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      用于測試非接觸式支付設(shè)備的基準裝置的制作方法

      文檔序號:6656663閱讀:285來源:國知局
      專利名稱:用于測試非接觸式支付設(shè)備的基準裝置的制作方法
      相關(guān)申請本申請聲明對2004年7月15日提交的美國臨時專利申請No.60/588,270的優(yōu)先權(quán)。本申請還相關(guān)于同一天共同提交的序列號為___、___、___和___的美國專利申請,這些申請都聲明對前述專利申請No.60/588,270的優(yōu)先權(quán)。所有前述專利申請都通過引用全部結(jié)合于此。
      背景技術(shù)
      射頻標識(RFID)標簽是與天線相連的小型集成電路(IC),這些RFID標簽可取決于IC的大小用簡單的標識信息、或用更復雜的信號對詢問RF信號作出響應(yīng)。RFID技術(shù)不需要接觸或瞄準線來通信。射頻標識(RFID)技術(shù)現(xiàn)在是經(jīng)濟上可行的,并且在越來越多的工商業(yè)應(yīng)用中使用。例如,RFID技術(shù)現(xiàn)在被廣泛用于倉庫、商店中物品、ID卡或門卡等上的標簽。此外,RFID技術(shù)已經(jīng)以嵌有RFID標簽的“非接觸式”支付或信用卡的形式(例如由MasterCard、American Express和Visa)引入到支付卡行業(yè)。這些非接觸式支付卡可用來經(jīng)由與啟用RFID的支付終端的無線通信進行電子支付交易。非接觸式支付卡可向消費者提供在例如零售店、商店或超市中支付商品和服務(wù)的簡單、快速和便捷的方法。
      若干RFID技術(shù)可用于非接觸式支付卡和讀卡器/終端。非接觸式系統(tǒng)的基本組件是非接觸式讀卡器(或接近式耦合設(shè)備(PCD))和應(yīng)答器。該非接觸式讀卡器是與電子電路相連的天線。應(yīng)答器由電感性天線和與該天線的端部相連的集成電路。該組合讀卡器-應(yīng)答器用作變壓器。交流電流經(jīng)初級線圈(讀卡器天線)產(chǎn)生電磁場,該電磁場在次級線圈(應(yīng)答器天線)中感生電流。應(yīng)答器將由非接觸式讀卡器(PCD)發(fā)出的電磁場(或RF場)通過二極管整流器轉(zhuǎn)換成DC電壓。該DC電壓使應(yīng)答器的內(nèi)部電路上電。兩個天線的配置和調(diào)諧決定從一個設(shè)備到另一個設(shè)備的耦合效率。該應(yīng)答器可以是非接觸式支付卡。
      為了使非接觸式支付卡系統(tǒng)經(jīng)濟上可行并獲得商業(yè)認可,即使卡和終端具有專用于特定供卡商/發(fā)卡行、供貨商或終端制造商的技術(shù)特征,非接觸式支付卡的時候也必須在所有或大多數(shù)啟用RFID的支付終端上能互操作。需要行業(yè)范圍的可互操作性。為此,行業(yè)標準組織和團體(例如國際標準組織(ISO)和國際電子技術(shù)委員會(IEC))已制定了用于實現(xiàn)非接觸式支付技術(shù)的非官方行業(yè)標準。已由ISO/IEC定義的三種這樣的示例性標準是可分別應(yīng)用于緊耦合(Close Coupling)、接近式(Proximity)和鄰近式(Vicinity)卡的ISO/IEC 10536、ISO/IEC 14443和ISO/IEC 15693標準。
      ISO/IEC 14443接近式卡的標準(ISO 14443)已用于世界范圍內(nèi)若干非接觸式卡的使用。ISO 14443接近式卡的目標工作范圍最大達10厘米,盡管該范圍會取決于功率要求、存儲器大小、CPU和協(xié)處理器而變化。
      ISO 14443標準文檔具有4個不同部分。
      ·部分1物理特征,定義接近式集成電路卡(PICC)的物理尺寸。該卡為ID-1尺寸(85.6mm×54.0mm×.76mm)。這是與銀行信用卡相同的尺寸。
