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      電阻膜型輸入裝置、帶輸入功能的顯示裝置及電子設(shè)備的制作方法

      文檔序號:6480273閱讀:154來源:國知局
      專利名稱:電阻膜型輸入裝置、帶輸入功能的顯示裝置及電子設(shè)備的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明,涉及可以對手指、觸筆等接觸了的1處 多處位置進(jìn)行檢測 的電阻膜型輸入裝置、具有該電阻膜型輸入裝置的帶輸入功能的顯示裝置、 及具有該帶輸入功能的顯示裝置的電子設(shè)備。
      背景技術(shù)
      在便攜電話機(jī)、汽車導(dǎo)航儀、個人計算機(jī)、售票機(jī)、銀行的終端等的電子設(shè)備中,近年來,存在如下裝置在液晶裝置等的表面,配置被稱為 觸摸面板的輸入裝置, 一面參照顯示于液晶裝置的圖像顯示區(qū)域的圖像, 一面能進(jìn)行信息的輸入。如此的輸入裝置之中的電阻膜型輸入裝置, 一般 地,如示于圖9(a)地,在第l絕緣^i4llO及第2絕緣14gL20中互相對 向的基敗面形成第1面狀電阻膜16及第2面狀電阻膜26。從而,若按壓 第2絕緣^20的預(yù)定部位,則第1面狀電阻膜16與第2面狀電阻膜26 局部性地相接觸。因此,如果通過帶狀的第l饋電電極17a、 17b對第1 面狀電阻膜16施加Y方向的電壓,并通過第2面狀電阻膜26對電位Vsy 進(jìn)行檢測,則能夠?qū)方向的接觸位置進(jìn)行檢測。并且,如示于圖9(b) 地,如果通過帶狀的第2饋電電極27a、 27b對第2面狀電阻膜26施加X 方向的電壓,并通過第1面狀電阻膜16對電位Vsx進(jìn)行檢測,則能夠?qū) 方向的接觸位置進(jìn)行檢測。如此的電阻膜型輸入裝置,與靜電電容型輸入裝置不同,雖有可以進(jìn) 行觸筆輸入等的優(yōu)點,但另一方面,因為若同時按壓2處,則來自備接觸 位置的電阻合成而被檢測,所以存在無法進(jìn)行正確的檢測這一缺點。于是,如示于圖10 U)、 (b)地,提出如下裝置在第1絕緣M4帶狀的饋電電極19a、 19b,另一方面在第2絕緣基板20使延伸于X方向 的多個帶狀電阻膜28a、 28b…28f并排于Y方向(參照專利文獻(xiàn)l)。在如此的電阻膜型輸入裝置中,通過饋電電極19a、 19b對面狀電阻 膜18施加電壓Vn并對多個帶狀電阻膜28a、28b…28f的一方側(cè)端部281a、 281b…281f依次施加固定電位V2,依次對多個帶狀電阻膜28a、 28b…28f 的另一方側(cè)端部282a、 282b…282f的電位進(jìn)行檢測。在如此的電阻膜型輸 入裝置中,當(dāng)?shù)?絕緣基板10或第2絕緣14120被按壓而使得面狀電阻 膜18與帶狀電阻膜28a、 28b…28f相接觸時,根據(jù)接觸位置的不同,帶狀 電阻膜28a、 28b…28f的另一方側(cè)端部282a、 282b…282f與接觸位置之間 的電阻值發(fā)生變化。從而,因為從帶狀電阻膜28a、 28b…28f的另一方側(cè) 端部282a、 282b…282f的另一方側(cè)端部所檢測的電位發(fā)生變化,所以能夠 對接觸位置的X方向的位置進(jìn)行檢測。并且,因為多個帶狀電阻膜28a、 28b…28f并排于Y方向,所以能夠?qū)佑|位置的Y方向的位置進(jìn)行檢測。 進(jìn)而,即使在第1絕緣M 10或第2絕緣基板20在沿Y方向偏離的2個 位置同時受到按壓的情況下,也能夠確定2個按壓位置。專利文獻(xiàn)1特開2001—34419號公報可是,盡管因為電阻膜以膜厚度薄的ITO膜等所形成而容易產(chǎn)生電阻 不勻,但是在專利文獻(xiàn)1記栽的構(gòu)成中,需要在第1絕緣141 10及第2 絕緣J4120的雙方形成電阻膜。因此,存在容易產(chǎn)生起因于電阻膜的電阻 不勻的檢測精度的下降的問題點。而且,在專利文獻(xiàn)l記載的構(gòu)成中,因 為必須使帶狀電阻膜28a、 28b…28f的電阻值相比于面狀電阻膜18大1位 ~2位程度,所以關(guān)于帶狀電阻膜28a、 28b…28f必須使膜厚度相當(dāng)薄。因 此,因為容易在帶狀電阻膜28a、 28b…28f產(chǎn)生電阻不勻,所以存在容易 產(chǎn)生檢測精度的下降這樣的問題點。進(jìn)而,在專利文獻(xiàn)l記載的構(gòu)成中, 除了第1絕緣基^10側(cè)的面狀電阻膜18之外,對笫2絕緣^4120側(cè)的帶 狀電阻膜28a、 28b…28f也施加電壓,而且,在第2絕緣基板20側(cè),也進(jìn) 行電位的檢測。因此,存在構(gòu)成變得復(fù)雜這樣的問題點。

      發(fā)明內(nèi)容
      鑒于以上的問題點,本發(fā)明的目的在于以僅在一對a之中的一方 側(cè)4吏電位梯度在電阻膜中產(chǎn)生的構(gòu)成,能夠確定同時受按壓的多處位置的 電阻膜型輸入裝置、具有如此的電阻膜型輸入裝置的帶輸入功能的顯示裝 置、及具有如此的帶輸入功能的顯示裝置的電子設(shè)備。
      為了解決上述問題,在本發(fā)明中,特征為具有第l絕緣基板、第2 絕緣基板、電阻膜、饋電電極、多個檢測用電極膜、和電位檢測部,其中, 第2絕緣JA,夾著間隙與前述第1絕緣J41對向配置;電阻膜,在前述 第1絕緣基敗中形成于與前述第2絕緣J4M目對向的基敗面;饋電電極, 在前述第1絕緣基板中對前述電阻膜的兩端部施加電壓;多個檢測用電極 膜,在前述第2絕緣M中形成于與前述第1絕緣14M目對向的i^L面上, 為電浮置狀態(tài);電位檢測部,通過該多個檢測用電,之中的、因?qū)τ谇?述第1絕緣基敗或前述第2絕緣m的按壓而與前述電阻膜接觸了的檢測 用電極膜,對該電阻膜的接觸位置處的電位進(jìn)行檢測。
      在本發(fā)明中,由于在第l絕緣基敗形成電阻膜,并通過形成于第l絕 緣皿的饋電電極對電阻膜的兩端部施加電壓,在電阻膜形成電位梯度。 另一方面,在第2絕緣M,形成浮置狀態(tài)的多個檢測用電極膜,電位檢 測部,對多個檢測用電極膜的各自的電位進(jìn)行監(jiān)視。因此,當(dāng)由于對于第 1絕緣基板或第2絕緣M的按壓、多個檢測用電極膜任一個接觸于電阻 膜時,電位檢測部能夠通過接觸于電阻膜的檢測用電極膜對接觸位置處的 電阻膜的電位進(jìn)行檢測。從而,能夠確定對于第l絕緣基板或笫2絕緣基 板的按壓位置。在此,因為形成多個檢測用電極膜,所以即使在對于第1 絕緣141或第2絕緣^41按壓多處的情況下,只要受到按壓的位置是相當(dāng) 于不同的檢測用電極膜的位置,則電位檢測部,就能夠確定同時受按壓的 多處的各自的位置。并且,在本發(fā)明中,因為僅在第l絕緣J4l側(cè)使電位 梯度產(chǎn)生于電阻膜,所以必須在第1絕緣141形成電阻膜,但是關(guān)于形成 于第2絕緣基板的檢測用電極膜,不必使薄層電阻(sheet resistance)較 高。因此,因為容易產(chǎn)生電阻不勻的電阻膜僅形成于第1絕緣M側(cè)即可,所以難以產(chǎn)生起因于電阻膜的電阻不勻的檢測誤差。因此,能夠可靠地確 定同時受到按壓的多處位置。
