專利名稱：：用于分類微粒的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)的制作方法用于分類微粒的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)本申請是申請日為2006年8月1日申請?zhí)枮榈?00680027472.X號(hào)發(fā)明名稱為“用于分類微粒的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)”的中國專利申請的分案申請。
背景技術(shù)：
：1.發(fā)明領(lǐng)域本申請通常涉及用于分類微粒的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)。特定實(shí)施例涉及使用為微粒獲取的數(shù)據(jù)并結(jié)合查找表和與不同微粒分類相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)算法來分類微粒的方法。2.相關(guān)技術(shù)描述后續(xù)描述和例子不會(huì)因?yàn)樗鼈冊诒竟?jié)中的公開而被承認(rèn)為現(xiàn)有技術(shù)。通常，在微粒沿直線通過流動(dòng)室時(shí)，流式細(xì)胞儀能夠測定微粒的熒光強(qiáng)度和其它光學(xué)屬性(例如，激光激發(fā)聚苯乙烯珠)?？梢詧?zhí)行各種測量，包括但不限于光被微粒散射的的程度、微粒的電阻抗的測量、以及微粒熒光的一種或多種測量。可以使用系統(tǒng)的不同“通道”(例如，報(bào)告器通道和分類通道)執(zhí)行這些和任意其它測量，該系統(tǒng)包括檢測器，也可能包括耦合于檢測器的其它組件(例如，光學(xué)組件、電子組件等)。通?？梢允褂梦⒘５囊粋€(gè)或多個(gè)測量值對微粒進(jìn)行分類，每個(gè)值對應(yīng)于微粒的一個(gè)不同的“參數(shù)”(上面提及的就是例子)。例如，一個(gè)分類微粒的常規(guī)方法是在分類空間(例如，位圖)中繪制測量值，并且確定繪制出的位置是否位于分類空間中對應(yīng)于微粒的特定分類的預(yù)定區(qū)域中。這樣的過程在此被稱為基于位圖的常規(guī)分類方法。不幸地是，該過程具有其缺陷。具體地，使用該方法的分類方案的圖形表示不易于被擴(kuò)展到兩個(gè)以上的參數(shù)。在將上述分類方法擴(kuò)展到兩個(gè)以上的參數(shù)時(shí)遇到的一個(gè)特定問題是，圖形尺度的尺寸隨著用于分類微粒的每個(gè)參數(shù)的分辨率線性變化，并且隨著參數(shù)的數(shù)量指數(shù)地變化。例如，如果二維位圖具有100個(gè)單位的組合尺寸(即10個(gè)單位X10個(gè)單位)，則三維位圖將具有1000單位的組合尺寸，四維位圖具有10000個(gè)單位的組合尺寸。在一些情況下，這樣的指數(shù)增加對于一些系統(tǒng)存儲(chǔ)器容量而言完全過高。而且注意到，通過流式細(xì)胞儀為微粒獲得的數(shù)據(jù)的參數(shù)通常具有比100個(gè)可能單位多得多的組合尺寸，并且通常包括三個(gè)或更多個(gè)參數(shù)。此外，創(chuàng)建多于兩維的位圖比創(chuàng)建創(chuàng)建兩維位圖困難得多，因?yàn)樵谥T如紙張或計(jì)算機(jī)顯示器的兩維結(jié)構(gòu)中表示“多于兩”維的位圖要求犧牲一些真實(shí)數(shù)據(jù)的保真度。因此，期望開發(fā)用于可以容易地?cái)U(kuò)展到兩個(gè)以上的參數(shù)的分類粒子的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)，其不會(huì)隨每個(gè)附加參數(shù)指數(shù)地?cái)U(kuò)大存儲(chǔ)器使用，并且被構(gòu)造為最小化執(zhí)行粒子分類的處理時(shí)間。發(fā)明概述方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)的各種實(shí)施例的后續(xù)描述不應(yīng)被以任何方式解釋為限制所附權(quán)利要求的主題。計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法的一個(gè)實(shí)施例包括獲取與微粒的可測量參數(shù)相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)組，以及標(biāo)識(shí)查找表中第一數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置，其中查找表是由與至少一個(gè)可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的值構(gòu)建的。此外，該方法包括確定第一數(shù)據(jù)組是否適合一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義的算法，其中所述一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法中的每一個(gè)分別指示與查找表的已標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的多個(gè)微粒分類中的一個(gè)不同微粒分類。該方法還包括基于確定第一數(shù)據(jù)組是否適合一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法，將微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中。該方法的這個(gè)實(shí)施例可以包括此處描述的任何其它步驟。系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例包括處理器、由微粒的一個(gè)或多個(gè)可測量參數(shù)構(gòu)建的查找表、以及可以由處理器執(zhí)行以用于執(zhí)行前面提及的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法的步驟的程序指令。系統(tǒng)的這個(gè)實(shí)施例還可以如此處描述的被配置。此外，查找表的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)還可以如此處描述的這樣配置。計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法的另一個(gè)實(shí)施例包括獲取與微粒的可測量參數(shù)相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)組，并且創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組，該第二數(shù)據(jù)組包括分別與第一數(shù)據(jù)組的一個(gè)或多個(gè)單獨(dú)值相關(guān)的一個(gè)或多個(gè)傘狀值。每個(gè)傘狀值表示用于相應(yīng)的可測量參數(shù)的可能放入值的范圍。該方法還包括標(biāo)識(shí)查找表中第二數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置，其中查找表是由至少一個(gè)可測量參數(shù)的傘狀值構(gòu)建的。此外，該方法包括確定第一數(shù)據(jù)組是否適合指示與查找表的所標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的微粒分類的預(yù)定義算法，以及基于這樣的判斷，將微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中。方法的這個(gè)實(shí)施例可以包括此處描述的任何其它步驟。附圖的簡要描述在閱讀后續(xù)詳細(xì)描述和參考附圖時(shí)，本發(fā)明的其它目的和優(yōu)點(diǎn)將變得更為明顯，附圖中圖1是包括與微粒充當(dāng)成員的種群對應(yīng)的分類空間的兩維圖；圖2示出了用于分類微粒的方法的流程圖；圖3和4是示出查找表的不同實(shí)施例的示意圖；以及圖5是示出被配置成分類微粒的系統(tǒng)的一個(gè)實(shí)施例的示意圖。