專利名稱：占空比測(cè)量裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般地涉及改進(jìn)的集成電路裝置和方法。更具體地說，本發(fā)明涉及占空比(duty cycle)測(cè)量裝置和方法。
背景技術(shù)：
近年來，現(xiàn)代集成電路器件(例如，微處理器或片上系統(tǒng))的運(yùn)行速度已經(jīng)極大地增加。對(duì)于此類高速器件，占空比(即，脈沖寬度與脈沖周期之比)的變化在使用中間周期邊沿的情況下可以導(dǎo)致性能下降。此外，如果定時(shí)電路依賴于時(shí)鐘周期的最小上升或下降時(shí)間(例如，動(dòng)態(tài)電路)，則占空比變化會(huì)限制功能。
占空比對(duì)許多不同因素都很敏感，包括運(yùn)行頻率、運(yùn)行溫度、電源電壓、電路設(shè)計(jì)類型、電路負(fù)荷以及工藝(例如，單個(gè)和/或多個(gè)晶片中摻雜、閾值電壓、遷移率、柵極氧化物厚度等的變化)。因?yàn)槿绱硕嗟牟煌蛩貢?huì)影響占空比，所以能夠精確地測(cè)量出實(shí)際運(yùn)行條件下使用中芯片的時(shí)鐘占空比是很重要的。
但是，片外連接的帶寬限制通常將實(shí)際測(cè)量限于幾百兆赫。這是比當(dāng)前的集成電路器件(例如，微處理器或片上系統(tǒng))運(yùn)行的頻率至少低一個(gè)數(shù)量級(jí)的頻率。因此，由于片外連接的限制，很難獲得實(shí)際運(yùn)行條件下使用中芯片的時(shí)鐘占空比的準(zhǔn)確測(cè)量結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容
示例性實(shí)施例提供了用于測(cè)量集成電路器件(例如，微處理器或片上系統(tǒng)(SOC))的占空比的裝置。示例性實(shí)施例的裝置生成與占空比成比例并且可以使用普通的實(shí)驗(yàn)室或制造設(shè)備來測(cè)量的頻率。示例性實(shí)施例的裝置可以使用標(biāo)準(zhǔn)互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝中的簡(jiǎn)單電路來實(shí)現(xiàn)，它只需要很小的面積且在不用時(shí)可以斷開電源。
在示例性實(shí)施例中，以保留原始檢測(cè)信號(hào)的占空比的方式通過多路復(fù)用器或其他開關(guān)網(wǎng)絡(luò)將所述檢測(cè)信號(hào)作為輸入提供給低通濾波器。所述低通濾波器(LPF)可被實(shí)現(xiàn)為單極阻容(RC)網(wǎng)絡(luò)，該網(wǎng)絡(luò)可以簡(jiǎn)單地使用標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝來制造。所述LPF主要確定檢測(cè)信號(hào)的平均值。
LPF生成與檢測(cè)信號(hào)的占空比成比例的直流(DC)電壓Vdc，例如，Vdc＝占空比×Vdd，其中Vdd為電源電壓。所述低通濾波器的帶寬設(shè)置得足夠低以生成直流值并適當(dāng)?shù)厮p檢測(cè)信號(hào)的交流(AC)成分。還設(shè)置所述帶寬以便其不會(huì)如此之低，以致低通濾波器的時(shí)間常數(shù)將增加用于測(cè)量的不能接受的較長(zhǎng)穩(wěn)定時(shí)間。例如，對(duì)于5Ghz的檢測(cè)信號(hào)，具有5MHz帶寬的濾波器充分地減少了交流成分且需要100納秒的穩(wěn)定時(shí)間。
所述低通濾波器連接到具有電壓頻率增益特性KO的壓控振蕩器(VCO)的控制輸入。在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，所述VCO增益KO為線性的，但是，本發(fā)明并不限于這種實(shí)施例，并且可以在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下使用非線性的VCO增益特性。
VCO將其輸入處的直流電壓轉(zhuǎn)換為對(duì)于直接使片外通過低帶寬驅(qū)動(dòng)器可能過高的頻率。因此，VCO的輸出被連接到分頻器，所述分頻器將VCO輸出頻率降低N倍。得出的降低的輸出信號(hào)被提供給連接到襯墊的輸出驅(qū)動(dòng)器，通過所述襯墊可以使用計(jì)頻儀、示波器或其他標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室或制造設(shè)備來測(cè)量輸出信號(hào)。結(jié)果，可以從對(duì)輸出襯墊的頻率測(cè)量來確定檢測(cè)信號(hào)的占空比，例如，占空比＝頻率×N/(Vdd×KO)。
因?yàn)閷?shí)際的VCO顯示了由于工藝、溫度、電源電壓等造成的KO變化并且可以具有許多非線性，所以理解這些變化并能夠在測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比中使用先前校準(zhǔn)VCO的增益特性KO是很重要的?？梢詫⒂糜趫?zhí)行此類校準(zhǔn)的分壓器連接到多路復(fù)用器或其他開關(guān)元件，由此將檢測(cè)信號(hào)連接到低通濾波器。所述分壓器提供了多個(gè)可以獨(dú)立連接到所述低通濾波器的參考電壓?？梢允褂煤?jiǎn)單的分壓等式Vdd×R1/R2來確定電壓值，其中R1是從讀出節(jié)點(diǎn)到地的總阻抗，而R2是從Vdd到地的總阻抗值?？梢允褂盟鲭妷褐狄约白x出的頻率來計(jì)算VCO的KO值，例如，KO＝頻率/Vn。通過使用多個(gè)參考電壓和相應(yīng)的頻率測(cè)量，可以確定校準(zhǔn)曲線，所述校準(zhǔn)曲線可以與實(shí)際頻率測(cè)量一起用來確定VCO的KO值，例如，KO＝(fb-fa)/(Vb-Va)，其中fa＜fx＜fb。
除了以上所述，還可以將雙向襯墊和開關(guān)連接到VCO的輸入。此雙向襯墊可以在需要考慮電阻容差時(shí)用于測(cè)量在校準(zhǔn)期間施加到VCO的電壓。所述雙向襯墊還可用于在校準(zhǔn)粒度過大時(shí)將外部電壓直接施加到低通濾波器(濾波器電阻的兩側(cè))。在不使用雙向襯墊時(shí)可以包括開關(guān)以降低噪聲拾取。
