專利名稱：用于光存儲(chǔ)介質(zhì)的分析的裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明的各方面涉及用于分析光存儲(chǔ)介質(zhì)的表面的裝置和方法。 本發(fā)明的各方面還涉及確定給定的各種可能類型的光存儲(chǔ)介質(zhì) ("OSM")是否可以在各種可能類型的光存儲(chǔ)裝置("OSD")中處理的裝 置和方法，該光存儲(chǔ)裝置可以基于對(duì)會(huì)妨礙或抑制處理的各種可能缺 陷的檢測(cè)進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取或?qū)?shù)據(jù)寫入到OSM上。根據(jù)本發(fā)明的各方 面的各種方法和裝置可以結(jié)合到現(xiàn)有的OSD中，可以結(jié)合到其主要 目的為分析OSM的獨(dú)立設(shè)備中，并且可在其它實(shí)施例中呈現(xiàn)。
背景
信息存儲(chǔ)工業(yè)在市場(chǎng)需求的驅(qū)動(dòng)下不斷增加存儲(chǔ)信息的裝置的 容量和性能。其中的一個(gè)需求是發(fā)行信息(空間通信(spatial communication))到各個(gè)位置并保存之后將被存取的信息(臨時(shí)信息)。 一種用于信息存儲(chǔ)的流行應(yīng)用是視頻信息的存儲(chǔ)，例如電影、電視節(jié)
目和家庭視頻。還有另一種流行應(yīng)用是音樂信息的存儲(chǔ)。另一種應(yīng)用 是軟件到終端用戶的存儲(chǔ)和發(fā)行。在這種市場(chǎng)需求的驅(qū)動(dòng)下并反應(yīng)該 需求，市場(chǎng)已經(jīng)引入了各種存儲(chǔ)格式來滿足各種需要。
有大量存儲(chǔ)信息的方法，例如通過印刷品(例如書和雜志)、基于
半導(dǎo)體的RAM和FLASH存儲(chǔ)器、基于磁的MRAM或磁泡存儲(chǔ)器、 基于磁的Winchester型磁盤驅(qū)動(dòng)器、使用相變或預(yù)制或"燒錄"介質(zhì) 的光學(xué)存儲(chǔ)以及全息存儲(chǔ)。每種類型都有特定的優(yōu)勢(shì)和劣勢(shì)，隨著時(shí) 間的推移，特定類型的存儲(chǔ)趨于支配特定的應(yīng)用。
光盤("CD")作為OSM的一種類型于20世紀(jì)70年代被引入，并 且由于延續(xù)了當(dāng)時(shí)的最新技術(shù)(盒式錄音帶和LD唱片)的特定優(yōu)勢(shì)而 迅速成為存儲(chǔ)和發(fā)行音樂信息的流行方式。由于延續(xù)了當(dāng)時(shí)的最新技 術(shù)(軟盤)的特定優(yōu)勢(shì)，CD介質(zhì)還被采用來存儲(chǔ)和發(fā)行計(jì)算機(jī)軟件。介 質(zhì)和CD記錄器/播放器技術(shù)，各類型回讀設(shè)備的進(jìn)一步發(fā)展，允許公 司和用戶錄制他們自己的CD，使用可用的若干不同的格式存儲(chǔ)從音 樂和視頻到照片和圖像、到軟件和數(shù)據(jù)的多種類型的信息。CD的容 量不同但平均為每張碟片600MB左右。這對(duì)于很多應(yīng)用來說是足夠 的，但是不足以存儲(chǔ)沒有大幅度壓縮的電影。
DVD(有時(shí)稱作"數(shù)字化視頻光盤"或"數(shù)字化通用光盤"，雖 然首字母縮略詞的確切展開(如果有的話)通常不一致)作為另 一種類
型的OSM于20世紀(jì)90年代被引入并迅速成為用于發(fā)行例如電影和 額外花絮的預(yù)錄視頻信息的流行手段。DVD格式還允許存儲(chǔ)和發(fā)行軟 件和其它形式的數(shù)據(jù)。DVD介質(zhì)和作為另一種類型的OSD的DVD 記錄器/播放器技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展允許公司和用戶錄制他們自己的 DVD來存儲(chǔ)從音樂和視頻到照片和圖像、到軟件和數(shù)據(jù)的多種類型的 信息。DVD的容量是不同的， 一些DVD具有大約每張DVD 4.7GB 的容量。這足夠存儲(chǔ)完整長(zhǎng)度的電影花絮加上其它用戶感興趣和有益 的信息。DVD技術(shù)在市場(chǎng)中的采用是我們的時(shí)代的最快速的市場(chǎng)滲透之—。
現(xiàn)在正在出現(xiàn)在光存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)甚至更多的數(shù)據(jù)的新技術(shù)。例 如，兩種新的相互竟?fàn)幍母袷?也可出現(xiàn)其它格式)被流行地稱作藍(lán)光
和HD-DVD。這些格式每張碟片均可存儲(chǔ)超過15Gbyte。這使得HDTV 格式的電影能夠在一張單獨(dú)的碟片上存儲(chǔ)和發(fā)行。使用全息原理的信 息存儲(chǔ)也在開發(fā)中。在這個(gè)竟?fàn)幍氖袌?chǎng)中無疑將不時(shí)引入其它改進(jìn)和 格式。
一般意義上來講，大多數(shù)光學(xué)存儲(chǔ)方法的物理結(jié)構(gòu)和操作原理是 相似的。

圖1為OSM 10的部分側(cè)視剖面圖。為了照射的目的但不限 于照射，二進(jìn)制數(shù)據(jù)通過記錄層的高度差(一般稱作"平面"12和"凹 洞，，14)被編碼并記錄到碟片上。數(shù)據(jù)也可用材料的相變或其它方法記 錄。OSM包括丙烯酸或其它材料的基底16。在基于相變OSM中，基 底中包括適當(dāng)材料的層。在使用高度差的OSM中，在基底中對(duì)凹洞 和平面進(jìn)行編碼。在基底上應(yīng)用諸如聚碳酸酯的保護(hù)涂層18。涂層至 少對(duì)于用來從凹洞和平面讀取編碼數(shù)據(jù)的激光器的波長(zhǎng)是光學(xué)透明 的。對(duì)凹洞14和平面12上的基底也可應(yīng)用鍍鋁層20。鍍鋁層改善來 自凹洞和平面的激光的反射。標(biāo)簽22可位于基底16上。
激光器用來通過檢測(cè)反射光中的變化掃描盤并回讀數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)存 儲(chǔ)在顯微凹槽中或圍繞盤螺旋延展的"磁道"中。OSD使用激光光束 掃描這些凹槽，其中沿凹槽對(duì)齊的小的反射凸塊(平面)和不反射洞(凹 洞)對(duì)激光信號(hào)進(jìn)行調(diào)整，該信號(hào)在適當(dāng)解碼時(shí)表示O和1的數(shù)字信息。
DVD技術(shù)與CD技術(shù)相比能將更小的"凹洞"寫入到可記錄介質(zhì) 上。更小的凹洞意味著驅(qū)動(dòng)器的激光必須產(chǎn)生更小的點(diǎn)。DVD技術(shù)通 過將激光波長(zhǎng)從在標(biāo)準(zhǔn)CD驅(qū)動(dòng)器中使用的780納米("nm"的紅外光 減小到大約625-650nm的紅光來實(shí)現(xiàn)此目的。
更小的數(shù)據(jù)凹洞允許每條數(shù)據(jù)磁道上更多的凹洞。單層 DVD-RAM的最小凹洞長(zhǎng)度為0.4微米，相比之下CD為0.834微米。 另夕卜，DVD磁道靠得更近，允許每張碟片更多的磁道。因此，磁道間 距(track pitch)——從螺旋信息或"磁道"的一部分的中心到磁道的鄰近部分的距離——更小。在3.95GB的DVD-R上，磁道間距為0.8微 米；CD磁道間距為1.6微米。在4.7GB的DVD-R上，甚至更小的0.74 微米的磁道間距幫助提高存儲(chǔ)容量。
這些狹窄的磁道要求特殊的激光器來讀取和寫入一_其不能讀 取CD-ROM、 CD-R、 CD-RW、或音頻CD。 DVD-ROM驅(qū)動(dòng)器生產(chǎn) 者通過在他們的驅(qū)動(dòng)器中放置兩個(gè)激光器解決了此問題 一個(gè)用于 DVD,另一個(gè)用于CD。為了便于激光器在更小的凹洞上聚焦，DVD 介質(zhì)比CD使用了更薄的塑料基底。此外，DVD介質(zhì)比CD介質(zhì)具有 更薄的保護(hù)涂層，激光必須經(jīng)過該涂層到達(dá)凹洞來記錄或讀取數(shù)據(jù)。 這種減少本源地導(dǎo)致盤厚度為0.6mm—一是CD厚度的一半。甚至是 單面的DVD具有兩層基底，雖然有一層不能保持?jǐn)?shù)據(jù)。帶有兩個(gè)數(shù) 據(jù)表面的雙面盤必須翻轉(zhuǎn)來讀取每個(gè)面上的數(shù)據(jù)。在其它OSM中， 信息可以存儲(chǔ)為介質(zhì)中、染料變化中或者沿磁發(fā)電機(jī)-光存儲(chǔ)介質(zhì)的磁 化方向上的相變，以及其他形式。
在各種OSM中，數(shù)據(jù)層由基本上光學(xué)透明的保護(hù)表面18保護(hù)。 在CD和DVD中，其典型地為聚碳酸酯材料。當(dāng)前光存儲(chǔ)介質(zhì)用戶 面對(duì)的一個(gè)重大問題是OSM保護(hù)面的損害。這會(huì)散射或改變到點(diǎn)的 反射光或透射光的特性，使數(shù)據(jù)不能再被讀取或?qū)懭牖騼烧呓圆荒堋?取決于OSD， OSM糾錯(cuò)編碼("ECC")可處理特定尺寸的錯(cuò)誤，但大 于該閥值的錯(cuò)誤導(dǎo)致OSD不能穿過該損害來讀取或?qū)懭?。在DVD播 放器中，這會(huì)被表現(xiàn)為跳幀、卡碟或甚至不能識(shí)別DVD的存在。在 CD播放器中，其本身會(huì)表現(xiàn)為刺耳且厭煩的啼噠聲、跳幀、卡碟或 甚至不能識(shí)別CD的存在。這種損害的頻率逐年增長(zhǎng)，因?yàn)镺SM的 快速市場(chǎng)滲透已經(jīng)延伸到了相對(duì)不成熟的用戶(例如，兒童)，他們不 會(huì)適度小心地對(duì)待脆弱的保護(hù)表面。