盡管本發(fā)明易于作出各種修改和替換形式，但作為示例在附圖中示出其特定實(shí)施例，并將在此處詳細(xì)描述。但是應(yīng)當(dāng)理解，附圖和對其的詳細(xì)描述不旨在將本發(fā)明限定為所公開的特定形式，反而是為了涵蓋落入如所附的權(quán)利要求所定義的本發(fā)明的精神和范圍的全部修改、等效方式和替換。優(yōu)選實(shí)施例的詳細(xì)描述此處使用的術(shù)語“微粒”通常指代粒子、微球體、聚苯乙烯珠、量子點(diǎn)、納米點(diǎn)、納米粒子、納米殼體、珠、微珠、膠乳粒子、膠乳珠、熒光珠、熒光粒子、有色粒子、有色珠、薄紙、單元、微有機(jī)體、有機(jī)物、無機(jī)物或者本領(lǐng)域已知的任何其它離散基材或者物質(zhì)。此處任何這樣的術(shù)語可以互換地使用。此處描述的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)可以用于分類任何類型的微粒。在一些例子中，此處描述的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)可以尤其可用于用作分子反應(yīng)的媒介的微粒。在流式細(xì)胞儀中使用的分子反應(yīng)微粒的例子包括xMAP微球體，該微球體可以從德克薩斯州奧斯汀的Luminex(盧米尼克斯)公司購買到。如此處使用的，術(shù)語“分類”通常定義為確定樣本中各個(gè)微粒的身份。該身份涉及各個(gè)微粒所歸屬的種群。這種分類具有特殊的重要性，因?yàn)樵跇颖镜膯蝹€(gè)實(shí)驗(yàn)中，通常用微粒的多個(gè)不同種群分析該樣本。具體地，微粒的不同種群通常具有至少一個(gè)不同的特性，例如耦合到微粒的物質(zhì)的類型，和/或耦合到微粒的物質(zhì)的數(shù)量，這樣樣本中不同類型和/或數(shù)量的分析物的存在可以在單個(gè)實(shí)驗(yàn)中被檢測和/或量化。為了解釋測量結(jié)果，樣本中的各個(gè)微粒的身份和分類可以被確定，這樣測量值可以與各個(gè)微粒的屬性相關(guān)。這樣，與微粒的不同種群相關(guān)聯(lián)的測量值可以被區(qū)分，并且各自歸屬于感興趣的分析物?？梢员慌渲脼閳?zhí)行此處描述的一個(gè)或多個(gè)過程的系統(tǒng)包括但是不限于Luminex100、LuminexHTS、Luminex1OOE、Luminex200TM，以及任何可從德克薩斯州奧斯汀的Luminex公司買到的該產(chǎn)品系列的其它附加物。在此參考圖5進(jìn)一步描述這樣的系統(tǒng)的一個(gè)通用的例子。但是，應(yīng)當(dāng)理解此處描述的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)可以使用或者可被配置為使用由任何測量系統(tǒng)獲得的微粒數(shù)據(jù)。測量系統(tǒng)的例子包括流式細(xì)胞儀和熒光成像系統(tǒng)。此外，盡管此處描述了可以用于微粒分類的各種參數(shù)，但應(yīng)當(dāng)理解此處描述的實(shí)施例可以使用微粒的可以用于區(qū)分微粒的不同種群的任何可測量參數(shù)。此外，此處描述的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)并不局限于微粒分類。具體地，此處描述的實(shí)施例可同樣用于確定微粒的其它參數(shù)，諸如但是不限于出現(xiàn)在微粒上或樣本中的反應(yīng)產(chǎn)物的身份或者數(shù)量。轉(zhuǎn)向附圖，圖1示出了可以用于以常規(guī)方式分類微粒的示例性分類空間。該過程包括使用流式細(xì)胞儀或者其它合適的設(shè)備為微粒獲取數(shù)據(jù)，并且使用該數(shù)據(jù)進(jìn)行分類。具體地，該方法通常包括在具有各自對應(yīng)于一個(gè)不同的參數(shù)(例如圖1中軸名參數(shù)1和參數(shù)2所示出的)的兩個(gè)軸的圖上繪制兩個(gè)參數(shù)的測量數(shù)據(jù)。該圖還包括不同的分類區(qū)域(例如，圖1中示出的區(qū)域1-12)，各自對應(yīng)于一個(gè)不同的微粒種群。圖中對應(yīng)于微粒的所測量參數(shù)的數(shù)據(jù)點(diǎn)的位置確定了微粒在種群之一中的成員關(guān)系。例如，如圖1所示，用星號(hào)(*)示出對應(yīng)于為單個(gè)微粒獲得的兩個(gè)參數(shù)值的單個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。由于數(shù)據(jù)點(diǎn)位于區(qū)域9(在圖中表示為用數(shù)字9標(biāo)記的交叉影線區(qū)域)的范圍內(nèi)，該微粒被分類為是與區(qū)域9對應(yīng)的種群的成員。如果數(shù)據(jù)點(diǎn)相反位于圖中區(qū)域1-12之外的空白空間，則該微粒被分類為不是任何區(qū)域的成員并且因此被分類為不屬于任何種群。此處描述的方法和系統(tǒng)以與上面描述的例子不同的方式執(zhí)行微粒分類。具體地，此處描述的實(shí)施例使用查找表(LUT)來縮小對微?？赡軞w屬的分類種群的搜索，以及隨后以與查找表中的標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義的算法處理為微粒獲取的數(shù)據(jù)。在圖2中示出了描繪這樣一個(gè)方法的示例性步驟的流程圖。如同以下更詳細(xì)描述的，在一些實(shí)施例中，用于定義微粒分類的算法可以是復(fù)雜的(例如算法可以涉及微粒的兩個(gè)以上的測量參數(shù))，并且，因此最好通過計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)該算法。同樣地，此處諸如參照圖5所描述的系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括程序指令，該程序指令可以由處理器執(zhí)行并且被配置為執(zhí)行圖2中描述的過程。因此，參考圖2描述的方法可以被稱為“計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法”，并且因此在此可以互換地使用術(shù)語“方法”和“計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法”。值得注意的是，在一些情況下，此處描述的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法和系統(tǒng)的程序指令可以被配置為執(zhí)行與微粒分類相關(guān)聯(lián)的過程之外的其它過程，并且因此此處描述的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法和系統(tǒng)的程序指令不必局限于圖2的描述。進(jìn)而，盡管此處參照“一微?！钡姆诸惷枋隽瞬襟E，但應(yīng)當(dāng)理解可以為組中的一個(gè)或多個(gè)微粒(例如組中的一些或者全部微粒)執(zhí)行此處所描述的方法實(shí)施例的任何或者全部步驟。如圖2所示，此處所描述的方法和系統(tǒng)的程序指令可以包括方框10，其中第一數(shù)據(jù)組對應(yīng)于微粒的可測量參數(shù)。這樣的數(shù)據(jù)組可以是通過流式細(xì)胞儀或者其它恰當(dāng)?shù)脑O(shè)備獲得的?？梢酝ㄟ^使用流式細(xì)胞儀為各個(gè)微粒測量數(shù)據(jù)或者通過向流式細(xì)胞儀請求和從中接收數(shù)據(jù)而獲得數(shù)據(jù)。這樣，可以由測量系統(tǒng)自己(例如，由測量系統(tǒng)的處理器)或者耦合到測量系統(tǒng)的系統(tǒng)(例如，單機(jī)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的處理器)執(zhí)行該方法。無論在哪種情況下，在一些實(shí)施例中，數(shù)據(jù)組可以包括一些不同參數(shù)的測量，這些不同的參數(shù)包括但不限于用于分類微粒的參數(shù)。例如，第一數(shù)據(jù)組可以包括熒光、光散射、電阻抗、或者微粒的任何其它可測量屬性的測量。在一些實(shí)施例中，此處描述的方法和系統(tǒng)的程序指令可以繼續(xù)到圖2中示出的方框52從而創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組，該數(shù)據(jù)組具有一個(gè)或多個(gè)分別與第一數(shù)據(jù)組的一個(gè)或多個(gè)各別值相關(guān)的傘狀值。