在一個(gè)示例性實(shí)施例中，提供了一種用于測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比的方法。可以在數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)此方法。所述方法可以包括過濾輸入信號(hào)以生成輸出電壓信號(hào)，將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)，并測(cè)量所述頻率信號(hào)的頻率。可以根據(jù)所述測(cè)量的頻率來計(jì)算所述輸入信號(hào)的占空比。所述輸出電壓信號(hào)可以代表所述輸入信號(hào)的平均電壓?？梢栽诩呻娐沸酒蠄?zhí)行所述過濾和轉(zhuǎn)換操作，而在所述集成電路芯片外部執(zhí)行所述測(cè)量和計(jì)算操作。
所述方法還可以包括接收多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)以及檢測(cè)信號(hào)，并選擇所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)或所述檢測(cè)信號(hào)作為輸入信號(hào)。所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)可以是用于校準(zhǔn)電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的參考電壓信號(hào)，所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)。
當(dāng)執(zhí)行將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的校準(zhǔn)時(shí)，可以將所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)選擇為所述輸入信號(hào)。校準(zhǔn)所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器可以包括生成為所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)將輸入電壓映射到輸出頻率的校準(zhǔn)曲線。
所述方法還可以包括通過雙向襯墊從所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)外部的裝置接收輸入電壓信號(hào)作為輸入信號(hào)。所述方法還可以包括使用預(yù)定因數(shù)除所述頻率信號(hào)以使所述頻率信號(hào)處于帶寬要求之內(nèi)，以便將所述頻率信號(hào)提供給用于測(cè)量所述頻率信號(hào)的頻率的測(cè)量裝置。所述方法還可以包括在所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中的同一或不同點(diǎn)處重復(fù)所述過濾、轉(zhuǎn)換、測(cè)量及計(jì)算操作以確定作為所述輸入信號(hào)提供的高速時(shí)鐘信號(hào)的占空比變化。
在其他示例性實(shí)施例中，提供了一種用于測(cè)量集成電路器件中的檢測(cè)信號(hào)的占空比的裝置。所述裝置可以包括接收輸入信號(hào)并輸出輸出電壓信號(hào)的濾波器，以及連接到所述濾波器的將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器。所述裝置還可以包括輸出驅(qū)動(dòng)器，所述輸出驅(qū)動(dòng)器將所述頻率信號(hào)驅(qū)動(dòng)到與所述輸出驅(qū)動(dòng)器相連的輸出襯墊。在所述集成電路器件外部的測(cè)量裝置可以測(cè)量所述輸出襯墊處的所述頻率信號(hào)的頻率并根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算所述檢測(cè)信號(hào)的占空比。
所述裝置還可以包括連接到所述濾波器的輸入的多路復(fù)用器。所述多路復(fù)用器可以接收多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)和一個(gè)檢測(cè)信號(hào)，并且可以選擇所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)或所述檢測(cè)信號(hào)來輸出到所述濾波器。所述裝置還可以包括連接到電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的輸入的雙向襯墊?？梢酝ㄟ^所述雙向襯墊從所述裝置外部的設(shè)備來接收作為所述輸入信號(hào)的輸入電壓信號(hào)。所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器還可以包括連接到壓控振蕩器的輸出的分頻器，所述分頻器將所述壓控振蕩器輸出的頻率信號(hào)的頻率除以預(yù)定的量。
所述裝置可以是玩具、游戲機(jī)、游戲控柄、手持計(jì)算設(shè)備、個(gè)人數(shù)字助理、通訊設(shè)備、無線電話、膝上計(jì)算設(shè)備、臺(tái)式計(jì)算設(shè)備、服務(wù)器計(jì)算設(shè)備或便攜式計(jì)算設(shè)備的一部分。所述裝置也可以是具有至少兩個(gè)異構(gòu)處理器(具有不同類型的指令集)的多處理器片上系統(tǒng)的一部分。
在其他示例性實(shí)施例中，提供了一種片上系統(tǒng)，所述片上系統(tǒng)可以包括控制處理器、至少一個(gè)連接到所述控制處理器的協(xié)處理器，以及連接到一個(gè)或多個(gè)所述控制處理器或所述至少一個(gè)協(xié)處理器的占空比測(cè)量裝置。所述占空比測(cè)量裝置可以包括從所述控制處理器或所述協(xié)處理器其中之一接收輸入信號(hào)并輸出輸出電壓信號(hào)的濾波器，以及連接到所述濾波器的將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器。所述占空比測(cè)量裝置還可以包括輸出驅(qū)動(dòng)器，所述輸出驅(qū)動(dòng)器將所述頻率信號(hào)驅(qū)動(dòng)到與所述輸出驅(qū)動(dòng)器相連的輸出襯墊。在所述集成電路器件外部的測(cè)量裝置可以測(cè)量所述輸出襯墊處的所述頻率信號(hào)的頻率并根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算所述檢測(cè)信號(hào)的占空比。