      在本發(fā)明中,優(yōu)選前述電阻膜,是在前述第1絕緣基仗的M面上 擴(kuò)展于X方向及交叉于該X方向的Y方向的面狀電阻膜;前述饋電電極, 具備第l饋電電極和第2饋電電極,其中,第1饋電電極,對前述電阻膜 的前述X方向的兩端部施加電壓,第2饋電電極,以與該第l饋電電極不 同的定時對前述電阻膜的前述Y方向的兩端部施加電壓。若如此地構(gòu)成, 則僅通過使第l饋電電極與第2饋電電極的電壓施加的定時偏離,就能夠 確定同時受到按壓的多處的各自的X方向的位置及Y方向的位置。
      在本發(fā)明中,能夠采用下述構(gòu)成前述多個檢測用電極膜,通過延伸 于前述X方向及前述Y方向之中的一方方向的多個帶狀電極并排于前述另 一方方向而形成。
      在本發(fā)明中,也可以采用下述構(gòu)成前述電阻膜,通過在前述第l絕 緣基板的基板面上延伸于X方向及交叉于該X方向的Y方向之中的一方 方向的多個帶狀電阻膜并排于另一方方向而形成。該情況下,采用下述構(gòu) 成前述多個檢測用電極膜,分別通it^伸于前迷另一方方向的多個帶狀 電極并排于前述一方方向而形成。并且,采用下迷構(gòu)成前述饋電電極, 是連接于前述多個帶狀電阻膜的各自的前述一方方向的兩端部的多對電 極;在前述多個帶狀電阻膜中,前述X方向的兩端部被施加電壓的前述帶 狀電阻膜沿前述另 一方方向按時間序列4皮轉(zhuǎn)換。
      在本發(fā)明中,在采用了前述多個檢測用電極膜分別帶狀地延伸的構(gòu)成 的情況下,優(yōu)選前述多個檢測用電極膜分別在該檢測用電極膜的延伸方 向上被分割為兩部分。
      該情況下,優(yōu)選前述多個檢測用電極膜,分別通過延伸于與前述X 方向及前述Y方向的雙方交叉的方向的縫隙分割為兩部分。
      在本發(fā)明中,優(yōu)選在前述多個檢測用電極膜中,通過前述電位檢測 部檢測電位的檢測用電極膜按時間序列被轉(zhuǎn)換。
      在本發(fā)明中,優(yōu)選前述第l絕緣a、前迷第2絕緣基板、前述電
      7阻膜、及前述檢測用電極膜都具備透光性。
      該情況下,應(yīng)用了本發(fā)明的電阻膜型輸入裝置,能夠用于帶輸入功能
      的顯示裝置,該情況下,相對于前述第1絕緣J41在前述第2絕緣M側(cè)
      的相反側(cè)重疊配置圖像生成裝置。
      應(yīng)用了本發(fā)明的帶輸入功能的顯示裝置,可用于便攜電話機(jī)、汽車導(dǎo) 航儀、個人計算機(jī)、售票機(jī)、銀行的終端等的電子設(shè)備。


      圖l U)、 (b)分別是示意性地表示應(yīng)用了本發(fā)明的帶輸入功能的顯 示裝置的整體構(gòu)成的說明圖、及示意性地表示其剖面構(gòu)成的說明圖。
      圖2 (a)、 (b)分別是在本發(fā)明的實施方式1中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中示意性地表示第1絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣a側(cè)的構(gòu)成的說明圖。
      圖3是表示本發(fā)明的實施方式1中的電阻膜型輸入裝置的工作的時序圖。
      圖4 (a)、 (b)分別是在本發(fā)明的實施方式2中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中示意性地表示第1絕緣14l側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣14l側(cè)的構(gòu)成的說明圖。
      圖5 (a)、 (b)分別是在本發(fā)明的實施方式3中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中示意性地表示第1絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明圖。
      圖6 (a)、 (b)分別是在本發(fā)明的實施方式4中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中示意性地表示第1絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣;i^側(cè)的構(gòu)成的說明圖。
      圖7是表示本發(fā)明的實施方式4中的電阻膜型輸入裝置的工作的時序圖。
      圖8是采用了本發(fā)明中的帶輸入功能的顯示裝置的電子設(shè)備的說明圖。
      圖9是表示在現(xiàn)有的電阻膜型輸入裝置中對接觸位置進(jìn)行檢測的原理的j兌明圖。
      圖10 (a)、 (b)分別是在另外的現(xiàn)有的電阻膜型輸入裝置中示意性地 表示第1絕緣M側(cè)的構(gòu)成的說明圖、及示意性地表示第2絕緣基仗側(cè)的 構(gòu)成的說明圖。
      符號的說明
      1 .輸入裝置,2 ..電阻膜型輸入面板,2a ,輸入?yún)^(qū)域,5液晶裝 置(圖像生成裝置),10第1絕緣<|41, 11 .面狀電阻膜,11a llf .帶 狀電阻膜,20笫2絕緣141, 21a 2U .檢測用電極膜,40 .輸入位 置檢測裝置,45 ,信號檢測電路,46 ..電位檢測部,100 ..帶輸入功能 的顯示裝置
      具體實施例方式
      參照附圖,對本發(fā)明的實施方式進(jìn)行說明。還有,在以下的說明進(jìn)行 參照的附圖中,為了使各層、各構(gòu)件在附圖中成為可以辨認(rèn)的程度的大小, 按每層、每構(gòu)件使比例尺、個數(shù)不同。并且,在以下的說明中,為使對應(yīng) 關(guān)系容易理解,在具有與參照圖9及圖IO進(jìn)行了說明的構(gòu)成相同的功能的 部分附加同 一符號進(jìn)行說明。
      實施方式1 (整體構(gòu)成)
