專利名稱：外接接口測試卡的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及到一種測試卡，特別是涉及到一種外接接口測試P。
背景技術：
現(xiàn)有技術中欲量測取得主板中PCI-X插槽(Slot)及PC工Express插槽 (Slot)的PCI-XZPCT Express信號(Signals),必須插上一塊某專業(yè)功能可 運作的功能卡，如10/100/1000網絡卡、SAS卡、顯示卡。而且若在同一個案 子上需要PCI Express X1/X4/X8/X16與PCI-X接門的功能卡時，不容易配齊上 述功能卡，而使得測試無法用一塊測試卡即能完成，而需要不斷更換各種規(guī)格 之測試卡來進行測試，不但麻煩費時，且操作上容易出錯。
因此，若是具有一塊兼具多種接口的功能卡，在測試時，攜帶以及準備都 是很方便的。
發(fā)明內容
本實用新型提出了一種兼具多種外接卡功能的測試卡，解決了同時對多個 外接接口進行測試時的功能卡不易配齊的問題。
本實用新型的技術方案為 一種外接接口測試卡，其設置有 一本體，此
本體上設置有一具多數門電路的可編程器件，其口」-對總線上的通信數據進行編
碼/解碼；在該可編程器件內寫入不同功能的程序代碼，可仿真成不同功能的處
理器，擔任處理、解讀數據的功能；若干各種規(guī)格的外接卡接腳，此種接腳設 置在該本體上，同時，該種接腳與該可編程器件電性連接； 一顯示元件，此顯
示元件與該可編程器件相聯(lián)接，顯示該可編程器件所傳輸的信息，通過觀測此 顯示元件可取得測試結果。
本實用新型利用該可編程器件與各種規(guī)格的外接卡接腳配合，可模擬成各 種功能的外接卡，以進行對外接接口的測試，達到一個外接p可替代多種外接 功能卡進行測試的目的，方便測試進行。


圖1為本實用新型測試卡結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖詳述木實用新型的實施例。 如圖1所示， 一種外接接口測試卡，其設置有 一本體IO，此測試卡本體 10上設置有一現(xiàn)場可編程門陣列11 (FPGA)，其具有多數門電路，可對總線上
的通信數據進行編碼/解碼；在該現(xiàn)場可編程門陣列11內寫入不同功能的程序 代碼，可仿真成不同功能的處理器，擔任處理、解讀數據的功能；此塊測試卡
中的現(xiàn)場可編程門陣列11是控制核心，具有依用途所需的可程序規(guī)劃通用可編
程輸入輸出口 111 (General Purpose Input Output, GPIO)及PCI Express 口 110。此現(xiàn)場可編程門陣列11中的PCI Express (Peripheral Component Interconnection Express) 口 110是為可擔任處理/解讀的能力。
若干各種規(guī)格的外接卡接腳，此種接腳設置在該本體10上，同時，該種接 腳與該現(xiàn)場可編程門陣列11電性連接；本實施例中，有四種PCI Express接腳 PCI ExpressXl/X4/X8/X16，分別設置在上述本體10周邊，并電性連接到該現(xiàn) 場可編程門陣列11的PCI Express 口 110。
在該本體10上還可樞接一 PCI--X接腳30，此PCI-X接腳30與現(xiàn)場可編程 門陣列11的通用可編程輸入輸出口 111聯(lián)接。該現(xiàn)場可編程門陣列11的通用 可編程輸入輸出口 lll可規(guī)劃模擬成PCI-X總線上的一顆特定功能的處理芯片， 如總線資料編碼/解碼(Coder/Decoder)。由于結構限制而將該PCI-X接腳30 設置為樞接、可拆卸，使其方便更換。
一顯示元件12，此顯示元件12與該現(xiàn)場可編程門陣列11相聯(lián)接，顯示該 現(xiàn)場可編程門陣列11所傳輸的信息，通過觀測此顯示元件12可取得測試結果； 此顯示元件12可為一液晶顯示器121 (LCD)及一發(fā)光二極管120 (LED),該液 晶顯示器121可顯示該現(xiàn)場可編程門陣列11所傳輸的相關信息；該發(fā)光二極管 120可用亮、滅表示線路是否正常運行。
在該現(xiàn)場可編程門陣列11與各外接卡接腳間，設置有一可切換接腳與現(xiàn)場 可編程門陣列11連通的切換器，此切換器可為PCI選擇芯片20 (Peripheral Component Interconnection Express Switch Integrated Circuit, PCIe Switch IC)，其可在該其中一PCI Express接腳連接的情況下，切斷其他接腳與該現(xiàn)場 可編程門陣列l(wèi)l的連通，以保障使用中的接腳的通信質量。故在各種規(guī)格的接 腳與現(xiàn)場可編程門陣列11之間添加一 PCI選擇芯片20;同時該PCI選擇芯片 20有數個接腳可驅動發(fā)光二極管120，當其PCIe總線正常運作時，發(fā)光二極管 120亮；反之，則滅；以亮、滅表示正在測試的接腳和線路是否正常運作。