在以下對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)說明中將描述本發(fā)明的這些和其他特征和優(yōu)點(diǎn)，或者鑒于以下對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)說明，本發(fā)明的這些和其他特征和優(yōu)點(diǎn)將對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員變得顯而易見。


在所附權(quán)利要求中說明了被認(rèn)為是本發(fā)明特性的新穎特征。但是，當(dāng)結(jié)合附圖閱讀時(shí)，通過參考以下對(duì)示例性實(shí)施例的詳細(xì)說明，可以最佳地理解發(fā)明本身及其優(yōu)選使用方式、進(jìn)一步的目的和優(yōu)點(diǎn)，這些附圖是圖1是其中可以實(shí)現(xiàn)示例性實(shí)施例的各方面的片上系統(tǒng)的示例性方塊圖；圖2是根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的占空比測(cè)量裝置的示例性方塊圖；圖3是根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的占空比測(cè)量裝置的一個(gè)示例性實(shí)現(xiàn)的示例性電路圖；圖4是示出了可為使用多個(gè)參考電壓輸入的一個(gè)示例性實(shí)施例的壓控振蕩器產(chǎn)生的校準(zhǔn)曲線的示例性示意圖；圖5A和5B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為50％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖；圖6A和6B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為10％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖；圖7A和7B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為90％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖；以及圖8是概述當(dāng)測(cè)量占空比時(shí)一個(gè)示例性實(shí)施例的示例性操作的流程圖。
具體實(shí)施例方式
示例性實(shí)施例提供了用于測(cè)量檢測(cè)信號(hào)占空比的片上集成電路裝置和方法。所述示例性實(shí)施例的裝置可以在任何其中需要測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比的集成電路器件中實(shí)現(xiàn)。但是，所述示例性實(shí)施例尤其適于測(cè)量在非常高的頻率下運(yùn)行的檢測(cè)信號(hào)的占空比。此類檢測(cè)信號(hào)可以存在于例如最新的微處理器和片上系統(tǒng)中。
其中可以實(shí)現(xiàn)所述示例性實(shí)施例的各方面的一個(gè)示例性微處理器是可從紐約阿蒙克的國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司購(gòu)買的CELL寬帶引擎(CBE)架構(gòu)微處理器。CBE架構(gòu)微處理器的實(shí)例方塊圖在圖1中示出并在以下討論。雖然所述示例性實(shí)施例將被描述為在CBE架構(gòu)微處理器中實(shí)現(xiàn)，但是本發(fā)明并不限于此。如上所述，本發(fā)明的示例性實(shí)施例可應(yīng)用于任何其中要測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比的集成電路器件。
圖1是其中可以實(shí)現(xiàn)示例性實(shí)施例的各方面的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的示例性方塊圖。圖1中示出的示例性數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)是CELL寬帶引擎(CBE)數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)例。雖然CBE將用于描述示例性實(shí)施例，但是本發(fā)明并不限于此，如在閱讀以下說明時(shí)將對(duì)本領(lǐng)域的技術(shù)人員顯而易見的。
如圖1所示，CBE 100包括具有處理器(PPU)116及其L1和L2高速緩存112和114的功率處理器元件(PPE)110，多個(gè)協(xié)處理器元件(SPE)120-134，其中每個(gè)都具有其自己的協(xié)處理器單元(SPU)140-154、存儲(chǔ)器流控制155-162、本地存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)(LS)163-170，以及總線接口單元(BIU單元)180-194(它可以例如是直接存儲(chǔ)器訪問(DMA)、存儲(chǔ)器管理單元(MMU)和總線接口單元的組合)。還提供了高帶寬內(nèi)部元件互連總線(EIB)196、總線接口控制器(BIC)197和存儲(chǔ)器接口控制器(MIC)198。
CBE 100可以是片上系統(tǒng)，以便可以在單個(gè)微處理器芯片上提供圖1中示出的每個(gè)元件。此外，CBE 100是異構(gòu)處理環(huán)境，其中每個(gè)SPU都可以從系統(tǒng)中的每個(gè)其他SPU接收不同的指令。此外，SPU的指令集與PPU的指令集不同，例如，PPU可以執(zhí)行基于精簡(jiǎn)指令集計(jì)算機(jī)(RISC)的指令，而SPU執(zhí)行向量化的指令。
SPE 120-134通過EIB 196彼此連接并連接到L2高速緩存114。此外，SPE 120-134通過EIB 196連接到MIC 198和BIC 197。MIC 198提供了到共享存儲(chǔ)器199的通信接口。BIC 197提供了CBE 100與其他外部總線和裝置之間的通信接口。
PPE 110是雙線程PPE 110。此雙線程PPE 110和8個(gè)SPE 120-134的組合使CBE 100能夠同時(shí)處理10個(gè)線程和多于128個(gè)未完成的存儲(chǔ)器請(qǐng)求。PPE 110用作處理多數(shù)計(jì)算工作負(fù)荷的其他8個(gè)SPE 120-134的控制器。例如，PPE 110可用于運(yùn)行常規(guī)的操作系統(tǒng)，而SPE 120-134執(zhí)行向量化浮點(diǎn)代碼執(zhí)行。
