專利名稱：具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種記憶存儲(chǔ)卡的測(cè)試裝置，尤其涉及一種具有多個(gè) 界面的快閃存儲(chǔ)卡的測(cè)試器具，該器具用于計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)卡的測(cè)試領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
目前閃存的技術(shù)有著快速地成長(zhǎng)，近年來(lái)業(yè)者不斷開發(fā)更大容量的閃存，如MP3播放器、個(gè)人數(shù)字助理、數(shù)字相機(jī)或數(shù)字?jǐn)z影機(jī)等 多媒體裝置及手機(jī)等通訊裝置幾乎皆設(shè)有存儲(chǔ)卡。另外，現(xiàn)今市面上 一般的影音播放裝置的本體內(nèi)亦至少設(shè)立有控制芯片、閃存于其內(nèi)， 其中該閃存可應(yīng)用于數(shù)字影音譯碼及錄音上使用，用以將計(jì)算機(jī)的影 音資料供使用者下載，并可由影音播放裝置進(jìn)行播放數(shù)字音樂使用， 另外，市面上亦有一種資料儲(chǔ)存裝置內(nèi)單純利用閃存使用的產(chǎn)品，此 種產(chǎn)品僅提供消費(fèi)者增加除計(jì)算機(jī)外的資料記憶使用，且亦可隨意插 拔于計(jì)算機(jī)上進(jìn)行讀取或存取資料使用，因此自從閃存問世已來(lái)即受到廣大消費(fèi)者的青睞，而成為一種幾乎不可或缺的使用工具。但是，上述閃存的應(yīng)用則因不同廠商或是需求，則存在不同類型、 不同尺寸規(guī)格的存儲(chǔ)卡，然而目前市面上大致具有MMC卡(Mu 1 tiMediaCard) 、CF卡(CompactFlash Card) 、 SMC卡(SmartMediaCard) 、 MS 卡(MemorySt i ck)及SD卡(SecureDi gi talMemoryCard)等規(guī)格?？扉W存儲(chǔ)卡在出廠時(shí)，需要用快閃存儲(chǔ)卡的測(cè)試器具來(lái)測(cè)試閃存 的瑕疵，因此在生產(chǎn)流程上就必須完全依據(jù)測(cè)試器具的設(shè)計(jì)來(lái)規(guī)劃， 若測(cè)試器具設(shè)計(jì)不良，不僅不方便也浪費(fèi)更多的工時(shí)與生產(chǎn)成本，且
針對(duì)上述不同規(guī)格的快閃存儲(chǔ)卡，生產(chǎn)快閃存儲(chǔ)卡的廠商更需要利用 不同規(guī)格的測(cè)試器具來(lái)檢測(cè)不同規(guī)格的快閃存儲(chǔ)卡；然而針對(duì)閃存越 來(lái)越多樣的應(yīng)用，快閃存儲(chǔ)卡的容量、界面和功能的設(shè)計(jì)發(fā)展也越來(lái) 越繁復(fù)，因此對(duì)于生產(chǎn)快閃存儲(chǔ)卡的廠商而言，要兼顧大量生產(chǎn)不同 界面的快閃存儲(chǔ)卡以及同時(shí)保證大量生產(chǎn)時(shí)的品質(zhì)，則是一個(gè)嚴(yán)肅的 課題。緣此，上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，便為從事此行業(yè)者所亟欲改善的課 題，而有待相關(guān)業(yè)者作進(jìn)一步改進(jìn)與創(chuàng)新設(shè)計(jì)的必要。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的主要目的在于提供一種具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器 具，該器具利用連接界面轉(zhuǎn)接板可外接有不同界面的快閃存儲(chǔ)卡，因 此快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試者可在同一測(cè)試器具主體上并利用不同的測(cè)試電路 板及連接界面轉(zhuǎn)接板，來(lái)測(cè)試不同界面的快閃存儲(chǔ)卡，以節(jié)省測(cè)試不 同界面的快閃存儲(chǔ)卡所設(shè)置的器具成本。