      圖1 (a)、 (b)分別是示意性地表示應(yīng)用了本發(fā)明的帶輸入功能的顯 示裝置的整體構(gòu)成的說明圖、及示意性地表示其剖面構(gòu)成的說明圖。還有, 在圖1 (b)中,關(guān)于輸入裝置的各電極及液晶裝置的像素電極、對向電極 等簡化數(shù)量等而表示。
      在圖1 U)、 (b)中,應(yīng)用了本方式的帶輸入功能的顯示裝置100, 大致具有作為圖像生成裝置的液晶裝置5,和重疊于該液晶裝置5中出 射顯示光之側(cè)的面所配置的電阻膜型輸入裝置1。液晶裝置5具備透射型、 反射型或者半透射半反射型的有源矩陣型的液晶面板5a。在本方式中,液 晶面板5a,因為是透射型,所以在與顯示光的出射側(cè)相反側(cè)配置背光源裝 置(未圖示)。在液晶裝置5中,相對于液晶面板5a在顯示光的出射側(cè)重疊配置第1偏振板81,在其相反側(cè)重疊配置第2偏椒板82。液晶面板5a, 具備配置于顯示光的出射側(cè)的透光性的元件M 50和相對于該元件141 50對向配置的透光性的對向基仗60。對向基t!60與元件14150,通過框 狀的密封材料71所貼合,在對向基板60與元件基板50之間在由密封材料 71所包圍的區(qū)域內(nèi)保持著液晶層55。
      在元件基板50中,在與對向基板60相對向的面形成多個像素電極58; 在對向基板60中,在與元件Jj板50相對向的面形成共用電極68。還有, 共用電極68有時也形成于元件基板50側(cè)。并且,有時對向基板60也配置 于顯示光的出射側(cè)。在元件基板50中,在從對向基仗60的邊緣伸出的伸 出區(qū)域59以COG方式安裝驅(qū)動用IC75,并在伸出區(qū)域59連接柔性g 73。還有,在元件基板50,有時也與元件基板50上的開關(guān)元件同時形成 馬區(qū)動電路。
      電阻膜型輸入裝置1,具備重疊于液晶裝置5所配置的電阻膜型輸入 面板2,電阻膜型輸入面板2的中央?yún)^(qū)域用作輸入?yún)^(qū)域2a。電P且膜型輸入 面板2,具備由玻璃板、塑料板等構(gòu)成的透光性的第1絕緣基&10,和由 玻璃板、塑料板、塑料片等構(gòu)成的透光性的第2絕緣基fcl20,在本方式中, 對于第1絕緣a 10及第2絕緣a 20都可采用玻璃板。第1絕緣141 10與第2絕緣基板20,使得笫1面10a、 20a彼此隔著預(yù)定的間隙對向地, 通過框狀的密封材料31所貼合。還有,當(dāng)在第1絕緣M 10與第2絕緣
      20之間確保預(yù)定的間隙時,有時也使襯墊介于第1絕緣^4110與第 2絕緣基板20之間。
      在本方式中,第2絕緣基仗20配置于輸入操作側(cè),第1絕緣基tl 10 配置于液晶裝置5側(cè)。因此,第2絕緣基板20,使第2面20b面向輸入操 作側(cè);第1絕緣1A 10,使第2面10b面向液晶裝置5側(cè)。在如此地構(gòu)成 的電阻膜型輸入面板2中,因為當(dāng)進(jìn)行輸入時需JH吏第2絕緣M 20彎曲, 所以第2絕緣基板20,厚度比第1絕緣基仗10薄,具備柔性。第l絕緣
      10及第2絕緣基板20,都具有基^邊沿X方向及Y方向延伸的矩形 形狀。
      在第1絕緣基板10的第1面10a,在從第2絕緣&^ 20的邊緣沿Y
      10方向伸出的伸出區(qū)域10s連接柔性基&33。如此的柔性基板33,為用于對 電阻膜型輸入面板2與輸入位置檢測部(未圖示)等進(jìn)行電連接的布線構(gòu) 件。還有,雖然未在第2絕緣基板20連接柔性基板等,但是只要預(yù)先在框 狀的密封材料31混合導(dǎo)電微粒,就能夠在第1絕緣基^ 10與第2絕緣基 板20之間進(jìn)行電連接。因此,可以進(jìn)行第1絕緣基板10與第2絕緣M 20之間的饋電、信號的發(fā)送接收。
      (電阻膜型輸入裝置1的詳細(xì)的構(gòu)成)
      圖2 (a)、 (b),分別是在本發(fā)明的實施方式l中的帶輸入功能的顯示 裝置100的電阻膜型輸入裝置1中,示意性i4^示第1絕緣^41側(cè)的構(gòu)成 的說明圖、及示意性地表示第2絕緣^4l側(cè)的構(gòu)成的說明圖。在以下的說 明中,以在用于電阻膜型輸入裝置的第1絕緣^41及第2絕緣141的141
      進(jìn)行說明。還有,在圖2(a)、 (b)中,減少檢測用電皿的數(shù)量而圖示。 在用于本方式的電阻膜型輸入裝置1的電阻膜型輸入面板2中,如示 于圖2 (a)地,在第1絕緣M10的第1面10a的輸入?yún)^(qū)域2a整體形成 由ITO膜(Indium Tin Oxide,氧化銦錫)形成的透光性的面狀電阻膜11。 并且,在第l絕緣基fcllO的第1面10a,形成在Y方向的基本整體的范圍 內(nèi)電連接于在面狀電阻膜ll中以X方向相對向的兩端部的各自的一對第1 饋電電極12a、 12b,并形成在X方向的基本整體的范圍內(nèi)電連接于在面 狀電阻膜11中以Y方向相對向的兩端部的各自的一對第2饋電電極12c、 12d。第l饋電電極12a、 12b及第2饋電電極12c、 12d,是疊層于面狀電 阻膜ll的端部的上層的金屬電極,包含銀、銀合金等。因此,相對于第1 饋電電極12a、 12b及第2饋電電極12c、 12d的薄層電阻例如為/ 口程度,面狀電阻膜ll的薄層電阻,例如為500Q/口程度,第l饋電電 極12a、 12b及第2饋電電極12c、 12d,相比較于面狀電阻膜ll,薄層電 阻相當(dāng)?shù)汀?br> 如示于圖2 (b)地,在第2絕緣^S^L20的第1面20a,在俯視與形 成于第1絕緣基仗10側(cè)的面狀電阻膜11重疊的區(qū)域,形成電浮置狀態(tài)的 多個檢測用電極膜21a、21b "211。在此,多個檢測用電極膜21a、21b "211,構(gòu)成為延伸于X方向的帶狀電極以等間隔多個并排于Y方向,并且,這 些帶狀電極在X方向被分割為兩部分。因此,在檢測用電極膜21a、21b -211 中,檢測用電極膜21a、 211成對且在X方向并排,檢測用電極膜21b、 21k 成對且在X方向并排,檢測用電極膜21c、 21j成對且在X方向并排,檢 測用電極膜21d、 21i成對且在X方向并排,檢測用電極膜21e、 21h成對 且在X方向并排,檢測用電極膜21f、 21g成對且在X方向并排。
      并且,當(dāng)在X方向分割延伸于X方向的帶狀電極時,在本實施方式中, 通過延伸于對于X方向及Y方向的雙方交叉的方向的縫隙21s所分割。因 此,多個檢測用電極膜21a、 21b"211,全都具備直角三角形的平面形狀, 而且,在X方向相鄰的檢測用電^U^彼此之間,互相使斜邊相向而相鄰。