SPE 120-134包括協(xié)處理單元(SPU)140-154、存儲(chǔ)器流控制單元155-162、本地存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)160-174和接口單元180-194。在一個(gè)示例性實(shí)施例中，本地存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)160-174包括256KB指令和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，其對(duì)PPE 110可見并且可由軟件直接尋址。
PPE 110可以使用小程序或線程來裝入SPE 120-134，將SPE串在一起以處理復(fù)雜操作中的每個(gè)步驟。例如，結(jié)合了CBE 100的機(jī)頂盒可以裝入程序來讀取DVD并對(duì)視頻和音頻解碼以及進(jìn)行顯示，數(shù)據(jù)可以從SPE傳送到SPE直至其最終輸出顯示。在4GHz，SPE 120-134中的每個(gè)SPE都會(huì)提供理論的32 GFLOPS性能，并且PPE 110具有類似級(jí)別的性能。
存儲(chǔ)器流控制單元(MFC)155-162用作SPU到系統(tǒng)其他部分和其他元件的接口。MFC 155-162提供了在主存儲(chǔ)與本地存儲(chǔ)160-174之間進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸、保護(hù)和同步的主要裝置。處理器中的每個(gè)SPU邏輯上都有一個(gè)MFC。某些實(shí)現(xiàn)可以在多個(gè)SPU之間共享單個(gè)MFC的資源。在這種情況下，所有為MFC定義的工具和命令都必須表現(xiàn)為對(duì)每個(gè)SPU的軟件獨(dú)立。共享MFC的影響限于實(shí)現(xiàn)相關(guān)的工具和命令。
因?yàn)樘峁┙o集成電路器件(如圖1中示出的微處理器或SOC)的高速功能單元(例如SPU 140-154、PPU 116、MIC 198、BIC 197等)的信號(hào)的占空比變化可以導(dǎo)致性能降低或可以限制這些功能單元的功能，所以測(cè)量到這些功能單元的關(guān)鍵信號(hào)的占空比是很重要的，以便驗(yàn)證集成電路器件的正確運(yùn)行。所述示例性實(shí)施例提供了片上器件，所述片上器件用于測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比以及向輸出襯墊提供與該占空比成比例且可容易地由外部實(shí)驗(yàn)室或制造設(shè)備來測(cè)量的輸出?？梢耘c集成電路器件的功能單元或任何要測(cè)量檢測(cè)信號(hào)占空比的位置關(guān)聯(lián)地提供所述片上器件。所述示例性實(shí)施例的裝置可以使用標(biāo)準(zhǔn)互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝中的簡(jiǎn)單電路來實(shí)現(xiàn)，所述電路需要很少的面積且可以在不用時(shí)斷開電源。
圖2是根據(jù)一個(gè)示例性實(shí)施例的占空比測(cè)量裝置的示例性方塊圖。如圖2所示，占空比測(cè)量裝置200包括校準(zhǔn)信號(hào)源210、低通濾波器230、電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240和輸出驅(qū)動(dòng)器250。此外，所述占空比測(cè)量裝置200還從檢測(cè)信號(hào)源220接收檢測(cè)信號(hào)。
校準(zhǔn)信號(hào)源210向低通濾波器230提供多個(gè)校準(zhǔn)電壓信號(hào)，它們用于為電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240生成用于系統(tǒng)(其中提供了所述占空比測(cè)量裝置200)的當(dāng)前運(yùn)行條件的校準(zhǔn)曲線。根據(jù)不同的電壓和由電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240生成的結(jié)果頻率，可以獲得確定電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240的增益特征的校準(zhǔn)曲線。然后，當(dāng)從電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240測(cè)量輸出信號(hào)的頻率時(shí)，可以例如由測(cè)量裝置260來使用此曲線，以便由此為特定的檢測(cè)信號(hào)電壓轉(zhuǎn)換確定電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240的相應(yīng)增益特性。此增益特性然后可以由測(cè)量裝置260使用以計(jì)算檢測(cè)信號(hào)的占空比，如以下將更詳細(xì)地描述的。
在運(yùn)行中，低通濾波器230接收輸入信號(hào)(即，校準(zhǔn)信號(hào)或檢測(cè)信號(hào))并實(shí)質(zhì)上確定輸入信號(hào)的平均電壓。將此平均電壓提供給電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240，所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240將電壓轉(zhuǎn)換為具有與輸入電壓成比例的頻率的輸出信號(hào)。由于常規(guī)片外連接的帶寬的限制，此頻率可能太高而不能輸出到片外。因此，電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240可以用預(yù)定因數(shù)除輸出信號(hào)的頻率，以便使輸出驅(qū)動(dòng)器250驅(qū)動(dòng)的輸出信號(hào)的頻率處于片外連接的帶寬要求之內(nèi)。
輸出驅(qū)動(dòng)器250將輸出信號(hào)從電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240驅(qū)動(dòng)到可由測(cè)量裝置260用來測(cè)量輸出信號(hào)的輸出頻率的輸出襯墊(未示出)。根據(jù)所測(cè)量的輸出頻率，可以使用先前生成的校準(zhǔn)曲線來計(jì)算電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240的增益特性。根據(jù)所測(cè)量的輸出頻率，電壓到頻率轉(zhuǎn)換器240的除數(shù)因數(shù)(如果有)、已知的電源電壓和所計(jì)算的增益特性，可以由測(cè)量裝置260來計(jì)算檢測(cè)信號(hào)的占空比。
