專利名稱：定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
主板是個(gè)人計(jì)算機(jī)中的主要組成部件之一，它提供了指揮數(shù)據(jù)傳輸?shù)哪蠘虮睒蛐酒M，總線與外圍裝置數(shù)據(jù)接口等等。因此，主板的可靠性與操作系統(tǒng)、個(gè)人計(jì)算機(jī)等其它裝置的兼容性成為主板產(chǎn)品質(zhì)量的重要決定因素。在進(jìn)行主板問(wèn)題元件測(cè)試時(shí)，一般會(huì)將主板安裝于一待測(cè)計(jì)算機(jī)中，通過(guò)待測(cè)計(jì)算機(jī)執(zhí)行相關(guān)的測(cè)試程序取得測(cè)試結(jié)果，以此作為主板是否合乎性能要求的依據(jù)。然而，由于主板的開(kāi)發(fā)成本比較高，測(cè)試有問(wèn)題元件的主板必須經(jīng)過(guò)維修后繼續(xù)使用。
傳統(tǒng)上，對(duì)主板測(cè)試所取得的測(cè)試結(jié)果，不能幫助維修人員定位主板的具體問(wèn)題。目前，測(cè)試計(jì)算機(jī)主板的方法，是基于各個(gè)獨(dú)立的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，只能判斷出待測(cè)主板有問(wèn)題，但不能具體定位問(wèn)題元件，不利于維修人員快速的進(jìn)行維修，導(dǎo)致主板的制造商花費(fèi)過(guò)大的成本在主板的維修上。因此，如何定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法成為業(yè)內(nèi)亟待解決的問(wèn)題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明乃為解決上述問(wèn)題而提供一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法，可基本定位主板問(wèn)題元件，以便快速維修主板問(wèn)題元件，提高主板再利用率，節(jié)省大量人力、物力和時(shí)間。
所以為達(dá)上述目的，本發(fā)明提供一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，用于定位主板問(wèn)題元件，該系統(tǒng)包括一待測(cè)主板；一測(cè)試控制主機(jī)(Master)，其用以配置和控制待測(cè)主板的測(cè)試內(nèi)容與設(shè)定主板程序的測(cè)試順序；一中央處理器仿真器(CPU Emulator)，其用以連接待測(cè)主板與測(cè)試控制主機(jī)，控制待測(cè)主板的工作狀態(tài)；一記錄器，其與測(cè)試控制主機(jī)相連，用以記錄待測(cè)主板的問(wèn)題元件；一輔助裝置，其用以固定待測(cè)主板。
其中，該測(cè)試順序的設(shè)定采用深度優(yōu)先策略；該測(cè)試順序包含主線一、主線二與主線三三條主線，主線一的存在性取決于待測(cè)主板元件，且同一主在線主板元件的測(cè)試順序是可調(diào)的；該系統(tǒng)還包括一顯示終端，用以顯示該待測(cè)主板的該問(wèn)題元件；該三條主線的測(cè)試順序是任意可調(diào)整的。
本發(fā)明進(jìn)而提供一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，將待測(cè)主板通過(guò)中央處理器仿真器同測(cè)試控制主機(jī)相連，測(cè)試控制主機(jī)根據(jù)待測(cè)主板的系統(tǒng)架構(gòu)，設(shè)定主板程序的測(cè)試順序，根據(jù)測(cè)試順序運(yùn)行主板程序，并得出測(cè)試結(jié)果，最后根據(jù)測(cè)試結(jié)果在記錄器中記錄并定位待測(cè)主板的問(wèn)題元件。
其中，該測(cè)試順序的設(shè)定采用深度優(yōu)先策略；該測(cè)試順序包含主線一、主線二與主線三三條主線，主線一的存在性取決于待測(cè)主板元件，且同一主在線主板元件的測(cè)試順序是可調(diào)的；還包括一顯示終端，用以顯示該待測(cè)主板的該問(wèn)題元件；該三條主線的測(cè)試順序是任意可調(diào)整的。
在上述方法中測(cè)試控制主機(jī)還用以配置和控制待測(cè)主板的測(cè)試內(nèi)容；中央處理器仿真器還用以控制待測(cè)主板的工作狀態(tài)。
利用本發(fā)明，可基本定位主板問(wèn)題元件，以便快速維修主板問(wèn)題元件，提高主板再利用率，節(jié)省大量人力、物力和時(shí)間。有關(guān)本發(fā)明的詳細(xì)內(nèi)容及技術(shù)，現(xiàn)就配合


如下

圖1為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件測(cè)試系統(tǒng)的總體架構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件測(cè)試方法的總體流程圖；圖3A～圖3B為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件的主線一測(cè)試流程圖；圖4為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件的主線二測(cè)試流程圖；圖5A～圖5C為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件的主線三測(cè)試流程圖。
其中，附圖標(biāo)記說(shuō)明如下100 待測(cè)主板