另外，本發(fā)明的次要目的在于提供的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試 器具，其測(cè)試電路板可設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的快閃存儲(chǔ)卡的控制界面， 因此當(dāng)有單數(shù)的測(cè)試電路板或連接界面轉(zhuǎn)接板損壞時(shí)，將可單獨(dú)將該 元件進(jìn)行更換，因此不需將測(cè)試器具主體進(jìn)行修繕，藉此將可大幅減 少測(cè)試器具主體的維修時(shí)間及經(jīng)費(fèi)的功效。為達(dá)成上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)手段如下一種具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其特征是，于測(cè)試器具上 設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的連接界面轉(zhuǎn)接板，且該連接界面轉(zhuǎn)接板可通過 連接界面與測(cè)試電路板成電性相連。其中該測(cè)試電路板設(shè)有測(cè)試控制電路及控制此電路的程序。該測(cè) 試控制電路由微處理器、短路檢測(cè)電路、存儲(chǔ)卡電源供應(yīng)電路及存儲(chǔ) 卡插槽所構(gòu)成。該微處理器設(shè)有存儲(chǔ)卡種類檢測(cè)腳。該測(cè)試電路板設(shè) 有一個(gè)或一個(gè)以上的快閃存儲(chǔ)卡的控制界面。該連接界面轉(zhuǎn)接板設(shè)有 測(cè)試電路板連接界面、連接界面轉(zhuǎn)換電路及快閃存儲(chǔ)卡連接界面。該 連接界面轉(zhuǎn)接板與快閃存儲(chǔ)卡相連接，并通過連接界面將測(cè)試信號(hào)傳 送至測(cè)試電路板連接界面。該連接界面轉(zhuǎn)接板設(shè)有電源標(biāo)示、測(cè)試正 常標(biāo)示、測(cè)試中標(biāo)示或測(cè)試失敗標(biāo)示。通過上述技術(shù)特征，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)比較具下列優(yōu)點(diǎn) (--)本發(fā)明利用測(cè)試電路板通過連接界面與連接界面轉(zhuǎn)接板相 耦接，且連接界面轉(zhuǎn)接板可進(jìn)一步外接不同界面的快閃存儲(chǔ)卡，因此 快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試者可在同一測(cè)試器具主體上利用不同的測(cè)試電路板及 連接界面轉(zhuǎn)接板，來(lái)測(cè)試不同界面的快閃存儲(chǔ)卡，以節(jié)省設(shè)置不同界 面的快閃存儲(chǔ)卡器具的成本。(二) 本發(fā)明通過連接界面轉(zhuǎn)接板上的電源標(biāo)示、測(cè)試正常標(biāo)示、 測(cè)試中標(biāo)示及測(cè)試失敗標(biāo)示或是通過操作系統(tǒng)或操作系統(tǒng)內(nèi)建的應(yīng)用 程序，快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試者將可以快速明了快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試后的結(jié)果， 并明確掌握測(cè)試器具主體的運(yùn)作狀態(tài)。(三) 該測(cè)試電路板可設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的快閃存儲(chǔ)卡的控制 界面，因此該測(cè)試器具主體將可針對(duì)復(fù)數(shù)的快閃存儲(chǔ)卡同時(shí)進(jìn)行測(cè)試， 且當(dāng)若有單數(shù)的測(cè)試電路板或連接界面轉(zhuǎn)接板損壞時(shí)，將可單獨(dú)將該 元件進(jìn)行更換，因此不需將測(cè)試器具主體進(jìn)行修繕，藉此將可大幅減 少測(cè)試器具主體的維修時(shí)間及經(jīng)費(fèi)。(四) 而當(dāng)快閃存儲(chǔ)卡于受測(cè)時(shí)且有短路狀況發(fā)生時(shí)，該短路檢 測(cè)電路則會(huì)將存儲(chǔ)卡電源供應(yīng)電路的電源關(guān)閉并切斷存儲(chǔ)卡插槽的電 源，以保護(hù)測(cè)試中的存儲(chǔ)卡與測(cè)試電路板的電路。


