專利名稱：觸控面板及觸控面板的檢測方法
觸控面板及觸控面板的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種觸控面板及檢測方法，且特別是涉及一種可獨(dú)立檢測感測軸線的
觸控面板及觸控面板的檢測方法。
背景技術(shù)：
隨著技術(shù)的日新月異，無論是筆記本電腦、手機(jī)或是可攜式多媒體播放器等電子 裝置，皆逐漸利用觸控面板來取代傳統(tǒng)鍵盤以作為新一代輸入界面。常見的觸控面板大致 可分為電容式觸控面板以及電阻式觸控面板。電容式觸控面板因?yàn)榫哂卸帱c(diǎn)觸控的特性而 備受矚目。 —般來說，電容式觸控面板的設(shè)計(jì)是在基板表面形成多條感測軸線。當(dāng)用戶以手 指或是導(dǎo)電物體接近或觸碰電容式觸控面板的表面時(shí)，感測軸線上的電容值會發(fā)生對應(yīng)的 變化。電容式觸控面板利用這樣的電容值變化來進(jìn)行觸控位置的感測以及計(jì)算。由此可知， 電容式觸控面板的感測正確性主要依賴各感測軸線的電特性而決定。所以，感測軸線中若 有斷路、短路或是電容效應(yīng)不均勻的情形發(fā)生都會影響觸控感測的正確性。因此，感測軸線 的檢測變得相當(dāng)重要。 中國專利公開案CN101408825中揭露了一種在觸控面板半成品中進(jìn)行檢測的方 法。然而，此專利的檢測方法在半成品中需要額外配置檢測用的線路而造成基板利用率下 降。并且，此專利的檢測方法將感測軸線與對應(yīng)的傳輸線一并進(jìn)行檢測，而無法獨(dú)立地檢測 感測軸線的電特性。中國專利公開案CN100498483揭露了一種在主動組件陣列基板的端子 部分進(jìn)行檢測的方法。然而，此專利的檢測方法應(yīng)用于電容式觸控面板中無法獨(dú)立地檢測 感測軸線。簡言之，上述專利皆無法有效精確檢測出感測軸線的缺陷，因易受傳輸線高電阻 RC效應(yīng)干擾，而影響實(shí)際面內(nèi)電容量測，并會因量測偏差值大，在往后的檢測應(yīng)用時(shí)，易產(chǎn) 生假性缺陷。所以，如何有效檢測電容式觸控面板中感測軸線以維持電容式觸控面板的質(zhì) 量，仍為本領(lǐng)域中一項(xiàng)重要的課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種觸控面板，其感測軸線的端部具有一被絕緣層暴露出來的檢測 區(qū)，以利于檢測。 本發(fā)明提供一種觸控面板的檢測方法，可以精確檢測感測軸線的電容值以及電阻值。 本發(fā)明提供一種檢測方法，可以正確檢測傳輸線的電阻值。 本發(fā)明提出一種觸控面板，包括一基板、多條第一感測軸線，多條與之對應(yīng)的第一 傳輸線、多條第二感測軸線，多條與之對應(yīng)的第二傳輸線以及一絕緣層。第一感測軸線配置 于基板上。各第一感測軸線沿一第一方向延伸，且各第一感測軸線的至少一端具有一第一 檢測區(qū)。第二感測軸線配置于基板上。各第二感測軸線的至少一端具有一第二檢測區(qū)，且 各第二感測軸線沿一第二方向延伸，而第一方向不平行于第二方向。絕緣層覆蓋第一感測軸線以及第二感測軸線，且暴露出第一檢測區(qū)以及第二檢測區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述絕緣層設(shè)置有多個(gè)開口，且開口對應(yīng)暴露出第一檢 測區(qū)以及第二檢測區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第一感測軸線以及各第二感測軸線分別由一感測 墊和一橋接部組成。該感測墊包括多個(gè)中心感測墊以及邊緣感測墊。中心感測墊串接在一 起并位于邊緣感測墊之間，且第一檢測區(qū)或第二檢測區(qū)位于邊緣感測墊中。基板具有一顯 示區(qū)以及一非顯示區(qū)，且各邊緣感測墊包括一外側(cè)部以及一內(nèi)側(cè)部。外側(cè)部位于非顯示區(qū) 中而內(nèi)側(cè)部以及中心感測墊位于顯示區(qū)中，此外，第一檢測區(qū)或第二檢測區(qū)位于外側(cè)部上。