存在識(shí)別并減緩從OSM讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)到OSM上的問題的傳 統(tǒng)方法。此類傳統(tǒng)材料典型地涉及^r查從OSM讀取的數(shù)據(jù)流的錯(cuò)誤、 糾錯(cuò)編碼電路，以及監(jiān)視讀取重試要求。需要的是分析OSM保護(hù)表
面的方法。還需要的是確定數(shù)據(jù)是否可被成功地讀取以及寫入到OSM
的方法。這些和其它需求通過如下面將詳細(xì)陳述的本發(fā)明的各應(yīng)用和 各方面來解決。
概要
本發(fā)明的一個(gè)方面涉及用于分析光存儲(chǔ)介質(zhì)表面的方法。該方法 包括將至少一個(gè)光信號(hào)引導(dǎo)至光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面上的操作。該光存 儲(chǔ)介質(zhì)包括編碼的數(shù)據(jù)。該方法還包括檢測(cè)從該光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面 反射的至少一個(gè)光信號(hào)的若干部分。并且，該方法還涉及確定編碼數(shù) 據(jù)是否可被精確地讀取，其與檢測(cè)從外表面反射的至少一個(gè)光信號(hào)的 若干部分有關(guān)。
本發(fā)明的另一個(gè)方面涉及用于分析光存儲(chǔ)介質(zhì)的裝置，該裝置或 "驗(yàn)證器"包括構(gòu)造成支撐光存儲(chǔ)介質(zhì)的平臺(tái)，其限定具有數(shù)據(jù)層的 至少一個(gè)面。該裝置還包括定位成照射具有數(shù)據(jù)層的至少一個(gè)面的至 少一個(gè)發(fā)光體和定位成接收從光存儲(chǔ)介質(zhì)反射的光并提供與所接收 的反射光有關(guān)的輸出信號(hào)的至少一個(gè)光檢測(cè)器。最終，該裝置包括構(gòu) 造成接收來自該光檢測(cè)器的輸出信號(hào)并提供指示具有數(shù)據(jù)層的至少 一個(gè)面的完整性的輸出的至少 一個(gè)電路元件。
本發(fā)明這些和很多其它方面和實(shí)施例在下面進(jìn)行了更詳細(xì)的描述。
附圖簡(jiǎn)述
在詳細(xì)解釋公開的實(shí)施例之前，應(yīng)當(dāng)理解的是，因?yàn)楸景l(fā)明能夠 有其它實(shí)施例，所以本發(fā)明不限于其對(duì)于所示具體裝置的細(xì)節(jié)的應(yīng)
本身權(quán)利內(nèi)的發(fā)明獨(dú)特性。并且，本文使用的用語是為了描述目的而 非限制目的。因此，本發(fā)明不意圖限于所示的實(shí)施例，而是與符合本
文描述的包括備選方案、修改和等同物(如附屬權(quán)利要求書的范圍中所 限定)的原理和特征的最寬的范圍相一致。注意附圖不按比例，并且本 質(zhì)上是圖示的，其在某種程度上被認(rèn)為最佳地示出了權(quán)益的特征。
圖1為示范性光存儲(chǔ)介質(zhì)的代表性剖視圖； 圖2為根據(jù)本發(fā)明的各方面的光存儲(chǔ)介質(zhì)分析器或"驗(yàn)證器"的 等距視圖3A為圖2中所述的光存儲(chǔ)介質(zhì)分析器的等距^L圖，其去除了 蓋以顯示各種電子設(shè)備并示出處于第一位置的載運(yùn)器、激光器組件和 檢測(cè)器組件，該第一位置可為掃描操作的起始位置；
圖3B為圖3A中所述的光存儲(chǔ)介質(zhì)分析器的等距視圖，其去除 了蓋以顯示各種電子設(shè)備并示出處于第二位置的載運(yùn)器、激光器組件 和檢測(cè)器組件，該第二位置可為掃描操作的結(jié)束位置；
圖4為沿圖2的線4-4所取的剖一見圖5為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出一種光存儲(chǔ)介質(zhì)的分析方法的 流程圖6為示出光存儲(chǔ)介質(zhì)上的激光入射、光存儲(chǔ)介質(zhì)上缺陷的激光 反射和通過檢測(cè)器收集由缺陷反射的激光的若干部分的視圖7為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出圖1中示出的分析器的電子設(shè) 備的方框圖8為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出從光存儲(chǔ)介質(zhì)的無瑕疵表面反 射的激光和在光球4企測(cè)器上入射的激光的視圖9為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出從光存儲(chǔ)介質(zhì)的無瑕瘋表面反 射的激光和在圖8的光球檢測(cè)器上入射的激光的視圖10為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出從光存儲(chǔ)介質(zhì)的無瑕瘋表面 反射的激光和在帶有覆蓋的孔的光球檢測(cè)器上入射的激光的視圖11為根據(jù)本發(fā)明的各方面，示出從光存儲(chǔ)介質(zhì)的無瑕瘋表面 反射的激光和在圖10中示出的光球檢測(cè)器上入射的激光的視圖；以 及
圖12為根據(jù)本發(fā)明的各方面，與DVD回讀設(shè)備結(jié)合的驗(yàn)證器組 件的等距視圖。
實(shí)施例描述
根據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例可涉及用于分析和檢測(cè)光存儲(chǔ)介 質(zhì)("OSM")來確定表面的形狀特性的方法和裝置。具體地，實(shí)施例可 檢測(cè)給定的OSM上的通常稱為缺陷的特征的缺失或存在，諸如，但 不限于，劃痕、小口(ding)、灰塵、污垢、指紋、其它有機(jī)或無機(jī)材料、 折彎或折痕、裂痕、或部分或全部嵌入或停留在表面的其它外物。在 一些例子中，此類表面缺陷的存在可影響光存儲(chǔ)裝置("OSD")從OSM 讀取數(shù)據(jù)或?qū)?shù)據(jù)寫入OSM的能力。
同樣，根據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例可構(gòu)造來確定缺陷的存在、 尺寸或傳播是否使得OSD可以或不可以可靠地讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)。還 可以進(jìn)行此分析來確定一些，但不是全部OSD是否可以讀取或?qū)懭?信息。而且，該分析可考慮到OSD或OSM的具體類型并確定從具體 的OSD和/或OSM纟是取可靠^t據(jù)或向具體的OSD和/或OSM添加可 靠數(shù)據(jù)的可能性。本發(fā)明的實(shí)施例還可構(gòu)造成確定并識(shí)別缺陷類型4吏 得用戶可適當(dāng)?shù)鼗貞?yīng)?？捎杀疚拿枋龅膶?shí)施例辨別、分析和/或4全查的 OSM包括例如，但不限于，DVD、 DVD-ROM、 DVD-R、 DVD/R-W、 DiVX、 DVD-Audio、 CD、 CD-ROM、 CD畫WO固、CD-R/W、 SACD、 藍(lán)光、HD-DVD、游戲碟片、全息和其它類型的光存儲(chǔ)介質(zhì)，其可在 未來不斷發(fā)展。
不像用來衡量OSM的回讀質(zhì)量的傳統(tǒng)的稱為"直接數(shù)據(jù)"方法， 本文描述的實(shí)施例不僅依靠讀取為了對(duì)其進(jìn)行比較的數(shù)據(jù)、檢查數(shù)據(jù) 流的錯(cuò)誤、使用糾錯(cuò)編碼電路或監(jiān)測(cè)播放器的讀取重試要求，而且根 據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例可以分析OSM的保護(hù)表面來確定該表面 是否將妨礙或抑制數(shù)據(jù)被讀取或?qū)懭?。然而這些傳統(tǒng)方法可用于補(bǔ)充 本文所述的表面技術(shù)和實(shí)施。除了通過將數(shù)據(jù)回讀來驗(yàn)證寫入的數(shù) 據(jù)，傳統(tǒng)方法不提供已知的確定OSM是否可被成功寫入的方法。
根據(jù)本發(fā)明的各方面的表面分析技術(shù)和構(gòu)造對(duì)檢測(cè)位于保護(hù)表
面下的數(shù)據(jù)層中的缺陷不是最佳的，不過因?yàn)檫@種缺陷與在OSM暴 露的表面上的缺陷相比稀少，所以這種折衷可以接受。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在反 射的凹洞和不反射的平面上并由保護(hù)涂層覆蓋。暴露的保護(hù)表面受到 劃痕、污跡、凹痕或別的損害。這些缺陷分散來自O(shè)SD播放器的激 光并使下方的數(shù)據(jù)層變得模糊，因此使得讀取或?qū)懭霐?shù)據(jù)層變得困 難。盡管如此，在OSM上透射的光的若干部分將透過包括保護(hù)涂層 的外層并到達(dá)數(shù)據(jù)層，根據(jù)本發(fā)明的各方面的表面分析實(shí)施例可構(gòu)造 來獨(dú)立地或結(jié)合檢測(cè)外層中的缺陷來^r測(cè)數(shù)據(jù)層中的缺陷。
