專利名稱：一種usbkey跨區(qū)測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本方法是一種充分利用測(cè)試程序繼承性，不破壞原有測(cè)試方案，大量節(jié)省測(cè)試程序開發(fā)周期的方法，主要涉及到嵌入式系統(tǒng)測(cè)試領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
USBKey在結(jié)構(gòu)上是由能完成讀寫功能的集成電路(CPU)、基于設(shè)備的帶有加密保護(hù)的專用存lt器(EEPROM)等其它部件組成,它集數(shù)據(jù)加解密和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)兩大功能于一身，并具有存儲(chǔ)量大、數(shù)據(jù)保密性好、抗干擾能力強(qiáng)、存儲(chǔ)可靠、讀卡設(shè)備簡(jiǎn)單、操作速度快、脫機(jī)工作能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，并且提供了一個(gè)統(tǒng)一的方法來(lái)實(shí)現(xiàn)個(gè)人電腦和網(wǎng)絡(luò)計(jì)算機(jī)應(yīng)用的安全保護(hù),是目前較為理想的信息安全硬件產(chǎn)品。
USBKey產(chǎn)品能很方便的提供駐留在EEPR0M里面的數(shù)字簽名程序，并且通過(guò)COS (CardOperating System)進(jìn)行控制。目前的USBKey產(chǎn)品有很多平臺(tái)移植的項(xiàng)目，也就是在原有嵌入式軟件功能不變的情況下對(duì)EEProm的容量進(jìn)行擴(kuò)大，其中有一種情況是由兩塊單獨(dú)的EEProm組合而成用戶空間。這種情況下，由于兩塊單獨(dú)的EEProm的銜接處，嵌入式軟件處理非常復(fù)雜，相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序會(huì)更加復(fù)雜，開發(fā)周期會(huì)很長(zhǎng)。

發(fā)明內(nèi)容
由于USB產(chǎn)品嵌入式軟件的功能沒有變化，所以如果針對(duì)EEProm銜接處，處于不同的文件結(jié)構(gòu)的時(shí)候單獨(dú)設(shè)計(jì)測(cè)試方案，工作量會(huì)異常的大，這時(shí)就需要一種簡(jiǎn)單易行，測(cè)試點(diǎn)覆蓋全面的測(cè)試方案。而原有的針對(duì)EEProm不分塊的COS的測(cè)試方案是經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間設(shè)計(jì)，嚴(yán)格按照NPD流程執(zhí)行，通過(guò)很多專家的評(píng)審，所測(cè)試產(chǎn)品已經(jīng)經(jīng)過(guò)市場(chǎng)檢驗(yàn)，所以我們認(rèn)為這個(gè)測(cè)試方案對(duì)COS功能方面的測(cè)試點(diǎn)是很全面的，這時(shí)所設(shè)計(jì)的通過(guò)改變?cè)袦y(cè)試程序在EEProm中的位置來(lái)達(dá)到這種測(cè)試需求的測(cè)試方案就應(yīng)運(yùn)而生了。這種測(cè)試方案有以下幾點(diǎn)好處
1、 測(cè)試點(diǎn)覆蓋全面；
2、 測(cè)試方案和測(cè)試代碼開發(fā)周期短；
3、 支持任何大小的EEProm分區(qū)測(cè)試；


1. 圖1是原有測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)全部在高32K的情況。
2. 圖2是原有測(cè)試的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)騎在分界點(diǎn)A的情況。
具體實(shí)施例方式
1. 在原有測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的最頂端加入一個(gè)可變的2進(jìn)制文件；如圖1的2進(jìn)制文件'0100'
2. 通過(guò)改變這個(gè)2進(jìn)制文件'0100'的大小來(lái)影響EEProm中的分界點(diǎn)A處原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中間需要測(cè)試的位置；
3. 比如說(shuō)現(xiàn)在需要測(cè)試ADF的文件名跨區(qū)的情況，那么首先需要改變可變2進(jìn)制文件的大小使A點(diǎn)處于原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)ADF的文件名的中間，然后執(zhí)行原有的測(cè)試腳本；
4. 下一步需要測(cè)試主控密鑰跨區(qū)的情況，那么首先再次改變可變2進(jìn)制文件的大小使A點(diǎn)處于原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)主控密鑰的中間，然后執(zhí)行原有的測(cè)試腳本；
5. 依此類推繼續(xù)測(cè)試直到測(cè)試完成。實(shí)施本發(fā)明可以充分利用測(cè)試程序繼承性，在不破壞原有測(cè)試方案的基礎(chǔ)商縮短測(cè)試程
序開發(fā)周期。 一
以上公開的僅為本發(fā)明的幾個(gè)具體實(shí)施例，但本發(fā)明的保護(hù)范圍并不局限于此，任何本領(lǐng)域的技術(shù)人員能思之的變化都應(yīng)落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1一種USBKEY跨區(qū)測(cè)試方法，其特征在于通過(guò)更改原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)在EEProm中的位置使原有測(cè)試程序不需要經(jīng)過(guò)更改就能達(dá)到測(cè)試分區(qū)EEProm的目的。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種USBKEY跨區(qū)測(cè)試方法，其特征在于更改原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)在 EEProm中的位置是通過(guò)更改其中的一個(gè)可變的2進(jìn)制文件來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
全文摘要
一種USBKEY跨區(qū)測(cè)試方法。本方法利用一個(gè)可變的2進(jìn)制文件，通過(guò)改變2進(jìn)制文件的大小來(lái)影響它后面的原有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)在EEProm中的位置從而達(dá)到測(cè)試分區(qū)EEProm的目的。本發(fā)明的目的在于充分利用測(cè)試程序繼承性，不破壞原有測(cè)試方案，大量節(jié)省測(cè)試程序開發(fā)周期。
文檔編號(hào)G06F11/36GK101464830SQ20071030373
公開日2009年6月24日 申請(qǐng)日期2007年12月21日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月21日
發(fā)明者楊曉陽(yáng) 申請(qǐng)人:北京中電華大電子設(shè)計(jì)有限責(zé)任公司