101 測(cè)試控制主機(jī)102 中央處理器仿真器103 記錄器104 輔助裝置步驟200 選擇一待測(cè)試有問(wèn)題元件主板；步驟201 將待測(cè)試主板通過(guò)中央處理器仿真器與測(cè)試控制主機(jī)相連；步驟202 測(cè)試控制主機(jī)根據(jù)待測(cè)試主板的系統(tǒng)架構(gòu)，設(shè)定主板程序的測(cè)試順序；步驟203 根據(jù)測(cè)試順序運(yùn)行主板程序，得出測(cè)試結(jié)果；步驟204 根據(jù)測(cè)試結(jié)果，在記錄器中記錄并定位待測(cè)主板的問(wèn)題元件；步驟300 選擇一待測(cè)試主板，并選取主線一測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試；步驟301 判斷主中央處理器和副中央處理器能否通過(guò)測(cè)試；步驟302 判斷北橋能否通過(guò)測(cè)試；步驟303 判斷CIOBX2芯片能否通過(guò)測(cè)試；步驟304 判斷PCI插槽能否通過(guò)測(cè)試；步驟305 判斷網(wǎng)卡能否通過(guò)測(cè)試；步驟306 判斷網(wǎng)卡EEPROM和標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口能否通過(guò)測(cè)試；步驟307 得出測(cè)試結(jié)果，記錄并定位主板問(wèn)題元件；步驟400 選擇一待測(cè)試主板，并選取主線二測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試；步驟401 判斷主中央處理器和副中央處理器能否通過(guò)測(cè)試；步驟402 判斷北橋能否通過(guò)測(cè)試；步驟403 判斷DIMM插槽能否通過(guò)測(cè)試；步驟404 得出測(cè)試結(jié)果，記錄并定位主板問(wèn)題元件；步驟500 選擇一待測(cè)試主板，并選取主線三測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試；步驟501 判斷主中央處理器和副中央處理器能否通過(guò)測(cè)試；步驟502 判斷北橋能否通過(guò)測(cè)試；
步驟504 判斷SCSI芯片能否通過(guò)測(cè)試；步驟505 判斷元件SCSI芯片的EEPROM、ROM、SDRAM和硬盤能否通過(guò)測(cè)試；步驟506 判斷視頻圖形數(shù)組芯片能否通過(guò)測(cè)試；步驟507 判斷陰極射線管和同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存能否通過(guò)測(cè)試；步驟508 判斷IDE、USB和BIOS ROM能否通過(guò)測(cè)試；步驟509 判斷超級(jí)輸入輸出端口能否通過(guò)測(cè)試；步驟510 判斷鍵盤、鼠標(biāo)、軟盤和串行通訊端口能否通過(guò)測(cè)試；步驟511 判斷元件DIMM插槽能否通過(guò)測(cè)試；步驟512 得出測(cè)試結(jié)果，記錄并定位主板問(wèn)題元件。
具體實(shí)施例方式
圖1為本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件測(cè)試系統(tǒng)的總體架構(gòu)圖，其用以定位主板問(wèn)題元件，系統(tǒng)包括一待測(cè)主板100；一測(cè)試控制主機(jī)101，其用以配置和控制待測(cè)主板100的測(cè)試內(nèi)容與設(shè)定主板程序的測(cè)試順序；一中央處理器仿真器102，其用以連接待測(cè)主板100與測(cè)試控制主機(jī)101，控制待測(cè)主板100的工作狀態(tài)；一記錄器103，其與測(cè)試控制主機(jī)101相連，用以記錄待測(cè)主板100的問(wèn)題元件；一輔助裝置104，其用以固定待測(cè)主板100。
本發(fā)明為一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，首先由圖2中說(shuō)明本發(fā)明的測(cè)試方法，該圖是本發(fā)明所提出的定位主板問(wèn)題元件測(cè)試方法的總體流程圖，說(shuō)明如下首先選擇一待測(cè)試有問(wèn)題元件主板(步驟200)；將待測(cè)試主板通過(guò)中央處理器與測(cè)試控制主機(jī)相連(步驟201)；測(cè)試控制主機(jī)根據(jù)待測(cè)試主板的系統(tǒng)架構(gòu)，設(shè)定主板程序的測(cè)試順序(步驟202)；并根據(jù)測(cè)試順序運(yùn)行主板程序，得出測(cè)試結(jié)果(步驟203)；最后根據(jù)測(cè)試結(jié)果，在記錄器中記錄并定位待測(cè)主板的問(wèn)題元件(步驟204)。
該方法測(cè)試并定位主板問(wèn)題元件分三條主線進(jìn)行，分別說(shuō)明如下采用主線一測(cè)試主板問(wèn)題元件的測(cè)試順序?yàn)?，首先測(cè)試元件一主中央處理器(主CPU)和一副中央處理器(副CPU)，主CPU和副CPU控制測(cè)試元件理器(主CPU)和一副中央處理器(副CPU)，主CPU和副CPU控制測(cè)試元件北橋(North Bridge)，接著北橋控制測(cè)試元件CIOBX2芯片(CIOBX2 Chip)，CIOBX2芯片控制測(cè)試元件PCI插槽(PCI Slot)，PCI插槽控制測(cè)試元件網(wǎng)卡(NetCard)，網(wǎng)卡控制測(cè)試元件網(wǎng)卡電可擦除只讀存儲(chǔ)器(EEPROM of NetCard或網(wǎng)卡EEPROM)。
采用主線二測(cè)試主板問(wèn)題元件的測(cè)試順序?yàn)椋紫葴y(cè)試主CPU和副CPU，主CPU和副CPU控制測(cè)試元件北橋，然后北橋控制測(cè)試元件雙列直插式存儲(chǔ)模塊插槽(DIMM插槽)。
