專利名稱：使用斑紋解相關(guān)的距離映射的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明一般涉及用于映射三維(3D)物體的方法和系統(tǒng)，具體涉及使 用斑紋圖案的光學(xué)測距。
背景技術(shù)：
當(dāng)相干光束穿過漫射體并投射到表面上時，可以在該表面上觀察到初 級斑紋圖案。該初級斑紋由漫射束的不同分量之間的干涉所引起。在本專 利申請和權(quán)利要求書中，在與次級斑紋相區(qū)別的意義上使用術(shù)語"初級斑 紋"，所述次級斑紋是由相干光從物體的粗糙表面漫反射所引起的。
在臺灣專利TW 527528 B和美國專利申請09/616, 606中，Hart描述 了斑紋圖案在高速3D成像系統(tǒng)中的使用，其公開內(nèi)容通過引用結(jié)合于此。 斑紋圖案投射到物體上，并且從多個角度獲取合成圖案的圖像。使用圖案 相關(guān)技術(shù)來使圖像局部地交叉相關(guān)，并且通過使用關(guān)聯(lián)的攝影機(jī)位置信息 來辨析表面，以計算每個局部相關(guān)區(qū)域的三維坐標(biāo)。
在美國專利6,101, 269中，Hunter等人描述了另一種基于斑紋的3D 成像技術(shù)，其公開內(nèi)容通過引用結(jié)合于此。隨機(jī)斑紋圖案投射在3D表面 上并由多個攝影機(jī)成像，以獲得多個二維數(shù)字圖像。處理二維圖像以獲得 該表面的三維特征。

發(fā)明內(nèi)容
現(xiàn)有技術(shù)中已知的基于斑紋的3D映射方法通常依賴于投射到物體上 的斑紋圖案的圖像和基準(zhǔn)表面上的相同斑紋圖案的圖像之間的交叉相關(guān)
的計算。局部交3Ut目關(guān)峰值的位置指示物體表面上的點相對于基準(zhǔn)表面的 移位。因而，這些方法要求斑紋圖案在離照射源的距離范圍上相對不變化， 并且它們能夠僅在這個范圍內(nèi)進(jìn)行有效的3D映射，其中可以找到足夠強(qiáng) 的交叉相關(guān)Jf值。
另 一方面，本發(fā)明的實施例使用與源有距離的斑紋圖案的解相關(guān)來執(zhí)行測距。在離照射源不同的距離范圍處的基準(zhǔn)表面上捕捉斑紋圖案的基準(zhǔn) 圖像。然后將投射到物體上的斑紋圖案的圖像與不同的基準(zhǔn)圖像進(jìn)行比 較，以便識別與物體上的斑紋圖案最強(qiáng)相關(guān)的基準(zhǔn)圖案，從而估計該范圍 內(nèi)的物體位置。然后，如果需要，物體上的斑紋圖案和識別的基準(zhǔn)圖案之
間的局部交X4目關(guān)可以用于執(zhí)行物體表面的精確3D映射。
因此，根據(jù)本發(fā)明的實施例提供了一種用于映射的方法，包括
將來自照射組件的初級斑紋圖案投射到目標(biāo)區(qū)域中；
在目標(biāo)區(qū)域中的離照射組件不同的各個距離處捕捉初級斑紋圖案的 多個基準(zhǔn)圖像；
捕捉投射到目標(biāo)區(qū)域中妁物體表面上的初級斑紋圖案的測試圖像；
將測試圖像與基準(zhǔn)圖像比較以便識別初級斑紋圖案最接近地匹配測 試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像；以及
基于識別的基準(zhǔn)圖像離照射組件的距離來估計物體的位置。
在公開的實施例中，該方法包括求出測試圖像中的物體的多個區(qū)域 上的初級斑紋圖案與識別的基準(zhǔn)圖像中的初級斑紋圖案之間的各個偏移 量，以^t導(dǎo)出物體的三維(3D)圖。
典型地，不同的各個距離中的至少一些軸向間隔大于各個距離處的初 級斑紋圖案的軸向長度。
在一些實施例中，將測試圖像與基準(zhǔn)圖#^行比較包括計算測試圖像 與基準(zhǔn)圖像中的至少一些中的每個之間的各個交X^目關(guān)，以及選擇具有與 測試圖像最大的交叉相關(guān)的基準(zhǔn)圖像。
在公開的實施例中，捕捉測試圖像包括在物體移動的同時捕捉一系列 測試圖像，并且估計位置包括跟蹤物體在目標(biāo)區(qū)域中的運(yùn)動，其中物體是 人體的部位，并且其中跟蹤運(yùn)動包括識別由人體的部位所做出的姿勢和響 應(yīng)于該姿勢而向計算機(jī)應(yīng)用程序提供輸入。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，還提供了一種用于映射的設(shè)備，包括
