專利名稱：高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種主機(jī)板的高速外圍部件互連總線(PCI ExpressPeripheral Component Interconnect Express)接口測(cè)試治具，特別涉及一種可以對(duì)具有上述接口的信號(hào)發(fā)送端和接收端同時(shí)進(jìn)行輔助測(cè)試的測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
PCI Express是英特爾公司推出的新一代輸入/輸出接口規(guī)范，目的是以高帶寬速度將計(jì)算機(jī)系統(tǒng)與外設(shè)連接起來(lái)。相對(duì)傳統(tǒng)PCI總線在單一周期內(nèi)只能實(shí)現(xiàn)單向傳輸，PCI Express的雙工連接能提供更高的傳輸速率和質(zhì)量。
PCI Express引進(jìn)交換式點(diǎn)對(duì)點(diǎn)序列傳輸技術(shù)，并使用串行差分信號(hào)接口采用點(diǎn)對(duì)點(diǎn)信號(hào)傳輸，所謂差分信號(hào)接口就是同時(shí)傳輸相位相反(比如一正一負(fù))的兩個(gè)信號(hào)，這樣就能清除傳輸過(guò)程中的干擾，也有利于提高工作頻率。在數(shù)據(jù)傳輸?shù)膶?shí)體層由一組單工通道(Lane)組成發(fā)送端(Tx)和接受端(Rx)，每組PCI Express都獨(dú)立使用各自的通道與北橋芯片或其他電子元件進(jìn)行信號(hào)傳輸。PCI Express接口根據(jù)總線位寬不同有所差異，為了涵蓋各階層領(lǐng)域的需求，目前的PCI Express規(guī)劃了X1、X2、X4、X8、X16、X32...等不同規(guī)格，每種規(guī)格均有不同的針腳設(shè)計(jì)，因此外觀設(shè)計(jì)上就會(huì)不同。比如說(shuō)北橋芯片與顯卡的部分以PCI Express X16規(guī)格起跳，傳輸帶寬達(dá)4GB/s。隨著用戶對(duì)計(jì)算機(jī)性能要求的不斷提高，對(duì)計(jì)算機(jī)中系統(tǒng)主板工作時(shí)發(fā)送信號(hào)和接受信號(hào)的信號(hào)特性、靈敏度等進(jìn)行規(guī)范準(zhǔn)確測(cè)試已成為業(yè)界需要解決的問(wèn)題，對(duì)于采用PCI Express接口的電子元件，通常是通過(guò)主機(jī)板上的插槽來(lái)與其它元件實(shí)現(xiàn)電氣連接。主機(jī)板在組配完成之后，需要經(jīng)過(guò)全面的功能測(cè)試來(lái)確定其是否為優(yōu)良品，而主機(jī)板測(cè)試中對(duì)所述電子元件通過(guò)PCI Express接口后的接收信號(hào)和發(fā)送信號(hào)的特性測(cè)試通常需要借助相應(yīng)的測(cè)試治具及相關(guān)測(cè)試設(shè)備來(lái)進(jìn)行。
現(xiàn)行PCI Express接口測(cè)試治具只能測(cè)試驗(yàn)證電子元件發(fā)送信號(hào)的性能，且只在部分針腳處通過(guò)使用高精度連接器來(lái)進(jìn)行發(fā)送信號(hào)的測(cè)量。故無(wú)法得知電子元件接收信號(hào)的性能，并且在測(cè)試沒(méi)有應(yīng)用所述高精度連接器轉(zhuǎn)接的針腳信號(hào)時(shí)，測(cè)試的精確度比較差，無(wú)法滿足PCI Express規(guī)范對(duì)電子元件信號(hào)測(cè)試的要求。

發(fā)明內(nèi)容鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種可以對(duì)通過(guò)高速外圍部件互連總線接口發(fā)送信號(hào)和接收信號(hào)的性能同時(shí)進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試治具。
一種高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，用于輔助測(cè)試高速外圍部件互連總線傳輸信號(hào)的特性，所述測(cè)試治具包括一印刷電路板、若干發(fā)送信號(hào)端連接器及若干接收信號(hào)端連接器，所述發(fā)送端信號(hào)連接器及接收端信號(hào)連接器均與所述印刷電路板電氣連接。
上述高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具采用設(shè)置相應(yīng)的接收信號(hào)端可測(cè)試驗(yàn)證接收端接收信號(hào)的特性；同時(shí)每一發(fā)送信號(hào)端和接收信號(hào)端均通過(guò)高精度連接器來(lái)進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證，提高了整體測(cè)試驗(yàn)證的精確度，從而從根本上達(dá)到了更全面及更好的測(cè)試驗(yàn)證效果。

下面參照附圖及具體實(shí)施方式
對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
圖1是本發(fā)明高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具的較佳實(shí)施方式的立體圖。
圖2是本發(fā)明高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具的較佳實(shí)施方式的一工作狀態(tài)圖。
圖3是本發(fā)明高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具的較佳實(shí)施方式的另一工作狀態(tài)圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參考圖1至圖3，本發(fā)明高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具10的較佳實(shí)施方式包括一印刷電路板11及若干連接器13，所述連接器13焊接于所述印刷電路板11上并與所述印刷電路板11實(shí)現(xiàn)電氣連接。在本較佳實(shí)施方式中，以應(yīng)用在一主板22上的北橋芯片20的上述總線接口為例來(lái)說(shuō)明本測(cè)試治具及其測(cè)試過(guò)程。由于主板上插槽的設(shè)計(jì)規(guī)格已定，PCI Express X16規(guī)格的接口測(cè)試治具由兩個(gè)大小規(guī)格一模一樣的八組雙工通道組成，此處僅以圖示的前八組通道為例來(lái)加以說(shuō)明。