表面分析可獨(dú)立采用或與傳統(tǒng)的直接數(shù)據(jù)分析技術(shù)組合采用。在 組合中，表面分析技術(shù)和直接數(shù)據(jù)分析可確定數(shù)據(jù)讀取能力而不管外 部表面缺陷。本文描述的表面分析技術(shù)和裝置可提供與實(shí)際讀取數(shù)據(jù) 的傳統(tǒng)的直接數(shù)據(jù)錯(cuò)誤檢測(cè)方法相比的快得多的速度。實(shí)施例還可分 析OSM的表面特征來確定缺陷的性質(zhì)以及推薦的糾錯(cuò)動(dòng)作。各種實(shí) 施例可獨(dú)立地或共同地使用以獲得好的效果。
圖2-4示出了根據(jù)本發(fā)明的各方面的光學(xué)驗(yàn)證器裝置100的一個(gè) 具體實(shí)例。該光學(xué)驗(yàn)證器包括支撐彈簧加載的蓋104的本體結(jié)構(gòu)102， 該蓋104定位成覆蓋OSM平臺(tái)106，其中OSM 108由用戶定位。此 實(shí)施例構(gòu)造來分析DVD或CD類型的OSM的表面缺陷。因此，該平 臺(tái)包括支撐傳統(tǒng)DVD、 CD等的中心孔的輪轂110。該輪轂附連到轉(zhuǎn) 動(dòng)輪轂的馬達(dá)112上(見圖3A、 3B)。該平臺(tái)、輪轂和相關(guān)結(jié)構(gòu)可稱為 OSM支撐和移動(dòng)組件。OSM馬達(dá)適于以需要的速度來轉(zhuǎn)動(dòng)支撐著 OSM的輪轂，例如600轉(zhuǎn)每分鐘(rpm)。這種馬達(dá)可裝備有速度傳感 器，以傳達(dá)何時(shí)達(dá)到例如600rpm的所需速度。平臺(tái)106還包括窗口 114，該窗口 114定位成使得從光源16來的光可顯示在定位在臺(tái)上的 OSM 108的表面，并且反射光由沖企測(cè)器118捕獲。
具體地參照?qǐng)D3A、 3B和4，光學(xué)驗(yàn)證器100還包括光產(chǎn)生和枱r 測(cè)組件和處理電子設(shè)備。在圖2A-4的具體構(gòu)造中，光產(chǎn)生和檢測(cè)組 件120包括一個(gè)或多個(gè)激光器122或其它光源116,激光器122或其 他光源116布置成被引導(dǎo)穿過窗口 114,指向支撐在平臺(tái)上的OSM的 表面。光產(chǎn)生和檢測(cè)組件還包括布置來檢測(cè)從OSM的表面反射的光 的一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器118。
圖2-4的具體布置中，激光器和檢測(cè)器都支撐在載運(yùn)器124上。 該載運(yùn)器被可移動(dòng)地支撐，使得其可移動(dòng)地相對(duì)于OSM定位。在此 具體構(gòu)造中，載運(yùn)器被布置來相對(duì)定位在輪轂110上的OSM 108而徑 向地移動(dòng)。載運(yùn)器支撐在兩條導(dǎo)軌126、 128上。鄰近于一條導(dǎo)軌126， 蝸輪裝置130與馬達(dá)132聯(lián)接。齒輪134與載運(yùn)器聯(lián)接使得蝸輪裝置 的轉(zhuǎn)動(dòng)移動(dòng)載運(yùn)器。
在載運(yùn)器124的一個(gè)面上，激光器122聯(lián)接到載運(yùn)器上。激光器 定位成發(fā)射光穿過窗口 114到OSM的表面上。在此具體應(yīng)用中，在 載運(yùn)器的對(duì)置一側(cè)，鄰近蝸輪傳動(dòng)裝置130處，印刷電路板136支撐 至少一個(gè)檢測(cè)器。PCB使檢測(cè)器118定位在從OSM反射的光的路徑 上。如圖2-4中所示的布置以及下面的進(jìn)一步討論，蝸輪裝置的旋轉(zhuǎn) 導(dǎo)致激光器和反射器橫跨OSM的表面掃描。尤其在圖3B中，光產(chǎn)生 和檢測(cè)組件120用虛像示出處于靠外的方位，并且還示出4交靠近輪轂 的第二位置。此移動(dòng)允許激光從OSM的外邊緣徑向向內(nèi)朝向內(nèi)孑L(輪 轂)掃描OSM表面。
在一個(gè)備選實(shí)施例中，激光器/檢測(cè)器組件被安裝到繞樞軸旋轉(zhuǎn)的 軸承上并構(gòu)造成用來沿弧線掃描OSM。在又一個(gè)備選實(shí)施例中，激光 器和^^測(cè)器安裝在基本上同時(shí)移動(dòng)的分離組件上。此外，充分聚焦或 充分校準(zhǔn)或兩者皆是的光源被用來代替激光照射OSD的表面。
處理電子設(shè)備的各方面關(guān)于圖7在下面詳細(xì)描述。來自處理電子 設(shè)備的輸出被傳送到顯示器138，例如定位于驗(yàn)證器前面的LCD。
圖5為示出一種分析OSM表面來確定缺陷是否存在且缺陷是否
將影響數(shù)據(jù)的回讀或?qū)懭氲木唧w方法的流程圖。開始，將OSM置于
驗(yàn)證器中的輪敎上且啟動(dòng)馬達(dá)以導(dǎo)致OSM旋轉(zhuǎn)(操作200)。在一個(gè)具 體裝置中，驗(yàn)證器100包括在測(cè)試過程中至少部分覆蓋OSM和光源 116、檢測(cè)器118和其它組件的蓋104。蓋為檢測(cè)器組件遮擋周圍的光 以提高信噪比。其還作為聯(lián)鎖系統(tǒng)的 一部分來保護(hù)用戶的眼睛免受激 光侵害。備選地，OSM支撐和移動(dòng)組件可支撐在可移動(dòng)的托盤上，該 可移動(dòng)的托盤在封閉的區(qū)域內(nèi)縮回OSM支撐和移動(dòng)組件并使該組件 相對(duì)于激光器組件定位。在任一種構(gòu)造中，當(dāng)蓋關(guān)閉或托盤縮回時(shí)， 開關(guān)可操作地與蓋或托盤耳關(guān)接，將信號(hào)傳送至OSM馬達(dá)控制器，該 控制器控制主軸馬達(dá)112,導(dǎo)致其對(duì)OSM以設(shè)定或變化的速度啟動(dòng)并 旋轉(zhuǎn)。備選地，還可能包括手動(dòng)致動(dòng)開關(guān)來引起馬達(dá)致動(dòng)并以某些速 度運(yùn)行。驗(yàn)證器包括當(dāng)打開時(shí)給裝置提供動(dòng)力的電源開關(guān)140。還可 能包括計(jì)算機(jī)控制或一些其它裝置來導(dǎo)致馬達(dá)致動(dòng)。
接下來，保持馬達(dá)速度以確定何時(shí)達(dá)到適當(dāng)速度(操作210)。在 一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)加速度進(jìn)行監(jiān)測(cè)并將其用來確定測(cè)試 中的碟片的尺寸，包括碟片是否沒有就位。例如，馬達(dá)將在沒有石泉片 就位的情況下比有大約如GameCubeTM碟片的8cm游戲碟片的情況 下更快地加速，在測(cè)試中該8cm游戲石茱片與諸如DVD的大約12cm 碟片相比加速更快。此信息可用于定制在碟片上4丸行的測(cè)試的類型， 包括用于損害檢測(cè)的閥值、用于損害劃痕確定的公式或掃描區(qū)域的量 等。
當(dāng)達(dá)到需要的速度時(shí)，致動(dòng)載運(yùn)器馬達(dá)132來移動(dòng)光源和檢測(cè)器 組件120使得一個(gè)或多個(gè)光源連續(xù)地照射在旋轉(zhuǎn)的OSM上的一個(gè)點(diǎn) 或位于多個(gè)位置的多個(gè)點(diǎn)(操作220)。當(dāng)?shù)D(zhuǎn)時(shí)，移動(dòng)光源/4企測(cè) 器載運(yùn)器124,使得光存儲(chǔ)介質(zhì)的表面被依次照射，直到整個(gè)表面或 其一部分已經(jīng)通過光源采樣。在另一個(gè)實(shí)施例中，載運(yùn)器馬達(dá)132與 主軸馬達(dá)112同步，例如通過使用由OSM馬達(dá)產(chǎn)生的一周同步 (once-around sync),使得載運(yùn)器馬達(dá)以一定速度前進(jìn)，其可為連續(xù)的
或逐級(jí)的，由主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)速度確定。在此情況下，當(dāng)主軸馬達(dá)力口速、 減速或變速時(shí)，載運(yùn)器馬達(dá)可被激活并且還連續(xù)地照射OSM的整個(gè) 表面或表面的所需部分。在一個(gè)實(shí)施例中，對(duì)于最小的可能測(cè)試時(shí)間， 馬達(dá)被持續(xù)加速并且然后持續(xù)地減速到停止使得整個(gè)表面或所需部
分的掃描在主軸馬達(dá)停止時(shí)即完成。在圖5的方法中，載運(yùn)器移動(dòng)直 到其已經(jīng)掃描整個(gè)OSM表面，這一點(diǎn)通過到達(dá)接近輪轂的徑向端點(diǎn) 而被檢測(cè)。在任何情況下，-險(xiǎn)證器都構(gòu)造成用來掃描表面并確定掃描 何時(shí)完成(操作230)。
根據(jù)缺陷的存在或不存在，表面的反射被導(dǎo)向或?qū)щx檢測(cè)器，該 ;險(xiǎn)測(cè)器在一個(gè)具體的應(yīng)用中可為光電二極管。OSD的表面可被全部或 部分地掃描。如果需要的話，其也可在輸出結(jié)果前被一次或多次地掃 描。在掃描完成之后，馬達(dá)關(guān)閉并使旋轉(zhuǎn)的OSM停止(操作240)。
