專利名稱：改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法和具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法和具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的系 統(tǒng)。
背景技術(shù)：
聚烯烴反應(yīng)器系統(tǒng)通常依賴于樹脂性能的周期性或間歇性測(cè)量結(jié)果。一般通過從 工藝系統(tǒng)中抽取的樹脂樣品確定所述測(cè)量結(jié)果。聚烯烴樹脂品質(zhì)的實(shí)時(shí)測(cè)量結(jié)果可能由于 不同的原因而受到明顯誤差的影響。這些誤差可能是取樣問題、實(shí)驗(yàn)室工藝步驟采用不當(dāng)、 設(shè)備誤差或其它原因引起的。如果樹脂性能測(cè)量結(jié)果具有明顯誤差并隨后用于反應(yīng)器控 制，則可能因基于這些錯(cuò)誤測(cè)量結(jié)果的響應(yīng)而引起顯著的工藝混亂。然而，如果能夠標(biāo)記出 “可能錯(cuò)誤”的取樣測(cè)量結(jié)果，則可相應(yīng)地遵照所述取樣測(cè)量結(jié)果采取行動(dòng)并可保持明顯較 好的反應(yīng)器控制。目前，由操作人員來決定實(shí)驗(yàn)室讀數(shù)是否適合輸入自動(dòng)操作系統(tǒng)或用于 手動(dòng)操作。由于確定讀數(shù)適用性的復(fù)雜性，該方法通常并不有效?，F(xiàn)有方法的復(fù)雜性和不 確定性使得操作人員的決定不夠及時(shí)、一致或準(zhǔn)確。本申請(qǐng)尋求的改善是將聚合物性能讀 數(shù)標(biāo)記為合格或不合格，然后再將這些測(cè)量結(jié)果用于控制反應(yīng)器變量和條件。美國(guó)專利5，260, 882描述了性能評(píng)估方法，該方法采用通過化學(xué)動(dòng)力學(xué)、統(tǒng)計(jì)熱 力學(xué)和分子力學(xué)確定的約束條件如下將實(shí)驗(yàn)信息(包括關(guān)于所關(guān)注的大分子聚合物或共 聚物的實(shí)驗(yàn)信息)用于物質(zhì)物理性能的評(píng)估首先將物質(zhì)限定為分子化學(xué)組合物，其次當(dāng)3 維重疊(3-dimensionally folded)時(shí)評(píng)估分子化學(xué)組合物的性能，然后使所述組合物形成 聚合簇(polymeric cluster)，接著評(píng)估聚合簇的物理性能，最后制備具有評(píng)估性能的聚合 物。美國(guó)專利5，550，630描述了分析化學(xué)有機(jī)化合物、聚合物、多核苷酸和肽的結(jié)構(gòu) 的方法。該方法利用紫外和/或可見光譜寬區(qū)或窄區(qū)中的光譜光吸收積分強(qiáng)度并使這些參 數(shù)累加地與所分析的化合物的結(jié)構(gòu)特性建立聯(lián)系。對(duì)于聚合物、核苷酸和/或肽的分析，利 用紫外光窄區(qū)中的光譜吸收積分強(qiáng)度，從而能夠確定所分析化合物的分子量和全部氨基酸 組成。所有這些步驟在自動(dòng)分光光度結(jié)構(gòu)分析儀中相互銜接。美國(guó)專利6，406，632描述了聚合物樣品的快速表征和掃描，以確定平均分子量、 分子量分布和其它性能。美國(guó)專利6，687，621描述了預(yù)測(cè)聚合物的所需性質(zhì)和/或性能，和/或確定和設(shè) 計(jì)具有上述預(yù)期性質(zhì)和/或性能的聚合物的方法，其中可由組合物中純的未稀釋聚合物或者稀釋聚合物提供預(yù)期性質(zhì)。該方法為QSAR方法，其中所使用的描述符為實(shí)驗(yàn)生成和/或 由一種或多種分析方法導(dǎo)出的結(jié)構(gòu)描述符。 盡管在聚合物性能預(yù)測(cè)模型的開發(fā)方面取得了研究成果，但仍需改善聚合物性能 預(yù)測(cè)的方法和具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的系統(tǒng)。此外，需要自動(dòng)確定實(shí)驗(yàn)室測(cè)量結(jié) 果的適用性的方法，該方法利用(1)聚合物樣品性能測(cè)量結(jié)果的預(yù)期標(biāo)準(zhǔn)偏差和/或(2) 工藝模型和測(cè)量結(jié)果不確定性的評(píng)估。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供改善聚合物性能的預(yù)測(cè)并隨后控制聚合物性能的方法和具有改善的 聚合物性能預(yù)測(cè)能力的系統(tǒng)。本發(fā)明的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法包括下述步驟(1)提 供聚合物；( 提供預(yù)測(cè)模型；C3)采用所述預(yù)測(cè)模型限定平均聚合物性能預(yù)測(cè)值；(4)確 定適用范圍；( 測(cè)量所述聚合物的一種或多種性能；(6)確定所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物 性能是否落在所述適用范圍內(nèi)；(7)如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在適用范圍內(nèi) 則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能有效，或者如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在 適用范圍以外則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能無效；(8)校正所述預(yù)測(cè)模型；(9)重復(fù) 前述步驟至少一次或多次；和(10)從而改善聚合物性能的預(yù)測(cè)。本發(fā)明的具有改善的聚合 物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)包括至少一個(gè)聚合反應(yīng)器；自動(dòng)預(yù)測(cè)模型；測(cè)量一種或多種 聚合物性能的裝置；檢測(cè)一種或多種錯(cuò)誤實(shí)測(cè)聚合物性能的裝置；校正所述自動(dòng)預(yù)測(cè)模型 的裝置。在一種實(shí)施方案中，本發(fā)明提供改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，該方法包括下述步 驟(1)提供聚合物；( 提供預(yù)測(cè)模型；C3)采用所述預(yù)測(cè)模型以限定平均聚合物性能預(yù) 測(cè)值；(4)確定適用范圍；( 測(cè)量所述聚合物的一種或多種性能；(6)確定所述一種或多 種實(shí)測(cè)聚合物性能是否落在所述適用范圍內(nèi)；(7)如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落 在適用范圍內(nèi)則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能有效，或者如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚 合物性能落在適用范圍以外則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能無效；(8)校正所述預(yù)測(cè) 模型；(9)重復(fù)前述步驟至少一次或多次；和(10)從而改善聚合物性能的預(yù)測(cè)。在替換性實(shí)施方案中，本發(fā)明提供根據(jù)任意前述實(shí)施方案的改善聚合物性能預(yù)測(cè) 的方法，不同的是平均聚合物性能預(yù)測(cè)值為\。在替換性實(shí)施方案中，本發(fā)明提供根據(jù)任意前述實(shí)施方案的改善聚合物性能預(yù)測(cè)
