專利名稱：一種微控制器配置接口操作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及微控制器領(lǐng)域，特別是關(guān)于一種配置接口操作方法。
背景技術(shù)：
隨著深亞微米CMOS(Complementary Metal-Oxide-SemiconductorTransistor，互補(bǔ)型金屬氧化物半導(dǎo)體)集成電路生產(chǎn)工藝的不斷進(jìn)步，目前技術(shù)上已經(jīng)可以把復(fù)雜的微控制器內(nèi)核集成在一塊芯片上，同時(shí)留有足夠的硅片面積用于實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的存儲(chǔ)器和外設(shè)邏輯，過去用于高端32位和64位CPU的設(shè)計(jì)方法和構(gòu)架現(xiàn)在已經(jīng)能夠有效的用于低價(jià)微控制器系統(tǒng)。利用這些功能強(qiáng)大而且便宜的微控制器，全系統(tǒng)的集成度不斷提高。硬件結(jié)構(gòu)可執(zhí)行更復(fù)雜高效的程序，集成更多的硬件功能。
近年來，微控制器的程序存儲(chǔ)器結(jié)構(gòu)獲得了廣泛的普及。雖然現(xiàn)在程序存儲(chǔ)器可以選擇的種類很多，比如掩模類(Mask)，電可擦除存儲(chǔ)器(EEPROM)，快閃存儲(chǔ)器(Flash)。對(duì)于微控制器應(yīng)該采用什么樣的程序存儲(chǔ)器有很多不同的看法，但是基本上是基于以下幾個(gè)方面考慮(1)程序存儲(chǔ)器的容量，以最小的存儲(chǔ)器容量，以達(dá)到完全實(shí)現(xiàn)微控制器的功能；(2)程序存儲(chǔ)器的結(jié)構(gòu)，可編程的程序存儲(chǔ)器或者不可編程的結(jié)構(gòu)，根據(jù)芯片的應(yīng)用領(lǐng)域；(3)程序存儲(chǔ)器的價(jià)格，根據(jù)芯片價(jià)格的定位來選擇。
現(xiàn)在有很多公司生產(chǎn)內(nèi)嵌可編程的程序存儲(chǔ)器的微控制器，如微芯片公司(Microchip)、摩托羅拉(Motorola)、日本電氣(NEC)、日立(Hitachi)、盛群(Holtek)等。雖然這些公司的產(chǎn)品都具備程序存儲(chǔ)器普通編程和加密編程操作方法等功能，但是這些產(chǎn)品當(dāng)中大多數(shù)產(chǎn)品沒有將程序存儲(chǔ)器配置接口電路設(shè)計(jì)成進(jìn)入測(cè)試操作方法的通路，而是通過單獨(dú)的測(cè)試模塊來設(shè)計(jì)的，比如進(jìn)入掃描鏈測(cè)試操作方法。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種微控制器配置接口操作方法，克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足，通過配置接口電路，解決了芯片測(cè)試操作方法兼容性問題，節(jié)省了電路面積，使得測(cè)試更加簡(jiǎn)單，同時(shí)也使得芯片的可測(cè)性設(shè)計(jì)更加合理。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方法實(shí)現(xiàn)的一種微控制器的配置接口操作方法，其特征在于包括以下步驟當(dāng)高壓端口輸入高壓時(shí)，從通用輸入輸出端口輸入串行時(shí)鐘和串行數(shù)據(jù)；將輸入的串行數(shù)據(jù)與內(nèi)部定義好的操作方法代碼比較；根據(jù)比較結(jié)果進(jìn)入相應(yīng)的操作方法。
其中，所述的操作方法包括但不僅限于編程操作方法、校驗(yàn)操作方法、功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、直流參數(shù)測(cè)試操作方法。所述的操作方法進(jìn)一步包括串行數(shù)據(jù)經(jīng)過移位寄存器，直到移位完畢保存在寄存器組里；一次串行傳輸完畢產(chǎn)生一個(gè)移位完畢信號(hào)；寄存器組里的數(shù)據(jù)將與內(nèi)部定義好的操作方法代碼，輸入到比較器進(jìn)行比較；比較后選擇一種操作方法使能信號(hào)，進(jìn)入相對(duì)應(yīng)的操作方法。