      ·部分2射頻功率和信號接口,定義非接觸式IC芯片的關(guān)鍵技術(shù)特征,包括諸如頻率、數(shù)據(jù)速率、調(diào)制和位編碼過程等事項。在部分2中詳述了兩種變體一A類接口和B類接口。它們都在相同頻率下工作并使用相同數(shù)據(jù)速率,但它們的不同之處在于調(diào)制和位編碼范疇。
      ·部分3初始化和防沖突。初始化描述對接近式耦合設(shè)備(PCD)(即讀卡器)和卡的要求,以在卡進入讀卡器的射頻(RF)場時建立通信。防沖突定義當多個卡同時進入磁場時會發(fā)生什么,從而標識系統(tǒng)如何確定在交易中要使用哪張卡,并確保所出示的所有卡已被盤點和處理。
      ·部分4傳輸協(xié)議,定義能在交易期間實現(xiàn)通信的數(shù)據(jù)格式和數(shù)據(jù)元。
      為了使非接觸式支付卡和讀卡器的系統(tǒng)能順應(yīng)于ISO 14443,它們必須符合非官方標準的至少一些部分的要求。除了根據(jù)ISO 14443標準化的非接觸式技術(shù),眾多專用非接觸式接口也在行業(yè)中使用(例如Cubic的GO-Card和Sony的FeliCa卡)。隨著現(xiàn)有卡技術(shù)的使用,互操作性會變成一個問題。由供卡商在市場中使用的讀卡器最好應(yīng)適用若干不同的卡類型。例如,期望的讀卡器將支持ISO 14443類型A和類型B的卡、ISO 15693卡和任何其它專用卡類型。
      甚至對于可能順應(yīng)于單個ISO標準(例如ISO 14443)的卡使用,也會產(chǎn)生可互操作性問題。在ISO 14443標準中,所有與非接觸式卡和讀卡器系統(tǒng)中的RF功率和信號接口(即系統(tǒng)的開放式系統(tǒng)互連(OSI)模型視圖中的物理層)相關(guān)的所有要求或規(guī)范使用對卡和對讀卡器分別標準化的測試來定義。ISO/IEC 10373標準部分6(ISO 10373-6)涉及專用于非接觸式集成電路卡技術(shù)(接近式卡)的測試方法。非接觸式卡和讀卡器與ISO 14443的順應(yīng)性使用基準設(shè)備來校驗。根據(jù)ISO10373-6,代表非接觸式卡的特征的一套“基準”卡(即,基準PICC)被用于測量非接觸式讀卡器的規(guī)范順應(yīng)性。(參見例如圖1a。)例如,基準PICC被用來測試由PCD產(chǎn)生或傳送的磁場,并用來測試PCD向PICC供電的能力。類似地,可代表典型非接觸式讀卡器的特征的“基準”讀卡器(即測試或基準PCD)被用來測量非接觸式卡的規(guī)范順應(yīng)性。例如,基準PCD被用來測試由卡在測試期間生成的負載調(diào)制。
      圖1b示出根據(jù)ISO 10373-6對產(chǎn)品讀卡器進行的功能測試,用于測試卡和讀卡器之間的功率和數(shù)據(jù)鏈接。
      盡管根據(jù)ISO 10373-6的個別卡和讀取器分別的順應(yīng)性測試過程可確保所使用的產(chǎn)品設(shè)備各自具有落入卡或讀卡器的指定規(guī)范范圍內(nèi)的特征,但這些過程并不確保實地的可互操作性。校驗為順應(yīng)的卡和/或讀卡器可能僅僅是邊際順應(yīng)的(例如通過具有在指定規(guī)范范圍的端部或邊緣的特征值)。這種標準順應(yīng)方式可能導致實地的工作故障。例如,邊際順應(yīng)的卡可能會不可讀取、或者難以使用也僅僅是邊際順應(yīng)的讀卡器來讀取。
      現(xiàn)在要考慮增強用于非接觸式電子支付系統(tǒng)的電子支付設(shè)備的可互操作性的方法。注意力指向減小與通用接受的標準一致的卡和讀卡器屬性中的變化。特別地,注意力指向改進規(guī)范順應(yīng)性過程以增強支付設(shè)備的可互操作性。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明提供用于測試可在現(xiàn)場使用以便進行電子支付交易的支付設(shè)備的基準裝置。該基準裝置包括可分別用于校驗成品卡和成品讀卡器對產(chǎn)品規(guī)范的順應(yīng)性的基準卡和基準讀卡器。產(chǎn)品規(guī)范可以是例如電子支付行業(yè)中普遍接受的ISO 14443標準規(guī)范。