采用主線三測(cè)試主板問(wèn)題元件的測(cè)試順序?yàn)椋紫葴y(cè)試主CPU和副CPU，主CPU和副CPU控制測(cè)試元件北橋，北橋控制測(cè)試元件南橋(SouthBridge)，南橋控制測(cè)試元件小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口芯片(SCSI Chip或SCSI芯片)，SCSI芯片控制測(cè)試元件小型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)接口芯片電可擦除只讀存儲(chǔ)器(EEPROM of SCSI Chip)，EEPROM of SCSI Chip控制測(cè)試元件視頻圖形數(shù)組芯片(VGA Chip)，視頻圖形數(shù)組芯片控制測(cè)試元件陰極射線管(CRT)，陰極射線管控制測(cè)試元件集成電路設(shè)備(IDE)，集成電路設(shè)備控制測(cè)試元件超級(jí)輸入輸出端口(Super IO)，超級(jí)輸入輸出端口控制測(cè)試元件鍵盤(Keyboard)，鍵盤控制測(cè)試元件DIMM插槽。
測(cè)試并定位主板問(wèn)題元件是否按照主線一的測(cè)試順序進(jìn)行，取決于待測(cè)主板上的測(cè)試元件。當(dāng)待測(cè)主板上不存在測(cè)試元件CIOBX2芯片或與之具有類似功能的元件時(shí)，測(cè)試順序主線一不存在，該測(cè)試方法只包括主線二和主線三兩種元件測(cè)試順序。
同一主線的測(cè)試元件在同一層次的測(cè)試順序是可調(diào)的，該種測(cè)試采用了深度優(yōu)先策略。
下面以一較佳實(shí)施例來(lái)說(shuō)明本發(fā)明實(shí)現(xiàn)定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，請(qǐng)參閱圖3A～圖3B，為測(cè)試主板的主線一測(cè)試流程圖，說(shuō)明如下首先選擇一待測(cè)試主板，并選取主線一測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試(步驟300)；判斷主CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明元件ITP連接器(ITP Connector)C0到主CPU的線路連接，或者主CPU有問(wèn)題。同時(shí)判斷副CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU到副CPU的線路連接，或者副CPU有問(wèn)題(步驟301)；判斷元件北橋能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU(副CPU)到元件北橋的線路連接，或者元件北橋有問(wèn)題(步驟302)；判斷元件CIOBX2芯片能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明北橋元件到CIOBX2芯片的線路連接，或者CIOBX2芯片有問(wèn)題(步驟203)；判斷元件PCI插槽能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明CIOBX2芯片到PCI插槽的線路連接，或者PCI插槽有問(wèn)題(步驟304)；判斷網(wǎng)卡能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明CIOBX2芯片到網(wǎng)卡的線路連接，或者網(wǎng)卡有問(wèn)題(步驟305)；判斷網(wǎng)卡EEPROM能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明網(wǎng)卡到網(wǎng)卡EEPROM的線路連接，或者網(wǎng)卡EEPROM有問(wèn)題，同時(shí)判斷元件標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口(RJ45)能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明網(wǎng)卡到標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口的線路連接，或者標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)接口有問(wèn)題(步驟306)；得出測(cè)試結(jié)果，記錄并定位主板問(wèn)題元件(步驟307)。根據(jù)深度優(yōu)先策略，以上測(cè)試步驟304，305，306可調(diào)整順序?yàn)椴襟E305，306，304。
請(qǐng)參閱圖4，為本發(fā)明定位主板問(wèn)題元件的主線二測(cè)試流程圖，說(shuō)明如下首先選擇一待測(cè)試主板，并選取主線二測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試(步驟400)；判斷主CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明元件ITP連接器C0到主CPU的線路連接，或者主CPU有問(wèn)題。同時(shí)判斷副CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU到副CPU的線路連接，或者副CPU有問(wèn)題(步驟401)；判斷北橋元件能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU(或副CPU)到北橋元件的線路連接，或者北橋元件有問(wèn)題(步驟402)；判斷DIMM插槽能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明北橋元件到DIMM插槽的線路連接，或者DIMM插槽有問(wèn)題(步驟403)；根據(jù)主線二測(cè)試流程圖測(cè)試結(jié)果，定位并記錄主板有問(wèn)題的元件(步驟404)。