在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述基板具有一第一感測區(qū)以及一第二感測區(qū)。部分第 一感測軸線以及部分第二感測軸線位于第一感測區(qū)，而其他的第一感測軸線以及其他的第 二感測軸線位該第二感測區(qū)。位于第一感測區(qū)的第二感測軸線對齊于第二感測區(qū)的第二感 測軸線。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述第一感測軸線配置于基板的一第一側(cè)而第二感測軸 線配置于基板的一第二側(cè)，且第一側(cè)與該第二側(cè)相對。在一實(shí)施例中，各第一感測軸線以及 各第二感測軸線分別由一感測條所組成。另外，觸控面板進(jìn)一步包括多個(gè)虛擬墊，其配置于 第一基板的第一側(cè)上，位于第一感測軸線之間。具體而言，絕緣層包括一第一絕緣層以及一 第二絕緣層。第一絕緣層覆蓋第一感測軸線，并暴露出第一檢測區(qū)，而第二絕緣層覆蓋第二 感測軸線，并暴露出第二檢測區(qū)。第一絕緣層例如具有多個(gè)第一開口，以暴露出第一檢測 區(qū)，而第二絕緣層例如具有多個(gè)第二開口，以暴露出第二檢測區(qū)。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述觸控面板進(jìn)一步包括多條第一傳輸線以及多條第二 傳輸線。各第一傳輸線的一第一連接端連接至其中一條第一感測軸線，而各第二傳輸線的 一第二連接端連接至其中一條第二感測軸線。絕緣層進(jìn)一步覆蓋第一傳輸線以及第二傳輸 線。此外，絕緣層進(jìn)一步暴露出各第一傳輸線的一第一信號端以及各第二傳輸線的一第二 信號端。 本發(fā)明另提出一種觸控面板的檢測方法，包括提供一前述的觸控面板以及通過第 一檢測區(qū)以及第二檢測區(qū)的其中兩者進(jìn)行檢測。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述進(jìn)行檢測的方法包括通過其中一個(gè)第一檢測區(qū)以及 其中 一個(gè)第二檢測區(qū)進(jìn)行檢測。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第一感測軸線的兩端分別具有第一檢測區(qū)，且進(jìn) 行檢測的方法包括通過同一第一感測軸線兩端的第一檢測區(qū)進(jìn)行檢測。 在本發(fā)明的一實(shí)施例中，上述各第二感測軸線的兩端分別具有第二檢測區(qū)，且進(jìn) 行檢測的方法包括通過同一第二感測軸線兩端的第二檢測區(qū)進(jìn)行檢測。 本發(fā)明又提出一種觸控面板的檢測方法，包括提供一前述的觸控面板。接著，通過 第一檢測區(qū)以及對應(yīng)的其中一個(gè)第一信號端進(jìn)行檢測或是通過第二檢測區(qū)與對應(yīng)的其中 一個(gè)第二信號端進(jìn)行檢測。 基于上述，本發(fā)明在觸控面板的感測軸線端部設(shè)置檢測區(qū)，且絕緣層將檢測區(qū)暴 露出來。因此，本發(fā)明的觸控面板中，感測軸線可以獨(dú)立地被檢測，而可以更正確地判斷感 測軸線是否發(fā)生缺陷，而不被傳輸線高電阻RC效應(yīng)干擾，而影響實(shí)際面內(nèi)電容量測。另外， 本發(fā)明的觸控面板中，傳輸線也可以獨(dú)立地被檢測而使觸控面板的缺陷正確地被檢驗(yàn)出來。搭配上述觸控面板的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，本發(fā)明的檢測方法可以更有效率地檢驗(yàn)出感測軸線與 傳輸線的缺陷。


圖1為本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖2為圖1的區(qū)域I的示意圖。 圖3為沿圖2的A-A'剖線的剖面示意圖。 圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖5為圖4的區(qū)域I1的示意圖。 圖6為沿圖5的剖線B-B'的剖面示意圖。 圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖9為本發(fā)明第五實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。 圖10為圖9的觸控面板的第一側(cè)的俯視示意圖。 圖11為圖9的觸控面板的第二側(cè)的俯視示意圖。 圖12為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第一種檢測方法。 圖13為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第二種檢測方法。 圖14為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第三種檢測方法。
