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      Usb眼形圖測(cè)試模式的制作方法

      文檔序號(hào):6655882閱讀:630來(lái)源:國(guó)知局
      專利名稱:Usb眼形圖測(cè)試模式的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本揭示案涉及數(shù)字系統(tǒng),更明確地說(shuō),涉及數(shù)字系統(tǒng)中通用串行總線(USB)接口的測(cè)試。
      背景技本USB規(guī)范提倡對(duì)USB電纜上的電信號(hào)發(fā)送進(jìn)行極為嚴(yán)格的控制。USB接口論壇(www.usbif.org)描述了用于確認(rèn)USB信號(hào)完整性(USB IF測(cè)試)的專用測(cè)試裝置和方法。USB IF測(cè)試包含較長(zhǎng)的且昂貴的數(shù)據(jù)收集系統(tǒng)。
      因此,需要更簡(jiǎn)單且更低成本的測(cè)試以用于可初步確認(rèn)在早期完成的USB操作,以便幫助確保更為復(fù)雜和昂貴的USB IF測(cè)試的首次通過(guò)設(shè)計(jì)成功。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明通過(guò)提供一種將USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換注入電路板并使用常規(guī)測(cè)試設(shè)備來(lái)分析USB高速、USB全速和/或USB低速操作的USB眼形圖信號(hào)質(zhì)量,克服了上文指出的問(wèn)題以及現(xiàn)有技術(shù)的其它缺點(diǎn)和不足。
      根據(jù)本發(fā)明的特定示范性實(shí)施例,將一特殊測(cè)試模式合并到一數(shù)字系統(tǒng)的USB收發(fā)器中,且當(dāng)啟動(dòng)所述特殊測(cè)試模式時(shí),在USB數(shù)據(jù)線上可觀察到一連續(xù)的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換(由USB規(guī)范界定)流(例如USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形)。信號(hào)電平符合USB規(guī)范,然而,此信號(hào)測(cè)試圖違反了USB規(guī)范,因此在一設(shè)備附接到USB主機(jī)時(shí)不使用這種測(cè)試。然而,當(dāng)測(cè)試在進(jìn)行中時(shí),常規(guī)測(cè)試設(shè)備可附接到所述USB數(shù)據(jù)線,并可監(jiān)視信號(hào)質(zhì)量??蓪?duì)所述數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行電路改變,并可容易地測(cè)量結(jié)果。當(dāng)所述數(shù)字系統(tǒng)的USB數(shù)據(jù)線上的連續(xù)USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換流具有令人滿意的質(zhì)量時(shí),可關(guān)閉本發(fā)明的特殊測(cè)試模式,且所述USB收發(fā)器將作為正常USB設(shè)備而重新開(kāi)始操作。所述數(shù)字系統(tǒng)可具有一數(shù)字處理器,例如,微處理器、微控制器、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、特殊應(yīng)用集成電路(ASIC)、可編程邏輯陣列(PLA)和類似物。
      一技術(shù)優(yōu)點(diǎn)是在測(cè)試數(shù)字系統(tǒng)中的USB接口期間,常規(guī)測(cè)試設(shè)備可用于故障診斷并驗(yàn)證被測(cè)電路的滿意操作。這允許在執(zhí)行全部USB IF以最終確認(rèn)數(shù)字系統(tǒng)的USB電路之前,數(shù)字系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)和USB電路布局具有較高程度的置信度。另一技術(shù)優(yōu)點(diǎn)是,所述測(cè)試方法簡(jiǎn)單且廉價(jià),且可由相對(duì)缺乏經(jīng)驗(yàn)的測(cè)試人員來(lái)執(zhí)行。另一技術(shù)優(yōu)點(diǎn)是,不需要特殊測(cè)試設(shè)備來(lái)確認(rèn)電路質(zhì)量以及數(shù)字系統(tǒng)或運(yùn)行USB的子組合件的布局設(shè)計(jì)。
      從以下出于揭示目的而給定并結(jié)合附圖而做出的實(shí)施例的描述中可明了其它技術(shù)特征和優(yōu)點(diǎn)。


      通過(guò)參考以下結(jié)合附圖進(jìn)行的描述可獲得對(duì)本揭示案的更全面的理解及其優(yōu)點(diǎn),附圖中圖1是根據(jù)本發(fā)明特定示范性實(shí)施例的具有帶測(cè)試模式特征的USB接口的數(shù)字系統(tǒng)的示意性方框圖;和圖2是圖1的數(shù)字系統(tǒng)的示意性方框圖,其中用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB總線。
      雖然本發(fā)明允許有各種修改和替代形式,已借助于附圖中的實(shí)例展示本發(fā)明的特定示范性實(shí)施例,且本文對(duì)其進(jìn)行了詳細(xì)描述。然而應(yīng)了解,本文中對(duì)特定實(shí)施例的描述不意欲將本發(fā)明限定于所揭示的特定形式,相反,意欲涵蓋屬于如隨附權(quán)利要求書所界定的本發(fā)明精神與范圍內(nèi)的所有修改、等效物和替代方案。
      具體實(shí)施例方式
      現(xiàn)參看附圖,其示意性說(shuō)明本發(fā)明的示范性實(shí)施例的細(xì)節(jié)。附圖中相同元件將由相同標(biāo)號(hào)表示,且類似元件將由具有不同的小寫字母下標(biāo)的相同標(biāo)號(hào)表示。