這樣的步驟可以有利地減少第一數(shù)據(jù)組中的測量分辨率從而與用于構(gòu)建查找表的測量參值的尺度保持一致。如同下面將詳細(xì)描述的，查找表是一種用于縮小對歸類微粒的微粒分類的搜索的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。由相對較低分辨率的值構(gòu)建的查找表可以允許以更少數(shù)量的單位構(gòu)成表，并因此限制了特征化該表所需要的存儲(chǔ)器大小。在一些情況中，尤其是為了減少系統(tǒng)成本，限制用于查找表的存儲(chǔ)器大小是有好處的。盡管在一些情況下，相對于第一數(shù)據(jù)組的相應(yīng)值創(chuàng)建具有降低分辨率的值的第二數(shù)據(jù)組是有利的，但應(yīng)當(dāng)注意在此處描述的方法中創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組是可選的，并且因此方框52是用虛線勾畫的。具體地，此處描述的方法不必包括創(chuàng)建具有降低分辨率的值的數(shù)據(jù)組。該方法可以省略方框52并且繼續(xù)到如下面將詳細(xì)描述的方框54以便標(biāo)識(shí)查找表中第一數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置。在一些實(shí)施例中，創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組可以包括復(fù)制第一數(shù)據(jù)組的一個(gè)或多個(gè)值并且降低一個(gè)或多個(gè)所復(fù)制的值的分辨率。在有些情況中，可以降低全部所復(fù)制的值的分辨率。而在其它情況中，可降低少于全部的復(fù)制值。這樣，盡管第二數(shù)據(jù)組被創(chuàng)建以便包括降低分辨率的值，但第二數(shù)據(jù)組并不必被限制為不能也包括分辨率沒有被降低的值(即相對第一數(shù)據(jù)組中的對應(yīng)值)。例如，在一些實(shí)施例中，構(gòu)建查找表的測量參數(shù)中只有一個(gè)包括低分辨率尺度，并且因此只涉及減少與該測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的復(fù)制值的分辨率。其它情況可以保證降低一部分復(fù)制值的分辨率，并且因此此處描述的方法并不是必須局限于這樣的例子。在一些實(shí)施例中，第二數(shù)據(jù)組可以包括與為第一數(shù)據(jù)組獲得的全部值相關(guān)的值。在另一些實(shí)施例中，第二數(shù)據(jù)組可以包括比為第一數(shù)據(jù)組獲得的值少的值。例如，在一些實(shí)施例中，此處描述的方法和程序指令可以被配置為僅僅使用與構(gòu)建查找表的測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的值創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組。其它情景可以保證第二數(shù)據(jù)組包括為第一數(shù)據(jù)組獲得的值的一部分，并且因此此處描述的方法不必局限于前面提及的例子。在任何情況中，第二數(shù)據(jù)組中降低分辨率的值(即相對第一數(shù)據(jù)組中的對應(yīng)值)在此處可以被稱為“傘狀值”。換言之，術(shù)語“傘狀值”一般指代表示相應(yīng)測量參數(shù)的可能值的范圍或跨度的值。反過來，分辨率沒有被降低的值，例如第一數(shù)據(jù)組中的值，在此處可以被稱為“各別值”和/或“測量值”。在一些情況中，創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組可以包括將第一數(shù)據(jù)組的一個(gè)或多個(gè)復(fù)制值舍入為最接近的整數(shù)值。例如，測量值1.07和1.09都可以用傘狀值1.1表示。這樣，每個(gè)舍入的值一般可以表示從舍入整數(shù)到下一個(gè)整數(shù)之間小于、大于或者中間的可能測量值的范圍。例如，在前面的例子中，傘狀值1.1可以表示在1.01到1.10之間的測量值。在其它實(shí)施例中，傘狀值1.1可以表示1.10到1.19之間的測量值或者1.05到1.14之間的測量值。概括而言，傘狀值可以表示的測量值的范圍可以取決于為方法所設(shè)立的設(shè)計(jì)規(guī)范，并且在一些實(shí)施例中，程序指令的設(shè)計(jì)規(guī)范被配置為執(zhí)行這種過程步驟。在其它情況中，第二數(shù)據(jù)組可以包括表示用于測量參數(shù)的整數(shù)范圍的傘狀值。例如，如表1所示，與第一數(shù)據(jù)組中的參數(shù)1相關(guān)聯(lián)的離散值可以由第二數(shù)據(jù)組中的四個(gè)傘狀值中的任何一個(gè)引用。應(yīng)當(dāng)注意的是表1僅僅是各別值與傘狀值的示例性相關(guān)性。用于測量值的各別值的范圍和選定的傘狀值的數(shù)量可以根據(jù)方法和程序指令的不同設(shè)置而變化。表1<table>tableseeoriginaldocumentpage8</column></row><table>此外，盡管表1中示出的離散值的范圍在傘狀值之間等分(即每個(gè)傘狀值25個(gè)離散值)，但應(yīng)當(dāng)理解每個(gè)傘狀值可以對應(yīng)于任何數(shù)量的離散值。換言之，對一測量參數(shù)，分別與傘狀值相關(guān)的各別值的范圍不必統(tǒng)一。在一些情況中，每個(gè)離散值的分辨率下降的程度可以根據(jù)諸如微粒分類的特征、微粒種群的特征和/或種群中各個(gè)微粒的特征而變化。在任何情況下，對第二數(shù)據(jù)組，對應(yīng)于不同測量參數(shù)的值的分辨率在一些實(shí)施例中可以以類似方式被降低。具體地，對應(yīng)于不同測量參數(shù)的各別值可以被舍入為最接近的整數(shù)或者被賦予整數(shù)范圍值以創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組。在其它實(shí)施例中，對第二數(shù)據(jù)組，可以以不同的方式降低對應(yīng)于不同測量參數(shù)的各別值。在任何情況中，用于不同測量參數(shù)的傘狀值的數(shù)量可以是相同的或不同的。返回圖2，此處描述的方法和程序指令可以被配置為繼續(xù)到方框54，以標(biāo)識(shí)查找表中第二數(shù)據(jù)組和/或第一數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置。更具體地，如果方框52被包括在過程中，則查找表中第二數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置，將參照方框54標(biāo)識(shí)。應(yīng)當(dāng)注意，由于第二數(shù)據(jù)組包括對應(yīng)于第一數(shù)據(jù)組中的測量值的值，參考方框54標(biāo)識(shí)的查找表中的位置在這樣的實(shí)施例中將對應(yīng)于第一數(shù)據(jù)組和第二數(shù)據(jù)組。但是，在從過程中省略了方框52的實(shí)施例中，參照方框54標(biāo)識(shí)的查找表中的位置僅僅對應(yīng)于第一數(shù)據(jù)組，因?yàn)闆]有創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組。在從過程中省略了方框52的實(shí)施例中，方框54—般可以包括索引來自第一數(shù)據(jù)組與構(gòu)建查找表的參數(shù)相關(guān)聯(lián)的測量值，有效地將一個(gè)點(diǎn)定位為查找表內(nèi)第一數(shù)據(jù)組對應(yīng)的“已標(biāo)識(shí)的位置”。在一些情況中，包括方框52的方法也可以被配置為將一個(gè)點(diǎn)定位為查找表內(nèi)的“已標(biāo)識(shí)的位置”。