圖l為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)方塊示意圖。 圖2為本發(fā)明的測(cè)試電路板方塊示意圖。圖3為本發(fā)明的測(cè)試控制電路方塊示意圖。
圖4為本發(fā)明的連接界面轉(zhuǎn)接板方塊示意圖。圖5為本發(fā)明的另一系統(tǒng)架構(gòu)方塊示意圖。圖6為本發(fā)明的電路圖(一)。圖7為本發(fā)明的電路圖(二)。圖8為本發(fā)明的電路圖(三)。圖9為本發(fā)明的電路圖(四)。圖10為本發(fā)明的電路圖(五)。圖中符號(hào)說明1、測(cè)試器具主體11、測(cè)試電路板111、 測(cè)試控制電路1111、 微處理器1112、 短路檢測(cè)電路1113、 存儲(chǔ)卡電源供應(yīng)電路1114、 存儲(chǔ)卡插槽112、 快閃存儲(chǔ)卡的控制界面 1 2 、連接界面轉(zhuǎn)接板12 1、測(cè)試電路板連接界面 12 2、快閃存儲(chǔ)卡連接界面 12 3、電源標(biāo)示 12 4、測(cè)試正常標(biāo)示 12 5、測(cè)試中標(biāo)示 12 6、測(cè)試失敗標(biāo)示 12 7、連接界面轉(zhuǎn)換電路 1 3 、連接界面具體實(shí)施方式
請(qǐng)參閱圖l所示，為本發(fā)明的系統(tǒng)架構(gòu)方塊示意圖，由圖中所示 可清楚看出，本發(fā)明的測(cè)試器具主體1設(shè)置有測(cè)試電路板1 1、連接
界面轉(zhuǎn)接板1 2及連接界面1 3 ，其中該測(cè)試電路板1 1可通過連接界面l3將測(cè)試電路板1l與連接界面轉(zhuǎn)接板l2相連接。請(qǐng)參閱圖2所示，為本發(fā)明的測(cè)試電路板方塊示意圖，圖中該測(cè) 試電路板l l設(shè)有測(cè)試控制電路l 1 1及控制此電路的軟件程序，另 外，該測(cè)試電路板l 1亦設(shè)有快閃存儲(chǔ)卡的控制界面1 1 2。請(qǐng)參閱圖3所示，為本發(fā)明的測(cè)試控制電路方塊示意圖，并請(qǐng)參 閱圖6、 7、 8、 9、 10，為本發(fā)明的電路圖(一)、(二)、(三)、 (四)、(五)，該測(cè)試控制電路l11由可通過存儲(chǔ)卡種類檢測(cè)腳 讀取存儲(chǔ)卡種類的微處理器1 111、可通過短路檢測(cè)腳來(lái)檢測(cè)電流 值的短路檢測(cè)電路l 112、負(fù)責(zé)供應(yīng)存儲(chǔ)卡電源的存儲(chǔ)卡電源供應(yīng) 電路l 1 1 3以及可供存儲(chǔ)卡插置的存儲(chǔ)卡插槽1 1 1 4所構(gòu)成，是 以，當(dāng)短路狀況發(fā)生時(shí)則該測(cè)試控制電路11l不須經(jīng)由微處理器l1 1 l的處理，該短路檢測(cè)電路l 1 1 2即可通過存儲(chǔ)卡電源開關(guān)來(lái) 立刻關(guān)閉電源，以減少對(duì)電路的傷害。請(qǐng)參閱圖4所示，為本發(fā)明的連接界面轉(zhuǎn)接板方塊示意圖，而該 連接界面轉(zhuǎn)接板l 2由測(cè)試電路板連接界面1 2 1、快閃存儲(chǔ)卡連接 界面1 2 2 、連接界面轉(zhuǎn)換電路12 7、電源標(biāo)示123、測(cè)試正常 標(biāo)示l 2 4、測(cè)試中標(biāo)示l 2 5及測(cè)試失敗標(biāo)示1 2 6所構(gòu)成，而測(cè) 試電路板l1通過測(cè)試電路板連接界面12l與連接界面轉(zhuǎn)換電路l2 7及快閃存儲(chǔ)卡連接界面1 2 2，該測(cè)試電路板l l即可對(duì)快閃存 儲(chǔ)卡進(jìn)行測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果通過電源標(biāo)示1 2 3、測(cè)試正常標(biāo)示l2 4、測(cè)試中標(biāo)示l 2 5及測(cè)試失敗標(biāo)示1 2 6顯示，因此測(cè)試者則 可以得知受測(cè)試的快閃存儲(chǔ)卡狀態(tài)。