所述的編程操作方法中的串行數(shù)據(jù)包括提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用地址信息和該地址所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)，還包括數(shù)據(jù)頭和數(shù)據(jù)尾信息。該編程操作方法還包括以下步驟當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢，外部需要輸入一個(gè)編程信號(hào)，使得芯片進(jìn)行編程；等待編程完畢，外部還需要輸入一個(gè)讀取信號(hào)，使得讀取當(dāng)前編程數(shù)據(jù)校驗(yàn)或者串行輸入數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)；如果校驗(yàn)正確，程序存儲(chǔ)器將輸出一個(gè)校驗(yàn)信號(hào)。編程操作方法包括普通編程操作方法和加密編程操作方法；普通編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，可以通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出接口讀??；加密編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，無法通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出接口讀取。
所述的校驗(yàn)操作方法中的串行數(shù)據(jù)包含提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用的地址信息，還包括信息頭、信息尾；串行數(shù)據(jù)完畢后，外部需要輸入一個(gè)讀取數(shù)據(jù)的時(shí)鐘信號(hào)，使得程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)并行輸出到通用輸入輸出端口。所述的功能測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入測(cè)試操作方法之后，外部需要輸入一個(gè)復(fù)位信號(hào)，使得配置接口部分電路復(fù)位；由外部時(shí)鐘信號(hào)根據(jù)指令周期，從端口并行輸入程序到一個(gè)寄存器組，然后根據(jù)時(shí)鐘將寄存器組的數(shù)據(jù)作為程序輸出到指令寄存器，使得MCU根據(jù)程序運(yùn)行；所述的掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法之后，掃描鏈上的寄存器工作在掃描鏈測(cè)試操作方法，此時(shí)在外部串行輸入測(cè)試數(shù)據(jù)到芯片內(nèi)部為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入(Test Data Input，TDI)，TDI經(jīng)過一系列掃描上寄存器，最后通過測(cè)試輸出端口，輸出測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，完成寄存器掃描工作。在掃描鏈測(cè)試操作方法下，可以通過啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換的使能信號(hào)，就可以啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換，同時(shí)可以進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換測(cè)試，測(cè)試的結(jié)果輸出到通用輸入輸出端口。
所述的直流參數(shù)測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入直流參數(shù)測(cè)試操作方法之后，所有輸入/輸出端口將自動(dòng)設(shè)置為輸出端口；同時(shí)根據(jù)時(shí)鐘，不斷的輸出高電平或者低電平，以滿足直流參數(shù)測(cè)試的要求。
本發(fā)明是一種微控制器的配置接口操作方法。其操作方法包括程序存儲(chǔ)器接口配置操作方法和測(cè)試接口配置操作方法。微控制器是通過讀取程序存儲(chǔ)器的程序，使得芯片正常工作，來達(dá)到對(duì)外圍電路進(jìn)行控制的目的。本發(fā)明的創(chuàng)新在于通過對(duì)微控制器串行傳輸數(shù)據(jù)，可以實(shí)現(xiàn)控制微控制器進(jìn)入相應(yīng)的操作方法，以方便的進(jìn)行芯片內(nèi)嵌程序存儲(chǔ)器的編程操作、校驗(yàn)操作和各種測(cè)試操作。編程操作方法分為普通編程操作方法和加密編程操作方法。普通編程操作方法下可以通過校驗(yàn)操作方法，將內(nèi)部程序正常讀取。加密編程操作方法，在校驗(yàn)時(shí)無法將內(nèi)部程序正常讀取，以達(dá)到保護(hù)程序的目的。