      基準裝置被設(shè)計成提高其功能特性會因為設(shè)備規(guī)范的供貨商定制或制造公差而變化的成品支付設(shè)備的可互操作性。特別地,基準卡被設(shè)計成模擬或表示發(fā)給消費者的成品卡的整個觀測特性范圍。類似地,基準讀卡器被設(shè)計成模擬或表示例如由商家和商店在現(xiàn)場使用的成品讀卡器的整個觀測特性范圍。使用這些基準設(shè)備對成品設(shè)備進行的規(guī)范順應(yīng)性測試可能會提高所發(fā)成品卡對現(xiàn)場所使用成品讀卡器的可互操作性,以及相反所使用成品讀卡器對簽發(fā)給消費者的成品卡的可互操作性。
      基準設(shè)備可被用來使用例如在一起提交的序列號為___的美國專利申請中公開的方法建立所發(fā)卡與所使用讀卡器的可接受規(guī)范。在所公開的方法中,基準卡和基準讀卡器被交叉校準,以鏈接卡和讀卡器的工作規(guī)范。對交迭正確的卡和讀卡器功能的規(guī)范范圍或容差的適當選擇提高了所發(fā)卡對所使用讀卡器的可互操作性,并且相反所使用讀卡器對所發(fā)卡的可互操作性。
      從附圖以及以下的詳細描述中,本發(fā)明的其它特征、其性質(zhì)和各種優(yōu)點將更為顯而易見。


      圖1a是示意性地示出根據(jù)本發(fā)明原理交叉校準基準PICC與基準PCD的步驟的框圖。然后,經(jīng)交叉校準的基準PICC與PCD設(shè)備被分別用于測試成品非接觸性支付卡和讀卡器的功能屬性和規(guī)范。
      圖1b是根據(jù)本發(fā)明原理的非接觸式讀卡器與非接觸式接近卡之間的功率和數(shù)據(jù)鏈接的若干功能測試的示圖。
      圖2a是根據(jù)本發(fā)明原理設(shè)計的一示例性PayPass-基準讀卡器的圖片。
      圖2b是根據(jù)本發(fā)明原理設(shè)計的一示例性PayPass-基準卡的圖片。
      圖3a是根據(jù)本發(fā)明原理用于圖2a的PayPass-基準讀卡器的天線的電路圖。
      圖3b是根據(jù)本發(fā)明原理圖2b的PayPass-基準卡的電路圖。
      具體實施例方式
      本發(fā)明提供用于測試可在現(xiàn)場使用以便進行電子支付交易的成品支付設(shè)備的基準裝置。該基準裝置包括可分別用于校驗成品卡和成品讀卡器對標準行業(yè)產(chǎn)品規(guī)范的順應(yīng)性的基準卡和基準讀卡器?;鶞士ê妥x卡器設(shè)備被設(shè)計成指定其外部可觀察特性。該外部可觀察特性被選擇成復制或模擬在現(xiàn)場使用的成品設(shè)備的觀察或期望特性的標稱范圍。使用這些基準設(shè)備來測試成品支付設(shè)備提高了設(shè)備的可互操作性,設(shè)備的功能特性可因供應(yīng)商定制或制造公差而變化。
      在本文中本發(fā)明基準裝置在實現(xiàn)電子支付系統(tǒng)的示例性環(huán)境中描述,在該環(huán)境中非接觸式支付設(shè)備規(guī)范旨在符合諸如ISO 14443標準的通用行業(yè)標準,該通用行業(yè)標準進一步指定用于校驗各個非接觸式支付設(shè)備的規(guī)范的標準化測試方法(即ISO 10373-6測試方法、接近式卡)。近來,本發(fā)明受讓人MasterCard InternationalIncorporated(“MaserCard”)已開發(fā)了專用規(guī)范一MasterCard PayPassTMISO/IEC14443實現(xiàn)規(guī)范(“PayPass”)—用來實現(xiàn)接近式支付卡技術(shù)(例如通過發(fā)卡行、卡和讀卡器的供貨商或制造商)。PayPass實現(xiàn)與ISO 14443標準一致,并提供說明本發(fā)明原理的一方便示例??梢岳斫?,為了本文中的說明目的,選擇PayPass實現(xiàn)僅僅是示例性的,并且本發(fā)明的原理可更一般地應(yīng)用于根據(jù)其它通用行業(yè)或?qū)S脴藴使ぷ鞯碾娮又Ц对O(shè)備和系統(tǒng)。