具體地，如果構(gòu)建查找表的每個(gè)測量參數(shù)的尺度分辨率與第二數(shù)據(jù)組中的對應(yīng)值的分辨率相同，則方框54可以包括索引來自第二數(shù)據(jù)組的這樣的值以標(biāo)識(shí)位置，或者更具體地，查找表內(nèi)第二數(shù)據(jù)組對應(yīng)的點(diǎn)。例如，如果第二數(shù)據(jù)組中的傘狀值表示從第一數(shù)據(jù)組的各別值舍入得到的整數(shù)，并且構(gòu)建查找表的相應(yīng)測量參數(shù)的尺度分辨率至少足夠高以區(qū)分各個(gè)整數(shù)，則索引這樣的值將最終達(dá)到查找表中的一個(gè)點(diǎn)。應(yīng)當(dāng)注意在查找表中這樣的精確定位也可以包括索引來自第二數(shù)據(jù)組的各別值，只要對應(yīng)測量參數(shù)的尺度分辨率與各別值的相同。在圖3中示出了查找表的示例性實(shí)施例，在該表中點(diǎn)可以被標(biāo)識(shí)為與第二數(shù)據(jù)組的值對應(yīng)的位置。具體地，圖3示出了一個(gè)由兩個(gè)測量參數(shù)構(gòu)建的示例性查找表，參數(shù)的尺度范圍從0到100，并且被限制為整數(shù)值。應(yīng)當(dāng)注意，對于此處描述的方法可以使用各種用于查找表的配置。具體地，如前面所提及的，根據(jù)所期望的分辨率，構(gòu)建查找表的測量參數(shù)的尺度可以是離散值、整數(shù)、或者表示整數(shù)范圍的值。此外，構(gòu)建查找表的不同測量參數(shù)的尺度可以是相同或者不同的。而且，此處描述的查找表可以以任何數(shù)量的測量參數(shù)進(jìn)行構(gòu)建。如后面將詳細(xì)描述的，此處描述的方法特別適用于由多于兩個(gè)測量參數(shù)構(gòu)建的查找表。因此，用于此處描述的方法的查找表并不必局限于圖3的例子的描述。一般，標(biāo)識(shí)圖3中描述的查找表中的一個(gè)位置可以包括索引與參數(shù)1和2相關(guān)聯(lián)的整數(shù)傘狀值。如同以下將參照方框56更詳細(xì)描述的那樣，如果標(biāo)識(shí)的位置與節(jié)點(diǎn)1-5中的一個(gè)重合，則與該節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的算法可以用于對第一數(shù)據(jù)組的測量值進(jìn)行處理，以確定顆粒是否可以被分類在對應(yīng)于該點(diǎn)的微粒分類內(nèi)。相反，如果標(biāo)識(shí)的位置不與節(jié)點(diǎn)1-5中的一個(gè)重合，則顆粒可以被分類在落選(reject)分類中。如下面將更詳細(xì)描述的那樣，用于此處描述的方法的這種分類判斷會(huì)改變何時(shí)包括多個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表的粗略位置被標(biāo)識(shí)為對應(yīng)于一組數(shù)據(jù)。不管怎樣，使用此處描述的查找表縮小要測試的微粒分類的搜索相對于迭代地處理樣本的每個(gè)微粒分類以確定粒子的分類(后面也將更詳細(xì)描述)而言可以節(jié)約時(shí)間。出于澄清的目的，應(yīng)當(dāng)注意圖3中的節(jié)點(diǎn)1-5表示關(guān)于構(gòu)建查找表的參數(shù)的不同微粒分類，并且因此不必是查找表中對應(yīng)于第一和/或第二數(shù)據(jù)組的標(biāo)識(shí)位置。此外，如下面將更詳細(xì)描述的那樣，節(jié)點(diǎn)1-5可以比圖3中圖示的那些大或小。如上面提到的那樣，對于方框54查找表的粗略位置可以被標(biāo)識(shí)為對應(yīng)于一組數(shù)據(jù)。具體地，方框54可以包括索引傘狀值，傘狀值表示關(guān)于構(gòu)建查找表的測量參數(shù)的相對低的分辨率尺度的整數(shù)范圍以標(biāo)識(shí)查找表的塊位置。更具體地，查找表的尺度可以包括相對低的分辨率這樣尺度上的值與查找表的行和列相關(guān)。在這樣的情況中，給定寬度的測量參數(shù)的查找表的尺寸可以比具有整數(shù)值尺度的表(例如圖3中顯示的)小，且其尤其相對于具有分辨率未被降低的尺度那些表。結(jié)果是，查找表的存儲(chǔ)器大小可以被減小。在表2中示出了一個(gè)示例性查找表，在該表中粗略位置可以被標(biāo)識(shí)為對應(yīng)于第二數(shù)據(jù)組的值的位置。具體地，表2示出了由兩個(gè)測量參數(shù)構(gòu)建的示例性查找表，該表的范圍尺度從1到4，各自與用于各個(gè)測量參數(shù)的不同整數(shù)范圍相關(guān)。與例如一些實(shí)施例中可以包括在兩個(gè)參數(shù)的原始值的全分辨率查找表中的10000個(gè)元素對比(每個(gè)測量參數(shù)100X100單位)，表2的查找表只有16個(gè)位置。表2<table>tableseeoriginaldocumentpage10</column></row><table>如圖3中示出的查找表，表2的查找表可以用于縮小粒子可以被分類的微粒分類的搜索。具體地，在一些實(shí)施例中，粗略位置中的一些可以包括與微粒分類的相關(guān)聯(lián)的節(jié)點(diǎn)，并且因此使用節(jié)點(diǎn)標(biāo)識(shí)位置還可以促進(jìn)粒子是否可以被歸類到微粒分類的調(diào)查。具體地，當(dāng)標(biāo)識(shí)的位置包括一個(gè)節(jié)點(diǎn)時(shí)，可以用與該節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的算法處理第一數(shù)據(jù)組的測量值以確定粒子是否可以被分類到對應(yīng)于該節(jié)點(diǎn)的微粒分類中。相反，如果標(biāo)識(shí)的粗略位置不包括節(jié)點(diǎn)，則粒子將被歸類到落選分類。例如，使用表2的查找表，如果特定數(shù)據(jù)點(diǎn)具有參數(shù)1=2并且參數(shù)2=1(即2，1)的傘狀值，則由于查找表中對應(yīng)于參數(shù)的這些傘狀值的粗略位置不與任何節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)，該方法可以確定數(shù)據(jù)點(diǎn)不是任何節(jié)點(diǎn)的成員。如果相反數(shù)據(jù)點(diǎn)具有傘狀值(2，2)，則該方法可以處理數(shù)據(jù)點(diǎn)以確定其是否是節(jié)點(diǎn)1的潛在成員，而不是節(jié)點(diǎn)2-5的潛在成員。因此，使用表2中的查找表縮小對于要測試的微粒分類的搜索相對于迭代處理節(jié)點(diǎn)1-5中的每一個(gè)以確定粒子的分類而言可以節(jié)約時(shí)間。表2中包括節(jié)點(diǎn)1-5的粗略位置被以粗線勾勒出從而將它們與不包括節(jié)點(diǎn)的粗略位置區(qū)分開。如上面所提及的，可以為此處描述的方法使用用于查找表的各種配置，并且因此為標(biāo)識(shí)粗略位置配置的查找表并不限于表2。具體地，構(gòu)建查找表的不同測量參數(shù)的尺度可以是相同的或不同的。而且，此處描述的查找表可以包括測量參數(shù)的每一個(gè)的任何數(shù)量的尺度值(即它們不限于表2中示出的四個(gè)值)，并且可以由任何數(shù)量的測量參數(shù)來構(gòu)建。而且，在此處描述的查找表中的節(jié)點(diǎn)的數(shù)量和分布可以變化。例如，在一些實(shí)施例中，查找表的全部粗略位置可以包括節(jié)點(diǎn)。一般，每個(gè)粗略位置的節(jié)點(diǎn)的數(shù)量可以用于確定查找表的“分辨率”。例如，如參考表2描述的、在每個(gè)粗略位置中包括不多于一個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表具有最高的有效分辨率。但是在一些實(shí)施例中具有這樣分辨率的查找表可能相對較大。例如，對于包括1000個(gè)不同種群的微粒組而言，每個(gè)粗略位置具有不多于1個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表需要最少1000個(gè)粗略位置。為了最小化表示這么多的節(jié)點(diǎn)所需要的存儲(chǔ)器容量，降低查找表的分辨率，使得在一個(gè)或多個(gè)粗略位置內(nèi)安排多個(gè)節(jié)點(diǎn)是有利的。