      如此地構(gòu)成的檢測用電極膜21a、 21b.'211,與形成于第1絕緣J4! lO側(cè)的面狀電阻膜ll同樣,通過ITO膜等的透光膜所形成。只是,檢測 用電極膜21a、 21b . 211,薄層電阻不必像形成于第1絕緣基tl 10側(cè)的 面狀電阻膜11那樣大。因此,檢測用電極膜21a、 21b"211,由具備足 夠的膜厚度的ITO膜形成。
      并且,在第2絕緣基昧20的第1面20a,形成電連接于檢測用電極膜 21a、 21b "211的各自的端部(相當(dāng)于三角形的底邊的部分)的布線22a、 22b '221,和通過布線22a、22b '221電連接于檢測用電極膜21a、21b . '211 的各自的端子23a、 23b 231。
      如示于圖2 (a)、 (b)地,對于電阻膜型輸入面板2,構(gòu)成輸入位置 檢測裝置40。輸入位置檢測裝置40,具備用于對形成于第1絕緣IA 10 側(cè)的面狀電阻膜11施加電壓的饋電電路41,和從形成于第2絕緣J4120 側(cè)的檢測用電極膜21a、 21b 211進(jìn)行信號檢測的信號檢測電路45。并 且,輸入位置檢測裝置40具備控制部48,控制部48,對饋電電路41及信 號檢測電路45的開關(guān)工作進(jìn)行控制,并基于從信號檢測電路45所輸出的 信號,進(jìn)行用于對第2絕緣基k 20受按壓的位置進(jìn)行檢測的信號處理。
      在如此的輸入位置檢測裝置40中,饋電電路41,具備定電壓電源42 與開關(guān)43。開關(guān)43,在控制部48的控制之下,在如下狀態(tài)之間進(jìn)行轉(zhuǎn)換, 該狀態(tài)為如以實線示于圖2U)地,從定電壓電源42對于第l饋電電極12a、 12b供給定電壓的狀態(tài);和如以虛線示于圖2 U)地,從定電壓 電源42對于第2饋電電極12c、 12d供給定電壓的狀態(tài)。從而,對面狀電 阻膜ll,交替地施加X方向的電壓與Y方向的電壓,交替地生成朝向X 方向的電位梯度與朝向Y方向的電位梯度。
      在輸入位置檢測裝置40中,信號檢測電路45,具備電位檢測部46與 開關(guān)47。開關(guān)47,在控制部48的控制之下,依次轉(zhuǎn)換與電位檢測部46 相連接的端子23a、 23b"231。從而,電位檢測部46,能夠依次對檢測用 電極膜21a、 21b 211的電位進(jìn)行檢測。
      還有,作為示于圖2 (a)、 (b)的開關(guān)43、 47,能夠采用機(jī)械式開關(guān) 及電開關(guān)的任一種。
      (電阻膜型輸入裝置1的工作)
      圖3,是表示本發(fā)明的實施方式1中的電阻膜型輸入裝置1的工作的 時序圖。
      在本方式的電阻膜型輸入裝置1中,在第1絕緣基板10,如示于圖3 (a)、 (b)地,按時間序列轉(zhuǎn)換為從定電壓電源42對于第1饋電電極 12a、 12b供給定電壓的狀態(tài),和從定電壓電源42對于第2饋電電極12c、 12d供給定電壓的狀態(tài)。從而,對面狀電阻膜ll,交替地施加X方向的電 壓與Y方向的電壓,交替地生成朝向X方向的電位梯度與朝向Y方向的 電位梯度。
      并且,如示于圖3(c)地,在對于面狀電阻膜11施加X方向的電壓 的期間,按時間序列依次轉(zhuǎn)換與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b..231;并在對于面狀電阻膜11施加Y方向的電壓的期間,依次轉(zhuǎn)換 與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b 231。
      從而,如示于圖2U)、 (b)地,在第2絕緣^20中,在通過觸筆、 手指按壓位置PA1而使得面狀電阻膜11與檢測用電極膜21f相接觸的情 況下,如示于圖3 (d)地,電位檢測部46,在時間TXA1中,對面狀電 阻膜11的位置PA1處的電位VXA1進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電 位VXA1的電平,對第2絕緣^ 20受到按壓的位置PA1的X方向上的 位置(X坐標(biāo))進(jìn)行檢測。并且,電位檢測部46,在時間TYA1中,對面
      13狀電阻膜ll的位置PA1處的電位VYA1進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此 的電位VYA1的電平,對第2絕緣Hl20受到按壓的位置PA1處的Y方 向上的位置(Y坐標(biāo))進(jìn)行檢測。
      在此,設(shè)為以下情況當(dāng)?shù)?絕緣J4120的位置PA1受到按壓時, 通過觸筆、手指也同時按壓第2絕緣M 20的位置PB1,使得面狀電阻 膜ll與檢測用電極膜21k相接觸。在如此的情況下,因為電位檢測部46, 在時間TXB1,對面狀電阻膜11的位置PB1處的電位VXB1進(jìn)行檢測, 所以控制部48,基于如此的電位VXB1的電平,能夠?qū)Φ?絕緣M 20 受到按壓的位置PB1的X方向上的位置(X坐標(biāo))進(jìn)行檢測。并且,電位 檢測部46,在時間TYB1,對面狀電阻膜11的位置PB1處的電位VYB1 進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電位VYB1的電平,對第2絕緣M 20受到按壓的位置PB1的Y方向上的位置(Y坐標(biāo))進(jìn)行檢測。因此, 即使在第2絕緣基昧20的兩處同時受到按壓的情況下也能夠?qū)壓位置 進(jìn)行檢測。
      進(jìn)而,如示于圖2(a)、 (b)地,設(shè)為如下情況在第2絕緣^20 中,按壓過位置PA1的觸筆、手指移動到位置PA2,使得面狀電阻膜11 與檢測用電極膜21g成為相接觸的狀態(tài)。同時,設(shè)為如下情況按壓過位 置PB1的觸筆、手指移動到位置PB2,使得面狀電阻膜11與檢測用電極 膜21j成為相接觸的狀態(tài)。在如此的情況下,如示于圖3(e)地,電位檢 測部46,在時間TXA2,對面狀電阻膜11的位置PA2處的電位VXA2進(jìn) 行檢測,控制部48,基于如此的電位VXA2的電平,對第2絕緣基板20 受到按壓的位置PA2的X方向上的位置(X坐標(biāo))進(jìn)行檢測。并且,電位 檢測部46,在時間TYA2,對面狀電阻膜11的位置PA2處的電位VYA2 進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電位VYA2的電平,對第2絕緣M 20受到按壓的位置PA2的Y方向上的位置(Y坐標(biāo))進(jìn)行檢測。