      可由不同發(fā)卡行、非接觸式卡和/或讀卡器的供貨商或制造商使用的PayPass實現(xiàn)規(guī)范提供了用于實現(xiàn)非接觸式支付設(shè)備技術(shù)的標準規(guī)范。特定的通信協(xié)議要求被加在非接觸式支付設(shè)備,即卡(PICC)和讀卡器(PCD)上。該PayPass規(guī)范描述例如PICC和PCD之間的非接觸式接口的電特性、以及PCD與PICC之間的通信的數(shù)據(jù)傳送特性,包括在這些通信中使用的高級數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議、詳細信令、調(diào)制和位編碼方案以及數(shù)據(jù)格式。PayPass規(guī)范還指定可用于設(shè)備功能的PCD進程和命令,諸如初始化、輪詢、PICC激活或去激活、以及這些處理功能中PICC的狀態(tài)機。
      本發(fā)明的基準裝置可結(jié)合在共同待批的序列號為SMETS-I的美國專利申請中公開的系統(tǒng)和方法一起使用,以提高非接觸式支付設(shè)備的可互操作性(即發(fā)給消費者的成品卡和由商家使用的成品讀卡器)。所公開的系統(tǒng)和方法確保各個成品卡和讀卡器在比根據(jù)ISO 14443標準工作所允許的更為嚴格的規(guī)范范圍中工作或運作。該系統(tǒng)和方法涉及交叉校準基準設(shè)備(即基準PICC和PCD基準設(shè)備),這些基準設(shè)備用于測試各個成品讀卡器和卡在ISO 14443和ISO 10373-6標準下的規(guī)范順應(yīng)性?;鶞蔖CD被用來建立基準PICC的觀察到的功能特性或參數(shù)的范圍(“標稱卡范圍”)。成品讀卡器需要具有在由基準PCD測量的該標稱卡范圍內(nèi)的功能特性或參數(shù)。相反,基準PICC被用來建立基準PCD的觀察到的功能特性或參數(shù)的范圍(“標稱讀卡器范圍”)。成品讀卡器需要具有在讀取基準卡時該標稱卡范圍內(nèi)的功能特性或參數(shù)。
      圖1b示意性地示出使用經(jīng)交叉校準的基準PICC和基準PCD設(shè)備在PayPass實現(xiàn)中對支付設(shè)備進行的功能測試。
      基準PICC和基準PCD的交叉校準建立了兩種標準設(shè)備之間的關(guān)系,并鏈接各個成品卡的規(guī)范與成品讀卡器的規(guī)范。這避免了例如當卡和讀卡器位于在ISO14443標準下允許的其相應(yīng)規(guī)范范圍的極端邊緣時在卡和讀卡器規(guī)范的常規(guī)未連接或獨立測試下會產(chǎn)生的可互操作性故障。
      基于經(jīng)交叉校準的基準PICC和PCD設(shè)備的、用于確?;蛱岣叱善贩墙佑|式支付設(shè)備的功率、數(shù)據(jù)傳遞和其它功能可互操作性的示例性過程可包括以下步驟(a)測量由PCD對基準PICC提供的功率,(b)測量基準PICC上的數(shù)據(jù)傳輸(例如調(diào)制深度、或其它信號參數(shù)),(c)通過經(jīng)由基準PICC生成不同信號測試由PCD進行的數(shù)據(jù)接收(例如負載調(diào)制靈敏性)。首先相關(guān)于基準PCD校準PayPass-基準PICC,以確定由基準PICC生成的不同信號的電平和特征,(d)測量由PICC對基準PCD的數(shù)據(jù)傳輸,且基準PCD向PICC發(fā)送“平均”值命令,而基準PCD提供“平均”功率電平。由基準PCD生成的功率電平和命令特征相關(guān)于基準PICC進行校準,(e)使用基準PCD校驗PICC的數(shù)據(jù)接收和功率敏感性,且基準PCD發(fā)送命令,其中調(diào)制特征和功率電平在容許區(qū)間或范圍Rrx的邊界上。再一次,為了設(shè)置這些極值,相關(guān)于基準PICC校準基準PCD。