因此，在表3中示出了另一個(gè)示例性查找表，該查找表中粗略位置可以被標(biāo)識(shí)為對應(yīng)于第二數(shù)據(jù)組的值的位置。具體地，表3示出了由兩個(gè)測量參數(shù)構(gòu)建的示例性查找表，該參數(shù)的尺度從1到4，如表2中，各自與各個(gè)測量參數(shù)的不同整數(shù)范圍相關(guān)。但是表3與表2的不同之處在于，表3具有一些帶有多個(gè)節(jié)點(diǎn)(即節(jié)點(diǎn)組)的粗略位置。具體地，圖3示出了各自具有多個(gè)節(jié)點(diǎn)的四個(gè)粗略位置。單個(gè)粗略位置中的多個(gè)節(jié)點(diǎn)在此被稱為“節(jié)點(diǎn)組”。更具體地，表3包括帶有節(jié)點(diǎn)組1-4的四個(gè)粗略位置。表3還包括一個(gè)帶有被稱為節(jié)點(diǎn)5的單個(gè)節(jié)點(diǎn)的粗略位置和11個(gè)不帶有任何節(jié)點(diǎn)的粗略位置。這樣的配置可以允許給定大小的查找表包括更多的點(diǎn)，允許分類樣本內(nèi)的粒子的更多數(shù)量的微粒分類。此外或者替換地，如上面所提到的，在粗略位置具有多個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表可以用相對于每個(gè)粗略位置僅包括一個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表較低的分辨率的尺度來配置。作為結(jié)果，這樣的查找表的存儲(chǔ)器大小可以被減小。表3<table>tableseeoriginaldocumentpage11</column></row><table>如表3所示，查找表的一些粗略位置可以不包括節(jié)點(diǎn)或包括單個(gè)節(jié)點(diǎn)。表3中包括節(jié)點(diǎn)1-5的粗略位置被以粗線勾劃出從而將其與不包括節(jié)點(diǎn)的粗略位置區(qū)分開。如前面提及的，可以為此處描述的方法使用用于查找表的各種配置，并且因此，在一粗略位置具有多個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表并不局限于表3。具體地，構(gòu)建查找表的不同的測量參數(shù)的尺度可以是相同的或不同的。此外，此處描述的查找表可以包括用于每個(gè)測量參數(shù)的任何數(shù)量的尺度值(即它們并不局限于表3中示出的4個(gè)值)，并可以由任何數(shù)量的測量參數(shù)構(gòu)建。而且，在此處描述的查找表中的節(jié)點(diǎn)的數(shù)量、大小、形狀和分布可以變化。例如在一些實(shí)施例中，查找表的全部粗略位置可包括至少一個(gè)節(jié)點(diǎn)。此外或替換地，節(jié)點(diǎn)可以重疊，包括查找表的單個(gè)粗略位置中的那些節(jié)點(diǎn)以及不同粗略位置的那些節(jié)點(diǎn)。應(yīng)當(dāng)注意如果數(shù)據(jù)點(diǎn)對一個(gè)節(jié)點(diǎn)的成員關(guān)系與另一節(jié)點(diǎn)中的成員關(guān)系相互排斥，則每個(gè)節(jié)點(diǎn)的規(guī)則可以被定義為非重疊的。圖4示出了查找表的另一個(gè)實(shí)施例，該表包括配置在表的粗略位置中的多個(gè)節(jié)點(diǎn)。與表3相同，圖4示出了具有一些不帶有節(jié)點(diǎn)的位置、一些帶有一個(gè)節(jié)點(diǎn)的位置以及其它帶有多于一個(gè)節(jié)點(diǎn)的位置的查找表。圖4與表3的不同在于示出了節(jié)點(diǎn)的數(shù)量、大小、形狀和分布可以在查找表之間變化，以及在單個(gè)查找表中變化。此外，圖4示出了節(jié)點(diǎn)可以重疊粗略位置的邊界，并且因此可以與多個(gè)位置相關(guān)聯(lián)，例如為點(diǎn)6和10示出的那樣。此外，圖4示出了在一些實(shí)施例中的節(jié)點(diǎn)可以重疊，例如點(diǎn)3和7示出的。返回圖2，在標(biāo)識(shí)出查找表中的位置后，該方法可以繼續(xù)到方框56以確定在方框10中獲得的第一數(shù)據(jù)組是否適合指示與已標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的第η個(gè)微粒分類的預(yù)定算法，其中對于該步驟的第一個(gè)處理將η設(shè)置為等于1。如前面描述的，關(guān)于查找表的已標(biāo)識(shí)位置是否包括歸類粒子的微粒分類的判斷是由節(jié)點(diǎn)的存在性表示的。具體地，節(jié)點(diǎn)一般表示構(gòu)建查找表的測量參數(shù)的值適合的微粒分類。但是應(yīng)當(dāng)注意，查找表的已標(biāo)識(shí)位置內(nèi)節(jié)點(diǎn)的存在并不一定表明該粒子屬于相關(guān)聯(lián)的微粒分類。具體地，如果微粒分類以除構(gòu)建查找表的那些測量參數(shù)，或者更具體地，定義所檢測的節(jié)點(diǎn)的那些測量參數(shù)以外的參數(shù)為特征，則粒子可能適合或者可能不適合定義微粒分類的該算法，并且因此，可能適合或可能不適合被分入這樣的分類。換言之，可以由多個(gè)測量參數(shù)定義微粒分類，測量參數(shù)的依賴性可能未全部由查找表粗略參數(shù)表示。例如，可以由5個(gè)不同的參數(shù)定義微粒分類，但是可以用4個(gè)(或更少)參數(shù)來配置查找表。因此，測量參數(shù)中沒有在查找表中出現(xiàn)的值可能會(huì)影響粒子是否可以被歸類到一分類中。盡管可以使用任何數(shù)量的數(shù)據(jù)組參數(shù)和實(shí)際上任何數(shù)學(xué)或邏輯函數(shù)來表示此處描述的查找表中的節(jié)點(diǎn)的特征，但在一些實(shí)施例中，查找表可以被配置為使用少于用于定義微粒分類的參數(shù)數(shù)量的參數(shù)數(shù)量來表示節(jié)點(diǎn)的特征。這樣的配置可以允許查找表提供關(guān)于數(shù)據(jù)組是否屬于特定分類的相對較好的逼近，并且因此，提供了一種快速的方式來縮小對微粒分類的搜索，但是避免了采用過多參數(shù)定義節(jié)點(diǎn)的復(fù)雜性。如參照方框56所描述的，此處描述的方法和程序指令可以被配置為提供結(jié)論性的評估以在檢測到節(jié)點(diǎn)后通過使用一微粒分類專用的算法來確定粒子的實(shí)際類別。在一些情況中，可以用除作為節(jié)點(diǎn)特征表示的微粒分類的測量參數(shù)以外的屬性來表示節(jié)點(diǎn)的特征。其中節(jié)點(diǎn)僅由作為節(jié)點(diǎn)特征表示的微粒分類的測量參數(shù)定義的實(shí)施例在此被視為不具有屬性。但是在一些情況中，可以節(jié)點(diǎn)可由作為節(jié)點(diǎn)特征表示的微粒分類的測量參數(shù)以及附加屬性來定義。在一些情況中，用于定義節(jié)點(diǎn)的屬性可以包括廣闊范圍，并且因此節(jié)點(diǎn)在查找表中覆蓋的數(shù)據(jù)點(diǎn)可以比對應(yīng)的微粒分類的特征更寬。屬性的例子包括維度、方向參數(shù)或相對其它節(jié)點(diǎn)的位置。在一些實(shí)施例子中，可以用單個(gè)屬性表示節(jié)點(diǎn)的特征。例如，如果圓心被當(dāng)作粗略位置的中心，則半徑可以用于定義節(jié)點(diǎn)。在這樣的例子中，具有位于節(jié)點(diǎn)的半徑內(nèi)的數(shù)據(jù)點(diǎn)的每個(gè)微?？梢砸栽摴?jié)點(diǎn)為特征。全部點(diǎn)的半徑可以是基本相同的，或者替換地，至少一些點(diǎn)具有不同的半徑。在另一些實(shí)施例中，每個(gè)節(jié)點(diǎn)可以與兩個(gè)或多個(gè)屬性相關(guān)聯(lián)。例如，可以使用兩維或多維來表示一個(gè)節(jié)點(diǎn)的特征，從而定義其形狀。例如，屬性可以定義兩維形狀，例如圓、橢圓、正方形或者矩形(通過長軸、短軸的維度以及焦距位置定義橢圓)。此夕卜，屬性可以定義三維形狀，例如球體、長方體、立方體。可以使用兩個(gè)或多個(gè)屬性定義其它復(fù)雜的形狀以及定義節(jié)點(diǎn)的數(shù)據(jù)點(diǎn)的邊界。