如將在下面相對(duì)于圖6和7的更加詳細(xì)的討論，檢測(cè)器和處理電 子設(shè)備構(gòu)造成用來檢測(cè)反射光，產(chǎn)生并輸出電壓，并在一個(gè)具體裝置 中將輸出電壓與閥值電壓進(jìn)行比較(操作250)。閥值電壓設(shè)置成與將影 響正確的OSM回讀的表面缺陷的特定級(jí)別相關(guān)的輸出電壓。該閥值 電壓可為OSM類型特有，OSD類型特有并與其它因素有關(guān)。超過或 不超過該閥值導(dǎo)致適當(dāng)?shù)腖CD顯示，如分別為"通過"和"故障" 或其它(操作260)。
現(xiàn)在參照?qǐng)D6及其它圖更加詳細(xì)地描述表面分析技術(shù)。來自源 116的光142在OSM 108的光滑無瑕疵表面144(在照射區(qū)域中不存在 缺陷)上的反射沿著稱為主軸線(虛線)的路徑146。在一個(gè)具體裝置中， ;險(xiǎn)測(cè)器組件布置成使得沿著該主軸線的光不與纟企測(cè)器118相交，所以 當(dāng)光入射到無瑕疵表面上時(shí)，沒有到電子設(shè)備的信號(hào)。當(dāng)諸如劃痕的 缺陷148在來自光源的沿著主軸線的射束點(diǎn)上時(shí)，光從表面散射且反 射光線的路徑150偏離主軸線。在一個(gè)裝置中，布置一個(gè)或多個(gè)4企測(cè) 器使得來自缺陷的散射的反射光將通常與光敏感的檢測(cè)器相交，從而 產(chǎn)生被相關(guān)電子電路所檢測(cè)的信號(hào)，在下文將關(guān)于圖7進(jìn)一步詳細(xì)討
論。對(duì)于一些缺陷有可能使光線沿這樣的方向散射，使得光線不被檢 測(cè)器截獲。在這種情況下，不會(huì)檢測(cè)到該缺陷。可利用圍繞該主軸線 布置更多的檢測(cè)器，或通過使用檢測(cè)器的環(huán)或部分環(huán)、或具有足夠大 小(具有截獲沿著被覆蓋的主軸的光的面積)的單個(gè)檢測(cè)器，或使用具 有很多光敏感的像素或電荷耦合器件的、在其很多感光單元或像素上 檢測(cè)光的光電二極管或其它方法，來使這種可能性減小。
圖6中示出的例子采用單個(gè)激光器122和相關(guān)的光學(xué)檢測(cè)器118 ， 其布置用來將激光引導(dǎo)到OSM 108的表面144上并收集反射光或其若 干部分。因?yàn)槿毕菀罁?jù)它們的形貌可在各個(gè)方向上散射入射光，通過 給第一激光器添加一個(gè)或多個(gè)以不同入射方向或角度或兩者與OSM 表面相交的激光器，或者將一個(gè)或多個(gè)光源的輸出分開并引導(dǎo)輸出以 相同或不同的入射方向或角度或兩者來與OSM表面相交，可以提高 檢測(cè)缺陷的可能性。通過以相同或不同的反射方向或角度或兩者對(duì)第 一光敏感探測(cè)器添加一個(gè)或多個(gè)光敏感的探測(cè)器可以獲得提到的缺 陷才企測(cè)可能性。
在圖2-4中示出的具體驗(yàn)證器中，在垂直主軸線146方向的平面 中布置了兩個(gè)沖全測(cè)器(118A,118B)， {旦#1此成直角。此類裝置對(duì)于沖全測(cè) 以隨機(jī)方向(包括純徑向或純周向)定向的缺陷的特定目的提供了充分 的敏感度。
圖7示出了對(duì)于采用兩個(gè)檢測(cè)器的驗(yàn)證器的電氣圖，該驗(yàn)證器可 以或可以不設(shè)置在垂直于主軸線方向的平面中，但是彼此成直角。移 除一個(gè)檢測(cè)器，該電氣圖基本上類似于采用 一個(gè)檢測(cè)器的驗(yàn)證器。
再次參照?qǐng)D6，還可能沿主軸線布置檢測(cè)器152(虛線所示)并校準(zhǔn) 系統(tǒng)，使得從無瑕疵無缺陷表面反射并沖擊在檢測(cè)器上的應(yīng)用產(chǎn)生已 知輸出信號(hào)。當(dāng)諸如劃痕的缺陷處于由照射區(qū)域采樣的區(qū)域中時(shí)，光 從表面散射并且反射光束的路徑從主軸線146偏離。這將導(dǎo)致照射檢 測(cè)器152的光量的減少以及相應(yīng)的來自檢測(cè)器輸出信號(hào)的減少。這些 已知輸出的偏差之后可用來確定缺陷的存在。可能布置帶有軸上檢測(cè) 器152， 一個(gè)或多個(gè)離軸檢測(cè)器118和其組合的驗(yàn)證器。
該檢測(cè)器可采取各種形式。帶有多個(gè)感光單元或像素的足夠大小 的電荷耦合光敏器件("CCD")可以在特定感光單元上具有光沖擊，該 感光單元被放置來截獲沿主軸線的光。當(dāng)光被表面中的缺陷散射時(shí)， 截獲沿著主軸線的光的感光單元將經(jīng)歷照射量的減少，而沿散射路徑 的感光單元將因?yàn)閺娜毕萆⑸涞墓舛?jīng)歷照射增加。此類片企測(cè)器結(jié)合 了軸上和離軸兩種優(yōu)勢(shì)。
類似地，可使用一個(gè)或多個(gè)放置于軸上和一個(gè)或多個(gè)放置于偏離 主軸線的多個(gè)感光單元、多個(gè)光電二極管來代替CCD。如果一些或全 部散射光散射成使得其不與不在主軸線上的像素相交，則離軸檢測(cè)器 將不產(chǎn)生信號(hào)，但是軸上的光電二極管或二極管將經(jīng)歷照射它們的光 線量的減少，并相應(yīng)地產(chǎn)生較低的輸出信號(hào)。
在一些實(shí)施例中，由于缺陷而使照射軸上4企測(cè)器組件的光的減少 可能是整個(gè)照射改變中非常小的部分改變，并且軸上^r測(cè)器信號(hào)的改 變也會(huì)很小。在這種情況下，離軸檢測(cè)器仍可顯示出能夠可接受地可 靠地檢測(cè)到的信號(hào)。因此，離軸檢測(cè)器，軸上才企測(cè)器，或其一些組合 可在根據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例中有效地采用。
如圖8-9中圖解地示出，還可能使用集成的光球156來收集來自 激光器116的散射光150。在圖8中示出的一個(gè)裝置中，該球包括孔 158，該孔布置在主軸線148鄰近但不沿著主軸線148。相應(yīng)地，如圖 9中所示，當(dāng)光遇到OSM 108上的缺陷時(shí)，從缺陷散射的光150的若 干部分將將被引進(jìn)該孔。在內(nèi)部，該球反射光并提供與被檢測(cè)光相當(dāng) 的輸出。類似的收集光的光學(xué)方法可在根據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例 中采用。例如，可使用單獨(dú)的檢測(cè)器，但與反射表面或表面，或折射 表面或表面，或兩者協(xié)同來收集被損害散射的光并將其？ 1進(jìn)該單獨(dú)的 檢測(cè)器。如圖10-11中所示，集成的光球可包括主軸線上的罩160, 使得沿著主軸線的光不進(jìn)入球但是從缺陷散射的光150進(jìn)入球來檢 測(cè)。在此示例中，孔在圍繞罩的所有面上都打開，并且因此圍繞主軸
線。在第一個(gè)球體示例中，整個(gè)孔離軸定位，因而散射到主軸線相對(duì) 側(cè)的光可以不被;險(xiǎn)測(cè)。
現(xiàn)在再次參照?qǐng)D7和其它圖，OSM馬達(dá)112和激光器/4企測(cè)器組 件馬達(dá)132由各自的控制器(162, 164)控制。旋轉(zhuǎn)馬達(dá)對(duì)蓋開關(guān)、托 盤開關(guān)或手動(dòng)開關(guān)反應(yīng)，并還可要求驗(yàn)證蓋或托盤是否在鎖定位置， 此驗(yàn)證也可從來自開關(guān)的信號(hào)以及互鎖信號(hào)(166,168)提供，該開關(guān)與 蓋或托盤開關(guān)分開或?yàn)橥婚_關(guān)。激光器122照射可由OSM馬達(dá)控 制器、激光器/檢測(cè)器組件馬達(dá)控制器或其它機(jī)構(gòu)觸發(fā)。激光器或其它 光源沖擊OSM 168的表面且從其上反射的光與一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器相 交。檢測(cè)器(118A，118B)產(chǎn)生與入射的光量有關(guān)的輸出電壓(170)，如 果沒有缺陷導(dǎo)致光入射到檢測(cè)器上，該輸出電壓(170)可能就是噪音級(jí) 別電壓。輸出電壓傳送到一個(gè)或多個(gè)放大器和/或過濾器172上。放大 器或多個(gè)放大器聯(lián)接一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的比較器電路(174A-174D)。各比 較器電路具有參考電壓(176A-176D)。此外，各比較器電路聯(lián)接一個(gè)或 多個(gè)發(fā)光二極管("LEDs")或其它輸出裝置。
在圖7的具體裝置中，來自檢測(cè)器的輸出聯(lián)接到四個(gè)比較器電路 上。各比較器電路具有各自的閥值電壓。此外，各比較器電路正常地 驅(qū)動(dòng)綠色LED,并且在達(dá)到閥值時(shí)驅(qū)動(dòng)紅色LED(LED輸出 178A-178D)。備選地，各比較器輸出布置成驅(qū)動(dòng)各自的LCD顯示， 如"通過，，、"有一些損害但是能播放"、"故障級(jí)別1"、"故障 級(jí)別2"和"故障級(jí)別3"。