      根據(jù)本發(fā)明,實例性卡和讀卡器基準設(shè)備被設(shè)計成指定其外部可觀察特性?;鶞试O(shè)備的外部可觀察特性可被選擇成復制或模擬在現(xiàn)場使用的成品設(shè)備的可觀察或期望特性的標稱范圍。這些基準設(shè)備(例如圖2a和2b,PayPass-基準PCD和PayPass-基準PICC設(shè)備)被用于PayPass實現(xiàn)。圖2a和2b分別示出根據(jù)PayPass實現(xiàn)規(guī)范設(shè)計的物理PayPass-基準PCD和PayPass-基準PICC設(shè)備的照片。
      示例性PayPass-基準PCD和PayPass-基準PICC代表非接觸式支付技術(shù)的現(xiàn)有使用。這些基準設(shè)備被設(shè)計成與任何對應(yīng)成品設(shè)備一起工作,它們具有在通用行業(yè)規(guī)范范圍(例如ISO 14443標準所允許的或在現(xiàn)場中觀察到的范圍)內(nèi)的功能特性。該設(shè)計需要基準設(shè)備可與所有對應(yīng)成品設(shè)備一起工作,包括其功能特性可處于所允許或觀察到的規(guī)范范圍的極限處的成品設(shè)備。該設(shè)計要求通過允許測試所有的非接觸式PayPass或類似PayPass成品設(shè)備來提升可互操作性。任何所發(fā)成品卡或PICC可根據(jù)PayPass-基準PICC來測試,并且類似地任何所使用的成品讀卡器或PCD可使用在序列號為___的共同待批申請中描述的方法根據(jù)PayPass-基準PCD來檢查。
      該示例性PayPass-基準PCD包括圓形天線和共模抑制(CMR)電路(參見例如圖2a)。
      可被制造成為印刷線圈組件的天線具有雙重的有源和假繞組。雙重繞組降低天線的電場敏感度。圖3a示出天線的電路圖,除了雙重繞組線圈之外,該天線還包括調(diào)諧電路、匹配網(wǎng)絡(luò)和適當?shù)碾娎|接頭(例如SAM接頭)。被設(shè)計成在13.56MHz諧振的天線線圈裝在其上放置卡以便測試的放卡區(qū)或板上。在示例性PayPass-基準PCD中,放卡區(qū)被指定為在距天線約15厘米處的固定距離。PayPass-基準PCD允許在與信號發(fā)生器相連時向PICC發(fā)送命令。來自PayPass PICC的響應(yīng)可使用CMR電路來分析。
      表格1示出示例性PayPass-基準PCD的選定天線設(shè)計參數(shù)值集。
      表格1

      天線特性被選擇為代表在現(xiàn)場中觀察到的成品讀卡器的特性。例如,已根據(jù)經(jīng)驗注意到現(xiàn)場使用的PayPass成品終端或讀卡器的天線直徑在從約4厘米到約10厘米的范圍內(nèi),這些直徑對應(yīng)于約7厘米的平均直徑。因此,PayPass-基準PCD天線直徑被選擇為約7厘米,代表現(xiàn)場使用的讀卡器。其它PayPass-基準PCD設(shè)計參數(shù)(例如電磁、電路和物理參數(shù))也可類似地選擇以使該設(shè)備代表現(xiàn)場使用的讀卡器。
      在操作中,±600mW的信號被饋入天線的50Ω輸入阻抗以產(chǎn)生磁場,代表現(xiàn)場使用的大多數(shù)PayPass PCD。該電路天線產(chǎn)生可簡化測量的圍繞z軸對稱的磁場分布。
      還是在操作中,13.56MHz信號經(jīng)由匹配網(wǎng)絡(luò)驅(qū)動讀卡器線圈,從而在線圈繞組上生成高電壓。由天線發(fā)射的該13.56MHz RF載波可以是調(diào)幅的。天線硬件(例如CMR電路)可允許恢復由測試中的卡或PICC提供的負載調(diào)制所產(chǎn)生的在12.7MHz和14.4MHz處的兩個載波邊頻帶。該恢復信號被饋入CMR電路以減去13.56MHz的載波信號,并恢復847.5KHz的副載波信號。該CMR電路可具有任何方便或適當?shù)脑O(shè)計。適當?shù)腃MR電路及其工作在一起提交的序列號為___的美國專利申請中描述。