其它屬性也可以用于定義查找表中節(jié)點(diǎn)的方向(例如，而非使橢圓的軸與查找表的測量參數(shù)的軸對齊)。在另一個(gè)例子中，每個(gè)節(jié)點(diǎn)兩個(gè)屬性，數(shù)據(jù)組的每個(gè)參數(shù)一個(gè)屬性，可以用于設(shè)置節(jié)點(diǎn)的最小和最大極限。盡管前面描述了兩維和三維節(jié)點(diǎn)，此處描述的節(jié)點(diǎn)的特征化的優(yōu)點(diǎn)之一是即使數(shù)據(jù)在三維或更多維數(shù)中的圖形表示是不可能或不實(shí)際的，但仍然可以容易地將特征化擴(kuò)展到三維擴(kuò)展以外到任意維數(shù)。此外，此處描述的基于節(jié)點(diǎn)/屬性的微粒分類的優(yōu)勢是數(shù)據(jù)不需要被圖形地可視化。在基于位圖的常規(guī)分類方法中，在創(chuàng)建過程中，可以在位圖中圖形地表示數(shù)據(jù)，以便為對應(yīng)于微粒種群的每個(gè)區(qū)域生成邊界。但是，此處描述的點(diǎn)的邊界是由微粒分類的測量值和/或可以形成查找表中的形狀的屬性定義的?？梢暬@樣的邊界不需要?jiǎng)?chuàng)建區(qū)域，因此，不需要節(jié)點(diǎn)的圖形表示。返回參照圖2的框圖56，可以基于微粒種群的特征分布定義指示微粒分類的算法。如上面描述的那樣，可以通過確定微粒是否是與查找表的已標(biāo)識(shí)位置中的節(jié)點(diǎn)相對應(yīng)的微粒種群的成員來把該微粒歸類到一個(gè)預(yù)定義的分類中。更具體地，方法可以繼續(xù)到圖2中的方框58來確定第一數(shù)據(jù)組是否適合與在方框54中標(biāo)識(shí)的查找表的位置相關(guān)聯(lián)的預(yù)定義算法。如圖2所示，在檢測到第一數(shù)據(jù)組適合預(yù)定義算法時(shí)，方法可以繼續(xù)到方框60，其中微粒被分類到微粒分類中。此后，在一些實(shí)施例中，不考慮安排在查找表的已標(biāo)識(shí)位置中的節(jié)點(diǎn)數(shù)量，粒子分類評估終止。但是，在另一些例子中，過程可以繼續(xù)到框62以確定在查找表的已標(biāo)識(shí)位置中是否有其它分類節(jié)點(diǎn)。這樣的選擇由圖2中的虛線表示，從而表明它是方框60后的終止分類過程的步驟的替換。如圖2所示，如果方法沿著來自方框60替換路徑繼續(xù)或者第一數(shù)據(jù)組不適合預(yù)定義算法，則方法繼續(xù)到方框62以確定是否有任何其它節(jié)點(diǎn)被安排在查找表的已標(biāo)識(shí)位置中。在檢測到?jīng)]有其它節(jié)點(diǎn)時(shí)，過程繼續(xù)到方框64以確定微粒是否已經(jīng)被分類(例如在方框60中)。如果微粒已經(jīng)被分類，則該過程終止。但是如果微粒還沒有被分類，在方框66中微粒被分類為落選分類并且該過程隨后終止。在方框66中引用的落選分類通常指一種無法被容易地分配給已知分類的粒子的類別。如上面指出的，此處描述的方法和程序指令尤其適用于使用在表的粗略位置中具有多個(gè)節(jié)點(diǎn)的查找表。在一些實(shí)施例中，可以通過多個(gè)節(jié)點(diǎn)的算法處理在方框10中獲得的第一數(shù)據(jù)組以為微粒確定分類。具體地，在一些實(shí)施例中，與多個(gè)節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的算法可以順序處理，直到可以為例子確定分類。這樣的實(shí)施例對于微粒分類是互斥的情況可能是有益的。在其它實(shí)施例中，可以處理與多個(gè)節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的多個(gè)算法以確定數(shù)據(jù)組是否適合于與節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的多于一個(gè)的分類。在這樣的情況中，分類可以具有重疊的特性。在例子被分類到多個(gè)分類的實(shí)施例中，方法還可包括確定多個(gè)預(yù)定義算法中的哪一個(gè)最適合第一數(shù)據(jù)組并且隨后將粒子歸類到與該單個(gè)預(yù)定義算法相關(guān)聯(lián)的微粒分類中?；蛘?，如果種群不是互斥的，則該方法可以包括將例子歸類為多個(gè)種群的成員。無論在哪種情況中，在確定在查找表的已標(biāo)識(shí)位置中存在其它分類節(jié)點(diǎn)時(shí)，方法可以將因數(shù)η增加1，并且繼續(xù)返回方框56以確定第一數(shù)據(jù)組是否適合與標(biāo)識(shí)的位置中另一個(gè)節(jié)點(diǎn)相關(guān)聯(lián)的預(yù)定義算法。隨后，如前面所描述的那樣，方法可以繼續(xù)執(zhí)行方框58、60、62、64和66。一般，這樣步驟的配置允許為了分類微粒而評估查找表中包括一個(gè)或多個(gè)節(jié)點(diǎn)或者不包括節(jié)點(diǎn)的位置。如上面所描述的，該方法可以有利地將對分類的搜索縮小到選定數(shù)量的節(jié)點(diǎn)，這樣與評估一個(gè)樣本的全部可能分類的方法相比可以減少分類微粒的時(shí)間。圖5示出了被配置用于分類微粒的系統(tǒng)的示例性實(shí)施例。應(yīng)當(dāng)注意到圖5不是按比例繪制的。具體地，該圖的一些元件尺度被極大地夸大以強(qiáng)調(diào)元件的特性。為了清晰的目的，系統(tǒng)的一些元件沒有被包含在圖中。在圖5中，沿著穿過微粒12流過的試管10的橫截面的平面顯示該系統(tǒng)。在一些實(shí)施例中，試管可以是諸如在標(biāo)準(zhǔn)流式細(xì)胞儀中使用的標(biāo)準(zhǔn)石英試管。但是也可以使用其它任何適當(dāng)類型的觀察或者運(yùn)輸間室來運(yùn)輸樣本以便分析。該系統(tǒng)包括光源14。光源14可以包括在本領(lǐng)域公知的任何適當(dāng)?shù)墓庠矗T如激光。光源可以被配置為發(fā)出諸如藍(lán)光或綠光的具有一個(gè)或多個(gè)波長的光。光源14可以被配置為在微粒流過試管時(shí)照亮微粒。照亮可以使微粒發(fā)出具有一個(gè)或多個(gè)波長或波長段的熒光。在一些實(shí)施例中，系統(tǒng)可以包括一個(gè)或多個(gè)被配置為將來自光源的光匯聚到微?；蛄鬟^路徑的透鏡(未示出)。系統(tǒng)還可以包括多于一個(gè)的光源。在一些情況中，光源可以被配置為使用具有不同波長或波長段的光照亮微粒(例如藍(lán)光和綠光)。在一些實(shí)施例中，光源可以被配置為在不同方向照亮微粒。通過折疊式反射鏡18或另一個(gè)這樣的光線引導(dǎo)組件，將從微粒前向散射的光導(dǎo)引到檢測系統(tǒng)16?；蛘撸瑱z測系統(tǒng)16可以被直接放置在前向散射的光的路徑中。這樣，在系統(tǒng)中就不必包括折疊式反射鏡或者其它光線導(dǎo)引組件。在一個(gè)例子中，如圖5所示，前向散射的光可以是微粒以與光源14照明的方向成大約180°角散射的光。前向散射光的角度不必與照明方向恰好成180°，這樣來自光源的入射光不會(huì)刺射到檢測系統(tǒng)的感光表面。例如，前向散射光可以是微粒以與照明的方向成小于或大于180°的角度散射的光(例如，以大約170°、175°、185°或者大約190°的角度散射的光)。還可以收集微粒以與照明方向成大約90°的角度散射的光。在一個(gè)實(shí)施例中，該散射的光可以通過一個(gè)或多個(gè)分光鏡或者分色鏡被分為一束以上的光。例如，以與照明的方向大約成90°角散射的光線可以被分光鏡20分為兩束不同的光束。這兩束不同的光束可以再次被分光鏡22和24分光，以形成4束不同的光束。每束光束可以被引導(dǎo)到不同的檢測系統(tǒng)，每個(gè)檢測系統(tǒng)可以包括一個(gè)或多個(gè)檢測器。例如，四束光束中的一束可以被引導(dǎo)到檢測系統(tǒng)26。檢測系統(tǒng)26可以被配置為檢測由微粒散射的光線。由檢測系統(tǒng)16和/或檢測系統(tǒng)26檢測到的散射光線一般與由光源照亮的微粒的體積成比例。因此，檢測系統(tǒng)16的輸出信號(hào)和/或檢測系統(tǒng)26的輸出信號(hào)可用于確定照明區(qū)域中或檢測窗口中的微粒的直徑和/或體積。