專利名稱：一種鍵盤測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及儀器儀表測試領(lǐng)域，尤其是關(guān)于一種測試電腦鍵盤的鍵盤測試儀。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的鍵盤測試儀是通過按動待測鍵盤的每個按鍵來完成對鍵盤的測試，該測試方法的測試原理是用待測鍵盤IC取代已經(jīng)與PC機(jī)連接好的鍵盤的電路板，然后通過測試員逐一按動該待測鍵盤IC上的按鍵進(jìn)行鍵盤測試，PC機(jī)用于顯示鍵盤按鍵的測試結(jié)果，該種方式的缺點(diǎn)是由于現(xiàn)有的測試方式是通過人工手動操作完成鍵盤的按鍵測試，其測試速度較慢，測試效率較低。同時，長時間反復(fù)按動鍵盤也使得測試員比較疲勞，容易出現(xiàn)測試誤差。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種測試速度較快，測試效率較高且誤差較小的鍵盤測試儀。
為解決上述問題，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是一種鍵盤測試儀，該鍵盤測試儀包括單片機(jī)控制模塊、分別與所述單片機(jī)控制模塊連接的電源穩(wěn)壓濾波模塊及通道選通模塊；所述電源穩(wěn)壓濾波模塊用于給單片機(jī)控制模塊提供工作電源并濾除外界電源的雜波，所述通道選通模塊與待測鍵盤相連接；單片機(jī)控制模塊控制通道選通模塊上不同的通道選通，實(shí)現(xiàn)對待測鍵盤上不同按鍵的測試。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的優(yōu)勢在于本實(shí)用新型所述鍵盤測試儀是通過利用單片機(jī)及其外圍電路模擬人工按動電腦鍵盤的動作，單片機(jī)根據(jù)PS/2通訊協(xié)議讀取由待測鍵盤反饋的信號，通過對比鍵盤按鍵信號與該反饋信號實(shí)現(xiàn)鍵盤測試的目的，所有的工作均由單片機(jī)及其外圍電路模擬實(shí)現(xiàn)，無須人工操作，測試速度較快、測試效率較高，同時整個測試過程都是單片機(jī)進(jìn)行的，其測試精度相對于現(xiàn)有的人工手動測試方式來說也較高。


圖1是本實(shí)用新型鍵盤測試儀各模塊連接工作原理圖；圖2是本實(shí)用新型鍵盤測試儀電路原理圖；圖3是本實(shí)用新型鍵盤測試儀工作流程圖；圖4是本實(shí)用新型鍵盤測試儀8位模擬開關(guān)芯片的邏輯關(guān)系示意圖；圖5是本實(shí)用新型鍵盤測試儀16位模擬開關(guān)芯片的邏輯關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合說明書附圖對本實(shí)用新型鍵盤測試儀工作原理具體說明。
現(xiàn)有的電腦鍵盤在設(shè)計上是將其作為矩陣式行列觸發(fā)開關(guān)，當(dāng)按下電腦鍵盤上的一個按鍵，該按鍵所對應(yīng)的行與列即被選通，此時該行列選通信號通過鍵盤IC的編碼按照PS/2通信協(xié)議傳輸?shù)脚c鍵盤連接的電腦，電腦鍵盤的驅(qū)動程序再按照PS/2通訊協(xié)議進(jìn)行解碼，這樣，電腦就知道用戶按動的是鍵盤上的哪一個按鍵。本實(shí)用新型鍵盤測試儀正是基于這樣的原理，利用單片機(jī)及其外圍電路模擬人工按動鍵盤的動作，然后單片機(jī)再根據(jù)PS/2通訊協(xié)議讀取鍵盤IC返回的信號，最后通過判斷該按鍵信號與IC返回的信號是否對應(yīng)即可判斷出待測鍵盤是否正常。