      PayPass-基準PCD天線具有較高Q因數(shù)(約為30~35)。該高Q因數(shù)在載波關(guān)斷(“暫?!?時引起顯著的電路“振鈴”。該“振鈴”代表調(diào)制的最差情形(即高Q因數(shù)的小天線)。成品卡提供更好的品質(zhì)調(diào)制。因此,任何用PayPass-基準PCD在極端負載條件下滿意地操作的成品卡有可能在現(xiàn)場與所使用的成品讀卡器一起工作。
      可以理解,PayPass-基準PCD和PayPass-基準PICC設(shè)備的架構(gòu)和電路參數(shù)是考慮了其用于測試成品設(shè)備的目的使用來選擇的。示例性PayPass-基準設(shè)備的特定架構(gòu)在本文中僅為了說明目的來描述??蛇x基準設(shè)備可具有與本發(fā)明一致的任何方便架構(gòu)和設(shè)計,只要類似地指定它們的外部可觀察特性即可??梢岳斫?,對基準設(shè)備的架構(gòu)和設(shè)計參數(shù)的選擇與成品卡和成品讀卡器的架構(gòu)和設(shè)計參數(shù)無關(guān)。對基準設(shè)備的特定架構(gòu)的選擇不強迫或要求成品設(shè)備具有相同或任何特定架構(gòu)(例如天線配置和諧振頻率)。
      像PayPass-基準PCD一樣,PayPass-基準PICC(圖2b)被設(shè)計成代表在現(xiàn)場觀察到的成品卡特性。PayPass-基準PICC具有與在ID-1卡中發(fā)現(xiàn)的相似的天線,并且像PayPass-基準PCD天線一樣可在印刷電路板組件上卷繞成線圈。圖3b示出PayPass-基準PICC的電路圖。除了天線線圈之外,電路板(稱為“PICC電路”)包括調(diào)諧電路、橋式整流器、FET分流調(diào)制器、齊納或濾除電路、時鐘解調(diào)器和其它信號處理電路。
      此外,除了PICC電路之外,PayPass-基準PICC還包括校準線圈,它裝在單個一元化組件的印刷電路板上約15毫米處。該一元化組件被設(shè)計成分析由PCD發(fā)出的信號。該校準線圈允許分析PCD信號的全部頻率成分,這通常不能通過單獨使用PICC電路來完成(假設(shè)其帶寬受限)。該校準線圈可基于在ISO 10372-6標準中定義的標準來設(shè)計。
      PICC電路被設(shè)計成PCD的表征測試總是在模擬現(xiàn)場的卡使用狀況的負載條件下進行的。PayPass-基準PICC也被設(shè)計成使用不同負載調(diào)制電平將信息發(fā)回PCD。為此,PICC電路包括一可變負載,該負載自適應(yīng)以改變磁場強度。當將數(shù)據(jù)發(fā)回PCD時,校準線圈可被用來感生噪聲并測試PCD的接收器質(zhì)量。
      表格2列出示例性PayPass-基準PICC的選定設(shè)計參數(shù)值集。
      表格2


      此外,PayPass-基準PICC中可變負載的參數(shù)值基于當前在現(xiàn)場中使用的PICC中觀察到的最大功耗來選擇。該最大功耗負載代表PCD的最差情形。當前使用的成品PICC期望消耗比PayPass-基準PICC少的功率。將獲益于開發(fā)低功率半導體器件技術(shù)的PICC的將來版本有可能消耗甚至更少的功率。因此,如果讀卡器或PCD與PayPass-基準PICC一起工作,則有可能與當前PICC以及將來的PICC一起工作。
      盡管已參照示例性實施例具體描述了本發(fā)明,但本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解可作各種更改和變化而不背離本發(fā)明的精神和范圍。因此,本發(fā)明的公開實施例被視為僅僅是說明性的,并且本發(fā)明僅限于由所附權(quán)利要求所指定的范圍。
      權(quán)利要求
      1.一種用于測試被用來讀取電子支付系統(tǒng)中的數(shù)個支付卡的讀卡器的基準卡,所述基準卡包括電子電路,其外部特性代表用于所述電子支付系統(tǒng)中的數(shù)個支付卡的特性,且其中所述電子電路被配置成向測試中的讀卡器展現(xiàn)代表性外部特性。
      2.如權(quán)利要求1所述的基準卡,其特征在于,所述數(shù)個支付卡是非接觸式支付卡,且其中所述基準卡電子電路包括諧振頻率約為16.1MHz的天線。