      并且,電位檢測部46,在時間TXB2,對面狀電阻膜11的位置PB2 處的電位VXB2進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電位VXB2的電平,能 夠?qū)?絕緣基板20受到按壓的位置PB2的X方向上的位置(X坐標(biāo)) 進(jìn)行檢測。并且,電位檢測部46,在時間TYB2,對面狀電阻膜ll的位置PB2處的電位VYB2進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電位VYB2的電平, 對第2絕緣a 20受到按壓的位置PB2的Y方向上的位置(Y坐標(biāo))進(jìn) 行檢測。
      (本方式的主要效果)
      如以上說明地,在本方式的電阻膜型輸入裝置1中,通過在第1絕緣 MlO形成面狀電阻膜ll,并通過形成于第1絕緣基仗10的第l饋電電 極12a、12b及第2饋電電極12c、12d對面狀電阻膜11的兩端部施加電壓, 在面狀電阻膜11形成電位梯度。另一方面,在第2絕緣基板20,形成浮 置狀態(tài)的多個檢測用電極膜21a、 21b"211,電位檢測部46,對多個檢測 用電極膜21a、 21b ■ 211的各自的電位進(jìn)行監(jiān)視。因此,若通過對于第2 絕緣基板20的按壓,多個檢測用電極膜21a、 21b 211的任一個接觸于 面狀電阻膜11,則電位檢測部46,就能夠通過檢測用電極膜21a、 21b . -211 之中的接觸于面狀電阻膜11的檢測用電極膜,對接觸位置處的面狀電阻膜 11的電位進(jìn)行檢測。從而,能夠確定對于第2絕緣基板20的按壓位置。
      在此,因為檢測用電極膜21a、 21b.'211,形成有多個,所以即使在 對于第2絕緣基板20多處按壓的情況下,只要按壓的位置是相當(dāng)于不同的 檢測用電極膜21a、 21b"211的位置,則電位檢測部46,就能夠確定同 時受到按壓的多處的各自的位置。因此,本方式的電阻膜型輸入裝置1, 雖然也是可以通過觸筆以及手指的任一方進(jìn)行輸入的觸摸面板,卻還能夠 對同時受到按壓的多處進(jìn)行檢測。
      并且,在本方式中,因為僅在第1絕緣基板10側(cè)使電位梯度產(chǎn)生于電 阻膜,所以必須在第1絕緣J4110形成面狀電阻膜11,但是關(guān)于形成于 第2絕緣基板20的檢測用電極膜21a、 21b . 211,不必使其薄層電阻較 高。因此,因為容易產(chǎn)生電阻不勻的電阻膜僅形成于第1絕緣基板10側(cè)即 可,所以起因于電阻膜的電阻不勻的檢測誤差難以出現(xiàn)。因此,能夠可靠 地確定同時受到按壓的多處位置。
      并且,在本方式中,因為對于第1絕緣基板10形成擴(kuò)展于X方向及 Y方向的面狀電阻膜ll,所以僅通過使由第1饋電電極12a、 12b進(jìn)行的 電壓施加與由第2饋電電極12c、 12d進(jìn)行的電壓施加的定時錯開,就能夠確定同時受到按壓的多處的各自的X方向的位置及Y方向的位置。
      進(jìn)而,因為多個檢測用電極膜21a、 21b* ,211,成為將延伸于X方向 的帶狀的電皿在X方向上分割為兩部分的構(gòu)成,所以即使在Y方向上的 位置相等的兩處同時受到按壓的情況下,也能夠確定備換壓處的各自的X 方向的位置及Y方向的位置。而且,因為檢測用電極膜21a、 21b"211, 通過延伸于與X方向及Y方向的雙方交叉的方向的縫隙21s在X方向被 分割為兩部分,所以即使在Y方向上稍微偏離的位置受到按壓的情況下, 也容易變成對不同的檢測用電極膜21a、 21b "211進(jìn)行了按壓的狀態(tài)。因 此,即使在Y方向上稍微偏離的兩處受到按壓的情況下,也能夠確定同時 受到按壓的多處的各自的X方向的位置及Y方向的位置。 實施方式2
      圖4 (a)、 (b),分別是在本發(fā)明的實施方式2中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中,示意性地表示第1絕緣基敗側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明圖。還有,因為本方式 的基本構(gòu)成,與實施方式l相同,所以在相同的部分附加同一符號并將它 們的說明進(jìn)行省略。
      如示于圖4(a)地,在本方式的帶輸入功能的顯示裝置中,與實施方 式1同樣,也在電阻膜型輸入面板中,在第1絕緣JA 10的第1面10a 形成由ITO膜形成的透光性的面狀電阻膜11。并且,在第1絕緣基板10 的第l面10a,形成在Y方向的基本整體的范圍內(nèi)電連接于在面狀電阻膜 11中在X方向相對向的兩端部的各自的一對第l饋電電極12a、 12b,并 形成在X方向的基本整體的范圍內(nèi)電連接于在面狀電阻膜11中在Y方向 相對向的兩端部的各自的一對第2饋電電極12c、 12d。
      如示于圖4 ( b)地,在第2絕緣M 20的第1面20a中,在俯視與 形成于第1絕緣M10側(cè)的面狀電阻膜11重疊的區(qū)域,形成電浮置狀態(tài) 的多個檢測用電極膜21a、 21b . 21f。
      在此,多個檢測用電極膜21a、 21b.'21f,構(gòu)成為延伸于X方向的 同一尺寸的帶狀電極,以等間隔多個并排于Y方向。如此的檢測用電極膜 21a、 21b"21f,與形成于笫1絕緣基板10側(cè)的面狀電阻膜11同樣,也通過ITO膜等的透光膜所形成。只是,檢測用電極膜21a、 21b"21f,薄 層電阻不必像形成于第1絕緣基板10側(cè)的面狀電阻膜11那樣大。因此, 檢測用電極膜21a、 21b 21f,由具備足夠膜厚度的ITO膜形成。
      如示于圖4 (a)、 (b)地,在本方式中,也與實施方式1同樣,對于 電阻膜型輸入面板2,構(gòu)成輸入位置檢測裝置40。輸入位置檢測裝置40, 具備用于對形成于第1絕緣基仗10側(cè)的面狀電阻膜11施加電壓的饋電 電路41,和從形成于笫2絕緣基板20側(cè)的檢測用電極膜21a、 21b 21f 進(jìn)行信號檢測的信號檢測電路45。并且,輸入位置檢測裝置40具備控制 部48,控制部48,對饋電電路41及信號檢測電路45的開關(guān)工作進(jìn)行控制, 并基于從信號檢測電路45所輸出的信號,對第2絕緣基板20受按壓的位 置進(jìn)行檢測。因為其他的構(gòu)成與實施方式l相同,所以對相應(yīng)說明進(jìn)行省 略。