      參看圖1,其描繪具有帶測(cè)試模式特征的USB接口的數(shù)字系統(tǒng)的示意性方框圖。一般由標(biāo)號(hào)100表示的數(shù)字系統(tǒng)包含數(shù)字處理器102和USB接口104。USB接口104具有眼形圖測(cè)試啟用控制線106,其中當(dāng)控制線106處于第一邏輯電平時(shí),USB接口在USB數(shù)據(jù)線108上產(chǎn)生符合USB規(guī)范的USB信號(hào)。當(dāng)控制線106處于第二邏輯電平時(shí),USB接口104產(chǎn)生USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形,例如可在USB數(shù)據(jù)線108上觀察到連續(xù)的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換(由USB規(guī)范界定)流。數(shù)字處理器102可為微處理器、微控制器、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、特殊應(yīng)用集成電路(ASIC)、可編程邏輯陣列(PLA)和類似物。
      參看圖2,其描繪圖1的數(shù)字系統(tǒng)的示意性方框圖,其中用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試USB總線。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備200可耦合到數(shù)字系統(tǒng)100的USB數(shù)據(jù)線108。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備200可為(例如但不限于)示波器、邏輯分析器、數(shù)據(jù)分析器、頻譜分析器、時(shí)域反射儀(TDR)、頻率計(jì)數(shù)器等??捎脺y(cè)試設(shè)備200和對(duì)數(shù)字系統(tǒng)100和/或USB數(shù)據(jù)線108的各種物理和/或電學(xué)改變(例如,可能引起來(lái)自其它電路的串音,在數(shù)據(jù)線上引起駐波反射等的USB數(shù)據(jù)線路徑選擇)的效應(yīng)而在USB數(shù)據(jù)線108上觀察USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形,例如連續(xù)的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換流。
      可對(duì)數(shù)字系統(tǒng)100進(jìn)行電路改變,并用測(cè)試設(shè)備200容易地測(cè)量結(jié)果。當(dāng)USB數(shù)據(jù)線108上的連續(xù)的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換流具有滿意的質(zhì)量時(shí),控制線106可返回到用于符合USB規(guī)范的正常USB信號(hào)的第一邏輯電平,且USB收發(fā)器將作為正常USB設(shè)備而重新開(kāi)始操作。其后,可根據(jù)USB IF測(cè)試規(guī)范來(lái)執(zhí)行更為復(fù)雜和昂貴的USB IF測(cè)試。
      數(shù)字處理器102和USB接口104可制造在半導(dǎo)體集成電路晶粒上,且可用任何類型的集成電路封裝來(lái)封裝此半導(dǎo)體集成電路晶粒。
      因此,本發(fā)明很適合于實(shí)行所述目的并達(dá)成所提到的結(jié)果和優(yōu)點(diǎn),以及本文內(nèi)在的其它結(jié)果和優(yōu)點(diǎn)。雖然已通過(guò)參考本發(fā)明示范性實(shí)施例來(lái)描繪、描述和界定本發(fā)明,但這些參考并非暗示對(duì)本發(fā)明的限制,且不會(huì)推斷出這些限制。如所屬領(lǐng)域的且得益于本揭示案的技術(shù)人員將了解,本發(fā)明能夠具有相當(dāng)多的形式與功能上的修改、更改和等效物。本發(fā)明的所描繪和描述的實(shí)施例僅僅是示范性的,且并非本發(fā)明的范圍的詳盡形式。因此,希望本發(fā)明僅由附加權(quán)利要求書的精神與范圍限制,從而全面認(rèn)識(shí)各方面的等效物。
      權(quán)利要求
      1.一種具有一通用串行總線(USB)測(cè)試模式的數(shù)字裝置,其包含一數(shù)字處理器;和一USB接口,其耦合到所述數(shù)字處理器,所述USB接口具有一可用一測(cè)試啟用輸入進(jìn)行選擇的眼形圖測(cè)試模式,其中所述眼形圖測(cè)試模式配置所述USB接口以將USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形發(fā)送至耦合到所述USB接口的USB數(shù)據(jù)線上,借此用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備驗(yàn)證所述USB數(shù)據(jù)線上的USB信號(hào)性能。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字裝置,其中當(dāng)所述測(cè)試啟用輸入處于一第一邏輯電平時(shí),所述USB接口處于一正常操作模式,且當(dāng)所述測(cè)試啟用輸入處于一第二邏輯電平時(shí),所述USB接口處于所述測(cè)試模式。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字裝置,其中所述數(shù)字處理器是從由一微處理器、微控制器、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、特殊應(yīng)用集成電路(ASIC)和可編程邏輯陣列(PLA)組成的群組中選擇的。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字裝置,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是低速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字裝置,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是全速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)字裝置,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是高速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      7.