該印刷電路板11按照PCI Express X16規(guī)格的規(guī)定分別設(shè)置相關(guān)跡線及發(fā)送信號(hào)和接收信號(hào)端連接點(diǎn)，所述連接器13固定于所述每一連接點(diǎn)上，以使北橋芯片20與所述連接器13實(shí)現(xiàn)良好的電性連接。所述印刷電路板11的一端設(shè)有發(fā)送端邊接口12，在與該發(fā)送端邊接口12相對(duì)的一端設(shè)有接收端邊接口14。
靠近所述發(fā)送端邊接口12的8組發(fā)送端通道信號(hào)連接器15分別焊接于所述印刷電路板11的對(duì)應(yīng)發(fā)送信號(hào)端連接點(diǎn)上，用以將北橋芯片20發(fā)送的信號(hào)轉(zhuǎn)接至一示波器30；靠近所述接收端邊接口14的8組接收端通道信號(hào)連接器17分別焊接于所述印刷電路板11的對(duì)應(yīng)接收信號(hào)端連接點(diǎn)上，用以將一信號(hào)源40發(fā)送的信號(hào)傳送至北橋芯片20。每一連接器15、17均為高精密連接器。上述每一組連接器15和17用來(lái)傳輸一對(duì)差分信號(hào)。
其具體測(cè)試過(guò)程如下驗(yàn)證北橋芯片20通過(guò)所述PCI Express X16接口發(fā)送信號(hào)的相關(guān)特性時(shí)，首先將所述發(fā)送端邊接口12插入主板22上與北橋芯片20相連的對(duì)應(yīng)PCIExpress X16接口插槽24，用一對(duì)連接線21、23將發(fā)送端通道的一組信號(hào)連接器15接至一示波器30的兩輸入端，打開(kāi)所述主板22及示波器30的電源開(kāi)關(guān)后，即可以根據(jù)所述示波器30上顯示的眼圖來(lái)得知所述北橋芯片20發(fā)送的信號(hào)通過(guò)該組發(fā)送通道后的相關(guān)特性。將所述連接線21、23連至不同組的連接器15上，即可對(duì)其它發(fā)送端通道的性能進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證。
驗(yàn)證通過(guò)所述PCI Express X16接口后北橋芯片20接收信號(hào)的相關(guān)特性時(shí)，需要一外部信號(hào)源40及所述示波器30。此時(shí)將所述接收端邊接口14插入主板22上與北橋芯片20相連的對(duì)應(yīng)PCI Express X16接口插槽24，用所述連接線21、23將接收端通道的一組接收信號(hào)連接器17接至所述外部信號(hào)源40。打開(kāi)所述主板22、外部信號(hào)源40及示波器30的電源開(kāi)關(guān)后，用所述示波器30的探棒31、33探測(cè)該北橋芯片20上的信號(hào)接收端，根據(jù)所述示波器30上顯示的眼圖來(lái)得知所述外部信號(hào)源40發(fā)送的信號(hào)通過(guò)該組接收通道后的特性。將所述連接線21、23連接至不同組的連接器17上，即可對(duì)其它接收端通道接收信號(hào)的性能進(jìn)行測(cè)試驗(yàn)證。
同理，也可對(duì)PCIExpress X1、X2、X4、X8、X32...等其它規(guī)格的接口設(shè)計(jì)類似的測(cè)試治具，以方便精確的驗(yàn)證不同電子元件通過(guò)上述不同接口發(fā)送和接收信號(hào)的特性，達(dá)到更好更全面的測(cè)試驗(yàn)證效果。
權(quán)利要求
1.一種高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，用于輔助測(cè)試高速外圍部件互連總線傳輸信號(hào)的特性，所述測(cè)試治具包括一印刷電路板及若干與所述印刷電路板電氣連接的發(fā)送信號(hào)端連接器，其特征在于所述測(cè)試治具按照高速外圍部件互連總線規(guī)格的規(guī)定還設(shè)有若干與所述印刷電路板電氣連接的接收信號(hào)端連接器。
2.如權(quán)利要求1所述的高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，其特征在于所述印刷電路板的一端設(shè)有發(fā)送端邊接口，所述印刷電路板在與該發(fā)送端邊接口相對(duì)的一端設(shè)有接收端邊接口。
3.如權(quán)利要求2所述的高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，其特征在于所述發(fā)送信號(hào)端連接器靠近所述發(fā)送端邊接口，用以將一電子元件發(fā)送的信號(hào)轉(zhuǎn)接至一示波器。
4.如權(quán)利要求3所述的高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，其特征在于所述接收信號(hào)端連接器靠近所述接收端邊接口，用以將一信號(hào)源信號(hào)傳送至所述電子元件。
全文摘要
一種高速外圍部件互連總線接口測(cè)試治具，用于輔助測(cè)試高速外圍部件互連總線傳輸信號(hào)的特性，所述測(cè)試治具包括一印刷電路板及若干與所述印刷電路板電氣連接的發(fā)送信號(hào)端連接器，所述測(cè)試治具按照高速外圍部件互連總線規(guī)格的規(guī)定還設(shè)有若干與所述印刷電路板電氣連接的接收信號(hào)端連接器。通過(guò)應(yīng)用該測(cè)試治具，可以對(duì)高速外圍部件互連總線接口的發(fā)送端和接收端同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
文檔編號(hào)G06F11/267GK1955943SQ20051010080
公開(kāi)日2007年5月2日 申請(qǐng)日期2005年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月28日
發(fā)明者林鴻年, 王太誠(chéng), 林有旭 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司