請(qǐng)參閱圖5A～圖5C，為本發(fā)明定位主板問(wèn)題元件的主線二測(cè)試流程圖，說(shuō)明如下首先選擇一待測(cè)試主板，并選取主線三測(cè)試順序進(jìn)行主板元件測(cè)試(步驟500)；判斷主CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明元件ITP連接器到主CPU的線路連接，或者主CPU有問(wèn)題。同時(shí)判斷副CPU能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU到副CPU的線路連接，或者副CPU有問(wèn)題(步驟501)；判斷北橋元件能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明主CPU(或副CPU)到北橋元件的線路連接，或者北橋元件有問(wèn)題(步驟502)；判斷南橋元件能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明北橋元件到南橋元件的線路連接，或者南橋元件有問(wèn)題(步驟503)；判斷SCSI芯片能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明南橋元件到SCSI芯片的線路連接，或者SCSI芯片有問(wèn)題(步驟504)；判斷SCSI芯片的EEPROM能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明SCSI芯片到SCSI芯片的EEPROM的線路連接，或者SCSI芯片的EEPROM有問(wèn)題，同時(shí)判斷SCSI芯片的ROM能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明SCSI芯片到SCSI芯片的ROM的線路連接，或者SCSI芯片的ROM有問(wèn)題，同時(shí)判斷元件SCSI芯片的SDRAM能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明SCSI芯片到元件SCSI芯片的SDRAM的線路連接，或者元件SCSI芯片的SDRAM有問(wèn)題，同時(shí)判斷SCSI芯片的硬盤能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明SCSI芯片到SCSI芯片的硬盤的線路連接，或這SCSI芯片的硬盤有問(wèn)題(步驟505)；判斷元件視頻圖形數(shù)組芯片能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明SCSI芯片的EEPROM(SCSI芯片的ROM、SCSI芯片的SDRAM或SCSI HDD)到元件視頻圖形數(shù)組芯片的線路連接，或者視頻圖形數(shù)組芯片有問(wèn)題(步驟506)；判斷陰極射線管能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明視頻圖形數(shù)組到陰極射線管的線路連接，或者陰極射線管有問(wèn)題，同時(shí)判斷同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明視頻圖形數(shù)組到同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存的線路連接，或者同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存有問(wèn)題(步驟507)；判斷試IDE元件能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明陰極射線管(或同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存)到IDE元件的線路連接，或者IDE元件有問(wèn)題，同時(shí)判斷USB元件能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明陰極射線管(或同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存)到USB的線路連接，或者USB有問(wèn)題，同時(shí)判斷BIOS ROM能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明陰極射線管(或同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)內(nèi)存)到BIOS ROM的線路連接，或者BIOSROM有問(wèn)題(步驟508)；判斷元件超級(jí)輸入輸出端口能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明IDE元件(USB或BIOS ROM)到元件超級(jí)輸入輸出端口的線路連接，或者元件超級(jí)輸入輸出端口有問(wèn)題(步驟509)；判斷鍵盤能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明超級(jí)輸入輸出端口到鍵盤的線路連接，或者鍵盤有問(wèn)題，同時(shí)判斷鼠標(biāo)能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明超級(jí)輸入輸出端口到鼠標(biāo)的線路連接，或者鼠標(biāo)有問(wèn)題，同時(shí)判斷軟盤能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明超級(jí)輸入輸出端口到軟盤的線路連接，或者軟盤有問(wèn)題，同時(shí)判斷串行通訊端口能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明超級(jí)輸入輸出端口到串行通訊端口的線路連接，或者串行通訊端口有問(wèn)題(步驟510)；判斷DIMM插槽C13能否通過(guò)測(cè)試，若不能通過(guò)，則說(shuō)明鍵盤(鼠標(biāo)、軟盤或串行通訊端口)到DIMM插槽的線路連接，或者DIMM插槽有問(wèn)題(步驟511)；根據(jù)主線三測(cè)試流程圖測(cè)試結(jié)果，定位并記錄主板有問(wèn)題的元件(步驟512)。