此外，檢測系統(tǒng)16和/或檢測系統(tǒng)26的輸出信號(hào)可用于確定標(biāo)識(shí)粘在一起或者大致在同一時(shí)間通過照明區(qū)域的多于一個(gè)的微粒。因此，可以將這樣的微粒與其它樣本微粒和校準(zhǔn)微粒區(qū)分開。此外，檢測系統(tǒng)16和/或檢測系統(tǒng)26的輸出信號(hào)可用于區(qū)分樣本微粒和校準(zhǔn)微粒。其它三束光可以被引導(dǎo)到檢測系統(tǒng)28、30和32。檢測系統(tǒng)28、30和32可以被配置為檢測由微粒發(fā)出的熒光。每個(gè)檢測系統(tǒng)可以被配置為檢測不同波長或者不同波長范圍的熒光。例如，一個(gè)檢測系統(tǒng)可以被配置為檢測綠色熒光。另一個(gè)檢測系統(tǒng)可以被配置為檢測橘黃色熒光，并且另一檢測系統(tǒng)可以被配置為檢測紅色熒光。在一些實(shí)施例中，光譜過濾器34、36和38可以分別被耦合到系統(tǒng)28、30和32。光譜過濾器可以被配置為阻擋除檢測系統(tǒng)被配置來檢測的波長以外的熒光。此外，一個(gè)或多個(gè)透鏡(未示出)可以被可選地耦合到每個(gè)檢測系統(tǒng)中。透鏡可以被配置為將散射的光線或者發(fā)射的熒光匯聚到檢測器的感光表面。每一檢測器的輸出電流與射到它的熒光成比例并且產(chǎn)生電流脈沖。該電流脈沖可以被轉(zhuǎn)換為電壓脈沖、經(jīng)低通濾波然后被A/D轉(zhuǎn)換器數(shù)字化?？梢允褂帽绢I(lǐng)域公知的各種恰當(dāng)?shù)慕M件執(zhí)行該轉(zhuǎn)換、濾波和數(shù)字化。如同下面描述的用于確定樣本微粒身份的檢測系統(tǒng)(例如檢測系統(tǒng)28和30)可以是雪崩光電二極管(APD)、光電倍增器(PMT)或者另一光電檢測器。用于標(biāo)識(shí)在微粒表面上發(fā)生的反應(yīng)的檢測系統(tǒng)(例如檢測系統(tǒng)32)可以是PMT、APD或者另一種形式的光電檢測器。盡管圖5的系統(tǒng)被示出并在以下描述為包括具有兩個(gè)不同檢測窗口以區(qū)分具有不同染色特性的微粒的兩個(gè)檢測系統(tǒng)，但應(yīng)當(dāng)理解系統(tǒng)可以包括多于兩個(gè)這樣的檢測窗口(即3個(gè)檢測窗口、4個(gè)檢測窗口等)。在這樣的實(shí)施例中，系統(tǒng)可以包括附加的分光鏡和具有其它檢測窗口的附加檢測系統(tǒng)。此外，光譜過濾器和/或透鏡可以耦合到每個(gè)附加的檢測系統(tǒng)。在另一個(gè)實(shí)施例中，系統(tǒng)可以包括兩個(gè)或多個(gè)被配置為區(qū)分在微粒表面起反應(yīng)的不同材料的檢測系統(tǒng)。不同的反應(yīng)物材料可以具有與微粒的染色特性不同的染色特性。系統(tǒng)還可以包括處理器40。處理器40可以由一個(gè)或多個(gè)傳輸介質(zhì)耦合到檢測器，并且可選地，可以耦合到置于處理和檢測器之間、的一個(gè)或多個(gè)組件。例如，處理器40可以通過傳輸介質(zhì)42耦合到檢測系統(tǒng)26。傳輸介質(zhì)可以包括本領(lǐng)域已知的任何合適的傳輸介質(zhì)，并且可以包括“有線”和“無線”部分。在一個(gè)例子中，處理器可以包括被配置為對脈沖下的區(qū)域進(jìn)行積分從而提供表示熒光的大小的數(shù)字的DSP。處理器還可以被配置為執(zhí)行此處所描述的實(shí)施例的一個(gè)或多個(gè)步驟。在一些實(shí)施例中，從由微粒發(fā)出的熒光生成的輸出信號(hào)可用來確定微粒的身份以及有關(guān)在微粒的表面發(fā)生的反應(yīng)的信息。例如，如此處描述地，兩個(gè)檢測系統(tǒng)的輸出信號(hào)可以用于確定微粒的身份，并且另一檢測系統(tǒng)的輸出信號(hào)可用于確定在微粒的表面上正在發(fā)生或已經(jīng)發(fā)生的反應(yīng)。因此，檢測器和光譜過濾器的選擇可以根據(jù)并入到或綁定到微粒和/或正測量的反應(yīng)的染料(即并入到或綁定到反應(yīng)中所涉及的反應(yīng)物中的染料)的類型而變化。在此處描述的方法中可以使用由檢測系統(tǒng)16、26、28、30和32生成的值。圖5中示出的系統(tǒng)被配置為根據(jù)此處描述的實(shí)施例分類微粒。在一些實(shí)施例中，系統(tǒng)可以包括存儲(chǔ)介質(zhì)44。存儲(chǔ)介質(zhì)44可以包括查找表46以及程序指令45。存儲(chǔ)介質(zhì)和查找表可以如此處描述地配置。在一些實(shí)施例中，處理器40可配置為使用查找表46結(jié)合為微粒獲得的數(shù)據(jù)來分類微粒?？梢匀绱颂幟枋龅孬@得數(shù)據(jù)。這樣，測量系統(tǒng)的處理器可被配置為如此處描述地分類微粒?；蛘?，實(shí)際上不是測量系統(tǒng)的一部分但是被耦合到測量系統(tǒng)(例如通過傳輸介質(zhì))的處理器，諸如單機(jī)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的處理器可被配置為如此處描述地分類微粒。實(shí)現(xiàn)諸如此處描述的那些方法的程序指令可通過存儲(chǔ)介質(zhì)(例如存儲(chǔ)介質(zhì)44)傳輸或者存儲(chǔ)。存儲(chǔ)介質(zhì)可以包括但不限于只讀存儲(chǔ)器、隨機(jī)存取存儲(chǔ)器、磁盤或光盤、或者磁帶。在一個(gè)實(shí)施例中，諸如處理器40的處理器可配置為根據(jù)上述實(shí)施例執(zhí)行程序指令以執(zhí)行計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法。處理器可以采取各種形式，包括個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、大型計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、工作站、網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、因特網(wǎng)設(shè)備、個(gè)人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字信號(hào)處理器(DSP)、現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)、或者其它設(shè)備。一般，術(shù)語“計(jì)算機(jī)系統(tǒng)”可以被廣泛地定義成涵蓋具有一個(gè)或多個(gè)執(zhí)行來自存儲(chǔ)器介質(zhì)的指令的處理器的任何設(shè)備?？梢砸远喾N方式實(shí)現(xiàn)程序指令，包括基于過程的技術(shù)、基于組件的技術(shù)和/或面向?qū)ο蠹夹g(shù)以及其它技術(shù)。例如，可以如需使用ActiveX控件、C++對象、JAVABean、微軟基礎(chǔ)類(MFC)或者其它技術(shù)或方法來實(shí)現(xiàn)程序指令。從本公開中獲益的本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明被認(rèn)為為提供用于分類微粒的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)。在考慮到本說明書的情況下，本發(fā)明各個(gè)方面的進(jìn)一步變化和替換實(shí)施例對本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言都是顯而易見的。因此，本說明書應(yīng)當(dāng)被解釋為僅僅是說明性的，并且是出于教導(dǎo)本領(lǐng)域的技術(shù)人員實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的一般方式的目的。應(yīng)當(dāng)理解，此處顯示和描述的本發(fā)明的形式將被當(dāng)作本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例。此處說明和描述的元素和材料可以被替換，部件和過程可以被反轉(zhuǎn)并且本發(fā)明的特定特征可以被獨(dú)立使用，這些對可以從本發(fā)明的本說明書中獲益的本領(lǐng)域技術(shù)人員而言都是顯而易見的。