照射組件，其配置成將初級斑紋圖案損:射到目標(biāo)區(qū)域中；
成像組件，其配置成在目標(biāo)區(qū)域中的離照射組件不同的各個距離處捕 捉初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像，并且捕捉投射到目標(biāo)區(qū)域中的物體表面 上的初級斑紋圖案的測試圖像；以及圖像處理器，其耦合成將測試圖像與基準(zhǔn)圖^Ji行比較，以便識別其 中初級斑紋圖案最接近地匹配測試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像，并 且基于識別的基準(zhǔn)圖像離照射組件的距離來估計該物體的位置。
根據(jù)本發(fā)明的實施例，另外提供了一種計算機(jī)軟件產(chǎn)品，包括存儲程
序指令的計算機(jī)可讀介質(zhì)，所述指令在由計算機(jī)讀取時使計算機(jī)接收由 照射組件投射到目標(biāo)區(qū)域中的初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像，其中在目標(biāo) 區(qū)域中的離照射組件不同的各個距離處捕U準(zhǔn)圖像;接收投射到目標(biāo)區(qū) 域中的物體表面上的初級斑紋圖案的測試圖像；將測試圖像與基準(zhǔn)圖像進(jìn) 行比較，以便識別其中初級斑紋圖案最接近地匹配測試圖像中的初級斑紋 圖案的基準(zhǔn)圖像；以;5L^于識別的基準(zhǔn)圖像離照射組件的距離來估計該物 體的位置。


結(jié)合附圖，從本發(fā)明的實施例的以下詳細(xì)描述中，將會更充分地理解 本發(fā)明，其中
圖l是根據(jù)本發(fā)明實施例的3D測距和映射系統(tǒng)的示意性圖示；
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的斑紋成像裝置的示意性頂視圖3是示意性示出根據(jù)本發(fā)明實施例的離照射組件不同距離處的斑 紋圖案之間的交X^目關(guān)的繪圖；以及
圖4是示意性圖示根據(jù)本發(fā)明實施例的3D測距和映射方法的流程圖。
具體實施例方式
圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的3D測距和映射系統(tǒng)20的示意性圖示。系 統(tǒng)20包括斑紋成像裝置22，該成像裝置22產(chǎn)生初級斑紋圖案并將其投 射到物體28上，并且捕捉在物體上出現(xiàn)的初級斑紋圖案的圖像。裝置22 的設(shè)計和操作細(xì)節(jié)示出在隨后的附圖中，并且在下文中參考附圖對其進(jìn)行 描述。在2006年3月14日提交的PCT專利申請PCT/IL2006/000335中描 述了系統(tǒng)20的原理和操作的其它方面，該專利申請被轉(zhuǎn)讓給本專利申請 的受讓人，其公開內(nèi)容通過引用結(jié)合于此。
圖像處理器24處理裝置22所產(chǎn)生的圖像數(shù)據(jù)，以便確定物體28的 位置并執(zhí)行物體的3D測距和映射。如在本專利申請和權(quán)利要求書中使用的術(shù)語"3D測距"指的是在3D坐標(biāo)框架中測量或估計從給定坐標(biāo)原點到 物體位置的距離。術(shù)語"3D圖"指的是表示物體表面的一組3D坐標(biāo)?；?于圖像數(shù)據(jù)的這種圖的推導(dǎo)還可以被稱為"3D重建"。
確定物體位置和執(zhí)行這種重建的圖像處理器24可以包括通用計算機(jī) 處理器，該通用計算機(jī)處理器用軟件編程來執(zhí)行在下文中描述的功能。例 如，軟件可以經(jīng)由網(wǎng)絡(luò)以電子形式下載到處理器24,或者可以可替選地 提供在諸如光學(xué)、磁或電子存儲器介質(zhì)之類的有形介質(zhì)上。可替選地或另 外地，圖像處理器的一些或所有功能可以用專用的硬件執(zhí)行，如定制或半 定制的集成電路或可編程的數(shù)字信號處理器(DSP)。雖然處理器24作為 例子在圖1中被示出為相對于成^象裝置22的分立單元，但是可以通過成 像裝置殼體之內(nèi)的或者與成像裝置相關(guān)聯(lián)的合適專用電路來執(zhí)行處理器 24的一些或所有處理功能。