測(cè)試操作方法包括功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、芯片直流參數(shù)測(cè)試操作方法。功能測(cè)試操作方法可以通過外掛只讀存儲(chǔ)器的工作方式，使得微控制器進(jìn)行功能測(cè)試。掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法，是通過進(jìn)行掃描鏈測(cè)試的同時(shí)，還可以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試。直流參數(shù)測(cè)試操作方法是對(duì)芯片進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試的一種操作方法。本發(fā)明配置接口操作方法可以進(jìn)行擴(kuò)展，可以進(jìn)入更多的測(cè)試操作方法和工作操作方法，使得芯片進(jìn)入各種測(cè)試或工作操作方法更加簡(jiǎn)單。


圖1是本發(fā)明的配置接口示意圖。
圖2是程序存儲(chǔ)器產(chǎn)生操作方法使能信號(hào)示意圖。
圖3是編程操作方法示意圖。
圖4是校驗(yàn)操作方法示意圖。
圖5是功能測(cè)試操作方法示意圖。
圖6是掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換示意圖。
圖7是直流參數(shù)測(cè)試操作方法示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明是一種微控制器的配置接口操作方法。其操作方法包括程序存儲(chǔ)器接口配置操作方法和測(cè)試接口配置操作方法。微控制器是通過讀取程序存儲(chǔ)器的程序，使得芯片正常工作，來達(dá)到對(duì)外圍電路進(jìn)行控制的目的。本發(fā)明的創(chuàng)新在于通過對(duì)微控制器串行傳輸數(shù)據(jù)，可以實(shí)現(xiàn)控制微控制器進(jìn)入相應(yīng)的操作方法，以方便的進(jìn)行芯片內(nèi)嵌程序存儲(chǔ)器的編程操作、校驗(yàn)操作和各種測(cè)試操作。編程操作方法分為普通編程操作方法和加密編程操作方法。普通編程操作方法下可以通過校驗(yàn)操作方法，將內(nèi)部程序正常讀取。加密編程操作方法，在校驗(yàn)時(shí)無法將內(nèi)部程序正常讀取，以達(dá)到保護(hù)程序的目的。測(cè)試操作方法包括功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、芯片直流參數(shù)測(cè)試操作方法。功能測(cè)試操作方法可以通過外掛只讀存儲(chǔ)器的工作方式，使得微控制器進(jìn)行功能測(cè)試。掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法，是通過進(jìn)行掃描鏈測(cè)試的同時(shí)，還可以進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試。直流參數(shù)測(cè)試操作方法是對(duì)芯片進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試的一種操作方法。本發(fā)明配置接口操作方法可以進(jìn)行擴(kuò)展，可以進(jìn)入更多的測(cè)試操作方法和工作操作方法，使得芯片進(jìn)入各種測(cè)試或工作操作方法更加簡(jiǎn)單。
程序存儲(chǔ)器接口配置操作方法包括普通編程操作方法，加密編程操作方法，程序校驗(yàn)方法，程序讀取方法，其測(cè)試接口配置操作方法包括功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、直流參數(shù)測(cè)試操作方法。操作方法包括程序存儲(chǔ)器接口配置操作方法和測(cè)試接口配置方法設(shè)計(jì)在一個(gè)模塊，使得電路內(nèi)部模塊劃分合理，電路外部操作簡(jiǎn)單，通過外部串行相應(yīng)的數(shù)據(jù)，使之進(jìn)入相應(yīng)的配置模式，比如編程模式，就可以按照規(guī)定的編程協(xié)議，對(duì)微控制器的程序存儲(chǔ)器電路進(jìn)行編程。程序存儲(chǔ)器接口配置操作方法包括普通編程操作方法，加密編程操作方法，程序校驗(yàn)方法，程序讀取方法。這些操作方法都是對(duì)程序存儲(chǔ)器模塊電路，包括程序存儲(chǔ)器編程、校驗(yàn)、讀取等方法。測(cè)試接口配置方法包括功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、直流參數(shù)測(cè)試操作方法。