集成電路器件中同一或不同點(diǎn)的占空比的多個(gè)計(jì)算可用于確定高速時(shí)鐘信號(hào)的占空比變化，所述變化可以導(dǎo)致集成電路器件功能元件的性能降低或功能受限。因此，通過使用示例性實(shí)施例的片上占空比測(cè)量裝置，可以將占空比信息帶到片外來分析，以便確定遭受性能降低的集成電路器件的區(qū)域并采取適當(dāng)?shù)募m正操作。
圖3是根據(jù)示例性實(shí)施例的占空比測(cè)量裝置300的一個(gè)示例性實(shí)現(xiàn)的示例性電路圖。如圖3所示，在示例性實(shí)施例中，以保留原始檢測(cè)信號(hào)的占空比的方式通過多路復(fù)用器320或其他開關(guān)網(wǎng)絡(luò)將檢測(cè)信號(hào)310作為輸入提供給低通濾波器330。換言之，避免了可用于使占空比失真的因素(例如，來自相鄰線路的耦合、非線性活動(dòng)分量、加載、不平衡的緩沖級(jí)等)以便保留所述占空比。多路復(fù)用器320用于選擇多個(gè)輸入中的一個(gè)輸入以便輸出到低通濾波器330。將來自分壓器390的包括校準(zhǔn)電壓信號(hào)輸入V1-Vn的所述多個(gè)輸入與檢測(cè)信號(hào)310一起提供給多路復(fù)用器320。根據(jù)可以由例如片外測(cè)量器件或裝置生成的控制信號(hào)，多路復(fù)用器320輸出校準(zhǔn)電壓信號(hào)V1-Vn中的一個(gè)信號(hào)或檢測(cè)信號(hào)310。如以下所述，當(dāng)執(zhí)行壓控振蕩器340的校準(zhǔn)時(shí)，將所述校準(zhǔn)電壓信號(hào)V1-Vn輸出到低通濾波器330。例如，當(dāng)占空比測(cè)量裝置300在運(yùn)行的集成電路器件的高速時(shí)鐘信號(hào)(即，檢測(cè)信號(hào)310)上運(yùn)行時(shí)，將檢測(cè)信號(hào)310輸出到低通濾波器330。
低通濾波器(LPF)330可被實(shí)現(xiàn)為單極阻容(RC)網(wǎng)絡(luò)，可以例如簡(jiǎn)單地使用標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝來制造該網(wǎng)絡(luò)。LPF 330實(shí)質(zhì)上確定檢測(cè)信號(hào)310的平均值。LPF 330生成與檢測(cè)信號(hào)的占空比成比例的直流(DC)電壓Vdc，例如，Vdc＝占空比×Vdd，其中Vdd為電源電壓。低通濾波器330的帶寬被設(shè)置得足夠低以生成直流值并適當(dāng)?shù)厮p檢測(cè)信號(hào)310的交流(AC)分量。還設(shè)置所述帶寬以便其不會(huì)如此之低，以致低通濾波器330的時(shí)間常數(shù)將增加用于測(cè)量的不能接受的較長(zhǎng)穩(wěn)定時(shí)間。例如，對(duì)于5Ghz的檢測(cè)信號(hào)310，具有約5MHz帶寬的濾波器充分地減少了檢測(cè)信號(hào)310的交流成分且需要100納秒的穩(wěn)定時(shí)間。
低通濾波器330連接到具有電壓到頻率增益特性KO的壓控振蕩器(VCO)340的控制輸入。在一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中，VCO 340的增益KO為線性的，但是本發(fā)明并不限于此類實(shí)施例，并且可以在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下使用非線性的VCO 340增益特性。
VCO 340將其輸入處的直流電壓轉(zhuǎn)換為對(duì)于將片外通過低帶寬驅(qū)動(dòng)器來說過高的頻率。因此，將VCO 340的輸出連接到分頻器340，分頻器340將VCO輸出頻率降低N倍。得到的降低的輸出信號(hào)被提供給連接到輸出襯墊370的輸出驅(qū)動(dòng)器360，通過襯墊370，可以使用計(jì)頻儀、示波器或其他標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室或制造測(cè)量設(shè)備來測(cè)量輸出信號(hào)。結(jié)果，所述測(cè)量裝置可以從輸出襯墊370上的頻率測(cè)量來計(jì)算檢測(cè)信號(hào)的占空比，例如，占空比＝頻率×N/(Vdd×KO)。
因?yàn)閷?shí)際的VCO顯示了由于工藝、溫度、電源電壓等造成的KO變化并且可以具有許多非線性，所以理解這些變化并能夠在測(cè)量檢測(cè)信號(hào)310的占空比中使用之前校準(zhǔn)VCO的增益特性KO是很重要的?？梢詫⒂糜趫?zhí)行此類校準(zhǔn)的分壓器390連接到多路復(fù)用器320或其他開關(guān)元件，由此將檢測(cè)信號(hào)310連接到低通濾波器330。所述分壓器390提供了多個(gè)可以獨(dú)立連接到所述低通濾波器330的參考電壓V1-Vn?？梢允褂煤?jiǎn)單的分壓等式Vdd×R1/R2來確定電壓值V1-Vn，其中R1是從讀出節(jié)點(diǎn)到地的總阻抗，而R2是從Vdd到地的總阻抗值。所述外部測(cè)量裝置可以使用所述電壓值連同讀出的頻率來計(jì)算VCO的KO值，例如，KO＝頻率/Vn。
通過使用多個(gè)參考電壓和相應(yīng)的頻率測(cè)量，可以確定校準(zhǔn)曲線。圖4示出了可為使用多個(gè)參考電壓的示例性實(shí)施例的VCO產(chǎn)生的示例性校準(zhǔn)曲線。如圖4所示，所述曲線可以是非線性的，但是可以使用線性近似算法對(duì)其進(jìn)行近似。使用示例性實(shí)施例的裝置產(chǎn)生的校準(zhǔn)曲線可以與實(shí)際頻率測(cè)量一起用來確定VCO的KO值，例如，KO＝(fb-fa)/(Vb-Va)，其中fa＜fx＜fb。