當(dāng)激光122入射到缺陷上時(shí)，光通常主要由產(chǎn)生輸出電壓170的 光敏感的檢測(cè)器118A、 118B截獲。此檢測(cè)器電壓信號(hào)被放大器172 累積且放大，并且使用比較器電路174與參考電壓176相比較。在一 個(gè)具體實(shí)施例中，如果超過參考電壓，則紅色LED點(diǎn)亮而綠色LED 關(guān)閉來向用戶給出此參考電壓已被超過的信號(hào)。已經(jīng)發(fā)現(xiàn)在檢測(cè)器信 號(hào)振幅和缺陷將阻止DVD精確播放的可能性之間有大致而充分的對(duì) 應(yīng)，該缺陷使產(chǎn)生相應(yīng)信號(hào)的光散射。
使用相同或不同參考電壓的 一個(gè)或多個(gè)的比較器電路聯(lián)接到綠
色和紅色LED上，這些電路可用來提供損害的大致程度。如果對(duì)應(yīng)較 高參考電壓的紅色LED被觸發(fā),則已經(jīng)發(fā)現(xiàn)可能存在更加大量的缺陷， 其本身顯示缺陷更可能妨礙OSM的正確的回讀且缺陷的糾錯(cuò)更加困 難。
對(duì)比較器電路的參考電壓可以是固定的或可由用戶調(diào)整。在一個(gè) 實(shí)施例中，帶有由電位計(jì)或用戶可接近的類似裝置控制的可調(diào)節(jié)參考 電壓的單獨(dú)的比較器電路可以通過用不同的參考電壓多次測(cè)試OSM 來產(chǎn)生損害的相同大致程度。在另一個(gè)實(shí)施例中，參考電壓由數(shù)字模 擬轉(zhuǎn)換器提供并通過從連接的計(jì)算機(jī)或其它設(shè)備更新的軟件設(shè)置。在 另 一個(gè)實(shí)施例中，將數(shù)字式的參考級(jí)別與微控制器或DSP控制器內(nèi)的 計(jì)算損害級(jí)別進(jìn)行比較。
在另一個(gè)實(shí)施例中，得出的損害級(jí)別基于來自比較器的輸出而顯 示在LCD屏幕138上。在又一個(gè)實(shí)施例中，損害級(jí)別使用如USB2.0 的接口輸出到分離的設(shè)備并顯示在該分離的設(shè)備上，該設(shè)備例如個(gè)人
電腦或銷售點(diǎn)終端。
在 一 個(gè)具體的驗(yàn)證器實(shí)施例中，使用了 DigiKey的
No.38-1000-ND型激光器和Hammamatsu的No.S1787-08型光電二擬_ 管檢測(cè)器。第一比較器174A具有1V的參考電壓，第二比較器n犯 具有2V的參考電壓，第三比較器174C具有3V的參考電壓，而第四 比較器174D具有4V的參考電壓。基于作為參考的市場(chǎng)中目前可獲得 的若干DVD播放器之間的關(guān)系，如Philips DVP642， Samsung DVD-L70, Hitachi DVP755U或Sony DVP-NS575P/S,確定了 l和2 伏之間的放大的光電二極管輸出，其將導(dǎo)致由第一比較器電路點(diǎn)亮紅 色LED178A，不過將不會(huì)點(diǎn)亮第二至第四LED 178B-178D，這表示 被分析的DVD會(huì)在這些播放器上播放，不過盡管如此一些缺陷仍然 存在。2V或更大的電壓取決于電壓而點(diǎn)亮第二 H8B至第四HSD紅 色LED，這表示對(duì)象DVD具有足以抑制或妨礙該DVD在這些參考
播放器上播放的缺陷。增加的輸出電壓通常對(duì)應(yīng)于更大程度的缺陷。 具體閥值電壓或?qū)τ谌我饩唧w實(shí)施例的電壓可取決于各種因素(若有 的話)包括采用的激光器的類型和功率、所采用的檢測(cè)器的輸出電壓、 所采用的比較器裝置的類型和放大范圍。此外，閥值在任意具體裝置 中依據(jù)OSM的類型、保護(hù)涂層的類型、預(yù)期使用的類型、用戶問題 及其它因素可被優(yōu)化。
在其他實(shí)施例中，來自檢測(cè)器的放大的信號(hào)也可被結(jié)合來提供碟 片中存在的損害的總量的大約測(cè)量值。在另一個(gè)實(shí)施例中，比較器電
路174A也可由光學(xué)計(jì)數(shù)器監(jiān)側(cè)以便可以測(cè)量超過給定閥值或多個(gè)閥
值的缺陷數(shù)量。在另一個(gè)實(shí)施例中，輸出信號(hào)可通過峰值采樣保持電 路分析，該電路輸出所檢測(cè)到的峰值信號(hào)直到其重啟。該峰值信號(hào)可 使用模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換并輸出為電壓，該電壓可用來驅(qū)動(dòng)模擬刻度 盤或指針式指示器，或其它方法。
在另 一個(gè)實(shí)施例中，來自檢測(cè)器裝置的輸出或其中的一部分可以 以對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員顯而易見的多種方式進(jìn)行數(shù)字化采樣、分析 和輸出。在一個(gè)具體驗(yàn)證器實(shí)施例中，兩個(gè)檢測(cè)器離軸放置并相互成
直角。在一個(gè)具體實(shí)施例中，檢測(cè)器為Osram 的BPW34S,或 Fairchild 的QSB34CGR檢測(cè)器。放大的信號(hào)被導(dǎo)向數(shù)字信號(hào)處理 ("DSP")芯片，如德州儀器的32-bit固定點(diǎn)DSP TMS320F2808,其以 20kHz的模擬輸入采樣率運(yùn)行。分別將信號(hào)供給DSP上的兩個(gè)模擬輸 入，而"損害級(jí)別，，計(jì)算如下
損害級(jí)別^A^V1)+B氣V2)〉/M
其中VI和V2是來自檢測(cè)器的數(shù)字化電壓，而A、 B和M是依 據(jù)來自各檢測(cè)器的電壓的所需加權(quán)的可調(diào)參數(shù)。在另 一個(gè)實(shí)施例中, 損害級(jí)別計(jì)算如下
損害級(jí)別二平方根(A^Vi;T2+B1V2廣2)/M
在任一情況下，損害級(jí)別都對(duì)用戶顯示。加權(quán)值可通過將光散射 到各檢測(cè)器的缺陷的相對(duì)重要性或基于檢測(cè)器敏感度的校準(zhǔn)，或兩者
或其它原因而確定。例如，各檢測(cè)器不必產(chǎn)生和另一個(gè)用于相同給定 照射完全相同的輸出信號(hào)。通過在損害級(jí)別計(jì)算中相應(yīng)地加權(quán)檢測(cè)器 的數(shù)字化電壓，對(duì)于每個(gè)應(yīng)用這種效果可被減小到可接受的級(jí)別。
此外，對(duì)于各種OSM,缺陷的定向可與數(shù)據(jù)將不被讀取的可能
性相關(guān)。例如，在典型的DVD播放器中，缺陷圍繞碟片周向延展， 從而造成一長(zhǎng)段連續(xù)或交替的不可讀取數(shù)據(jù)區(qū)，與周期性地使一短段 數(shù)據(jù)不清楚的徑向劃痕相比，這更可能導(dǎo)致不可糾正的錯(cuò)誤。在這種 情況下，對(duì)于周向或大致軸向的缺陷而言，需要該損害級(jí)別與徑向或 大致徑向的相似缺陷相比更高。為了方^f更顯示，這種損害評(píng)分可歸一 和四舍五入或舍^f立。
在一個(gè)實(shí)施例中，測(cè)得的最高損害級(jí)別通過LCD 138輸出給用戶 或傳達(dá)給外部設(shè)備，如計(jì)算機(jī)或銷售點(diǎn)終端。在另一個(gè)實(shí)施例中，可 以輸出損害級(jí)別超過特定的閥值或多個(gè)閥值的事件的數(shù)量。在另一個(gè) 實(shí)施例中，信號(hào)可結(jié)合在整個(gè)信號(hào)或其一部分上，并且結(jié)果值作為全 部損害的測(cè)量。與碟片上的位置有關(guān)的損害級(jí)別可以以顯示損害或未 損害的區(qū)域的OSM的示意圖的形式記錄并顯示。損害級(jí)別可與將損 害級(jí)別降低到限定的閥值所需要修理的量和可顯示的需要修理的量 有關(guān)。也有可能持續(xù)輸出損害級(jí)別用于分析或顯示。在又一個(gè)實(shí)施例 中，信號(hào)不由DSP分析而是存儲(chǔ)并傳輸給另一個(gè)設(shè)備來分析，如用于 分析的計(jì)算機(jī)或碟片磨光設(shè)備。
在使用多個(gè)檢測(cè)器的情況下，損害級(jí)別可計(jì)算為 損害級(jí)別=平方根{八*0/1戶2+:6*0/2"2 + C*(V3)A2 + D*(V4)A2
損害級(jí)別={A*(V 1 )+B*V2+C*(V3)+D*(V4)+……}/M 在帶有軸上;f企測(cè)器和兩個(gè)離軸測(cè)器的另 一 個(gè)實(shí)施例中，可以從 軸上檢測(cè)器提取來自離軸檢測(cè)器的信號(hào)。當(dāng)光由損害散射時(shí)，軸上檢 測(cè)器的電壓降低且離軸檢測(cè)器的電壓增大。通過數(shù)學(xué)地結(jié)合這兩個(gè)改 變——軸上檢測(cè)器電壓的降低和離軸檢測(cè)器電壓的增加，分析電子設(shè)
備的信噪比可以增加。
用于從一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器的數(shù)字化采樣計(jì)算損害級(jí)別的其它公 式可在根據(jù)本發(fā)明的各方面的實(shí)施例中使用。軸上檢測(cè)器信號(hào)可安排
隨碟片的反射性而改變。更具有反射性的表面將導(dǎo)致由軸上^r測(cè)器產(chǎn)
生的更高的平均電壓。這種變化的信號(hào)，可能與如上面討論確定的石茱 片尺寸信息一起，可以用來確定正在測(cè)量哪種類型的碟片(例如，藍(lán)光