這些操作方法都是對(duì)微控制器芯片性能和功能測(cè)試的方法。普通編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，可以通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出接口讀??；該操作方法下的程序存儲(chǔ)器程序可以正常讀取，使得微控制器正常工作，實(shí)現(xiàn)控制外部電路的目的。加密編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，無法通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出接口讀??；該操作方法下的程序存儲(chǔ)器程序可以正常讀取，使得微控制器正常工作，實(shí)現(xiàn)控制外部電路的目的。校驗(yàn)操作方法，該操作方法將通過普通編程方法寫入的程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)從輸入輸出接口讀取，通過加密編程模式寫入的程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)無法從輸入輸出接口讀??；校驗(yàn)方法主要提供檢驗(yàn)編程是否正確。
一種讀取操作方法，該方法是微控制器在正常工作時(shí)，讀取程序存儲(chǔ)器。
功能測(cè)試操作方法，這種操作方法可以從通用輸入輸出接口并行輸入程序，進(jìn)行功能測(cè)試。掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法，這種操作方法是通過配置接口，進(jìn)行掃描鏈測(cè)試和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試；進(jìn)入這兩種測(cè)試模式所串行的數(shù)據(jù)是一樣的，如果需要測(cè)試模數(shù)轉(zhuǎn)換，只需通過輸入輸出接口加模數(shù)轉(zhuǎn)換的啟動(dòng)信號(hào)，模數(shù)轉(zhuǎn)換完畢將從端口并行輸出模數(shù)轉(zhuǎn)換的結(jié)果。直流測(cè)試操作方法，這種操作方法是通過配置接口，可以對(duì)微控制器進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試。
本發(fā)明是一種基于微控制器配置接口操作方法，進(jìn)入各種操作方法的輸入端口簡(jiǎn)單，只需要2個(gè)端口串行時(shí)鐘和串行數(shù)據(jù)，當(dāng)串行的數(shù)據(jù)和內(nèi)部硬件已經(jīng)定義好的操作方法一致，就可以進(jìn)入該操作方法。串行的數(shù)據(jù)可以根據(jù)設(shè)計(jì)來定義，所以具有很強(qiáng)的移植性。同時(shí)，由于數(shù)據(jù)是串行數(shù)據(jù)，所以可以繼續(xù)擴(kuò)張更多的操作方法，即具有很強(qiáng)的可擴(kuò)展性。
在微控制器芯片領(lǐng)域，大多數(shù)芯片的可測(cè)性要么沒有設(shè)計(jì)；要么設(shè)計(jì)的及其復(fù)雜，結(jié)構(gòu)繁瑣，運(yùn)行效率較低，可測(cè)性的擴(kuò)展較差，難以滿足用戶需求和本身芯片測(cè)試的要求。為提高微控制器可測(cè)性，簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)并使其具有可擴(kuò)展性，以簡(jiǎn)單的電路結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)，本發(fā)明提供一種可靠的而有效的設(shè)計(jì)方法，完全可以滿足微控制器的各種測(cè)試要求。
下面詳細(xì)描述與配置接口操作方法功能特征相關(guān)的硬件細(xì)節(jié)。
如圖1所示，配置接口包括測(cè)試接口和存儲(chǔ)器接口，存儲(chǔ)器接口是存儲(chǔ)器和CPU、存儲(chǔ)器和輸入輸出端口連接樞紐，測(cè)試接口是CPU和輸入輸出端口測(cè)試模式的連接樞紐。輸入輸出端口可以通過配置接口，使得CPU進(jìn)入測(cè)試模式，也可以使得存儲(chǔ)器進(jìn)入編程或校驗(yàn)等模式。
如圖2所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，對(duì)應(yīng)的2個(gè)端口串行時(shí)鐘2和串行數(shù)據(jù)3，通過微控制器(MCU)端口電路，進(jìn)入到配置接口模塊。串行的數(shù)據(jù)經(jīng)過移位寄存器，直到移位完畢保存在特定的寄存器組里，同時(shí)產(chǎn)生一個(gè)移位完畢信號(hào)4，表示一次串行傳輸完畢。這些寄存器組里的數(shù)據(jù)將與內(nèi)部定義好的操作方法代碼，輸入到一個(gè)比較器進(jìn)行比較，并且選擇一種操作方法使能信號(hào)5，進(jìn)入相對(duì)應(yīng)的操作方法。