再次參考圖3，除了以上所述之外，雙向襯墊380和開關(guān)385可被連接到VCO 340的輸入。在不使用雙向襯墊380時(shí)，可以包括開關(guān)385以降低噪聲拾取。所述雙向襯墊380可以在需要考慮電阻容差時(shí)(如果電阻未適當(dāng)匹配，電壓V1到Vn將出錯(cuò))用于測(cè)量在校準(zhǔn)期間施加到VCO 340的電壓。所述雙向襯墊380還可用于在校準(zhǔn)粒度過大時(shí)將外部電壓直接施加到低通濾波器330(濾波器電阻Rfilt的兩側(cè))。也就是說，如果因?yàn)樾?zhǔn)粒度過大而需要校準(zhǔn)曲線的其他點(diǎn)時(shí)，可以通過雙向襯墊380提供可用于生成校準(zhǔn)曲線上新的點(diǎn)的不同電壓，以便在校準(zhǔn)曲線上的各點(diǎn)間提供更小的粒度。
因此，借助示例性實(shí)施例的裝置，電源電壓Vdd和頻率約數(shù)N為已知，并可以測(cè)量并知道來自驅(qū)動(dòng)器360的輸出信號(hào)的頻率。根據(jù)所測(cè)量的頻率，可以使用校準(zhǔn)曲線上的兩個(gè)點(diǎn)來如上所述使用等式KO＝(fb-fa)/(Vb-Va)來內(nèi)插VCO 340的增益特性KO。因此，用于計(jì)算占空比的等式(占空比＝頻率×N/(Vdd×KO))的所有值都已知。因此，使用示例性實(shí)施例的裝置，可以為輸出片外生成并改變與檢測(cè)信號(hào)的電壓成比例的頻率信號(hào)。根據(jù)該頻率信號(hào)，片外或外部測(cè)量裝置可以準(zhǔn)確地計(jì)算檢測(cè)信號(hào)310的占空比。
圖5A和5B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為50％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖。圖6A和6B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為10％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖。圖7A和7B是示出了使用一個(gè)示例性實(shí)施例的裝置且占空比為90％的VCO的控制電壓和檢測(cè)信號(hào)的輸出頻率的示例圖。如圖4A-6B中所示，示例性實(shí)施例的占空比測(cè)量裝置的頻率輸出與三個(gè)代表性占空比的檢測(cè)信號(hào)310的電壓成比例。所有占空比都存在此相同的比例性，并且因此可以使用示例性實(shí)施例的頻率輸出來準(zhǔn)確計(jì)算檢測(cè)信號(hào)310的占空比。
圖8是概述當(dāng)測(cè)量占空比時(shí)一個(gè)示例性實(shí)施例的示例性操作的流程圖。應(yīng)當(dāng)理解，所述流程圖的每個(gè)塊以及所述流程圖的塊的組合都可以由計(jì)算機(jī)程序指令來實(shí)現(xiàn)?？梢詫⑦@些計(jì)算機(jī)程序指令提供給處理器或其他可編程數(shù)據(jù)處理裝置以產(chǎn)生機(jī)器，以便在所述處理器或其他可編程數(shù)據(jù)處理裝置上執(zhí)行的指令將創(chuàng)建用于實(shí)現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)流程圖塊中指定的功能的裝置。這些計(jì)算機(jī)程序指令也可以被存儲(chǔ)在引導(dǎo)處理器或其他可編程數(shù)據(jù)處理裝置以特定方式執(zhí)行功能的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)介質(zhì)中，以便存儲(chǔ)在所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)器或存儲(chǔ)介質(zhì)中的所述指令產(chǎn)生一件包括實(shí)現(xiàn)所述一個(gè)或多個(gè)流程圖塊中指定的功能的指令裝置的制品。
相應(yīng)地，流程圖的多個(gè)塊支持用于執(zhí)行指定功能的裝置的組合、用于執(zhí)行指定功能的步驟的組合和用于執(zhí)行指定功能的程序指令裝置。還應(yīng)理解，流程圖中的每個(gè)塊和流程圖中的塊的組合可以由執(zhí)行指定功能或步驟的基于硬件的專用計(jì)算機(jī)系統(tǒng)來實(shí)現(xiàn)，或者通過專用硬件和計(jì)算機(jī)指令的組合來實(shí)現(xiàn)。
如圖8所示，所述操作由校準(zhǔn)電壓到頻率轉(zhuǎn)換器開始(步驟810)。如上所述，這包括向低通濾波器提供多個(gè)參考電壓及將低通濾波器的輸出電壓轉(zhuǎn)換為經(jīng)過測(cè)量并用于生成電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的校準(zhǔn)曲線的頻率。此后，將檢測(cè)信號(hào)提供給低通濾波器(步驟820)，所述低通濾波器將衰減檢測(cè)信號(hào)的交流部分并輸出直流電壓信號(hào)到電壓到頻率轉(zhuǎn)換器(步驟830)。將所述直流電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為頻率信號(hào)(步驟840)。
然后，可以由分頻器將結(jié)果頻率信號(hào)分頻，以將頻率信號(hào)置于適于輸出片外的范圍(步驟850)。將分頻的頻率信號(hào)提供給輸出驅(qū)動(dòng)器，輸出驅(qū)動(dòng)器將分頻的頻率信號(hào)驅(qū)動(dòng)到輸出襯墊(步驟860)。然后，片外的外部測(cè)量裝置可用于測(cè)量分頻的頻率信號(hào)的頻率(步驟870)，并且可以根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算所述檢測(cè)信號(hào)的占空比(步驟880)。所述操作然后終止。
因此，示例性實(shí)施例提供了用于測(cè)量諸如微處理器或片上系統(tǒng)(SOC)之類的集成電路器件的占空比的裝置。所述示例性實(shí)施例的裝置生成與占空比成比例且可以用普通的實(shí)驗(yàn)室或制造設(shè)備測(cè)量的頻率。所述示例性實(shí)施例的裝置可以使用標(biāo)準(zhǔn)互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)工藝中的簡(jiǎn)單電路來實(shí)現(xiàn)，它只需要很小的面積且在不用時(shí)可以斷開電源。