在不背離在所附權(quán)利要求中描述的本發(fā)明的精神和范圍的前提下，可以對此處描述的各元素作出改變。權(quán)利要求一種系統(tǒng)，包括處理器；由微粒的一個(gè)或多個(gè)可測量參數(shù)構(gòu)建的查找表，其中所述查找表包括多個(gè)位置，所述多個(gè)位置中的至少一些與一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法相關(guān)聯(lián)，其中每個(gè)預(yù)定義算法指示一不同的微粒分類；以及包括程序指令的存儲(chǔ)介質(zhì)，所述程序指令可以由所述處理器執(zhí)行來獲取與微粒的可測量參數(shù)相對應(yīng)的一組數(shù)據(jù)；標(biāo)識(shí)查找表中所述數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置；僅處理與所標(biāo)識(shí)的位置相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法來確定確定所述數(shù)據(jù)組是否適合一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法的至少一個(gè)；以及在所述標(biāo)識(shí)和處理步驟之后，基于所述僅處理與所標(biāo)識(shí)的位置相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法的步驟，將所述微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中。2.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，用于分類所述微粒的所述程序指令包括用于以下的程序指令在確定所述數(shù)據(jù)組適合與至少一個(gè)微粒分類相關(guān)聯(lián)的預(yù)定義算法時(shí)，將所述微粒分類到所述至少一個(gè)微粒分類中；以及在確定所述數(shù)據(jù)組不適合所述一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法時(shí)，將所述微粒分類到落選分類中。3.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，用于僅處理與所標(biāo)識(shí)的位置相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法的程序指令包括用于迭代地在所述一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法中處理所述數(shù)據(jù)組，直到把所述數(shù)據(jù)組分類到預(yù)定義類別中的程序指令。4.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，用于分類微粒的程序指令包括用于在確定所述數(shù)據(jù)組適合與所標(biāo)識(shí)的位置相關(guān)聯(lián)的所述一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法中的至少一個(gè)時(shí)，將所述微粒分類到多個(gè)微粒分類中的程序指令。5.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述查找表由少于與所述數(shù)據(jù)組相關(guān)聯(lián)的全部可測量參數(shù)的可測量參數(shù)設(shè)計(jì)。6.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述查找表由與所述數(shù)據(jù)組相關(guān)聯(lián)的多于兩個(gè)的可測量參數(shù)設(shè)計(jì)。7.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述查找表由至少一個(gè)所述可測量參數(shù)的傘狀值設(shè)計(jì)，并且其中，每個(gè)所述傘狀值表示相應(yīng)的可測量參數(shù)的可能值的范圍。8.如權(quán)利要求74所述的系統(tǒng)，其特征在于，與設(shè)計(jì)所述查找表的所述可測量參數(shù)中的至少兩個(gè)相關(guān)聯(lián)的傘狀值的數(shù)量是不同的。9.如權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)包括所述查找表。10.一種計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法，包括獲取與微粒的可測量參數(shù)相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)組；創(chuàng)建第二數(shù)據(jù)組，所述第二數(shù)據(jù)組包括分別與所述第一數(shù)據(jù)組的一個(gè)或多個(gè)各別值相關(guān)的一個(gè)或多個(gè)傘狀值，其中每個(gè)傘狀值表示相應(yīng)的可測量參數(shù)的可能值的范圍；標(biāo)識(shí)查找表中所述第二數(shù)據(jù)組對應(yīng)的位置，其中所述查找表是由至少一個(gè)所述可測量參數(shù)的傘狀值構(gòu)建的；確定所述第一數(shù)據(jù)組是否適合預(yù)定義算法，所述預(yù)定義算法指示與所述查找表的已標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的一微粒分類；以及基于確定所述第一數(shù)據(jù)組是否適合所述預(yù)定義算法，將所述微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中。11.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，與構(gòu)建所述查找表的至少一個(gè)所述可測量參數(shù)中的傘狀值相關(guān)聯(lián)的可能值范圍是不均勻的。12.如權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述分類微粒的步驟包括以下之一在確定所述第一數(shù)據(jù)組適合所述預(yù)定義算法時(shí)，將所述微粒分類到所述微粒分類中；以及在確定所述第一數(shù)據(jù)組不適合所述預(yù)定義算法時(shí)，將所述微粒分類到落選分類中。13.如權(quán)利要求10所述的方法，還包括確定所述第一數(shù)據(jù)組是否適合分別指示與所述查找表的已標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的一個(gè)或多個(gè)不同微粒分類的一個(gè)或多個(gè)附加預(yù)定義算法，其中所述將微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中的步驟還基于確定所述第一數(shù)據(jù)組是否適合所述一個(gè)或多個(gè)附加的預(yù)定義算法。全文摘要提供了用于分類粒子的方法、數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)。具體地，該方法和系統(tǒng)被配置為獲取對應(yīng)于微粒的可測量參數(shù)的第一數(shù)據(jù)組，并且標(biāo)識(shí)查找表中第一數(shù)據(jù)組所對應(yīng)的位置，其中查找表是由與至少一個(gè)可測量參數(shù)相關(guān)聯(lián)的值構(gòu)建的。此外，方法和系統(tǒng)被配置為確定第一數(shù)據(jù)組是否適合一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法，這些算法分別指示與查找表的標(biāo)識(shí)位置相關(guān)聯(lián)的不同微粒分類。該方法和系統(tǒng)還被配置為基于第一數(shù)據(jù)組是否適合一個(gè)或多個(gè)預(yù)定義算法的判斷而將微粒分類到至少一個(gè)預(yù)定義類別中。文檔編號(hào)G06F19/00GK101799398SQ20091026682公開日2010年8月11日申請日期2006年8月1日優(yōu)先權(quán)日2005年8月2日發(fā)明者E·A·卡爾文,W·D·羅斯申請人:盧米尼克斯股份有限公司