由處理器24所產(chǎn)生的3D信息可以用于廣泛的不同目的。例如，3D 圖可以M送到輸出裝置如顯示器26，其示出物體的擬3D圖像。在圖1 示出的例子中，物體28包括對象身體的全部或一部分(例如手)。在這種 情況下，系統(tǒng)20可以用于提供基于姿勢的用戶界面，在該用戶界面中， 借助于裝置22檢測到的用戶運(yùn)動代替諸如鼠標(biāo)、操縱桿或其它附件之類 的觸覺界面元件來控制諸如游戲之類的交互計算機(jī)應(yīng)用程序?？商孢x地， 系統(tǒng)20可以用于其它類型物體的測距和映射，基本上可以用于需要3D 坐標(biāo)輪廓的任何應(yīng)用。
圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的裝置22的示意性頂視圖。照射組件30 包括典型地為激光器的相干光源34和漫射體36。(在本專利申請的上下 文中，術(shù)語"光"指的是任何種類的光輻射，包括紅外線、紫外線以及可 見光。)由光源34發(fā)出的光束穿過漫射體，從分束器44反射，并照射物 體28所在的目標(biāo)區(qū)域46。圖像捕捉組件32捕捉投射到物體28上的斑紋 圖案的圖像。組件32包括物鏡光學(xué)器件38,該物鏡光學(xué)器件38將圖像 聚焦到圖^象傳感器40上。典型地，傳感器40包括檢測器元件42的陣列， 如基于CCD或CMOS的圖像傳感器陣列。
為了簡化和4更于+兌明，照射組件和圖像捕捉組件32的光軸在圖2中 被示為共線。這種設(shè)置適合于下面描述的基于斑紋解相關(guān)的那種測距。另 一方面，基于斑紋交X^目關(guān)的3D重建一般使用三角測量，為此成像軸典 型地相對于照射軸移位。例如，在上面提到的PCT專利申請 PCT/IL2006/000335中示出了這種i殳置?；诮庀嚓P(guān)的測距原理可以類似
7地應(yīng)用在這種非共線系統(tǒng)中。
在隨后的說明中，假設(shè)Z軸由圖像捕捉組件32的光軸來限定。如圖 2所示，原點被取為光學(xué)器件38的入射光瞳，或者等效地取為漫射體36 的表面。對于超過瑞利(Rayleigh)距離的物距Z勿，斑紋圖案具有平均軸向
長度jp(^過f義，其中入是波長，w。是由源34在漫射體36上形成的斑
點的尺寸。(假設(shè)光學(xué)器件38的光瞳直徑遠(yuǎn)大于w。，使得可以忽略由圖像 捕捉組件32引起的次級斑紋)。對于軸向間隔小于AZ的位置，作為角度 相對于Z軸的函數(shù)的初級斑紋圖案基本上不隨Z而變化。換言之，彼此軸 向移位小于AZ的被投射到區(qū)域46中的表面上的斑紋圖案將具有高的交
叉相關(guān)(受制于可能必然的橫向移動和縮放^Mt)。為了感測和處理這些
斑紋圖案，圖像捕捉組件32應(yīng)該能夠在至少AZ的深度上聚焦。
另一方面，在區(qū)域46中大于AZ的軸向距離上，斑紋的角度形狀以隨 機(jī)的方式變化。因此，軸向間隔大于AZ的表面上的各個斑紋圖案將會不 相關(guān)。換言之，離照射組件30不同距離處的斑紋圖案在AZ以下的短距 離內(nèi)高度相關(guān)，并且隨著距離增加到AZ以上而解相關(guān)。
圖3是示意性示出根據(jù)本發(fā)明實施例的離照射組件30不同距離處的 斑紋圖案之間的交叉相關(guān)的繪圖。對于這幅繪圖而言，在離原點不同的各 個距離處，如在圖2中標(biāo)記為Z" Z2、 Zs…的置信位置處，以連續(xù)的平面 捕捉投射的斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像。(在基于圖3的試驗中，故意將AZ設(shè) 置成低值，基準(zhǔn)平面以5腿相隔。)然后，在離原點不同的距離處的物體 上(對于這個試驗而言，物體還可以是平的)捕捉斑紋圖案的測試圖像， 并且在每個測試圖像和每個基準(zhǔn)圖像之間計算交3UN關(guān)。