      3.如權(quán)利要求1所述的基準卡,其特征在于,還包括校準線圈,所述校準線圈被配置成分析由測試中讀卡器發(fā)送的信號的全部頻率成分。
      4.如權(quán)利要求1所述的基準卡,其特征在于,所述數(shù)個支付卡是非接觸式支付卡,其中所述基準卡電子電路包括可變負載,并且其中所述基準卡電子電路被配置成展現(xiàn)模擬所述電子支付系統(tǒng)中數(shù)個支付卡對測試中讀卡器的現(xiàn)場使用的負載狀況。
      5.如權(quán)利要求4所述的基準卡,其特征在于,所述可變負載代表在最差情形中對所述測試中讀卡器的最大卡功耗。
      6.如權(quán)利要求4所述的基準卡,其特征在于,所述基準卡電子電路被配置成使用不同負載調(diào)制電平向所述讀卡器發(fā)送信息。
      7.如權(quán)利要求6所述的基準卡,其特征在于,所述校準線圈被配置成感生所發(fā)送信息中的噪聲,由此可調(diào)查所述測試中讀卡器的接收器質(zhì)量。
      8.一種用于測試可與電子支付系統(tǒng)中使用的數(shù)個讀卡器中的任一個一起使用的支付卡的基準讀卡器,所述基準讀卡器包括電子電路,其外部特性代表在所述電子支付系統(tǒng)中使用的數(shù)個讀卡器的特性,且其中所述電子電路被配置成向測試中的支付卡展現(xiàn)代表性外部特性。
      9.如權(quán)利要求8所述的基準卡,其特征在于,所述數(shù)個讀卡器是非接觸式支付卡讀卡器,且其中所述基準讀卡器電子電路包括諧振頻率約為13.56MHz的天線。
      10.如權(quán)利要求9所述的基準讀卡器,其特征在于,所述天線是在電路板上制成的圓形天線,且其中所述基準讀卡器還包括放置卡以便測試、并且設(shè)置在離所述印刷電路板約15毫米的固定距離處的放卡板。
      11.如權(quán)利要求10所述的基準讀卡器,其特征在于,所述天線是直徑約為7厘米、并生成代表現(xiàn)場使用讀卡器的磁場的圓形天線,所述直徑代表在現(xiàn)場使用的數(shù)個讀卡器天線的平均值。
      12.如權(quán)利要求10所述的基準讀卡器,其特征在于,所述天線具有Q因數(shù),所述Q因數(shù)引起電路振鈴,并代表對在所述電子支付系統(tǒng)中使用的數(shù)個讀卡器的信號調(diào)制的最差情形。
      13.如權(quán)利要求10所述的基準讀卡器,其特征在于,所述天線的Q因數(shù)在約30到約35的范圍內(nèi)。
      14.如權(quán)利要求8所述的基準讀卡器,其特征在于,還包括被配置成分析卡的響應(yīng)的共模抑制電路。
      全文摘要
      提供了包括基準卡和基準讀卡器的基準裝置,用于測試諸如卡和讀卡器的電子支付設(shè)備?;鶞恃b置被設(shè)計成模擬當前或期望在電子支付系統(tǒng)中使用的各種支付設(shè)備的外部特性。此外,基準裝置被配置成使期望現(xiàn)場使用或代表大類支付設(shè)備的測試中設(shè)備受制于極端特性。該示例特性可相關(guān)于功能參數(shù),例如功耗、諧振頻率、Q因數(shù)、調(diào)制深度、噪聲和定時。示例性基準設(shè)備被配置成展現(xiàn)代表性外部特性,該代表性外部特性是根據(jù)經(jīng)驗確定的現(xiàn)場成品設(shè)備的平均特性。將基準裝置用于產(chǎn)品規(guī)范順應(yīng)性測試將提高成品支付設(shè)備的可互操作性。
      文檔編號G06K19/06GK101080729SQ200580028508
      公開日2007年11月28日 申請日期2005年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2004年7月15日
      發(fā)明者P·斯梅茨, E·L·H·范德維爾德, D·加勒特 申請人:萬事達卡國際股份有限公司
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