      在如此地構(gòu)成的電阻膜型輸入裝置中,與實施方式l同樣,也對面狀 電阻膜ll,交替地施加X方向的電壓與Y方向的電壓,交替地生成朝向X 方向的電位梯度與朝向Y方向的電位梯度。并且,在對于面狀電阻膜11 施加X方向的電壓的期間,依次轉(zhuǎn)換與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b"23f;并在對于面狀電阻膜ll施加Y方向的電壓的期間,依次轉(zhuǎn)換 與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b . 23f。從而,如參照圖3進(jìn)行 了說明地,若第2絕緣14120受到按壓而使得面狀電阻膜11與檢測用電 極膜21a、 21b21f之任一個相接觸,則電位檢測部46,通過檢測用電 極膜21a、 21b 21f之中的接觸于面狀電阻膜11的檢測用電極膜,對接 觸位置處的面狀電阻膜ll的電位進(jìn)行檢測。從而,如果依照于本方式,則 即使在對于第2絕緣基板20按壓多處的情況下,只要受到按壓的位置是相 當(dāng)于不同的檢測用電極膜21a、 21b 21f的位置,電位檢測部46就能夠 確定同時受到按壓的多處的各自的位置。
      實施方式3
      圖5(a)、 (b),分別是在本發(fā)明的實施方式3中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中,示意性地表示第1絕緣a側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣^側(cè)的構(gòu)成的說明圖。還有,因為本方式的基本構(gòu)成,與實施方式l、 2相同,所以在相同的部分附加同一符號將它 們的說明進(jìn)行省略。
      如示于圖5(a)地,在本方式的帶輸入功能的顯示裝置中,與實施方 式1、 2同樣,也在電阻膜型輸入面板中,在第1絕緣基^ 10的第1面10a 形成由ITO膜形成的透光性的面狀電阻膜11。并且,在第1絕緣基板10 的第1面10a,形成在Y方向的基本整體的范圍內(nèi)電連接于在面狀電阻膜 11中在X方向相對向的兩端部的各自的一對第l饋電電極12a、 12b(第1 饋電電極),并形成在X方向的基本整體的范圍內(nèi)電連接于在面狀電阻膜 11中在Y方向相對向的兩端部的各自的一對第2饋電電極12c、 12d(第2 饋電電極)。
      如示于圖5 ( b )地,在第2絕緣基板20的第1面20a中,在俯視與 形成于第1絕緣14110側(cè)的面狀電阻膜11重疊的區(qū)域,形成電浮置狀態(tài) 的多個檢測用電^* 21a、 21b 21f。
      在此,多個檢測用電極膜21a、 21b"21f,構(gòu)成為延伸于Y方向的 同一尺寸的帶狀電極,以等間隔多個并排于X方向。如此的檢測用電極膜 21a、 21b"21f,與形成于第l絕緣基HlO側(cè)的面狀電阻膜ll同樣,也 通過ITO膜等的透光膜所形成。只是,檢測用電極膜21a、 21b"21f,薄 層電阻不必〗象形成于第1絕緣基仗10側(cè)的面狀電阻膜11那樣大。因此, 檢測用電極膜21a、 21b 21f,由具備足夠膜厚度的ITO膜形成。
      如示于圖5 (a)、 (b)地,在本方式中,與實施方式l、 2同樣,也對 于電阻膜型輸入面板2,構(gòu)成輸入位置檢測裝置40。輸入位置檢測裝置40, 具備用于對形成于第1絕緣基板10側(cè)的面狀電阻膜11施加電壓的饋電 電路41,和從形成于第2絕緣14120側(cè)的檢測用電極膜21a、 21b 21f 進(jìn)行信號檢測的信號檢測電路45。并且,輸入位置檢測裝置40具備控制 部48,控制部48,對饋電電路41及信號檢測電路45的開關(guān)工作進(jìn)行控制, 并基于從信號檢測電路45所輸出的信號,對第2絕緣a 20受按壓的位 置進(jìn)行檢測。因為其他的構(gòu)成與實施方式1、2相同,所以將相應(yīng)說明省略。
      在如此地構(gòu)成的電阻膜型輸入裝置中,與實施方式l、 2同樣,也對面 狀電阻膜ll,交替地施加X方向的電壓與Y方向的電壓,交替地生成朝
      18向X方向的電位梯度與朝向Y方向的電位梯度。并且,在對于面狀電阻膜 11施加X方向的電壓的期間,依次轉(zhuǎn)換與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b 23f;并在對于面狀電阻膜11施加Y方向的電壓的期間,依次轉(zhuǎn)換 與電位檢測部46相連接的端子23a、 23b . 23f。從而,如參照圖3進(jìn)行 了說明地,若第2絕緣基板20受到按壓而使得面狀電阻膜11與檢測用電 極膜21a、 21b21f之任一個相接觸,則電位檢測部46,通過檢測用電 極膜21a、 21b21f之中的接觸于面狀電阻膜11的檢測用電極膜,對接 觸位置處的面狀電阻膜ll的電位進(jìn)行檢測。從而,如果依照于本方式,則 即使在對于第2絕緣基板20按壓多處的情況下,只要受到按壓的位置是相 當(dāng)于不同的檢測用電極膜21a、 21b 21f的位置,電位檢測部46,就能 夠確定同時受到按壓的多處的各自的位置。 實施方式4
      圖6 (a)、 (b),分別是在本發(fā)明的實施方式4中的帶輸入功能的顯示 裝置的電阻膜型輸入裝置中,示意性地表示第1絕緣基板側(cè)的構(gòu)成的說明 圖、及示意性地表示第2絕緣^側(cè)的構(gòu)成的說明圖。還有,因為本方式 的基本構(gòu)成,與實施方式1 3相同,所以在相同的部分附加同一符號將它 們的說明進(jìn)行省略。
      如示于圖6(a)地,在本方式的帶輸入功能的顯示裝置中,與實施方 式1、 2同樣,也在電阻膜型輸入面板中,在第1絕緣基^ 10的第1面10a 形成電阻膜。只是,在本方式中,與面狀的電阻膜不同,延伸于Y方向的 多個帶狀電阻膜lla、 libllf形成為同一尺寸,這些帶狀電阻膜lla、 libllf,以等間隔并排于X方向。
      并且,在第1絕緣基板10的第1面10a,第1饋電電極121a、 121b '121f 連接于多個帶狀電阻膜lla、 lib'.llf的Y方向的一方側(cè)端部,笫2饋電 電極122a、 122b122f連接于多個帶狀電阻膜lla、 llb..llf的Y方向 的另一方側(cè)端部。
      而且,在第1絕緣基板10的第1面10a,從第1饋電電極121a、 121b .121f及第2饋電電極122a、122b '122f延伸出布線131a、 131b . 131f 及布線132a、 132b 132f。并且,在布線131a、 131b '131f及布線132a、132b 132f的端部形成端子141a、 141b ■ 141f及端子142a、 142b 142f。 在本方式中,多個帶狀電阻膜lla、 llb"llf,也都由薄的ITO膜形 成,第l饋電電極121a、 121b . 121f及第2饋電電極122a、 122b 122f 由銀、銀合金形成。