比如設(shè)計(jì)定義進(jìn)入編程操作方法的操作方法代碼為32’h00000000，那么串行輸入的數(shù)據(jù)也為32’h00000000，等待串行傳輸數(shù)據(jù)完畢，那么這兩串?dāng)?shù)據(jù)匹配，于是就進(jìn)入編程操作方法。這些操作方法代碼可以根據(jù)設(shè)計(jì)和用戶的實(shí)際需求，進(jìn)行調(diào)整修改，操作方法代碼具備可擴(kuò)展性和可移植性。
如圖3所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，需要串行輸入串行數(shù)據(jù)2和3，進(jìn)入編程操作方法之后，串行數(shù)據(jù)3必須包含地址信息和數(shù)據(jù)信息。地址信息是提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用，即符合程序存儲(chǔ)器地址的規(guī)則進(jìn)行譯碼，對(duì)應(yīng)匹配的地址存儲(chǔ)單元。數(shù)據(jù)信息是該地址所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)，進(jìn)行編程的數(shù)據(jù)。串行數(shù)據(jù)3還包括數(shù)據(jù)頭和數(shù)據(jù)尾信息，這些信息是保證數(shù)據(jù)能夠正常編程使用的。此外，根據(jù)用戶的需要，可以適當(dāng)?shù)倪M(jìn)行擴(kuò)展，擴(kuò)展的功能如下所述。當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢，外部需要輸入一個(gè)編程信號(hào)7，使得芯片進(jìn)行編程。等待編程完畢，外部還需要輸入一個(gè)讀取信號(hào)6，使得程序存儲(chǔ)器編程的數(shù)據(jù)和保存在寄存器組的串行數(shù)據(jù)進(jìn)行比較或者串行輸入數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)，以保證編程的正確性。如果校驗(yàn)正確，程序存儲(chǔ)器模塊將輸出一個(gè)校驗(yàn)信號(hào)8。
比如串行32位數(shù)據(jù)10_000111100001111_01111000011111_01則10表示信息頭，即表示為編程操作方法信息；000111100001111表示要編程的程序數(shù)據(jù)；0111100001111表示編程的程序地址；01表示信息尾，表示普通編程的信息。這些信息頭、數(shù)據(jù)、地址、信息尾可以根據(jù)實(shí)際應(yīng)用和用戶需求進(jìn)行設(shè)計(jì)，包括串行數(shù)據(jù)長(zhǎng)度，信息頭、信息尾等等，進(jìn)行調(diào)整修改，具備可擴(kuò)展性和可移植性。
如圖4所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，需要串行輸入2和3，串行數(shù)據(jù)3必須包含地址信息。地址信息是提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用，即符合程序存儲(chǔ)器地址的規(guī)則進(jìn)行譯碼，對(duì)應(yīng)匹配的地址存儲(chǔ)單元。串行數(shù)據(jù)還包括數(shù)據(jù)頭和數(shù)據(jù)尾信息，這些信息將通過加密比較，以保證能夠正確的讀取程序存儲(chǔ)器內(nèi)部數(shù)據(jù)信息或者加密數(shù)據(jù)。此外，串行數(shù)據(jù)完畢，外部需要輸入一個(gè)讀取數(shù)據(jù)的時(shí)鐘信號(hào)9，使得程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)10并行輸出到通用輸入輸出端口。
如圖5所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，需要串行輸入2和3，進(jìn)入功能測(cè)試操作方法之后，外部需要輸入一個(gè)復(fù)位信號(hào)11，使得配置接口部分電路復(fù)位。由外部時(shí)鐘2信號(hào)根據(jù)指令周期，從端口并行輸入程序12到一個(gè)寄存器組，然后根據(jù)時(shí)鐘將寄存器組的數(shù)據(jù)作為程序輸出到指令寄存器，使得MCU根據(jù)程序運(yùn)行。并行數(shù)據(jù)的長(zhǎng)度根據(jù)實(shí)際應(yīng)用和用戶需求進(jìn)行設(shè)計(jì)，具備可擴(kuò)展性和可移植性。