如圖3所示，只有沿著對角線，亦即對于幾乎相等的測試平面和基準(zhǔn)平面的距離，才會發(fā)現(xiàn)測試圖像和基準(zhǔn)圖像中的斑紋圖案之間的高度相 關(guān)。偏離對角線的測試/基準(zhǔn)圖^Xt給出了非常小的交叉相關(guān)值。這樣一
來，通過計算目標(biāo)區(qū)域46中的未知位置處的物體的測試圖像和每個基準(zhǔn) 圖像之間的交叉相關(guān)，就可以確定物體離照射組件的距離范圍。該距離測
量的分辨率大約等于斑紋長度AZ。測量誤差由趁=J— = —7》給出。
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返回到圖2示出的例子，假設(shè)AZ大約等于相鄰置信距離Z" Z2、 Z3… 之間的距離，位置l處的物體28上的斑紋圖案將與Z2處捕捉的斑紋圖案 的基準(zhǔn)圖像相關(guān)。另一方面，ZB處的物體上的斑紋圖案將與Z3處的基準(zhǔn)圖 #4目關(guān)。這些相關(guān)測量結(jié)果給出了物體離原點的大致距離。然后，為了以 三維來映射物體，處理器24可以使用與給出最接近匹配的基準(zhǔn)圖像的局 部交叉相關(guān)。
圖4是示意性圖示根據(jù)本發(fā)明實施例的3D測距和映射方法的流程圖。 為了清^見，在下文中參考如圖l和圖2所示的系統(tǒng)20來描述該方法。 然而，該方法可以類似地應(yīng)用在其他種類的基于斑紋的成4象系統(tǒng)中，如上 面在本發(fā)明的背景技術(shù)中引用的參考文件或上述PCT專利申請 PCT/IL2006/000335中所描述的那些成4象系統(tǒng)。
在準(zhǔn)備對物體進(jìn)行測距和成像時，在基準(zhǔn)捕捉步驟50處，操作成像 裝置22以捕捉一系列基準(zhǔn)斑紋圖像。為此目的，例如可以在沿著Z軸離 原點不同的一系列已知置信距離處，如在L、 Z2、 L…處，放置平坦的表 面，并且成像組件32在每個距離處捕捉由照射組件30損:射到該表面上的 斑紋圖案的相應(yīng)圖像。典型地，置信距離之間的間隔小于或等于軸向斑紋 長度。雖然在圖2中大約相等地隔開Zi、 Z2、 Z3...，但是間隔可以可替選 地隨著范圍而增加。
在測試捕捉步驟52處，將物體28引入到目標(biāo)區(qū)域46中，并且裝置 22捕捉投射在物體表面上的斑紋圖案的測試圖像。然后，在測距步驟54 處，處理器24計算測試圖像和每個基準(zhǔn)圖像之間的交叉相關(guān)。在圖2所
示的同軸配置中，可以計算交JU目關(guān)而不用調(diào)整測試圖像中的斑紋圖案相 對于基準(zhǔn)圖像的相對移動或縮放。另一方面，在非同軸的設(shè)置中，如在上
9面提到的PCT專利申請中示出的那樣，有可能希望針對測試圖^M目對于每 個基準(zhǔn)圖像的若干不同橫向(Y方向)移動來計算交5U目關(guān)，并且可能針 對兩個或更多不同的縮放因子來計算交5U目關(guān)。這些調(diào)^賴于測距和映 射系統(tǒng)的特定配置，并且對本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將會是明顯的。
處理器24識別基準(zhǔn)圖像，該基準(zhǔn)圖像具有與測試圖像的最高交JUf目 關(guān)，并且這樣一來物體28離裝置22中的照射組件30的距離就大約等于 這個特殊基準(zhǔn)圖像的置信距離。如果僅需要物體的大概位置，則該方法可 以在此結(jié)束。
可替選地，在重建步驟56處，處理器24可以重建物體28的3D圖。 為此目的，處理器典型地測量測試圖4象中的物體表面上的不同點處的斑紋 圖案和在步驟54處被識別為具有與測試圖像最高交5U目關(guān)的基準(zhǔn)圖像中 的斑紋圖案的相應(yīng)區(qū)域之間的局部偏移量。然后，處理器基于偏移量4吏用 三角測量來確定這些物體點的Z坐標(biāo)。在上述PCT專利申請和上面引用的 其他參考文件中描述了可以用于這些目的的方法。然而，與單獨(dú)通it基于 斑紋的三角測量一般所能夠?qū)崿F(xiàn)的相比，步驟54處的測距和步驟56處的 3D重建的結(jié)合使得系統(tǒng)20能夠在Z方向上的大得多的范圍之上執(zhí)行精確 的3D重建。