      如示于圖6(b)地,在第2絕緣基板20的第l面20a中,在俯視重 疊于在第1絕緣基板10側(cè)排列帶狀電阻膜lla、 lib "llf的區(qū)域的區(qū)域, 形成電浮置狀態(tài)的多個檢測用電極膜21a、 21b"21f。在此,多個檢測用 電極膜21a、 21b"21f,構(gòu)成為延伸于X方向的帶狀電極,以等間隔多 個并排于Y方向。如此的檢測用電極膜21a、 21b"21f,與形成于第l絕 緣基板10側(cè)的帶狀電阻膜lla、 llb"llf同樣,也通過ITO膜等的透光 膜所形成。只是,檢測用電極膜21a、 21b"21f,薄層電阻不必像形成于 第1絕緣基仗10側(cè)的面狀電阻膜11那樣大。因此,檢測用電極膜21a、 21b"21f,由具備足夠膜厚度的ITO膜形成。并且,在第2絕緣基仗20 的第l面20a,形成電連接于檢測用電極膜21a、 21b ■ 21f的各自的端 部的布線22a、 22b .. 22f,和通過布線22a、 22b .. 22f電連接于檢測用電 極膜21a、 21b21f的各自的端子23a、 23b 23f。
      如示于圖6 (a)、 (b)地,對于電阻膜型輸入面板,構(gòu)成輸入位置檢 測裝置40。輸入位置檢測裝置40,具備用于對形成于第1絕緣M 10 側(cè)的多個帶狀電阻膜lla、 lib .'llf依次施加電壓的饋電電路41,和從形 成于第2絕緣基敗20側(cè)的檢測用電極膜21a、 21b .. 21f進(jìn)行信號檢測的 信號檢測電路45。并且,輸入位置檢測裝置40具備控制部48,控制部48, 對饋電電路41及信號檢測電路45的開關(guān)工作進(jìn)行控制,并基于從信號檢 測電路45所輸出的信號,對第2絕緣基板20受按壓的位置進(jìn)行檢測。 (電阻膜型輸入裝置1的工作)
      圖7,是表示本發(fā)明的實施方式4中的電阻膜型輸入裝置1的工作的 時序圖。
      如示于圖7 (a) ~ (f)地,在本方式的電阻膜型輸入裝置l中,在第 1絕緣基板10中,依次對多個帶狀電阻膜lla、 lib llf按時間序列施 加電壓。并且,如示于圖7(g)地,在對多個帶狀電阻膜lla、 llb"llf的各個施加電壓的各期間,依次按時間序列轉(zhuǎn)換與電位檢測部46相連接
      的端子23a、 23b 23f。
      從而,如示于圖6 (a)、 (b)地,在第2絕緣基板20中,在位置PC 受到按壓而使得帶狀電阻膜lib與檢測用電極膜21b相接觸的情況下,如 示于圖7(h)地,電位檢測部46,在時間TC,對面狀電阻膜llb的位置 PC處的電位VC進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此的電位VC的電平,對 第2絕緣M 20受到按壓的位置PC的Y方向上的位置(Y坐標(biāo))進(jìn)行 檢須'J。并且,控制部48,對檢測到電位的定時到底是對多個帶狀電阻膜lla、 libllf中的哪個施加電壓的定時進(jìn)行判定,并基于相應(yīng)的判定結(jié)果, 對第2絕緣基板20受到了按壓的位置PC的X方向上的位置(X坐標(biāo)) 進(jìn)行檢測。
      在此,設(shè)為以下情況當(dāng)?shù)?絕緣基敗20的位置PC受到了按壓時, 第2絕緣基昧20的位置PD也同時受到按壓,使得帶狀電P且膜llc與檢測 用電極膜21d相接觸。在如此的情況下,電位檢測部46,在時間TD,對 帶狀電阻膜llc的位置PD處的電位VD進(jìn)行檢測,控制部48,基于如此 的電位VD的電平,對第2絕緣基仗20受到按壓的位置PD的Y方向上的 位置(Y坐標(biāo))進(jìn)行檢測。并且,控制部48,對檢測到電位的定時到底是 對多個帶狀電阻膜lla、 libllf中的哪個施加電壓的定時進(jìn)行判定,并 基于相應(yīng)的判定結(jié)果,對第2絕緣基仗20受到按壓的位置PD的X方向 上的位置(X坐標(biāo))進(jìn)行檢測。 (本方式的主要效果)
      如此地,在本方式的電阻膜型輸入裝置1中,通過在第1絕緣基板10 形成帶狀電阻膜lla、 lib ■ llf,并通過形成于第1絕緣基板10的第1 饋電電極121a、 121b 121f及第2饋電電極122a、 122b 122f對帶狀 電阻膜11a、llb "llf的兩端部施加電壓,由此在帶狀電阻膜11a、llb . .llf 形成電位梯度。另一方面,在第2絕緣基板20,形成浮置狀態(tài)的多個檢測 用電極膜21a、 21b"21f,電位檢測部46,對多個檢測用電極膜21a、 21b "21f的各自的電位進(jìn)行監(jiān)視。因此,若通過對于第2絕緣M20的 按壓,使得多個檢測用電極膜21a、 21b ^21f的某一個接觸于帶狀電阻膜lla、 libllf的某一個,則電位檢測部46,能夠?qū)铍娮枘la、 libllf中的接觸位置的電位進(jìn)行檢測。并且,因為檢測用電極膜21a、 21b"21f,形成多個,所以即使在對于第2絕緣基仗20按壓多處的情況 下,只要被按壓的位置是相當(dāng)于不同的檢測用電極膜21a、 21b-21f的位 置,則電位檢測部46,就能夠確定同時受到按壓的多處的各自的位置。
      并且,在本方式中,需要在第1絕緣a 10形成帶狀電阻膜lla、 lib llf,另一方面關(guān)于形成于第2絕緣M 20的檢測用電極膜21a、 21b"21f,則不必使其薄層電阻較高。因此,因為容易產(chǎn)生電阻不勻的電 阻膜,僅形成于第1絕緣基仗10側(cè)即可,所以難以產(chǎn)生由電阻膜的電阻不 勻引起的檢測誤差。因此,能夠可靠地確定同時受到按壓的多處位置。
      還有,在本方式中,如參照圖2 (b)進(jìn)行了說明地,也可以采用將檢 測用電極膜21a、 21b21f在X方向分割為兩部分的構(gòu)成。 (其他的構(gòu)成)
      雖然在上述的實施方式1~4中,為通過開關(guān)47按時間序列進(jìn)行從多 個檢測用電極膜21a、 21b 21 m向電位檢測部46的輸出的構(gòu)成,但是 也可以并行地同時進(jìn)行從多個檢測用電極膜21a、 21b ■ 21 m向電位檢測 部46的輸出。
      雖然在上述的實施方式1 4中,采用了作為圖^^生成裝置的液晶裝置 5,但是也可以采用有機(jī)電致發(fā)光裝置、等離子體顯示裝置作為圖像生成裝 置。