如圖6所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，需要串行輸入2和3，進(jìn)入掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法之后，掃描鏈上的寄存器工作在掃描鏈測(cè)試操作方法，此時(shí)在外部串行輸入測(cè)試數(shù)據(jù)到芯片內(nèi)部為TDI，TDI經(jīng)過一系列掃描上寄存器，最后通過測(cè)試輸出端口，輸出測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)15，完成寄存器掃描工作。在掃描鏈測(cè)試操作方法下，可以通過啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換的使能信號(hào)13，就可以啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換，同時(shí)可以進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換測(cè)試，測(cè)試的結(jié)果14輸出到通用輸入輸出端口。
如圖7所示，當(dāng)高壓端口1輸入高壓時(shí)，需要串行輸入2和3，進(jìn)入直流參數(shù)測(cè)試操作方法之后，所有輸入/輸出端口16將自動(dòng)設(shè)置為輸出端口，同時(shí)根據(jù)時(shí)鐘，不斷的輸出高電平或者低電平，使得滿足直流參數(shù)測(cè)試的要求。
以上介紹的僅僅是基于本發(fā)明的幾個(gè)較佳實(shí)施例，并不能以此來限定本發(fā)明的范圍。任何對(duì)本發(fā)明的裝置作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的部件的替換、組合、分立，以及對(duì)本發(fā)明實(shí)施步驟作本技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)熟知的等同改變或替換均不超出本發(fā)明的揭露以及保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種微控制器的配置接口操作方法，其特征在于包括以下步驟當(dāng)高壓端口輸入高壓時(shí)，從通用輸入輸出端口輸入串行時(shí)鐘和串行數(shù)據(jù)；將輸入的串行數(shù)據(jù)與內(nèi)部定義好的操作方法代碼比較；根據(jù)比較結(jié)果進(jìn)入相應(yīng)的操作方法。
2.如權(quán)利要求1所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的操作方法包括但不僅限于編程操作方法、校驗(yàn)操作方法、功能測(cè)試操作方法、掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法、直流參數(shù)測(cè)試操作方法。
3.如權(quán)利要求1所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的操作方法進(jìn)一步包括串行數(shù)據(jù)經(jīng)過移位寄存器，直到移位完畢保存在寄存器組里；一次串行傳輸完畢產(chǎn)生一個(gè)移位完畢信號(hào)；寄存器組里的數(shù)據(jù)將與內(nèi)部定義好的操作方法代碼，輸入到比較器進(jìn)行比較；比較后選擇一種操作方法使能信號(hào)，進(jìn)入相對(duì)應(yīng)的操作方法。
4.如權(quán)利要求2所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的編程操作方法中的串行數(shù)據(jù)包括提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用地址信息和該地址所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)，還包括數(shù)據(jù)頭和數(shù)據(jù)尾信息。
5.如權(quán)利要求4所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的編程操作方法還包括以下步驟當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸完畢，外部需要輸入一個(gè)編程信號(hào)，使得芯片進(jìn)行編程；等待編程完畢，外部還需要輸入一個(gè)讀取信號(hào)，讀取當(dāng)前編程數(shù)據(jù)校驗(yàn)或者串行輸入數(shù)據(jù)的奇偶校驗(yàn)；如果校驗(yàn)正確，程序存儲(chǔ)器將輸出一個(gè)校驗(yàn)信號(hào)。