盤、HD-DVD、 DVD-ROM、游戲石乘片)，并定制在該碟片上#1行的測(cè) 試的類型，包括在損害評(píng)分中使用的參數(shù)、用于損害檢測(cè)或通過/故障 確定的閥值、用于計(jì)算損害評(píng)分的公式或掃描區(qū)域的量等。在一些設(shè) 計(jì)用來由用戶錄制的碟片中，記錄的數(shù)據(jù)改變下面表面的反射性。這
種反射性的改變可用來區(qū)分帶有數(shù)據(jù)和沒有數(shù)據(jù)的區(qū)域。無數(shù)據(jù)區(qū)域 中的缺陷由于是無數(shù)據(jù)區(qū)域中的缺陷，因此對(duì)回讀是無害的。另一方 面，位于當(dāng)前沒有數(shù)據(jù)的區(qū)域中的缺陷對(duì)于向碟片寫入更多數(shù)據(jù)是有 害的。例如， 一些游戲碟片，如某些Sony PlaystationTM2碟片，具有 黑色表面而不是發(fā)亮的鋁表面來存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。因?yàn)樯钌砻鎸⒈劝l(fā)亮表 面吸收更多的光，因而反射的光量降低。相應(yīng)地，從黑色游戲碟片上 的缺陷散射的光的量相比于從標(biāo)準(zhǔn)DVD上的類似缺陷散射的光來說 也減少。需要改變損害級(jí)別的閥值來說明這種改變。當(dāng)測(cè)量深色涂覆 的碟片時(shí)，來自軸上檢測(cè)器的信號(hào)相比由標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)亮的DVD產(chǎn)生的 信號(hào)將減少。這種信號(hào)的減少可以用來鑒定播放器中碟片的類型。測(cè) 量過程、損害級(jí)別計(jì)算、損害級(jí)別閥值可全部用這種信息定制。
實(shí)施例可提供在獨(dú)立設(shè)備或"光學(xué)驗(yàn)證器，，上，其可以快速地分 析OSM表面。此類獨(dú)立設(shè)備可能適合于出租DVD或其它OSM或另 外允許用戶或其它第三方存取的公司，來確定當(dāng)用于使用他們的DVD 存貨時(shí)他們的DVD存貨將播放或允許正確地?cái)?shù)據(jù)存取。光學(xué)驗(yàn)證器 可附加地結(jié)合到公司的計(jì)算機(jī)化存貨或銷售點(diǎn)系統(tǒng)來記錄OSM損害 歷史或損害OSM的消費(fèi)者歷史。此外，當(dāng)公司從消費(fèi)者收到反饋并 確定他們的OSD在穿過缺陷讀取或?qū)懭霑r(shí)特別地敏感或強(qiáng)健時(shí)，可 對(duì)每個(gè)具體用戶設(shè)置閾值。如以上所討論，這種獨(dú)立的設(shè)備將結(jié)合使 碟片旋轉(zhuǎn)的馬達(dá)、沿著碟片旋轉(zhuǎn)時(shí)的半徑掃描激光器或多個(gè)激光器的 方法和進(jìn)行測(cè)量的電^各。
本文所述的方法和構(gòu)造也可以結(jié)合到現(xiàn)有OSD中，如DVD播放 器/記錄器或CD播放器/記錄器，在開始回放或?qū)懭氤绦蛑皩?duì)碟片進(jìn) 行掃描以預(yù)先確定碟片是否一直都可被讀取或?qū)懭耄蚴欠裼幸恍┤?陷會(huì)影響數(shù)據(jù)訪問或儲(chǔ)存。這對(duì)于例如制作DVD播放器的公司可能 是有利的。
圖10中示出了集成的播放器/驗(yàn)證器的一個(gè)例子。此集成的設(shè)備 可包括獨(dú)立設(shè)備的一些或全部特征，或更有利地，使用已經(jīng)在OSM回 讀設(shè)備中存在的某些特征，例如，但不限于，OSM馬達(dá)、OSM支架， 激光器滑片組件、激光器、光學(xué)器件(如透鏡)、檢測(cè)器和電子設(shè)備的 各種特征。在一個(gè)用于如DVD播放器的OSD的示范性實(shí)施例中，在 如圖10中所示現(xiàn)有的激光器滑片組件中添加了分離的激光器和檢測(cè) 器組件。
更具體地說，備選的驗(yàn)證器180實(shí)施例包括激光器122和安裝在 傳統(tǒng)的DVD播放器激光器組件182上的檢測(cè)器118A和118B(和相關(guān) 的PCB 136)。激光器組件安裝在對(duì)置的導(dǎo)軌184和186上。傳統(tǒng)DVD 讀寫激光器188支撐在激光器組件的大約中部位置，激光器組件在每 一端都具有激光器122和檢測(cè)器118。組件只有一部分被示出，為了 便于參考，孔190與傳統(tǒng)DVD播放器馬達(dá)和輪轂軸向地對(duì)齊。相應(yīng) 地，導(dǎo)軌定位成相對(duì)安放在裝置中的DVD來徑向地移動(dòng)激光器組件。 馬達(dá)192可操作地與蝸輪裝置194聯(lián)接來移動(dòng)激光器組件182，并且 因此激光器122和檢測(cè)器118A及188b沿著導(dǎo)軌來回移動(dòng)。
還可能使用的傳統(tǒng)激光器188是驗(yàn)證器激光器和讀取/寫入激光 器的雙重功能。在此類裝置中，改變激光器的方向以使得從缺陷反射 的一些光散射到檢測(cè)器118上，或者重新布置檢測(cè)器來以所示的激光 器188的定位來檢測(cè)從缺陷反射的光。其它可能激光器或檢測(cè)器裝置
也可能提供給讀取/寫入激光器的雙重用戶。
在現(xiàn)有電子設(shè)備上添加如圖7中描述的比較器電路。在此實(shí)施例
中，OSM由DVD播放器馬達(dá)旋轉(zhuǎn)，DVD激光器滑片182橫跨碟片可 移動(dòng)地致動(dòng)，激勵(lì)分離的激光器122并且來自分離的檢測(cè)器組件118 的輸出由比較器電路監(jiān)測(cè)，以向OSD給出OSM是否可被精確地讀取 或?qū)懭氲男盘?hào)?？蔀榇司唧wOSD的性能而不是獨(dú)立的驗(yàn)證器情況而 定制閾值，此處閥值通常但不必設(shè)置成適應(yīng)各種OSD的特征。用于 成功回讀和寫入的閥值可為相同或不同。
存在可以修復(fù)在OSM上某些類型損害的方法和/或設(shè)備。用于修 復(fù)受損碟片的設(shè)備通常使用不同的修復(fù)方法，包括依據(jù)損害的特性執(zhí) 行修復(fù)方法花費(fèi)的不同時(shí)間。不同類型的方法經(jīng)常編碼成用戶可選擇 的固定程序。在一些情況下，不同類型的方法可具有可變的參數(shù)，如 每次磨平或用戶可選擇的磨光操作的時(shí)間。需要選擇將缺陷修復(fù)至具 有最低可播放性級(jí)別的程序，而不去除超出必要的材料，以在保護(hù)材 料被全部移除前使可以在特定碟片上執(zhí)行的修復(fù)的次數(shù)最大。在使用 修復(fù)系統(tǒng)的基于OSM的行業(yè)中，決定哪個(gè)方法或參數(shù)對(duì)于特定的有 缺陷的碟片是適合的是不斷出現(xiàn)的問題。典型地，通過視覺檢查做出 決定。這種方法中的若干缺點(diǎn)是不同人可能不同地判斷需要的修復(fù)， 他們可能錯(cuò)誤地判斷需要的修復(fù)，導(dǎo)致過分修復(fù)或不完全修復(fù)，并且 重復(fù)發(fā)生培訓(xùn)雇員來做出所述區(qū)分的支出。在一個(gè)實(shí)施例中，使用 OCD來量化損害的特性并然后可構(gòu)造來測(cè)量碟片并通過顯示方法(如 LCD讀出或顯示屏)顯示適當(dāng)?shù)姆椒ɑ虺绦?，或甚至更有利地，可?接與修復(fù)設(shè)備連通來設(shè)置適當(dāng)?shù)某绦騺磉_(dá)到某種修復(fù)級(jí)別。修復(fù)之 后，可再次使用OCD來確認(rèn)修復(fù)或清除是成功的。
在另 一個(gè)實(shí)施例中，自動(dòng)修復(fù)系統(tǒng)抓取一堆未分類的碟片，OCD 模塊測(cè)量每張碟片并確定適當(dāng)?shù)男迯?fù)程序，然后修復(fù)模塊執(zhí)行給定程 序，并且然后將OSM傳遞給輸出。在一個(gè)實(shí)施例中，OCD確定哪些 碟片不需要修復(fù)并將這些碟片直接傳給輸出。在另一個(gè)實(shí)施例中，修
復(fù)的質(zhì)量可以通過將修復(fù)的碟片返回到OCD中以確認(rèn)達(dá)到了最低級(jí) 別可播放性而檢查。用這種方法，可有效并精確地修復(fù)大量的碟片而
不用操作員介入。這還有利于無人管理基于售貨亭的OSM產(chǎn)業(yè)。
該方法可集成到結(jié)合有碟片清潔或修復(fù)的方法中的系統(tǒng)，以提供
一個(gè)機(jī)構(gòu)，該機(jī)構(gòu)可確定是否需要清潔或修復(fù)，然后清潔或修復(fù)OSM， 并且然后確定清潔或修復(fù)是否足夠。
根據(jù)本文所述的各種應(yīng)用，其他備選的實(shí)施例可根據(jù)本發(fā)明的各 方面而構(gòu)造。例如,光源光線可從包括旋轉(zhuǎn)的可移動(dòng)反射表面或其它光 學(xué)設(shè)備上反射，其允許照射點(diǎn)的區(qū)域在OSM旋轉(zhuǎn)時(shí)連續(xù)地在OSM的 整個(gè)表面或表面的所需部分上采樣。在另一個(gè)示例中，在集成播放器 /驗(yàn)證器的設(shè)備中，可以將來自檢測(cè)器118的輸出引向現(xiàn)有的播放器 DSP芯片、微控制器或模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器或其他的傳統(tǒng)播放器電子設(shè)備 來進(jìn)行測(cè)量和/或計(jì)算，其指示該碟片可以或不可以在具體OSD中播 放。