如圖1所示，本實(shí)用新型所述鍵盤測試儀包括電源穩(wěn)壓濾波模塊、單片機(jī)控制模塊及通道選通模塊。本實(shí)用新型鍵盤測試儀工作電壓為5V，由于外界所提供的5V電壓雜波較大，因此上述電源穩(wěn)壓濾波模塊在為鍵盤測試儀提供工作電壓的同時還起到濾波的作用；該電源穩(wěn)壓濾波模塊與單片機(jī)控制模塊連通，所述單片機(jī)控制模塊與通道選擇模塊連接，用于控制該通道選通模塊的選通；在本說明書介紹的實(shí)施例中，所述單片機(jī)控制模塊采用的是Mega8單片機(jī)芯片作為主控MCU。本實(shí)用新型所述鍵盤測試儀進(jìn)一步包含一測試夾具模塊及一LCD顯示模塊，所述測試夾具模塊實(shí)現(xiàn)該鍵盤測試儀與待測鍵盤的連通，實(shí)現(xiàn)對待測鍵盤的測試；所述LCD顯示模塊用于實(shí)現(xiàn)所述鍵盤測試儀將其測試的結(jié)果顯示在與其連通的電腦顯示屏上。
圖2是本實(shí)用新型鍵盤測試儀電路原理圖，本實(shí)用新型鍵盤測試儀電路包括一單片機(jī)主控MCU、一片8位通道選通芯片及兩片16位通道選通芯片。其中，在本說明書介紹的鍵盤測試儀實(shí)施方式中，所述單片機(jī)主控MCU是Mega8單片機(jī)芯片、8位通道選通芯片是CD4051、16位通道選通芯片是CD4067，如圖1所示Mega8單片機(jī)MCU通過控制上述3片通道選通的通斷，模擬現(xiàn)有測試方法中測試員手動按鍵的過程，然后讀取待測試鍵盤所返回的數(shù)據(jù)，通過將該返回數(shù)據(jù)與正確值進(jìn)行對比對測試結(jié)果進(jìn)行判斷，達(dá)到鍵盤測試的目的。
圖2中key0是復(fù)位開關(guān)，當(dāng)鍵盤測試儀工作異常時，通過按動該復(fù)位開關(guān)key0進(jìn)行測試儀復(fù)位；Mega8單片機(jī)芯片的引腳23、24與25連接上述8位通道選通芯片CD4051的引腳9、10及11，用于控制該8位通道選通芯片相應(yīng)的通道選通；Mega8單片機(jī)芯片的引腳14連接測試狀態(tài)燈D2，用于反映當(dāng)前正在進(jìn)行的測試狀態(tài)；Mega8單片機(jī)芯片的引腳15、16、17和18與上述兩片16位通道選通芯片CD4067的A、B、C、D端相連。控制該兩片16位通道選通芯片相應(yīng)的通道選通；Mega8單片機(jī)芯片的引腳9和19分別連接上述兩片16位通道選通芯片的使能端INHIBIT，其中引腳9與JP4的INHIBIT相連，引腳19與JP3的INHIBIT相連，使能端INHIBIT選通的16位通道選通芯片CD4067工作；Mega8單片機(jī)芯片的引腳3是DATA數(shù)據(jù)輸入端、引腳4是時鐘CLOCK輸入端，該兩個端口用于對待測鍵盤進(jìn)行觸發(fā)控制；引腳13與key1輕觸開關(guān)連接，用于啟動鍵盤測試。
上述8位通道選通芯片CD4051的R0～R7引腳、兩片16位通道選通芯片CD4067的C0～C17引腳與待測鍵盤對應(yīng)按鍵連接；D3為測試儀電源指示燈、D1是測試狀態(tài)指示燈、D2是測試結(jié)果指示燈。當(dāng)key1輕觸開關(guān)按下，D1和D2點(diǎn)亮，表示測試正在進(jìn)行，測試完成后，如果待測鍵盤合格，則D1和D2同時熄滅，如果待測鍵盤不合格，則D1熄滅，D2保持點(diǎn)亮狀態(tài)。