具體實(shí)施方式
為讓本發(fā)明上述特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉實(shí)施例，并配合附圖作詳細(xì) 說明。 圖l為本發(fā)明第一實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請參照圖1，觸控面板100包 括一基板110、多條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。第一感測 軸線120以及第二感測軸線130皆配置于基板110上。各第一感測軸線120沿一第一方向 Dl延伸，而各第二感測軸線130沿一第二方向D2延伸，且第一方向Dl與第二方向D2不平 行。第一感測軸線120可以垂直于第二感測軸線130。此外，各第一感測軸線120的至少一 端具有一第一檢測區(qū)150，而第二感測軸線130的至少一端具有一第二檢測區(qū)160。絕緣層 140則覆蓋第一感測軸線120以及第二感測軸線130，且暴露出第一檢測區(qū)150以及第二檢 測區(qū)160。 本實(shí)施例的第一感測軸線120兩端分別具有第一檢測區(qū)150，而第二感測軸線130 的兩端也分別具有第二檢測區(qū)160。在其他的實(shí)施例中，第一感測軸線120可以僅有一端具 有第一檢測區(qū)150，而第二感測軸線130也可以僅有一端具有第二檢測區(qū)160。另外，本實(shí) 施例的絕緣層140設(shè)置有多個(gè)開口 142，該開口的形狀可為圓形、橢圓形、矩形或者各種多 邊形或弧線構(gòu)成的各種封閉圖形。各開口 142暴露出一個(gè)第一檢測區(qū)150或是一個(gè)第二檢 測區(qū)160。 進(jìn)一步而言，觸控面板100進(jìn)一步包括多條第一傳輸線Sl以及多條第二傳輸線 S2。各第一傳輸線Sl的一第一連接端Sla連接至其中一條第一感測軸線120，而各第二傳 輸線S2的一第二連接端S2a連接至其中一條第二感測軸線130。各第一傳輸線Sl的另一
6端則為第一信號端Slb，而各第二傳輸線S2的另一端則為第二信號端S2b。上述的傳輸線 會通過收攏的布置整合在基板的非顯示區(qū)的一側(cè)，所有傳輸線的信號端則是用以連接至驅(qū) 動芯片(未圖示)。 在本實(shí)施例中，絕緣層140進(jìn)一步覆蓋第一傳輸線Sl以及第二傳輸線S2。此外， 絕緣層140進(jìn)一步暴露出各第一信號端Slb以及各第二信號端S2b。也就是說，絕緣層140 的部分開口 142位于第一信號端Slb以及第二信號端S2b上以將其暴露出來。
在這樣的設(shè)計(jì)之下，檢測觸控面板100時(shí)，感測軸線120、 130以及傳輸線S1、S2可 以分別地進(jìn)行檢測。也就是說，檢測感測軸線120U30時(shí)，檢測的結(jié)果不會受到傳輸線Sl、 S2的缺陷影響。同樣地，檢測傳輸線Sl、 S2時(shí)，檢測結(jié)果也不會受到感測軸線120U30的 缺陷所影響。因此，本實(shí)施例可以更有效率地檢測出觸控面板100中不同組件的缺陷，而提 升觸控面板100的質(zhì)量。 具體而言，本實(shí)施例的各第一感測軸線120以及各第二感測軸線130分別由多個(gè) 感測墊170和多個(gè)橋接部(圖1未標(biāo)示)所組成。感測墊170包括多個(gè)中心感測墊172以 及兩個(gè)邊緣感測墊174。中心感測墊172串接在一起并位于兩個(gè)邊緣感測墊174之間，且第 一檢測區(qū)150或第二檢測區(qū)160位于兩個(gè)邊緣感測墊174中。也就是說，各第一感測軸線 120以及各第二感測軸線130中，兩端的部分由邊緣感測墊174所構(gòu)成。