該通用可編程輸入輸出口 111還可控制液晶顯示器121顯示相關的信息以 及將PCI選擇芯片20規(guī)劃成所需的切換信道模式。
還有一電源轉換器40 (DC/DC)，其一端與各接腳電性連接，另一端與本測 試卡上需要供電的各元件相連接；用以調整由主板經接腳所傳輸電流的電壓， 并在調整后供應給所需供電的各元件(LCD、 LED、 IC等)。
本測試卡在測試時，首先選擇與被測試接口相對應的接腳，插入到被測試
接口中，如在測試PCI ExpressXl接口時，先將PC工ExpressXl接腳插入接 口導通；然后，該PCI選擇芯片20可接收到該PCI ExpressXl接腳導通的信息， 并在通用可編程輸入輸出口 111的控制下將除PCI ExpressXl接腳外的各接腳 線路關閉，僅使PCI ExpressXl接腳與現(xiàn)場可編程門陣列11聯(lián)通；再是，該現(xiàn) 場可編程門陣列11對PCI ExpressXl接口進行測試，該現(xiàn)場可編程門陣列11 通過PCI ExpressXl接腳可接收到PCI總線發(fā)送給PCI ExpressXl接口的信號， 該現(xiàn)場可編程門陣列11對該等信號進行解碼辨識，以確定該PCI ExpressXl接 口線路是否能正常運行；如正常該發(fā)光二極管120則亮，否則滅；該PCI ExpressXl接口運行狀態(tài)等數據信息，則通過液晶顯示器121顯示；同時該現(xiàn)場 可編程門陣列11可回饋編碼信息到總線。
如需測試PCI-X接口，可在本體10上接入該PCI X接腳30，按照上段中步
驟進行操作。
本實用新型設計，使得本測試卡可由主板接口的布置進行垂直、水平插卡 測試。
測試時，透過經特地安排布置的測點以及為其測試點加上的標示以及文字 注明，更能迅速地完成。
權利要求1.一種外接接口測試卡，其特征在于，此種測試卡包括一本體，此本體上設置有一具多數門電路的可編程器件，可對總線上的通信數據進行編碼/解碼；若干各種規(guī)格的外接卡接腳，此種接腳設置在該本體上，同時，該種接腳與該可編程器件電性連接；一顯示元件，此顯示元件與該可編程器件相聯(lián)接，顯示該可編程器件所傳輸的信息。
2. 根據權利要求1所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，在該可編程器 件與各外接卡接腳間，設置有一可切換接腳與可編程器件連通的切換器。
3. 根據權利要求1所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，該可編程器件 可為現(xiàn)場可編程門陣列。
4. 根據權利要求1所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，在該本體上還 可樞接一PCI-X接腳，此接腳與可編程器件聯(lián)接。
5. 根據權利要求1所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，該顯示元件可 為一液晶顯示器和一發(fā)光二極管。
6. 根據權利要求2所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，該切換器可為 一PCIe Switch IC。
7. 根據權利要求1所述的外接卡接口測試卡，其特征在于，還有二電源轉 換器，其一端與各接腳電性連接，另一端與各需供電元件電性連接。
專利摘要本實用新型揭示了一種外接接口測試卡，其包括一本體，此本體上設置有一具多數門電路的可編程器件，該可編程器件內寫入不同功能的程序代碼，仿真成不同功能的處理器；若干各種規(guī)格的外接卡接腳，此種接腳設置在該本體周邊，并與該可編程器件電性連接；一顯示元件，此顯示元件與該可編程器件相聯(lián)接，通過觀測此顯示元件可取得測試結果；本設計利用該可編程器件與各種規(guī)格的外接卡接腳配合，將本測試卡模擬成具有各種功能的外接卡，以替代多種外接功能卡進行測試。
文檔編號G06F11/267GK201196777SQ20082004686
公開日2009年2月18日 申請日期2008年4月25日 優(yōu)先權日2008年4月25日
發(fā)明者邱科廷 申請人:佛山市順德區(qū)順達電腦廠有限公司