圖3是本實(shí)用新型鍵盤測試儀工作流程圖，圖4是所述8位通道選通芯片CD4051的邏輯關(guān)系圖，從圖4中可以看到，CD4051具有3個通道控制端，當(dāng)所述使能端INHIBIT為低電平時，CD4051的第6引腳inhibit端始終接地，A、B、C分別設(shè)置成不同電平(A、B、C即為圖2所示的CD4051的引腳9、10、11)，上述R0～R7的8個通道中相應(yīng)的通道選通；圖5是所述16位通道選通CD4067芯片的邏輯關(guān)系圖，該16位通道選通芯片CD4067具有4個通道控制端，即圖2所示的CD4067芯片的A、B、C、D控制端，當(dāng)所述使能端INHIBIT為低電平(即為0)時，上述A、B、C、D分別設(shè)置不同電平，上述C0～C17的16個通道中相應(yīng)的通道選通。
在本說明書介紹的鍵盤測試儀實(shí)施方式中，測試儀設(shè)計的一些參數(shù)如下測試儀工作電壓+5V；測試儀待機(jī)電流15mA；測試儀最大工作電流30mA；測試儀整機(jī)功率＜0.2W；測試儀測試周期6s以上所述僅是本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型原理的前提下，還可以作出若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種鍵盤測試儀，其特征在于該鍵盤測試儀包括單片機(jī)控制模塊、分別與所述單片機(jī)控制模塊連接的電源穩(wěn)壓濾波模塊及通道選通模塊；所述電源穩(wěn)壓濾波模塊用于給單片機(jī)控制模塊提供工作電源并濾除外界電源的雜波，所述通道選通模塊與待測鍵盤相連接；單片機(jī)控制模塊控制通道選通模塊上不同的通道選通，實(shí)現(xiàn)對待測鍵盤上不同按鍵的測試。
2.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試儀，其特征在于所述鍵盤測試儀進(jìn)一步包括一測試夾具模塊及一LCD顯示模塊；該測試夾具模塊與待測鍵盤的連接，實(shí)現(xiàn)所述鍵盤測試儀對待測鍵盤的測試；LCD顯示模塊用于實(shí)現(xiàn)所述鍵盤測試儀將其測試的結(jié)果顯示在與其連通的電腦顯示屏上。
3.如權(quán)利要求1所述的鍵盤測試儀，其特征在于所述通道選通模塊包括8位通道選通模塊及16位通道選通模塊。
4.如權(quán)利要求3所述的鍵盤測試儀，其特征在于所述8位通道選通模塊是CD4051芯片；所述16位通道選通模塊是CD4067芯片。
5.如權(quán)利要求1至3任一項所述的鍵盤測試儀，其特征在于所述單片機(jī)控制模塊是Mega8芯片。
專利摘要一種鍵盤測試儀，該鍵盤測試儀包括單片機(jī)控制模塊、分別與所述單片機(jī)控制模塊連接的電源穩(wěn)壓濾波模塊及通道選通模塊；所述電源穩(wěn)壓濾波模塊用于給單片機(jī)控制模塊提供工作電源并濾除外界電源的雜波，所述通道選通模塊與待測鍵盤相連接；單片機(jī)控制模塊控制通道選通模塊上不同的通道選通，實(shí)現(xiàn)對待測鍵盤上不同按鍵的測試。該鍵盤測試儀是通過利用單片機(jī)及其外圍電路模擬人工按動電腦鍵盤的動作，單片機(jī)根據(jù)PS/2通訊協(xié)議讀取由待測鍵盤反饋的信號，通過對比鍵盤按鍵信號與該反饋信號實(shí)現(xiàn)鍵盤測試的目的，所有的工作均由單片機(jī)及其外圍電路模擬實(shí)現(xiàn)，無須人工操作，測試速度較快、測試效率較高。
文檔編號G06F11/26GK2888534SQ200620013680
公開日2007年4月11日 申請日期2006年4月19日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月19日
發(fā)明者王英廣, 李科 申請人:深圳安博電子有限公司