在本實(shí)施例中，第一檢測區(qū)120的面積與第二檢測區(qū)130的面積可以由邊緣感測 墊174的設(shè)計(jì)而決定。 一般而言，邊緣感測墊174需具有一定的面積，所以檢測觸控面板 100時(shí)的對位流程較為容易。也就是說，觸控面板100的檢測不需要高精度的對位設(shè)備而有 助于簡化并加快檢測方法。 圖2為圖1的區(qū)域I的示意圖，而圖3為沿圖2的A-A'剖線的剖面示意圖。請同 時(shí)參照圖2與圖3，在本實(shí)施例中，相鄰的中心感測墊172可以通過一橋接部176串接在一 起。當(dāng)然，中心感測墊172與邊緣感測墊174也可以通過橋接部176串接在一起。
另外，由圖3可知，邊緣感測墊174與中心感測墊172進(jìn)一步可以通過橋接部176 串接在一起。不過，根據(jù)不同的需求，可以僅串接第二感測軸線130的邊緣感測墊174與中 心感測墊172，或是僅串接多個(gè)中心感測墊172。值得一提的是，第一感測軸線120與第二 感測軸線130必需保持需保持獨(dú)立的電特性，因此第一感測軸線120的橋接部176與第二 感測軸線130的橋接部176之間配置有絕緣構(gòu)件190。 本實(shí)施例的絕緣層140暴露出第一檢測區(qū)150、第二檢測區(qū)160、第一信號端Slb 以及第二信號端S2b。所以，觸控面板100可通過絕緣層140所暴露出來的這些區(qū)域來進(jìn) 行電特性的檢測。如此一來，感測軸線120、130以及傳輸線S1、S2可以分別地被檢測。此 外，觸控面板100的檢測方法相當(dāng)簡單，且一旦檢測出缺陷可以實(shí)時(shí)地進(jìn)行修復(fù)。因此，觸 控面板100具有良好的電性質(zhì)量。 圖4為本發(fā)明第二實(shí)施例的觸控面板400的俯視示意圖。圖5為圖4的區(qū)域II 的示意圖，而圖6為沿圖5中剖線B-B'的剖面示意圖。請同時(shí)參照圖4、圖5以及圖6，觸 控面板400與第一實(shí)施例的觸控面板100相似，其中觸控面板400也包括有一基板110、多 條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。不過，觸控面板400中，基 板110具有一顯示區(qū)112和一非顯示區(qū)114。此外，邊緣感測墊474包括一外側(cè)部474A以 及一內(nèi)側(cè)部474B，且外側(cè)部474A位于非顯示區(qū)114中，而內(nèi)側(cè)部474B以及中心感測墊172皆位于顯示區(qū)112中。此外，第一檢測區(qū)150或第二檢測區(qū)160位于外側(cè)部474A上。
—般來說，中心感測墊172以及邊緣感測墊474會以透明導(dǎo)電材質(zhì)加以制作，以使 觸控面板400提供良好的光線穿透性。檢測觸控面板400時(shí)，操作者會使用一探針接觸欲 檢測的第一檢測區(qū)150或第二檢測區(qū)160。不過，探針的移動與接觸可能造成透明導(dǎo)電材質(zhì) 的損傷而影響第一檢測區(qū)150或第二檢測區(qū)160的表面平坦性。所以，本實(shí)施例將第一檢 測區(qū)150以及第二檢測區(qū)160設(shè)置于周邊區(qū)114中可以避免顯示區(qū)112的光線穿透性受到 不良的影響。即，觸控面板400除了具有良好的電特性外，更具有相當(dāng)不錯(cuò)的光線穿透性。
圖7為本發(fā)明第三實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請參照圖7，觸控面板700的 設(shè)計(jì)是改變觸控面板400中的絕緣層140，以形成具有一環(huán)形開口 442。環(huán)形開口 442暴露 出所有的第一檢測區(qū)150以及所有的第二檢測區(qū)160。也就是說，環(huán)形開口 442的設(shè)計(jì)是將 第二實(shí)施例中的多個(gè)開口 142貫通。 不過，在其他的實(shí)施例中，可以僅將絕緣層140的部分開口 142貫通，而使各貫通 的開口同時(shí)暴露出數(shù)個(gè)第一檢測區(qū)150或是數(shù)個(gè)第二檢測區(qū)160。本實(shí)施例的第一檢測區(qū) 150以及第二檢測區(qū)160被暴露出來，檢測觸控面板700時(shí)可以正確地將第一感測軸線120 以及第二感測軸線130中的缺陷判斷出來。因此，觸控面板700具有良好的質(zhì)量。