請(qǐng)參閱圖1、 2、 3、 4所示，就本發(fā)明的測(cè)試電路板l 1 、連接界 面轉(zhuǎn)接板l2及連接界面13的相對(duì)關(guān)系做下述說明，測(cè)試電路板l l包括有測(cè)試控制電路l 1 1及快閃存儲(chǔ)卡的控制界面1 1 2，而連
接界面轉(zhuǎn)接板l 2包括有測(cè)試電路板連接界面1 2 1 、連接界面轉(zhuǎn)換 電路12 7、快閃存儲(chǔ)卡連接界面122、電源標(biāo)示123、測(cè)試正 常標(biāo)示12 4、測(cè)試中標(biāo)示1 2 5及測(cè)試失敗標(biāo)示126，通過連接 界面l 3，快閃存儲(chǔ)卡的控制界面l 1 2與測(cè)試電路板連接界面1 2 1可通過連接界面1 3將測(cè)試電路板1 1與連接界面轉(zhuǎn)接板1 2相耦 接并成電性相連；另外，測(cè)試電路板連接界面l 2 l可通過連接界面 轉(zhuǎn)換電路l 2 7與快閃存儲(chǔ)卡連接界面1 2 2相耦接，因此快閃存儲(chǔ) 卡連接界面l 2 2可進(jìn)一步與欲受測(cè)的快閃存儲(chǔ)卡相連結(jié)并接受測(cè)試 電路板l l的測(cè)試，再者，本發(fā)明的測(cè)試器具主體l可通過一操作系 統(tǒng)及操作系統(tǒng)內(nèi)建的應(yīng)用程序，來(lái)達(dá)到控制或監(jiān)視測(cè)試器具主體1的 運(yùn)作狀態(tài)。待一個(gè)或一個(gè)以上的快閃存儲(chǔ)卡欲受測(cè)試時(shí)，先將快閃存儲(chǔ)卡與 快閃存儲(chǔ)卡的控制界面l12或連接界面轉(zhuǎn)接板12的快閃存儲(chǔ)卡連 接界面l 2 2相耦接，待快閃存儲(chǔ)卡與測(cè)試器具主體l成電性相連吋， 測(cè)試信號(hào)將依續(xù)由測(cè)試電路板ll的測(cè)試控制電路l1l及快閃存儲(chǔ) 卡的控制界面l12并通過連接界面13傳送至連接界面轉(zhuǎn)接板1 2，再由連接界面轉(zhuǎn)接板l2的測(cè)試電路板連接界面12l通過連接 界面轉(zhuǎn)換電路l 2 7傳送至快閃存儲(chǔ)卡連接界面1 2 2并進(jìn)行測(cè)試， 待該快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試完后，該受測(cè)后的測(cè)試信號(hào)將傳送至連接界面轉(zhuǎn) 接板1 2 ，再通過測(cè)試正常標(biāo)示12 4、測(cè)試中標(biāo)示1 2 5或測(cè)試失 敗標(biāo)示l 2 6顯示受測(cè)快閃存儲(chǔ)卡的狀態(tài)，此外，若本發(fā)明的測(cè)試器 具主體l于激活時(shí)，該電源標(biāo)示l 2 3于動(dòng)作流程中將不會(huì)熄滅，且 該測(cè)試中標(biāo)示l 2 5會(huì)在動(dòng)作流程中不斷閃動(dòng)， 一但受測(cè)的快閃存儲(chǔ) 卡沒有故障，該測(cè)試正常標(biāo)示l 2 4則會(huì)亮起，若是快閃存儲(chǔ)卡故障 則測(cè)試失敗標(biāo)示l 2 6會(huì)亮起，藉此以利了解快閃存儲(chǔ)卡的測(cè)試是否 已經(jīng)完成、失敗或是正在進(jìn)行中，然而，快閃存儲(chǔ)卡的測(cè)試狀態(tài)除了 可通過連接界面轉(zhuǎn)接板1 2的指示燈來(lái)了解快閃存儲(chǔ)卡的故障狀態(tài)， 亦可通過操作系統(tǒng)內(nèi)建的應(yīng)用程序并進(jìn)一步由顯示幕來(lái)顯示快閃存儲(chǔ) 卡的測(cè)試結(jié)果。