的方法，不同的是適用范圍如下確定 \
權(quán)利要求
1.一種改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，該方法包括下述步驟 提供聚合物；提供預(yù)測(cè)模型；利用所述預(yù)測(cè)模型限定平均聚合物性能預(yù)測(cè)值； 確定適用范圍；測(cè)量所述聚合物的一種或多種性能；確定所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能是否落在所述適用范圍內(nèi)； 如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在所述適用范圍內(nèi)則使所述一種或多種實(shí)測(cè) 聚合物性能有效，或者如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在所述適用范圍以外則使所 述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能無效； 任選地校正所述預(yù)測(cè)模型； 重復(fù)前述步驟至少一次或多次；和 從而改善所述聚合物性能的預(yù)測(cè)。
2.權(quán)利要求1的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，其中所述平均聚合物性能預(yù)測(cè)值為\。
3.權(quán)利要求2的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，其中所述適用范圍如下確定 f
4.權(quán)利要求2的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，其中所述適用范圍如下確定 太
5.權(quán)利要求3或4的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，其中所述&通過
6.權(quán)利要求2的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法，其中所述適用范圍通過Xis= ^cp(I-GleIta)u和Xs= Xp(l+delta)確定，其中\(zhòng)為模型預(yù)測(cè)基礎(chǔ)平均值。
7.一種具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括 至少一個(gè)聚合反應(yīng)器；自動(dòng)預(yù)測(cè)模型；用于測(cè)量一種或多種聚合物性能的裝置； 用于檢測(cè)一種或多種錯(cuò)誤實(shí)測(cè)聚合物性能的裝置；和 用于校正所述自動(dòng)預(yù)測(cè)模型的裝置。
8.權(quán)利要求7的具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)，其中所述用于測(cè)量一種 或多種聚合物性能的裝置為自動(dòng)裝置。
9.權(quán)利要求7的具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)，其中所述用于檢測(cè)一種 或多種錯(cuò)誤實(shí)測(cè)聚合物性能的裝置為自動(dòng)裝置。
10.權(quán)利要求7的具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)，其中所述用于校正所 述自動(dòng)預(yù)測(cè)模型的裝置為自動(dòng)裝置。
11.權(quán)利要求7的具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)，其中所述自動(dòng)預(yù)測(cè)模 型為計(jì)算機(jī)模型。
全文摘要
本發(fā)明為改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法和具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的系統(tǒng)。本發(fā)明的改善聚合物性能預(yù)測(cè)的方法包括下述步驟(1)提供聚合物；(2)提供預(yù)測(cè)模型；(3)利用所述預(yù)測(cè)模型限定平均聚合物性能預(yù)測(cè)值；(4)確定適用范圍；(5)測(cè)量所述聚合物的一種或多種性能；(6)確定所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能是否落在所述適用范圍內(nèi)；(7)如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在所述適用范圍內(nèi)則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能有效，或者如果所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能落在所述適用范圍以外則使所述一種或多種實(shí)測(cè)聚合物性能無效；(8)任選地校正所述預(yù)測(cè)模型；(9)重復(fù)前述步驟至少一次或多次；和(10)從而改善所述聚合物性能的預(yù)測(cè)。本發(fā)明的具有改善的聚合物性能預(yù)測(cè)能力的聚合系統(tǒng)包括至少一個(gè)聚合反應(yīng)器；自動(dòng)預(yù)測(cè)模型；用于測(cè)量一種或多種聚合物性能的裝置；用于檢測(cè)一種或多種錯(cuò)誤實(shí)測(cè)聚合物性能的裝置；和用于校正所述自動(dòng)預(yù)測(cè)模型的裝置。
文檔編號(hào)G06F19/00GK102124467SQ200880110574
公開日2011年7月13日 申請(qǐng)日期2008年7月24日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月7日
發(fā)明者伊萬·哈特利, 保羅·桑普爾斯, 杰弗里·德拉比什, 約翰·帕里什, 馬克·尼爾森, 馬塞爾·謝弗 申請(qǐng)人:陶氏環(huán)球技術(shù)有限責(zé)任公司