圖8為本發(fā)明第四實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖。請參照圖8，觸控面板800也 包括有一基板110、多條第一感測軸線120、多條第二感測軸線130以及一絕緣層140。不 過，本實(shí)施例中，基板110具有一第一感測區(qū)116以及一第二感測區(qū)118，部分第一感測軸線 120以及部分第二感測軸線130位于第一感測區(qū)116，而其他的第一感測軸線120以及其他 的第二感測軸線130位于第二感測區(qū)118。此外，位于第一感測區(qū)116的第二感測軸線130 對齊于第二感測區(qū)118的第二感測軸線130。也就是說，第一感測區(qū)116的其中一條第二感 測軸線130與第二感測區(qū)118的其中一條第二感測軸線130排列成一直線。
本實(shí)施例的設(shè)計(jì)使兩條第二感測軸線130對齊可以避免觸控面板800進(jìn)行感測時(shí) 發(fā)生誤感測，例如鬼點(diǎn)(ghost point)的現(xiàn)象。此外，邊緣感測墊874A的設(shè)計(jì)同第二實(shí)施 例的邊緣感測墊474 —樣是由外側(cè)部474A以及內(nèi)側(cè)部474B所構(gòu)成。邊緣感測墊874B則 例如由三角形圖案所構(gòu)成。值得一提的是，本實(shí)施例的第二感測串列130中都只有一端設(shè) 有第二檢測區(qū)160，而同一條線上的兩條第二感測串列130中相鄰的一端未設(shè)有任何的檢 測區(qū)。也就是說，邊緣感測墊874B未設(shè)有檢測區(qū)。如此設(shè)計(jì)有助于提升觸控面板800的光 線穿透性質(zhì)。相似地，本實(shí)施例的觸控面板800中，感測軸線120、130可以獨(dú)立地進(jìn)行電容 值的檢測，而使得觸控面板800可維持良好的質(zhì)量。 圖9為本發(fā)明第五實(shí)施例的觸控面板的俯視示意圖，圖10為圖9的觸控面板的第 一側(cè)的俯視示意圖，而圖11為圖9的觸控面板的第二側(cè)的俯視示意圖。請參照圖9，觸控面 板900包括一基板910、多條第一感測軸線920、多條第二感測軸線930、一第一絕緣層945 以及一第二絕緣層947。第一感測軸線920以及第二感測軸線930皆配置于基板910上。 具體而言，第一感測軸線920配置于基板910的一第一側(cè)912，而第二感測軸線930配置于 基板910的一第二側(cè)914，且第一側(cè)912與第二側(cè)914相對。 請同時(shí)參照圖9、圖10以及圖11，各第一感測軸線920沿第一方向D1延伸，而各 第二感測軸線930沿第二方向D2延伸，且第一方向Dl與第二方向D2不平行。此外，各第 一感測軸線920的兩端分別具有一第一檢測區(qū)950，而第二感測軸線930的兩端分別具有一第二檢測區(qū)960。第一絕緣層945覆蓋第一感測軸線920且暴露出第一檢測區(qū)950。第二 絕緣層947則覆蓋第二感測軸線930且暴露出第二檢測區(qū)960。 具體而言，各第一感測軸線920以及各第二感測軸線930分別由一感測條 (sensing bar)所組成。也就是說，各第一感測軸線920以及各第二感測軸線930由一條狀 導(dǎo)體圖案所構(gòu)成，其材質(zhì)例如為透明導(dǎo)電材質(zhì)。此外，為了增進(jìn)觸控面板900的亮度的均勻 性，觸控面板900進(jìn)一步包括多個(gè)虛擬墊922，其配置于基板910的第一側(cè)912上，并位于第 一感測軸線920之間。 在本實(shí)施例中，第一絕緣層945具有多個(gè)第一開口 945A，以暴露出第一檢測區(qū) 950，而第二絕緣層947具有多個(gè)第二開口 947A，以暴露出第二檢測區(qū)960。尤其是，第二開 口 947A都設(shè)置在顯示區(qū)112之外。在其他的實(shí)施例中，位于同一側(cè)的第一開口 945A可以 彼此貫通，而位于同一側(cè)的第二開口 947A也可以彼此貫通。