然而，待上述存儲(chǔ)卡于插入之前，測(cè)試控制電路l 1 l內(nèi)的微處 理器l111的存儲(chǔ)卡信號(hào)檢測(cè)腳可檢測(cè)某特定存儲(chǔ)卡的插入信號(hào)， 而該信號(hào)會(huì)先初始定義值，例如設(shè)為高電位或是低電位，因此，當(dāng)特定存儲(chǔ)卡插入后，由于存儲(chǔ)卡內(nèi)部電路中，其相對(duì)應(yīng)連接位置的信號(hào) 與存儲(chǔ)卡信號(hào)檢測(cè)腳的電性信號(hào)相反，因此存儲(chǔ)卡信號(hào)檢測(cè)腳會(huì)得到 與初始定義值相反之電位，所以若測(cè)試電路板l l中所檢測(cè)到的電位 為相反，則代表此存儲(chǔ)卡已插入，反之，則代表卡未插入或是代表插 入不同規(guī)格的存儲(chǔ)卡；再者，當(dāng)測(cè)試電路板ll上的電流超過短路檢 測(cè)電路l 1 1 2所設(shè)定的上限值時(shí)，該短路檢測(cè)電路l 1 1 2的短路 檢測(cè)腳將會(huì)為0，反之，正常狀況下，短路檢測(cè)腳將會(huì)為l，藉此以 告知微處理器l 1 1 1目前的電路狀況，而當(dāng)短路狀況發(fā)生時(shí)，短路 檢測(cè)電路l112則會(huì)通過存儲(chǔ)卡電源開關(guān)來(lái)關(guān)閉存儲(chǔ)卡電源供應(yīng)電 路l113的電源并切斷存儲(chǔ)卡插槽1114的電源，以保護(hù)存儲(chǔ)卡與測(cè)試電路板11的電路，而當(dāng)測(cè)試電路板11的電流恢復(fù)穩(wěn)定后且 該短路狀況已經(jīng)解除，則短路檢測(cè)電路l 1 1 2則重新開啟存儲(chǔ)卡電 源開關(guān)，并恢復(fù)存儲(chǔ)卡插槽l 1 1 4的電源。再者，請(qǐng)參閱圖1及圖5所示，測(cè)試器具主體1上可設(shè)有數(shù)個(gè)測(cè) 試電路板l 1，且該測(cè)試電路板l 1亦可設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的快閃 存儲(chǔ)卡的控制界面l12，因此該測(cè)試器具主體l將可針對(duì)多數(shù)且具 有多界面的快閃存儲(chǔ)卡同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。而上述的快閃存儲(chǔ)卡的規(guī)格可為MMC卡(Mu 1 t i Me d i a Card) 、CF卡(CompactFlash Card)、 SMC卡(SmartMedia Card) 、 MS卡(Memo ry Stick)及SD卡(SecureDigital Me m o r y Card)等規(guī)格的快閃存儲(chǔ)卡，故舉凡可達(dá)成前述效果 的形式皆應(yīng)受本發(fā)明所涵蓋，此種簡(jiǎn)易修飾及等效結(jié)構(gòu)變化，均應(yīng)同 理包含于本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)，合予陳明。
以上的公開，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，自不能以此而局限 本發(fā)明的專利范圍，因此，舉凡運(yùn)用本發(fā)明的專利范圍所做的均等變 化與修飾，仍應(yīng)包含于本發(fā)明所涵蓋的專利范圍內(nèi)。綜上所述，本發(fā)明的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，確實(shí)能達(dá) 到其功效及目的，符合發(fā)明專利的申請(qǐng)要件，誠(chéng)符合產(chǎn)業(yè)利用性、新 穎性及進(jìn)步性，依法提出申請(qǐng)。
權(quán)利要求
1.一種具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其特征是，于測(cè)試器具上設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的連接界面轉(zhuǎn)接板，且該連接界面轉(zhuǎn)接板可通過連接界面與測(cè)試電路板成電性相連。