在另一個(gè)例子中，使用OSD激光器產(chǎn)生光，而使用一個(gè)或多個(gè) 固定安裝的檢測(cè)器來檢測(cè)從表面損害散射的光。備選地， 一個(gè)或多個(gè) 固定的激光器或其它光源被引到碟片上并且相對(duì)于碟片掃描OSD檢 測(cè)器。在任意實(shí)施例中，依據(jù)光源(或多個(gè)光源)的定向、檢測(cè)器(或多 個(gè)檢測(cè)器)的定向、以及光源、檢測(cè)器或兩者是否為可移動(dòng)安裝，OSM 可以或不可以被轉(zhuǎn)動(dòng)。在各種實(shí)施例中，為了增強(qiáng)散射光的檢測(cè)，反 射表面或多個(gè)反射表面，或折射設(shè)備或多個(gè)折射設(shè)備可用來將散射光
引導(dǎo)到(多個(gè))沖t測(cè)器上。
OSM也可不旋轉(zhuǎn)地線性地移動(dòng)經(jīng)過光源/;險(xiǎn)測(cè)器組件。光源M企測(cè) 器組件安裝成允許其垂直于OSM運(yùn)動(dòng)方向移動(dòng)，使得可以掃描整個(gè) 表面或其一些需要部分。在另一個(gè)備選實(shí)施例中，光源光線可從包括 旋轉(zhuǎn)的可移動(dòng)反射表面反射，如鏡子或其它光學(xué)裝置，其允許照射點(diǎn) 區(qū)域在其線性地移動(dòng)經(jīng)過時(shí)連續(xù)對(duì)OSM的整個(gè)表面或表面的需要部 分進(jìn)行采樣。檢測(cè)器組件可以可移動(dòng)地安裝使得其截獲來自O(shè)SM的
反射光。備選地，來自O(shè)SM的反射光可以通過反射或折射光學(xué)元件 收集并聚焦在這種情況下可移動(dòng)或固定的檢測(cè)器組件上。
在另一個(gè)實(shí)施例中，來自光源的照射形狀可為從OSM的一個(gè)邊
緣向另一個(gè)邊緣延伸，或該距離的若干部分的線形光的形狀，使得
OSM的整個(gè)表面或表面的需要部分在其線性地移動(dòng)經(jīng)過時(shí)被照射并 采樣。在該線至少從OSM的邊緣到邊緣延伸，或至少覆蓋OSM的需 要部分延伸的情況下，光源可以是固定的。在照射線覆蓋從邊緣到邊 緣的距離的一部分的情況下，照射光源可以是移動(dòng)的，使得OSM表 面的需要部分被采樣。線的長(zhǎng)度在OSM線性移動(dòng)經(jīng)過時(shí)還可以改變 以掃描OSM表面的需要的部分。為了捕捉反射光，檢測(cè)器元件自身 也可移動(dòng)，或反射的照射可由可移動(dòng)的或固定的反射或折射元件，或 其組合引向檢測(cè)器組件。檢測(cè)器元件也可為行的形式，如一行光電二 極管或CCD裝置，其基本上相對(duì)于由光照射的區(qū)域來允許檢測(cè)器組 件截獲需要的光的量。
在另 一個(gè)實(shí)施例中，OSM表面的照射區(qū)域可為 一個(gè)可移動(dòng)的點(diǎn)， 以允許其在檢測(cè)器組件是固定的但是其形狀和定向使得其截獲需要 的反射光時(shí)，其在OSM表面的需要部分上采樣。
本發(fā)明的各方面可用于回讀或記錄機(jī)構(gòu)向諸如OSM的存儲(chǔ)介質(zhì) 傳送且/或從諸如OSM的存儲(chǔ)介質(zhì)接收光(可為可見光)，以從存儲(chǔ)介 質(zhì)上獲得數(shù)據(jù)或?qū)?shù)據(jù)存儲(chǔ)到存儲(chǔ)介質(zhì)上的任何情況。數(shù)據(jù)通過檢測(cè) 光被傳送或反射的方式而讀取。介質(zhì)含有通過可能光學(xué)透明的表面保 護(hù)的數(shù)據(jù)，該表面可被臨時(shí)或永久地?fù)p害、修改，使得損害等獨(dú)立于 下面數(shù)椐而改變光的傳送或反射的方式。
,經(jīng)5(十太勞曰
巨
體性進(jìn)行了討論，但本領(lǐng)域的技術(shù)人員可在不脫離在說明書和權(quán)利要 求書中陳述的本發(fā)明發(fā)明性主題的精神或范圍的情況下進(jìn)行大量對(duì) 本公開實(shí)施例的變更。所有方向性基準(zhǔn)(例如，上、下、向上、向下、 左、右、向左、向右、頂、底、上方、下方、垂直、水平、順時(shí)針及逆時(shí)針)僅用于輔助讀者理解本發(fā)明的實(shí)施例的解釋性目的，而并不產(chǎn) 生限制，尤其對(duì)本發(fā)明的位置、方位或使用，除非在權(quán)利要求書中具 體陳述。連接基準(zhǔn)(例如，附連、聯(lián)接、連接等)被廣義地解釋并可包 括在元件連接和元件之間相對(duì)移動(dòng)的中間部件。如此，連接基準(zhǔn)不必 推斷兩個(gè)部件被直接連接且彼此成固定的關(guān)系。
在一些例子中，部件參考具有特殊特征和/或連接到另一部分的 "面，，而描述。然而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員將認(rèn)識(shí)到本發(fā)明不限于在超 出它們連接其它部分的點(diǎn)處立刻終止的部件。所以，術(shù)語"面"應(yīng)該 被廣義地、以包括區(qū)域鄰近、后面、前面或另外靠近具體元件、連接、 部件、構(gòu)件或其它的終點(diǎn)的方式解釋。其意圖是所有上述描述或附圖 示出中包含的內(nèi)容應(yīng)該只是說明性而不是限制的。細(xì)節(jié)或結(jié)構(gòu)的改變 可在不脫離如在附屬權(quán)利要求書中限定的本發(fā)明的精神的情況下進(jìn) 行。
權(quán)利要求
1.一種用于分析光存儲(chǔ)介質(zhì)的表面的方法，包括將至少一個(gè)光信號(hào)引導(dǎo)到光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面上，所述光存儲(chǔ)介質(zhì)包括編碼的數(shù)據(jù)；檢測(cè)從所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的所述外表面反射的至少一個(gè)光信號(hào)的若干部分；以及與檢測(cè)從所述外表面反射的至少一個(gè)光信號(hào)的若干部分相關(guān)地判定所述編碼的數(shù)據(jù)是否可以與準(zhǔn)確地讀取。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 提供在所述光存儲(chǔ)介質(zhì)和所述至少一個(gè)光信號(hào)之間的相對(duì)移動(dòng)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，提供在所述光存 儲(chǔ)介質(zhì)和所述至少一個(gè)光信號(hào)之間的相對(duì)移動(dòng)的操作包括轉(zhuǎn)動(dòng)所述 光存儲(chǔ)介質(zhì)。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，提供在所述光存 儲(chǔ)介質(zhì)和所述至少一個(gè)光信號(hào)之間的相對(duì)移動(dòng)的操作包括相對(duì)于所 述光存儲(chǔ)介質(zhì)移動(dòng)所述至少 一個(gè)光信號(hào)的源。
5. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，提供在所述光存 儲(chǔ)介質(zhì)和所述至少一個(gè)光信號(hào)之間的相對(duì)移動(dòng)的操作包括相對(duì)于所 述至少 一個(gè)光信號(hào)移動(dòng)所述光存儲(chǔ)介質(zhì)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，將至少一個(gè)光信 號(hào)引導(dǎo)到光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面上的操作包括將至少一個(gè)光信號(hào)引導(dǎo) 到所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的所述外表面的涂層上。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述確定操作包 括與所述至少一個(gè)反射光信號(hào)的檢測(cè)相關(guān)地判定精確地讀取在所述光存儲(chǔ)介質(zhì)上編碼的所述數(shù)據(jù)的可能性。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測(cè)操作還 包括提供輸出信號(hào)，所述輸出信號(hào)與所述至少一個(gè)光信號(hào)的已檢測(cè)部分相關(guān)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述確定操作包 括將所述輸出信號(hào)與參考信號(hào)相比較。
10. 根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 將所述輸出信號(hào)與第一參考電壓、第二參考電壓、第三參考電壓和第 四參考電壓相比較，其中各參考電壓與所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的缺陷相關(guān) 聯(lián)，所述缺陷與精確地讀取在所述光存儲(chǔ)介質(zhì)上編碼的數(shù)據(jù)的可能性 相關(guān)聯(lián)。
11. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個(gè)光 檢測(cè)器包括第一光檢測(cè)器和第二光檢測(cè)器，并且所述確定操作包括根 據(jù)公式計(jì)算損害級(jí)別損害級(jí)別平方根(A^V1)A2+B氣V2;T2〉/M其中Vl-來自第一光檢測(cè)器的數(shù)字化電壓，V2-來自第二光檢測(cè)器的數(shù)字化電壓，并且A、 B和M為取決于各檢測(cè)器所需加權(quán)的可調(diào)整參數(shù)。
12. 根據(jù)杯利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個(gè)光 信號(hào)包括激光信號(hào)。
13. —種用于分析光存儲(chǔ)介質(zhì)的裝置，包括 構(gòu)造成支撐所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的平臺(tái)，所述光線存儲(chǔ)介質(zhì)限定具有數(shù)據(jù)層的至少 一個(gè)面；定位成照射所述具有數(shù)據(jù)層的至少一個(gè)面的至少一個(gè)發(fā)光體；至少一個(gè)光檢測(cè)器，其定位成接收從所述光存儲(chǔ)介質(zhì)反射的光，并提供與所述接收到的反射光相關(guān)的輸出信號(hào)；以及至少一個(gè)電路元件，其構(gòu)造成接收來自所述光4企測(cè)器的所述 輸出信號(hào)，并提供指示所述具有數(shù)據(jù)層的至少 一個(gè)面的整體性的輸 出。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè)發(fā)光體定位成沿主軸線照射所述具有凄1據(jù)層的至少一個(gè)面，并且所述 至少 一個(gè)光檢測(cè)器沿主反射軸線定位，所述主反射軸線為從所述光存 儲(chǔ)介質(zhì)的大體上無瑕疵的表面所反射的光.、以及沿所述主軸線入射在 所述無瑕瘋的表面上的光所采取的路徑。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包 括不沿所述主反射軸線定位的至少 一個(gè)離軸光檢測(cè)器。
16. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 光檢測(cè)器為電荷耦合器件。
17. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 光檢測(cè)器為光電二極管。
18. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 電路元件包括至少一個(gè)比較器，所述比較器構(gòu)造成將來自所述至少一 個(gè)光檢測(cè)器的所述輸出信號(hào)與參考電壓相比較，并且提供指示具有數(shù) 據(jù)層的所述至少一個(gè)面的整體性的比較器輸出。
19. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 電路元件包括數(shù)字信號(hào)處理器。
20. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 發(fā)光體定位成沿主軸線照射具有數(shù)據(jù)層的至少一個(gè)面，并且所述至少 一個(gè)光檢測(cè)器包括從主反射軸線離軸定位的第一光檢測(cè)器，所述主反 射軸線為從所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的基本上無瑕疵的表面所反射的光、以及 沿所述主軸線入射在所述無瑕疵的表面上的光所采取的路徑，并且第 二光檢測(cè)器離軸定位并與所述第一光檢測(cè)器成直角。
21. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 電路元件包括數(shù)字信號(hào)處理器，其配置用來根據(jù)公式計(jì)算損害級(jí)別<formula>formula see original document page 4</formula>其中Vh來自所述第一光檢測(cè)器的數(shù)字化電壓，V2:來自所述第二光檢測(cè)器的數(shù)字化電壓，并且A、 B和M為取決于各檢測(cè)器的所需加權(quán)的可調(diào)整參數(shù)。
22. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述平臺(tái)包括 馬達(dá)，所述馬達(dá)可操作地與構(gòu)造成支撐所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的輪轂聯(lián)接， 所述馬達(dá)構(gòu)造成轉(zhuǎn)動(dòng)所述輪轂和被支撐的光存儲(chǔ)介質(zhì)。
23. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包 括可移動(dòng)地安裝的載運(yùn)器，所述載運(yùn)器支撐所述至少一個(gè)發(fā)光體和所 述至少一個(gè)^f企測(cè)器。
24. 根據(jù)權(quán)利要求23所述的裝置，其特征在于，所述載運(yùn)器包 括齒輪，并且還包括可操作地與所述齒輪聯(lián)接的渦輪裝置。
25. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 發(fā)光體為激光器。
26. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 電路元件構(gòu)造成接收來自所述至少一個(gè)光檢測(cè)器的信號(hào)并提供指示 具有數(shù)據(jù)層的至少一個(gè)面上的涂層的整體性的輸出。
27. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 發(fā)光體布置成相對(duì)所述至少一個(gè)光^r測(cè)器移動(dòng)，以掃描所述光存儲(chǔ)介 質(zhì)的若干部分。
28. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 光檢測(cè)器布置成相對(duì)所述至少一個(gè)發(fā)光體移動(dòng)，以掃描所述光存儲(chǔ)介 質(zhì)的若干部分。
29. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述平臺(tái)構(gòu)造 成支撐所述光存儲(chǔ)介質(zhì)以相對(duì)所述至少一個(gè)發(fā)光體和所述至少一個(gè) 光;f企測(cè)器中的至少 一個(gè)提供相對(duì)移動(dòng)。
30. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 計(jì)算損害級(jí)別的操作。
31. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的裝置，其特征在于，所述至少一個(gè) 電路元件包括配置來計(jì)算損害級(jí)別的處理器。
32. —種用來分析光存儲(chǔ)介質(zhì)的裝置，包括 支撐光存儲(chǔ)介質(zhì)的機(jī)構(gòu)； 將光信號(hào)《1導(dǎo)到所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面上的機(jī)構(gòu)；用來檢測(cè)從所述光存儲(chǔ)介質(zhì)反射的光的若干部分并且提供至少一個(gè)輸出信號(hào)的機(jī)構(gòu)；以及用來訪問所述輸出信號(hào)來確定所述光存儲(chǔ)介質(zhì)的所述外表 面的整體性的機(jī)構(gòu)。
全文摘要
公開了能夠檢測(cè)光存儲(chǔ)介質(zhì)上的表面缺陷的各種裝置和相關(guān)方法。裝置的一個(gè)示例構(gòu)造成將可來自一個(gè)或兩個(gè)激光器的至少一個(gè)光信號(hào)引導(dǎo)到光存儲(chǔ)介質(zhì)的外表面，該光存儲(chǔ)介質(zhì)為包括編碼數(shù)據(jù)的諸如CD、DVD或其它介質(zhì)。光遇到光存儲(chǔ)介質(zhì)表面以及其上的任意污跡、劃痕、凹痕或其它缺陷。從缺陷和表面反射的一些或全部的光由可為光電二極管的一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器檢測(cè)。檢測(cè)器產(chǎn)生與檢測(cè)到的反射光相當(dāng)?shù)妮敵鲂盘?hào)，其輸出被處理以確定是否可從光存儲(chǔ)介質(zhì)精確地讀出編碼數(shù)據(jù)。
文檔編號(hào)G06F11/00GK101356504SQ200680050599
公開日2009年1月28日 申請(qǐng)日期2006年11月10日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月10日
發(fā)明者C·C·B·帕蒂, I·B·弗里曼, J·A·奧夫德黑德, J·C·邁爾, J·H·?？寺? T·J·斯克威奧特 申請(qǐng)人:切克弗里克斯公司