第一開口 945A以及第二開口 947A將對應(yīng)的第一檢測區(qū)950以及第二檢測區(qū)960暴露出來，所以第一感測軸線920與第 二感測軸線930可以獨(dú)立地進(jìn)行感測。因此，觸控面板900若有缺陷可以正確地被檢測出 來，而有助于維持觸控面板900的質(zhì)量。 另外，本實(shí)施例中，第一感測軸線920的兩端都設(shè)有第一檢測區(qū)950，而第二感測 軸線930的兩端也都設(shè)有第二檢測區(qū)960。不過，根據(jù)不同的檢測需求及布局設(shè)計(jì)，第一感 測軸線920可以僅有一端設(shè)有第一檢測區(qū)950，而第二感測軸線也可以僅有一端設(shè)有第二 檢測區(qū)960。 以上實(shí)施例所描述的觸控面板100、400、700、800以及900都分別在各感測軸線的 端部設(shè)置檢測區(qū)。并且，這些檢測區(qū)被絕緣層暴露出來。因此，觸控面板100、400、700、800 以及900可以采用簡易的檢測方式來分別檢視各感測軸線或是各傳輸線是否有缺陷產(chǎn)生。 具體地說，觸控面板100、400、700、800以及900可以采用的檢測方法如下。圖12為本發(fā)明 一實(shí)施例的觸控面板的第一種檢測方法。請參照圖12，先進(jìn)行步驟10，提供一觸控面板。 在本實(shí)施例的檢測方法中，觸控面板例如是前述的觸控面板100、400、700、800以及900中 其中一者或是觸控面板100、400、700、800以及900中各感測軸線僅有一端設(shè)有檢測區(qū)的設(shè) 計(jì)。 接著，進(jìn)行步驟20，通過觸控面板中其中一條第一感測軸線的第一檢測區(qū)以及其 中一條第二感測軸線的第二檢測區(qū)進(jìn)行檢測。具體來說，檢測的步驟例如是利用一組探針 分別地接觸其中一條第一感測軸線的第一檢測區(qū)以及其中一條第二感測軸線的第二檢測 區(qū)。并且，測量這組探針之間的電容值。根據(jù)所測得的電容值來判斷第一感測軸線與第二 感測軸線是否有短路或是斷路的缺陷。 另外，因工藝誤差而使第一感測軸線的圖案或是第二感測軸線的圖案不一致，例 如圖案的面積差異過大或是圖案的間距不一致，會導(dǎo)致第一感測軸線與第二感測軸線在不 同位置上的電容耦合效應(yīng)隨之變化。如此，觸控面板將會有感測不準(zhǔn)確的情況。本實(shí)施例 根據(jù)不同感測軸線間的電容值變化可判斷出感測軸線的圖案是否有缺陷，以進(jìn)一步針對缺 陷部分進(jìn)修補(bǔ)而提升觸控面板的感測準(zhǔn)確性。 本實(shí)施例的檢測方法搭配觸控面板100、400、700、800以及900的布局設(shè)計(jì)可以直 接地檢測不同感側(cè)軸線之間的電容值。這樣的檢測方法不會受到傳輸線的影響而更直接地 檢驗(yàn)出感測軸線是否有缺陷。也就是說，感測軸線中的缺陷可以正確且有效率地被檢測出
9來。 圖13為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的第二種檢測方法。請參照圖13，本實(shí)施例的 觸控面板檢測方法例如是進(jìn)行步驟10，提供一觸控面板。在此，觸控面板例如是前述的觸控 面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，采用本實(shí)施例的檢測方法進(jìn) 行檢測的觸控面板中，所有感測軸線兩端都分別地設(shè)有檢測區(qū)。 接著，進(jìn)行步驟30，通過同一感測軸線兩端的檢測區(qū)進(jìn)行檢測。通過同一感測軸線 兩端的檢測區(qū)可以檢測同一條感測軸線的電阻值，以確認(rèn)每一感測軸線是否有短路或是斷 路的缺陷。并且，感測軸線的傳輸阻抗若有過大的差異也可以通過步驟30檢測出來。