如上所述的電路可以是集成電路芯片設(shè)計(jì)的一部分。芯片設(shè)計(jì)可以使用圖形計(jì)算機(jī)編程語(yǔ)言創(chuàng)建并存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)介質(zhì)(例如，盤、磁帶、物理硬驅(qū)動(dòng)器或諸如存儲(chǔ)存取網(wǎng)絡(luò)中的虛擬硬驅(qū)動(dòng)器)中。如果設(shè)計(jì)者未制造芯片或用于制造芯片的光刻掩模，則設(shè)計(jì)者通過物理方法(例如，提供存儲(chǔ)設(shè)計(jì)的存儲(chǔ)介質(zhì)的副本)或電子方法(例如，通過互聯(lián)網(wǎng))直接或間接地將結(jié)果設(shè)計(jì)傳輸?shù)酱祟悓?shí)體。然后將存儲(chǔ)的設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)換為適當(dāng)?shù)母袷?例如，GDSII)以便制造光刻掩模，它通常包括要在晶片上形成的所述芯片設(shè)計(jì)的多個(gè)副本。所述光刻掩模用于限定要蝕刻或要以其他方式處理的晶片(和/或其上的層)的區(qū)域。
制造者可以以原始晶片形式(即，作為具有多個(gè)未封裝芯片的單晶片)、作為裸小片或以封裝的形式分發(fā)所得到的集成電路芯片。在后者的情況中，以單芯片封裝(例如，引線固定到母板的塑料載體或其他更高級(jí)別的載體)或多芯片封裝(例如，具有一個(gè)或兩個(gè)表面互連或掩埋互連的陶瓷載體)來安裝芯片。在任何情況下，所述芯片然后都作為(a)中間產(chǎn)品(如母板)或(b)最終產(chǎn)品的一部分與其他芯片、分離電路元件和/或其他信號(hào)處理裝置集成。最終產(chǎn)品可以是任何包括集成電路芯片的產(chǎn)品，范圍從玩具和其他低端應(yīng)用到具有顯示器、鍵盤或其他輸入設(shè)備及中央處理器的高級(jí)計(jì)算機(jī)產(chǎn)品。此外，其中可以提供集成電路芯片的終端產(chǎn)品可以包括游戲機(jī)、游戲控柄、手持計(jì)算設(shè)備、個(gè)人數(shù)字助理、諸如無線電話之類的通訊設(shè)備、膝上計(jì)算設(shè)備、臺(tái)式計(jì)算設(shè)備、服務(wù)器計(jì)算設(shè)備、便攜式計(jì)算設(shè)備或任何其他計(jì)算設(shè)備。
出于示例和說明目的給出了對(duì)示例性實(shí)施例的描述，并且所述描述并非旨在是窮舉的或是將本發(fā)明限于所公開的形式。對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員來說，許多修改和變化都將是顯而易見的。實(shí)施例的選擇和描述是為了最佳地解釋本發(fā)明的原理、實(shí)際應(yīng)用并且當(dāng)適合于所構(gòu)想的特定使用時(shí)，使得本領(lǐng)域的其他技術(shù)人員能夠理解本發(fā)明的具有各種修改的各種實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種在數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中用于測(cè)量檢測(cè)信號(hào)的占空比的方法，所述方法包括過濾輸入信號(hào)以生成輸出電壓信號(hào)；將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)；測(cè)量所述頻率信號(hào)的頻率；以及根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算所述輸入信號(hào)的占空比。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，還包括接收多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)和檢測(cè)信號(hào)；選擇所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)或所述檢測(cè)信號(hào)作為所述輸入信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，其中所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)是用于校準(zhǔn)電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的參考電壓信號(hào)，所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，其中在執(zhí)行將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的校準(zhǔn)時(shí)，選擇所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)作為所述輸入信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4的方法，其中校準(zhǔn)所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器包括生成為所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)將輸入電壓映射到輸出頻率的校準(zhǔn)曲線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中所述輸出電壓信號(hào)代表所述輸入信號(hào)的平均電壓。
7.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，還包括通過雙向襯墊從所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)外部的裝置接收作為所述輸入信號(hào)的輸入電壓信號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，還包括用預(yù)定因數(shù)除所述頻率信號(hào)以使所述頻率信號(hào)處于帶寬要求之內(nèi)以便將所述頻率信號(hào)提供給用于測(cè)量所述頻率信號(hào)的頻率的測(cè)量裝置。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，還包括在所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)中的同一或不同點(diǎn)處重復(fù)所述過濾、轉(zhuǎn)換、測(cè)量及計(jì)算操作以確定作為所述輸入信號(hào)提供的高速時(shí)鐘信號(hào)的占空比變化。