雖然本發(fā)明以前述的較佳實(shí)施例揭示如上，然其并非用以限定本發(fā)明，故本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許的更動(dòng)與潤(rùn)飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求書所界定的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括一待測(cè)主板，其上包含有問(wèn)題元件；一測(cè)試控制主機(jī)，其用以配置和控制該待測(cè)主板的測(cè)試內(nèi)容，并設(shè)定主板程序的測(cè)試順序；一中央處理器仿真器，其用以連接該待測(cè)主板與該測(cè)試控制主機(jī)，控制該待測(cè)主板的工作狀態(tài)；一記錄器，其與該測(cè)試控制主機(jī)相連，用以記錄并定位該待測(cè)主板的問(wèn)題元件；及一輔助裝置，其用以固定該待測(cè)主板。
2.如權(quán)利要求1所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試順序的設(shè)定采用深度優(yōu)先策略。
3.如權(quán)利要求1所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，其中該測(cè)試順序包含主線一、主線二與主線三三條主線，主線一的存在性取決于待測(cè)主板元件，且同一主在線主板元件的測(cè)試順序是可調(diào)的。
4.如權(quán)利要求1所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，其中還包括一顯示終端，用以顯示該待測(cè)主板的該問(wèn)題元件。
5.如權(quán)利要求3所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)，其中該三條主線的測(cè)試順序是任意可調(diào)整的。
6.一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，該方法包括如下步驟首先選擇一待測(cè)有問(wèn)題元件的主板；用一輔助裝置將待測(cè)主板進(jìn)行固定；將該待測(cè)主板通過(guò)中央處理器仿真器同測(cè)試控制主機(jī)相連；該測(cè)試控制主機(jī)根據(jù)該待測(cè)主板的系統(tǒng)架構(gòu)，設(shè)定主板程序的測(cè)試順序；根據(jù)該測(cè)試順序運(yùn)行該主板程序，并得出測(cè)試結(jié)果；及最后根據(jù)該測(cè)試結(jié)果在記錄器中記錄并定位該待測(cè)主板的該問(wèn)題元件。
7.如權(quán)利要求6所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，其中該測(cè)試順序的設(shè)定采用深度優(yōu)先策略。
8.如權(quán)利要求6所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，其中該測(cè)試順序包含主線一、主線二與主線三三條主線，主線一的存在性取決于待測(cè)主板元件，且同一主在線主板元件的測(cè)試順序是可調(diào)的。
9.如權(quán)利要求6所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，其中還包括一顯示終端，用以顯示該待測(cè)主板的該問(wèn)題元件。
10.如權(quán)利要求8所述的定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試方法，其中該三條主線的測(cè)試順序是任意可調(diào)整的。
全文摘要
本發(fā)明提供一種定位主板問(wèn)題元件的測(cè)試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)及方法首先將待測(cè)主板通過(guò)中央處理器仿真器同測(cè)試控制主機(jī)相連，并根據(jù)待測(cè)主板的系統(tǒng)架構(gòu)，設(shè)定主板程序的測(cè)試順序，運(yùn)行主板程序，得出測(cè)試結(jié)果，最后根據(jù)測(cè)試結(jié)果在記錄器中記錄并定位待測(cè)主板的問(wèn)題元件。利用本發(fā)明能基本定位導(dǎo)致主板不良的相關(guān)元件，可節(jié)省大量的人力、物力與時(shí)間。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1779651SQ200410092698
公開(kāi)日2006年5月31日 申請(qǐng)日期2004年11月22日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月22日
發(fā)明者劉文涵, 宋建福, 王震 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司