6.如權(quán)利要求4所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的編程操作方法包括普通編程操作方法和加密編程操作方法；普通編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，可以通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出端口讀??；加密編程操作方法，該操作方法編程下的程序存儲(chǔ)器程序，無法通過程序校驗(yàn)方法從輸入輸出端口讀取。
7.如權(quán)利要求2所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的校驗(yàn)操作方法中的串行數(shù)據(jù)包含提供給程序存儲(chǔ)器尋址使用的地址信息，還包括信息頭、信息尾；串行數(shù)據(jù)完畢后，外部需要輸入一個(gè)讀取數(shù)據(jù)的時(shí)鐘信號(hào)，使得程序存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)并行輸出到通用輸入輸出端口。
8.如權(quán)利要求2所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的功能測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入功能測(cè)試操作方法之后，外部需要輸入一個(gè)復(fù)位信號(hào)，使得配置接口部分電路復(fù)位；由外部時(shí)鐘信號(hào)根據(jù)指令周期，從端口并行輸入程序到一個(gè)寄存器組，然后根據(jù)時(shí)鐘將寄存器組的數(shù)據(jù)作為程序輸出到指令寄存器，使得MCU根據(jù)程序運(yùn)行。
9.如權(quán)利要求2所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入掃描鏈和模數(shù)轉(zhuǎn)換測(cè)試操作方法之后，掃描鏈上的寄存器工作在掃描鏈測(cè)試操作方法，此時(shí)在外部串行輸入測(cè)試數(shù)據(jù)到芯片內(nèi)部為測(cè)試數(shù)據(jù)輸入TDI，TDI經(jīng)過一系列掃描上寄存器，最后通過測(cè)試輸出端口，輸出測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)，完成寄存器掃描工作。
10.如權(quán)利要求9所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于在掃描鏈測(cè)試操作方法下，可以通過啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換的使能信號(hào)，就可以啟動(dòng)數(shù)模轉(zhuǎn)換，同時(shí)可以進(jìn)行數(shù)模轉(zhuǎn)換測(cè)試，測(cè)試的結(jié)果輸出到通用輸入輸出端口。
11.如權(quán)利要求2所述的微控制器的配置接口操作方法，其特征在于所述的直流參數(shù)測(cè)試操作方法還包括以下步驟進(jìn)入直流參數(shù)測(cè)試操作方法之后，所有輸入/輸出端口將自動(dòng)設(shè)置為輸出端口；同時(shí)根據(jù)時(shí)鐘，不斷的輸出高電平或者低電平，以滿足直流參數(shù)測(cè)試的要求。
全文摘要
一種微控制器的配置接口操作方法，其特征在于包括以下步驟當(dāng)高壓端口輸入高壓時(shí)，從通用輸入輸出端口輸入串行時(shí)鐘和串行數(shù)據(jù)；將輸入的串行數(shù)據(jù)與內(nèi)部定義好的操作方法代碼比較；根據(jù)比較結(jié)果進(jìn)入相應(yīng)的操作方法。本發(fā)明配置接口操作方法可以進(jìn)行擴(kuò)展，可以進(jìn)入更多的測(cè)試操作方法和工作操作方法，使得芯片進(jìn)入各種測(cè)試或工作操作方法更加簡(jiǎn)單。
文檔編號(hào)G06F11/22GK1737770SQ20051002928
公開日2006年2月22日 申請(qǐng)日期2005年8月31日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月31日
發(fā)明者潘松, 岳衛(wèi)杰, 陳光勝 申請(qǐng)人:上海海爾集成電路有限公司