可以連續(xù)重復(fù)步驟52-56,以便在目標(biāo)區(qū)域46內(nèi)跟蹤物體28的運(yùn)動。 為此目的，在物體移動的同時，裝置22捕捉一系列的測試圖像，并且處 理器24重復(fù)步驟54，并且可選地重復(fù)步驟56，以侵_跟蹤物體的3D運(yùn)動。 通過假設(shè)物體自從前次迭代以來尚未移動得太遠(yuǎn)，可以相對于基準(zhǔn)圖像中 的僅僅一些來在步驟54處計算相關(guān)。
雖然上面描述的實施例在特定的具體配置中^f吏用特定類型的光學(xué)和 成像裝置，但是本發(fā)明的原理可以類似地應(yīng)用在初級斑紋圖案被投射或成 像的其他配置中。例如，在本發(fā)明的另一個實施例中(未在圖中示出)， 通過對透過物體的斑紋圖案進(jìn)行成像而不是對如在圖2的配置中那樣的 從物體表面反射的斑紋圖案進(jìn)行成像來測量透明物體的厚度。
因而，應(yīng)該意識到上面描述的實施例作為例子來被引用，并且本發(fā)明 不限于上面已具體示出和描述的內(nèi)容。更確切地，本發(fā)明的范圍包括上面 所述的不同特征的組合和再組合，以及本領(lǐng)域技術(shù)人員在讀到上述描述時 可以想到的且在現(xiàn)有技術(shù)中未公開的變化和修改。
權(quán)利要求
1.一種用于映射的方法，包括將來自照射組件的初級斑紋圖案投射到目標(biāo)區(qū)域中；在所述目標(biāo)區(qū)域中的離所述照射組件不同的各個距離處捕捉所述初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像；捕捉投射到所述目標(biāo)區(qū)域中的物體表面上的初級斑紋圖案的測試圖像；將所述測試圖像與所述基準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較，以便識別其中初級斑紋圖案最接近地匹配所述測試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像；以及基于識別的基準(zhǔn)圖像離所述照射組件的距離來估計所述物體的位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，包括求出所述測試圖像中的物體的多個區(qū)域上的初級斑紋圖案和識別的基準(zhǔn)圖像中的初級斑紋圖案之間的各個偏移量，以便導(dǎo)出所述物體的三維(3D)圖。
3. 根據(jù)權(quán)利1或2所述的方法，其中所述不同的各個距離中的至少一些軸向間隔大于各個距離處的所述初級斑紋圖案的軸向長度。
4. 才艮據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中將所述測試圖〗象與所述基準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較包括計算所述測試圖像和所述基準(zhǔn)圖像中的至少一些中的每個之間的各個交iU目關(guān)，并選擇具有與所述測試圖像最大的交5U目關(guān)的基準(zhǔn)圖像。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的方法，其中捕捉所述測試圖4象包括在所述物體移動的同時捕捉一系列測試圖像，并且其中估計所述位置包括跟蹤所述物體在所述目標(biāo)區(qū)域中的運(yùn)動。
6. 才艮據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其中所述物體是人體的部位，并且其中跟蹤所述運(yùn)動包括識別由所i^體的部位做出的姿勢和響應(yīng)于該姿勢而向計算機(jī)應(yīng)用程序提供輸入。