10.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其中在集成電路芯片上執(zhí)行所述過濾和轉(zhuǎn)換操作，而在所述集成電路芯片外部執(zhí)行所述測(cè)量和計(jì)算操作。
11.一種用于測(cè)量集成電路器件中的檢測(cè)信號(hào)的占空比的裝置，所述裝置包括濾波器，其中所述濾波器接收輸入信號(hào)并輸出輸出電壓信號(hào)；連接到所述濾波器的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器，其中所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)；以及輸出驅(qū)動(dòng)器，所述輸出驅(qū)動(dòng)器將所述頻率信號(hào)驅(qū)動(dòng)到與所述輸出驅(qū)動(dòng)器相連的輸出襯墊，其中在所述集成電路器件外部的測(cè)量裝置測(cè)量所述輸出襯墊處的所述頻率信號(hào)的頻率并根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算所述檢測(cè)信號(hào)的占空比。
12.根據(jù)權(quán)利要求11的裝置，還包括連接到所述濾波器的輸入的多路復(fù)用器，其中所述多路復(fù)用器接收多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)和檢測(cè)信號(hào)，并且選擇所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)中的一個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)或所述檢測(cè)信號(hào)來輸出到所述濾波器。
13.根據(jù)權(quán)利要求12的裝置，其中所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)是用于校準(zhǔn)所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的參考電壓信號(hào)。
14.根據(jù)權(quán)利要求13的裝置，其中通過生成為所述多個(gè)校準(zhǔn)信號(hào)將輸入電壓映射到輸出頻率的校準(zhǔn)曲線來校準(zhǔn)所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器。
15.根據(jù)權(quán)利要求11的裝置，還包括連接到所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器的輸入的雙向襯墊，其中通過所述雙向襯墊從所述裝置外部的設(shè)備接收作為所述輸入信號(hào)的輸入電壓信號(hào)。
16.根據(jù)權(quán)利要求11的裝置，其中所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器包括壓控振蕩器。
17.根據(jù)權(quán)利要求16的裝置，其中所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器還包括連接到所述壓控振蕩器的輸出并且將所述壓控振蕩器輸出的頻率信號(hào)的頻率除以預(yù)定量的分頻器。
18.根據(jù)權(quán)利要求11的裝置，其中所述裝置是玩具、游戲機(jī)、游戲控柄、手持計(jì)算設(shè)備、個(gè)人數(shù)字助理、通訊設(shè)備、無線電話、膝上計(jì)算設(shè)備、臺(tái)式計(jì)算設(shè)備、服務(wù)器計(jì)算設(shè)備或便攜式計(jì)算設(shè)備的一部分。
19.根據(jù)權(quán)利要求11的裝置，其中所述裝置是具有至少兩個(gè)擁有不同類型指令集的異構(gòu)處理器的多處理器片上系統(tǒng)的一部分。
20.一種片上系統(tǒng)，所述片上系統(tǒng)包括控制處理器；至少一個(gè)連接到所述控制處理器的協(xié)處理器；以及連接到一個(gè)或多個(gè)所述控制處理器或所述至少一個(gè)協(xié)處理器的占空比測(cè)量裝置，其中所述占空比測(cè)量裝置包括濾波器，其中所述濾波器從所述控制處理器或所述協(xié)處理器其中之一接收輸入信號(hào)并輸出輸出電壓信號(hào)；連接到所述濾波器的電壓到頻率轉(zhuǎn)換器，其中所述電壓到頻率轉(zhuǎn)換器將所述輸出電壓信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述輸出電壓信號(hào)成比例的頻率信號(hào)；以及輸出驅(qū)動(dòng)器，所述輸出驅(qū)動(dòng)器將所述頻率信號(hào)驅(qū)動(dòng)到與所述輸出驅(qū)動(dòng)器相連的輸出襯墊，其中在集成電路器件外部的測(cè)量裝置測(cè)量所述輸出襯墊處的所述頻率信號(hào)的頻率并根據(jù)所測(cè)量的頻率來計(jì)算檢測(cè)信號(hào)的占空比。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種用于測(cè)量集成電路器件(如微處理器或片上系統(tǒng))中的檢測(cè)信號(hào)的占空比的裝置。所述裝置生成與所述占空比成比例且可以用普通實(shí)驗(yàn)室或制造設(shè)備測(cè)量的頻率。所述裝置可以使用標(biāo)準(zhǔn)互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體工藝中的簡(jiǎn)單電路來實(shí)現(xiàn)，它只需要很小的面積且在不用時(shí)可以斷開電源。所述裝置可以包括例如低通濾波器、用于提供校準(zhǔn)參考電壓信號(hào)的分壓器、電壓到頻率轉(zhuǎn)換器、用于分頻頻率信號(hào)輸出以便所述信號(hào)頻率處于預(yù)定范圍內(nèi)的分頻器以及輸出驅(qū)動(dòng)器和輸出襯墊。根據(jù)所述頻率輸出信號(hào)，可以使用片外設(shè)備來計(jì)算所述檢測(cè)信號(hào)的占空比。
文檔編號(hào)G06F11/00GK1955936SQ200610135798
公開日2007年5月2日 申請(qǐng)日期2006年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月27日
發(fā)明者D·W·伯斯特勒, E·艾呂, 齊潔明 申請(qǐng)人:國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司