      (向電子設(shè)備的搭載例) 接下來,關(guān)于應(yīng)用了上述的實施方式中的帶輸入功能的顯示裝置100 的電子i殳備進(jìn)行^L明。在圖8 (a),表示具有帶輸入功能的顯示裝置100 的便攜型的個人計算機(jī)的構(gòu)成。個人計算機(jī)2000,具備作為顯示單元的帶 輸入功能的顯示裝置100與主體部2010。在主體部2010,設(shè)置電源開關(guān) 2001及鍵盤2002。在圖8(b),表示具有帶輸入功能的顯示裝置100的便 攜電話機(jī)的構(gòu)成。便攜電話機(jī)3000,具備多個操作鍵3001及滾動鍵3002, 以及作為顯示單元的帶輸入功能的顯示裝置100。通過對滾動鍵3002進(jìn)行 操作,使顯示于帶輸入功能的顯示裝置100的畫面滾動。在圖8 (c),表
      22示應(yīng)用了帶輸入功能的顯示裝置100的信息便攜終端(PDA: Personal Digital Assistants,個人數(shù)字助理)的構(gòu)成。信息便攜終端4000,具備 多個操作鍵4001及電源開關(guān)4002,以及作為顯示單元的帶輸入功能的顯 示裝置IOO。若對電源開關(guān)4002進(jìn)行IMt,則住址錄、日程安排這樣的各 種信息顯示于帶輸入功能的顯示裝置100。
      還有,作為可應(yīng)用帶輸入功能的顯示裝置100的電子設(shè)備,除了示于 圖8的設(shè)備之外,還可列舉出數(shù)字靜止相機(jī),液晶電視機(jī),取景器型、 監(jiān)視器直視型的磁帶錄像機(jī),汽車導(dǎo)航裝置,尋呼機(jī),電子筆記本,電子 計算器,文字處理器,工作站,可視電話機(jī),POS終端,銀行終端等的電 子設(shè)備等。而且,作為這些各種電子設(shè)備的顯示部,可以應(yīng)用前述的帶輸 入功能的顯示裝置100。
      權(quán)利要求
      1.一種電阻膜型輸入裝置,其特征在于,具有第1絕緣基板,夾著間隙與前述第1絕緣基板對向地配置的第2絕緣基板,在前述第1絕緣基板中形成于與前述第2絕緣基板相對向的基板面上的電阻膜,在前述第1絕緣基板中對前述電阻膜的兩端部施加電壓的饋電電極,在前述第2絕緣基板中形成于與前述第1絕緣基板相對向的基板面上,電浮置狀態(tài)的多個檢測用電極膜,和通過該多個檢測用電極膜之中的、因?qū)τ谇笆龅?絕緣基板或前述第2絕緣基板的按壓而與前述電阻膜接觸了的檢測用電極膜,對該電阻膜的接觸位置處的電位進(jìn)行檢測的電位檢測部。
      2. 按照權(quán)利要求l所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于 前述電阻膜,是在前述第1絕緣141的141面上沿X方向及與該X方向交叉的Y方向擴(kuò)展的面狀電阻膜;前述饋電電極,具備對前述電阻膜的前述X方向的兩端部施加電壓的 笫l饋電電極、和以與該第1饋電電極不同的定時對前述電阻膜的前述Y 方向的兩端部施加電壓的第2饋電電極。
      3. 按照權(quán)利要求2所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于前述多個檢測用電極膜,通過沿前述X方向及前述Y方向之中的一方 方向延伸的多個帶狀電極沿另 一方方向并排而形成。
      4. 按照權(quán)利要求l所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于 前述電阻膜,通過在前述第1絕緣J^的基仗面上沿X方向及與該X方向交叉的Y方向之中的一方方向延伸的多個帶狀電阻膜沿另一方方向并 排而形成;前述多個檢測用電極膜,分別通過沿前述另一方方向延伸的多個帶狀 電極沿前述一方方向并排而形成;前述饋電電極,是連接于前述多個帶狀電阻膜的各自的前述一方方向的兩端部的多對電極;在前述多個帶狀電阻膜中,前述X方向的兩端部^皮施加電壓的帶狀電 阻膜,沿前述另一方方向按時間序列被轉(zhuǎn)換。
      5. 按照權(quán)利要求3或4所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于 前述多個檢測用電極膜各自,在該檢測用電極膜的延伸方向上被分割為兩部分。
      6. 按照權(quán)利要求5所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于前述多個檢測用電極膜各自,通過沿與前述X方向及前述Y方向的雙 方交叉的方向延伸的縫隙被分割為兩部分.
      7. 按照權(quán)利要求1~6中的任何一項所述的電阻膜型輸入裝置,其特 征在于在前述多個檢測用電極膜中,通過前述電位檢測部檢測電位的檢測用 電極膜,按時間序列被轉(zhuǎn)換。
      8. 按照權(quán)利要求1~7中的任何一項所述的電阻膜型輸入裝置,其特 征在于前述第l絕緣基fcl、前述第2絕緣H前述電阻膜及前述檢測用電 極膜都具備透光性。
      9. 一種帶輸入功能的顯示裝置,其具有權(quán)利要求1 8中的任何一項 所述的電阻膜型輸入裝置,其特征在于相對于前述第1絕緣M在與前述第2絕緣^L所處之側(cè)相反側(cè)、或 者相對于前述第2絕緣M在與前述第1絕緣M所處之側(cè)相反側(cè),重疊 配置有圖像生成裝置。
      10. —種電子i殳備,其特征在于 具備權(quán)利要求9所述的帶輸入功能的顯示裝置。
      全文摘要
      本發(fā)明提供通過僅在一對基板之中的一方側(cè)使電位梯度產(chǎn)生于電阻膜的構(gòu)成,能夠確定同時受按壓的多處位置的電阻膜型輸入裝置、帶輸入功能的顯示裝置及電子設(shè)備。在電阻膜型輸入裝置(1)中,在第1絕緣基板(10)形成面狀電阻膜(11),通過形成于第1絕緣基板(10)的第1饋電電極(12a、12b)及第2饋電電極(12c、12d)對面狀電阻膜(11)的兩端部施加電壓,由此在面狀電阻膜(11)形成電位梯度。在第2絕緣基板(20)形成浮置狀態(tài)的多個檢測用電極膜(21a、21b··21l),電位檢測部(46)對多個檢測用電極膜(21a、21b··21l)的各自的電位進(jìn)行監(jiān)視。
      文檔編號G06F3/045GK101673167SQ20091000229
      公開日2010年3月17日 申請日期2009年9月9日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月10日
      發(fā)明者日向章二 申請人:愛普生映像元器件有限公司
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