一種用于使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試一數(shù)字系統(tǒng)通用串行總線(USB)接口的系統(tǒng),所述系統(tǒng)包含一數(shù)字處理器;一USB接口,其耦合到所述數(shù)字處理器,所述USB接口具有一可用一測(cè)試啟用輸入進(jìn)行選擇的眼形圖測(cè)試模式,其中所述眼形圖測(cè)試模式配置所述USB接口以將USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形發(fā)送至耦合到所述USB接口的USB數(shù)據(jù)線上;和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備,其耦合到所述USB數(shù)據(jù)線以用于驗(yàn)證所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形的滿意性能。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中所述標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備是從由一示波器、一邏輯分析器、一數(shù)據(jù)分析器、一頻譜分析器、一時(shí)域反射儀(TDR)和一頻率計(jì)數(shù)器組成的群組中選擇的。
      9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中當(dāng)所述測(cè)試啟用輸入處于一第一邏輯電平時(shí),所述USB接口處于一正常操作模式,且當(dāng)所述測(cè)試啟用輸入處于一第二邏輯電平時(shí),所述USB接口處于所述測(cè)試模式。
      10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是低速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      11.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是全速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      12.根據(jù)權(quán)利要求7所述的系統(tǒng),其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是高速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      13.一種用于使用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備測(cè)試一數(shù)字系統(tǒng)通用串行總線(USB)接口的方法,所述方法包含以下步驟提供一具有一眼形圖測(cè)試模式和一正常操作模式的USB接口;選擇所述眼形圖測(cè)試模式,使得所述USB接口將USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形發(fā)送至耦合到所述USB接口的USB數(shù)據(jù)線上;和用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備驗(yàn)證所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形的滿意性能。
      14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其進(jìn)一步包含以下步驟選擇所述USB接口的所述正常操作模式,以便用一USB IF測(cè)試來(lái)測(cè)試所述USB接口。
      15.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是低速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      16.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是全速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      17.根據(jù)權(quán)利要求13所述的方法,其中所述USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形是高速USB操作的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換。
      全文摘要
      本發(fā)明將一特殊測(cè)試模式合并到一數(shù)字系統(tǒng)的一USB收發(fā)器中,且當(dāng)啟動(dòng)所述特殊測(cè)試模式時(shí),在連接到所述USB收發(fā)器的USB數(shù)據(jù)線上傳輸U(kuò)SB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形,例如一連續(xù)的USB狀態(tài)轉(zhuǎn)換(由USB規(guī)范界定)流。常規(guī)測(cè)試設(shè)備可附接到所述USB數(shù)據(jù)線,并可監(jiān)視信號(hào)質(zhì)量??蓪?duì)所述數(shù)字系統(tǒng)進(jìn)行電路改變,并可容易地測(cè)量出結(jié)果。當(dāng)所述數(shù)字系統(tǒng)的USB數(shù)據(jù)線上的USB眼形圖測(cè)試數(shù)據(jù)信號(hào)波形具有令人滿意的質(zhì)量時(shí),可關(guān)閉所述特殊測(cè)試模式,且所述USB收發(fā)器將作為正常的USB設(shè)備而重新開(kāi)始操作。
      文檔編號(hào)G06F11/26GK1957330SQ200580016711
      公開(kāi)日2007年5月2日 申請(qǐng)日期2005年5月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年5月26日
      發(fā)明者約瑟夫·哈里·朱利謝, 丹尼爾·威廉·巴特勒, 賴斯頓·A·康迪特 申請(qǐng)人:密克羅奇普技術(shù)公司
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