舉例來說，當(dāng)本方法應(yīng)用于觸控面板100時(shí)，探針可以同時(shí)接觸同一條第一感測 軸線120兩端的第一檢測區(qū)150以進(jìn)行檢測。當(dāng)然，探針也可以同時(shí)接觸同一條第二感測 軸線130兩端的第二檢測區(qū)160以進(jìn)行檢測。在這樣的檢測過程中，若有其中一條感測軸 線的電阻值發(fā)生異?？梢院苷_地被判斷出來并進(jìn)行對應(yīng)的修補(bǔ)工作。因此，這樣的檢測 方法有助于提升觸控面板的質(zhì)量。 前述兩種檢測方法可以有效地檢測出感測軸線內(nèi)的缺陷，不過觸控面板中的傳輸 線也必須維持良好的電特性以使觸控面板正常地進(jìn)行觸控感測。因此，本實(shí)施例提出以下 的檢測方法，其針對觸控面板中的傳輸線進(jìn)行檢測。圖14為本發(fā)明一實(shí)施例的觸控面板的 第三種檢測方法。請參照圖14，本檢測方法首先是進(jìn)行步驟10提供一觸控面板。觸控面板 可以是如前述的觸控面板100、400、700、800以及900中其中一者。值得一提的是，應(yīng)用本 方法的觸控面板中，絕緣層會暴露出傳輸線的信號端。另外，各感測軸線中可以僅有連接信 號線的一端設(shè)有檢測區(qū)。 接著，進(jìn)行步驟40，通過其中一個(gè)檢測區(qū)以及對應(yīng)的其中一個(gè)信號端進(jìn)行檢測。舉 例來說，本檢測方法應(yīng)用于觸控面板100時(shí)，步驟40的進(jìn)行方式例如是將一探針接觸第一 檢測區(qū)150或第二檢測區(qū)160其中一者，同時(shí)將另一探針接觸對應(yīng)的第一信號端Slb或?qū)?應(yīng)的第二信號端S2b。如此，通過兩探針檢測第一傳輸線Sl或是第二傳輸線S2的電特性， 以針對有缺陷的第一傳輸線Sl或是第二傳輸線S2進(jìn)行修補(bǔ)。當(dāng)然，這樣的檢測步驟也可 以應(yīng)用于觸控面板400、700、800以及900，以提升觸控面板400、700、800以及900的質(zhì)量。
整體而言，本發(fā)明在各感測軸線的端部設(shè)置檢測區(qū)，且絕緣層將檢測區(qū)暴露出來。 因此，本發(fā)明可以直接檢測感測軸線是否有缺陷產(chǎn)生，并且傳輸線與感測軸線可以分別地 進(jìn)行檢測。觸控面板的檢測方法因而更有效率。當(dāng)觸控面板中有缺陷被檢測出來后，可以 進(jìn)一步針對缺陷部分進(jìn)行修補(bǔ)。如此，本發(fā)明觸控面板可以具有良好質(zhì)量。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人 員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可對本發(fā)明進(jìn)行各種修改，故本發(fā)明的保護(hù)范 圍當(dāng)以權(quán)利要求為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
一種觸控面板，其特征在于，包括一基板；多條第一感測軸線，配置于該基板上，各該第一感測軸線沿一第一方向延伸，且各該第一感測軸線的至少一端具有一第一檢測區(qū)；多條第一傳輸線，各該第一傳輸線的一連接端分別連接至各該第一感測軸線；多條第二感測軸線，配置于該基板上，各該第二感測軸線的至少一端具有一第二檢測區(qū)，且各該第二感測軸線沿一第二方向延伸，而該第一方向不平行于該第二方向；多條第二傳輸線，各該第二傳輸線的一連接端分別連接至各該第二感測軸線，以及一絕緣層，覆蓋該多條第一感測軸線以及該多條第二感測軸線，且暴露出該多個(gè)第一檢測區(qū)以及該多個(gè)第二檢測區(qū)。
2. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該第一感測軸線垂直于該第二感測軸線。
3. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層暴露處設(shè)置有多個(gè)開口，且該 多個(gè)開口對應(yīng)暴露出該多個(gè)第一檢測區(qū)以及該多個(gè)第二檢測區(qū)。
4. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層暴露出該多個(gè)第一檢測區(qū)以 及該多個(gè)第二檢測區(qū)的開口為一環(huán)形。
5. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，各該第一感測軸線以及各該第二感測 軸線分別由多個(gè)感測墊和多個(gè)橋接部所組成。