7. —種用于映射的i殳備，包括照射組件，其配置成將初級斑紋圖案投射到目標(biāo)區(qū)域中；成像組件，其配置成在目標(biāo)區(qū)域中的離所述照射組件不同的各個距離處捕捉所述初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像，并且捕捉投射到所述目標(biāo)區(qū)域中的物體表面上的初級斑紋圖案的測試圖像；以及圖像處理器，其耦合成將所述測試圖像與所述基準(zhǔn)圖^ii行比較，以便識別其中初級斑紋圖案最接近地匹配所述測試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像，以M于識別的基準(zhǔn)圖像離所述照射組件的距離來估計所述物體的位置。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的設(shè)備，其中所述圖像處理器設(shè)置成求出所述測試圖像中的物體的多個區(qū)域上的初級斑紋圖案和識別的基準(zhǔn)圖像中的初級斑紋圖案之間的各個偏移量，以l更導(dǎo)出所述物體的三維(3D)圖。
9. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的設(shè)備，其中所述不同的各個距離中的至少一些軸向間隔大于各個距離處的所述初級斑紋圖案的軸向長度。
10. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的設(shè)備，其中圖像處理器設(shè)置成計算所述測試圖像和所4準(zhǔn)圖像中的至少一些中的每個之間的各個交叉相關(guān)，以及選擇具有與所述測試閨像最大的交JU目關(guān)的基準(zhǔn)圖像。
11. 根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的設(shè)備，其中所述成像組件配置成在所述物體移動的同時捕捉一系列測試圖像，并且其中所述圖像處理器設(shè)置成處理所述測試圖像，以便跟蹤所述物體在所述目標(biāo)區(qū)域中的運(yùn)動。
12. 根據(jù)權(quán)利要求11所述的設(shè)備，其中所述物體是人體的部位，并且其中所述圖像處理器設(shè)置成識別由所il^體的部位做出的姿勢和響應(yīng)于該姿勢而向計算機(jī)應(yīng)用程序提供輸入。
13. —種計算機(jī)軟件產(chǎn)品，包括存儲計算機(jī)指令的可讀計算機(jī)介質(zhì)，所述指令在由計算機(jī)讀取時使所述計算機(jī):接收由照射組件投射到目標(biāo)區(qū)域中的初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像，其中在目標(biāo)區(qū)域中的離所述照射組件不同的各個距離處捕捉所述基準(zhǔn)圖像；接收投射在所述目標(biāo)區(qū)域中的物體表面上的初級斑故圖案的測試圖像；將所述測試圖像與所述基準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較，以便識別其中初級斑紋圖案最接il^匹配所述測試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像；以M于識別的基準(zhǔn)圖像離所迷照射組件的距離來估計所述物體的位置。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的產(chǎn)品，其中所述指令使計算機(jī)求出所述測試圖像中的物體的多個區(qū)域上的初級斑紋圖案和識別的基準(zhǔn)圖像中的初級斑紋圖案之間的各個偏移量，以便導(dǎo)出所述物體的三維(3D)圖。
全文摘要
一種用于映射的方法包括將來自照射組件(30)的初級斑紋圖案投射到目標(biāo)區(qū)域(46)中。在目標(biāo)區(qū)域中的離照射組件不同的各個距離處捕捉初級斑紋圖案的多個基準(zhǔn)圖像。投射到目標(biāo)區(qū)域中的物體(28)表面上的初級斑紋圖案的測試圖像被捕捉并且與基準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較，以便識別其中初級斑紋圖案最接近地匹配測試圖像中的初級斑紋圖案的基準(zhǔn)圖像?；谧R別的基準(zhǔn)圖像離照射組件的距離來估計該物體的位置。
文檔編號G06K9/00GK101496032SQ200780006560
公開日2009年7月29日 申請日期2007年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2006年2月27日
發(fā)明者哈維爾·加西亞, 澤埃夫·扎列夫斯基 申請人:普萊姆傳感有限公司