2. 如權(quán)利要求1所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 測(cè)試電路板設(shè)有測(cè)試控制電路及控制此電路的程序。
3. 如權(quán)利要求2所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 測(cè)試控制電路由微處理器、短路檢測(cè)電路、存儲(chǔ)卡電源供應(yīng)電路及存 儲(chǔ)卡插槽所構(gòu)成。
4. 如權(quán)利要求3所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 微處理器設(shè)有存儲(chǔ)卡種類檢測(cè)腳。
5. 如權(quán)利要求l所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 測(cè)試電路板設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的快閃存儲(chǔ)卡的控制界面。
6. 如權(quán)利要求1所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 連接界面轉(zhuǎn)接板設(shè)有測(cè)試電路板連接界面、連接界面轉(zhuǎn)換電路及快閃 存儲(chǔ)卡連接界面。
7. 如權(quán)利要求6所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該連接界面轉(zhuǎn)接板與快閃存儲(chǔ)卡相連接，并通過連接界面將測(cè)試信號(hào)傳 送至測(cè)試電路板連接界面。
8. 如權(quán)利要求l所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 連接界面轉(zhuǎn)接板設(shè)有電源標(biāo)示、測(cè)試正常標(biāo)示、測(cè)試中標(biāo)示或測(cè)試失 敗標(biāo)示。
9. 如權(quán)利要求l所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該 測(cè)試器具主體上設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的測(cè)試電路板。
10. 如權(quán)利要求1所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中該快閃存儲(chǔ)卡的規(guī)格為MMC卡、CF卡、SMC卡、MS卡或SD 卡的快閃存儲(chǔ)卡。
11. 如權(quán)利要求1所述的具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，其中 該測(cè)試器具的主體在預(yù)設(shè)的操作系統(tǒng)及操作系統(tǒng)內(nèi)建的應(yīng)用程序下進(jìn) 行操作。
全文摘要
本發(fā)明為一種具多界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具，該測(cè)試器具主體上設(shè)有一個(gè)或一個(gè)以上的連接界面轉(zhuǎn)接板，該連接界面轉(zhuǎn)接板可通過連接界面與測(cè)試電路板成一電性相連。再者，通過測(cè)試控制電路內(nèi)所設(shè)置的微處理器及微處理器內(nèi)的存儲(chǔ)卡種類檢測(cè)腳，將可檢測(cè)所插入的存儲(chǔ)卡屬于何種規(guī)格，因此藉由測(cè)試器具上的測(cè)試電路板及連接界面轉(zhuǎn)接板，將可測(cè)試具有不同界面的快閃存儲(chǔ)卡，以節(jié)省不同界面的快閃存儲(chǔ)卡測(cè)試器具設(shè)置成本。
文檔編號(hào)G06F11/267GK101118512SQ20061010844
公開日2008年2月6日 申請(qǐng)日期2006年8月4日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月4日
發(fā)明者陳本慧 申請(qǐng)人:群聯(lián)電子股份有限公司