6. 如權(quán)利要求5所述的觸控面板，其特征在于，該多個(gè)感測墊包括多個(gè)中心感測墊以 及兩個(gè)邊緣感測墊，該多個(gè)中心感測墊通過該橋接部串接在一起并位于該兩個(gè)邊緣感測墊 之間，且該第一檢測區(qū)或該第二檢測區(qū)位于該兩個(gè)邊緣感測墊中。
7. 如權(quán)利要求6所述的觸控面板，其特征在于，該基板具有一顯示區(qū)和一非顯示區(qū)，且 各該邊緣感測墊包括一外側(cè)部以及一內(nèi)側(cè)部，該外側(cè)部位于該非顯示區(qū)中，而該內(nèi)側(cè)部以 及該多個(gè)中心感測墊位于該顯示區(qū)中，且該第一檢測區(qū)或該第二檢測區(qū)位于該外側(cè)部上。
8. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該基板具有一第一感測區(qū)以及一第二 感測區(qū)，覆蓋于該第一感測區(qū)以及該第二感測區(qū)的該絕緣層暴露出該多條第一感測軸線的 該多個(gè)第一檢測區(qū)以及該多條第二感測軸線的該多個(gè)第二檢測區(qū)。
9. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該多條第一感測軸線配置于該基板的 一第一側(cè)，而該多條第二感測軸線配置于該基板的一第二側(cè)，且該第一側(cè)與該第二側(cè)相對。
10. 如權(quán)利要求9所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層包括一第一絕緣層以及一第 二絕緣層，且該第一絕緣層覆蓋該多條第一感測軸線，并暴露出該多個(gè)第一檢測區(qū)，該第二 絕緣層覆蓋該多條第二感測軸線，并暴露出該多個(gè)第二檢測區(qū)。
11. 如權(quán)利要求io所述的觸控面板，其特征在于，該第一絕緣層暴露處設(shè)置有多個(gè)第一開口 ，且該多個(gè)第一開口對應(yīng)暴露出該多個(gè)第一檢測區(qū)，而該第二絕緣層暴露處設(shè)置有 多個(gè)第二開口 ，且該多個(gè)第二開口對應(yīng)暴露出該多個(gè)第二檢測區(qū)。
12. 如權(quán)利要求1所述的觸控面板，其特征在于，該絕緣層進(jìn)一步覆蓋該多條第一傳輸 線以及該多條第二傳輸線，并進(jìn)一步暴露出各該第一傳輸線及各該第二傳輸線的信號端。
13. —種觸控面板的檢測方法，其特征在于，包括 提供如權(quán)利要求第1項(xiàng)所述的觸控面板；以及通過該多個(gè)第一檢測區(qū)以及該多個(gè)第二檢測區(qū)的其中兩者進(jìn)行檢測。
14. 如權(quán)利要求13所述的觸控面板的檢測方法，其特征在于，各該第一感測軸線的兩 端分別具有該第一檢測區(qū)，且進(jìn)行檢測的方法包括通過同一該第一感測軸線兩端的該兩個(gè) 第一檢測區(qū)進(jìn)行檢測。
15. 如權(quán)利要求13所述的觸控面板的檢測方法，其特征在于，各該第二感測軸線的兩 端分別具有該第二檢測區(qū)，且進(jìn)行檢測的方法包括通過同一該第二感測軸線兩端的該兩個(gè) 第二檢測區(qū)進(jìn)行檢測。
16. —種觸控面板的檢測方法，其特征在于，包括提供如權(quán)利要求12所述的觸控面板；以及通過其中一該第一檢測區(qū)以及與其對應(yīng)的 信號端或是其中一該第二檢測區(qū)以及與其對應(yīng)的信號端進(jìn)行檢測。
全文摘要
本發(fā)明提供一種觸控面板，包括一基板、多條第一感測軸線、多條第二感測軸線以及一絕緣層。第一感測軸線配置于基板上。各第一感測軸線沿一第一方向延伸，且各第一感測軸線的至少一端具有一第一檢測區(qū)。第二感測軸線配置于基板上。各第二感測軸線的至少一端具有一第二檢測區(qū)，且各第二感測軸線沿一第二方向延伸，而第一方向不平行于第二方向。絕緣層覆蓋第一感測軸線以及第二感測軸線，且暴露出第一檢測區(qū)以及第二檢測區(qū)。本發(fā)明進(jìn)一步提供了一種觸控面板的檢測方法。
文檔編號G06F3/044GK101699376SQ20091018987
公開日2010年4月28日 申請日期2009年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月4日
發(fā)明者余鴻志, 張龍泉 申請人:深超光電(深圳)有限公司