處理系統(tǒng)包括一主機，所述主機外殼設有一發(fā)光二極管，主機內部具有至少一基本輸入輸出系統(tǒng)裝置及一譯碼裝置，所述檢測顯示方法包括通過所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試所述第一種電子組件是否錯誤；若檢查結果為錯誤時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置傳遞第一信號至所述譯碼裝置，所述譯碼裝置傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管使所述發(fā)光二極管以一特定頻率閃爍；若檢查結果為正確時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第二電子組件。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述數據處理系統(tǒng)開機后其監(jiān)視器可顯示畫面。
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電子組件之一為動態(tài)隨機存取內存(DRAM)、基本輸入輸出系統(tǒng)裝置(BIOS)或顯示(VGA)卡。
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，測試動態(tài)隨機存取內存是否錯誤的方法為若所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置可正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存的規(guī)格型號，則為正確，反之則為錯誤；檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置是否錯誤的方法是以位于所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置內的程序，檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置的檢查總值(Checksum)是否錯誤；而測試顯示卡是否錯誤的方法為若所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置可正確判斷所述顯示卡的規(guī)格型號，則為正確，反之則為錯誤。
5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，主機外殼設置的發(fā)光二極管初始設定為全亮。
6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一信號是一命令信號。
7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二信號是一硬件信號。
8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，第二電子組件是依基本輸入輸出系統(tǒng)裝置預先規(guī)劃電子組件檢測順序所決定。
9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，閃爍頻率是單一頻率。
10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，閃爍頻率是兩種或兩種以上頻率的組合。
11.如權利要求1所述的方法，其特征在于，數據處理系統(tǒng)為臺式計算機、筆記本式計算機或服務器。
12.如權利要求1所述的方法，其特征在于，設置在數據處理系統(tǒng)主機外殼的發(fā)光二極管是電源顯示發(fā)光二極管。
13.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述的譯碼裝置是系統(tǒng)芯片組中的南橋芯片或一輸入輸出(I/O)芯片。
14.一種檢測顯示方法，用以檢測并顯示至少一種電子組件是否錯誤，所述電子組件內建于數據處理系統(tǒng)中，所述數據處理系統(tǒng)包括一主機，所述主機外殼設有一發(fā)光二極管，主機內部具有至少一基本輸入輸出系統(tǒng)裝置、一譯碼裝置及一系統(tǒng)揚聲器(speaker)，所述檢測顯示方法包括通過所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試所述所述第一種電子組件是否錯誤；若檢查結果為錯誤時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置傳遞第一信號至所述譯碼裝置，所述譯碼裝置傳遞第二信號至所述發(fā)光二極管使所述發(fā)光二極管以一特定頻率閃爍并同時傳遞第三信號至系統(tǒng)揚聲器使系統(tǒng)揚聲器以所述特定頻率發(fā)出聲音；若檢查結果為正確時，則所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第二電子組件。
15.如權利要求21所述的方法，其特征在于，所述電子組件為動態(tài)隨機存取內存(DRAM)，而測試動態(tài)隨機存取內存是否錯誤的方法為若所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置可正確判斷所述動態(tài)隨機存取內存的規(guī)格型號，則為正確，反之則為錯誤。
16.如權利要求21所述的方法，其特征在于，所述電子組件之一為基本輸入輸出系統(tǒng)裝置(BIOS)，而檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置是否錯誤的方法是以位于所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置內的程序，檢查所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置的檢查總值(Checksum)是否錯誤。
17.如權利要求21所述的方法，其特征在于，所述電子組件之一為顯示(VGA)卡，而測試顯示卡是否錯誤的方法為若所述基本輸入輸出系統(tǒng)裝置可正確判斷所述顯示卡的規(guī)格型號，則為正確，反之則為錯誤。
18.如權利要求14所述的方法，其特征在于，所述第一信號是一命令信號，而所述第二信號及第三信號是一硬件信號。
19.如權利要求14所述的方法，其特征在于，揚聲器發(fā)出聲音的頻率是指一定時間內揚聲器發(fā)出聲音的次數。
全文摘要
一種數據處理系統(tǒng)電子組件錯誤檢測顯示方法包括:通過基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第一電子組件是否錯誤;若檢查結果為錯誤時,則基本輸入輸出系統(tǒng)裝置傳遞第一信號至譯碼裝置,譯碼裝置傳遞第二信號至發(fā)光二極管使發(fā)光二極管以一特定頻率閃爍;若檢查結果為正確時,則基本輸入輸出系統(tǒng)裝置測試第二電子組件。當動態(tài)隨機存取內存、基本輸入輸出系統(tǒng)、或顯示(VGA)卡發(fā)生錯誤時,發(fā)光二極管可以不同頻率閃爍以表示組件損壞或裝置錯誤。
文檔編號G06F11/32GK1381783SQ0111669
公開日2002年11月27日 申請日期2001年4月18日 優(yōu)先權日2001年4月18日
發(fā)明者林火元 申請人:技嘉科技股份有限公司