專利名稱：一種測(cè)試基于sas數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試信號(hào)完整性的裝置，具體地說(shuō)是一種測(cè)試基于SAS 數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置。
背景技術(shù)：
目前，SATA信號(hào)傳輸完整性的測(cè)試是一種成熟的測(cè)試裝置，有相應(yīng)的測(cè)試 設(shè)備。基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡是最近的新產(chǎn)品，對(duì)于通過(guò)SAS接口輸出的 信號(hào)沒(méi)有直接的測(cè)試裝置和設(shè)備去驗(yàn)證其完整性。
SAS的接口技術(shù)可以向下兼容SATA。具體來(lái)說(shuō)，二者的兼容性主要體現(xiàn)在 物理層和協(xié)議層的兼容。在物理層，SAS接口和SATA接口完全兼容；在協(xié)議層， SAS由3種類型協(xié)議組成，根據(jù)連接的不同設(shè)備使用相應(yīng)的協(xié)議進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸。 其中SATA通道協(xié)議(STP)用于SAS和SATA之間數(shù)據(jù)的傳輸。因此在這種協(xié)議的 配合下，SAS可以和SATA設(shè)備無(wú)縫結(jié)合。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的技術(shù)任務(wù)是針對(duì)以上不足之處，提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方 便的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是包括硬盤(pán)卡、測(cè)試裝置，
硬盤(pán)卡與測(cè)試裝置通過(guò)核心轉(zhuǎn)接板相連接，核心轉(zhuǎn)接板上設(shè)置有Mini SAS接口 、 SATA接口和連接兩個(gè)接口的總線通道，硬盤(pán)卡的Mini SAS接口與核心轉(zhuǎn)接板 的Mini SAS接口相接，核心轉(zhuǎn)接板的SATA接口與測(cè)試裝置相接。 測(cè)試裝置為SATA信號(hào)傳輸完整性的測(cè)試裝置。
基于SATA和SAS接口技術(shù)的兼容性，SAS信號(hào)通過(guò)SATA數(shù)據(jù)總線輸入到測(cè) 試設(shè)備中就可以得到信號(hào)完整性的結(jié)果。使用時(shí)，硬盤(pán)卡發(fā)出的SAS信號(hào)經(jīng)過(guò)核心轉(zhuǎn)接板通過(guò)數(shù)據(jù)總線通道進(jìn)入測(cè) 試設(shè)備。
信號(hào)完整性的測(cè)試是以眼圖為標(biāo)準(zhǔn)的判斷依據(jù)。使硬盤(pán)卡輸出一個(gè)波形， 測(cè)試設(shè)備會(huì)接收到這個(gè)波形并且產(chǎn)生一組眼圖。當(dāng)產(chǎn)生的藍(lán)色的眼圖線與處于 中央的紅色菱形沒(méi)有接觸發(fā)生時(shí)，可以判定這個(gè)信號(hào)是完整的。
本實(shí)用新型的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置和現(xiàn) 有技術(shù)相比，基于SATA和SAS接口技術(shù)的兼容性，使用原有的SATA信號(hào)傳輸 完整性的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，而不是必須使用專用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè) 試，縮短了測(cè)試時(shí)間，保證測(cè)試結(jié)果的正確性；因而，具有很好的推廣使用價(jià) 值。
以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步說(shuō)明。 附

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)連接框圖。
具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說(shuō)明。 本實(shí)用新型的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置，其 結(jié)構(gòu)包括硬盤(pán)卡、測(cè)試裝置，硬盤(pán)卡與測(cè)試裝置通過(guò)核心轉(zhuǎn)接板相連接，核心 轉(zhuǎn)接板上設(shè)置有Mini SAS接口、 SATA接口和連接兩個(gè)接口的總線通道，硬盤(pán) 卡的Mini SAS接口與核心轉(zhuǎn)接板的Mini SAS接口相接，核心轉(zhuǎn)接板的SATA接 口與測(cè)試裝置相接。
測(cè)試裝置為SATA信號(hào)傳輸完整性的測(cè)試裝置。
基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡發(fā)出的SAS信號(hào)通過(guò)核心轉(zhuǎn)接板進(jìn)入到SATA信 號(hào)傳輸完整性的測(cè)試裝置上，最終得出完整性的測(cè)試結(jié)果。
本實(shí)用新型的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置其加 工制作非常簡(jiǎn)單方便，按說(shuō)明書(shū)附圖所示加工制作即可。
除說(shuō)明書(shū)所述的技術(shù)特征外，均為本專業(yè)技術(shù)人員的已知技術(shù)。
權(quán)利要求1、一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置，包括硬盤(pán)卡、測(cè)試裝置，其特征在于硬盤(pán)卡與測(cè)試裝置通過(guò)核心轉(zhuǎn)接板相連接，核心轉(zhuǎn)接板上設(shè)置有Mini SAS接口、SATA接口和連接兩個(gè)接口的總線通道，硬盤(pán)卡的MiniSAS接口與核心轉(zhuǎn)接板的Mini SAS接口相接，核心轉(zhuǎn)接板的SATA接口與測(cè)試裝置相接。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性 的裝置，其特征在于測(cè)試裝置為SATA信號(hào)傳輸完整性的測(cè)試裝置。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置，屬于一種測(cè)試信號(hào)完整性的裝置，其結(jié)構(gòu)包括硬盤(pán)卡、測(cè)試裝置，硬盤(pán)卡與測(cè)試裝置通過(guò)核心轉(zhuǎn)接板相連接，核心轉(zhuǎn)接板上設(shè)置有Mini SAS接口、SATA接口和連接兩個(gè)接口的總線通道，硬盤(pán)卡的Mini SAS接口與核心轉(zhuǎn)接板的Mini SAS接口相接，核心轉(zhuǎn)接板的SATA接口與測(cè)試裝置相接。本實(shí)用新型的一種測(cè)試基于SAS數(shù)據(jù)總線的硬盤(pán)卡信號(hào)完整性的裝置和現(xiàn)有技術(shù)相比，使用原有的SATA信號(hào)傳輸完整性的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，而不是必須使用專用測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，縮短了測(cè)試時(shí)間，保證測(cè)試結(jié)果的正確性。
文檔編號(hào)G06F11/267GK201435075SQ20092002976
公開(kāi)日2010年3月31日 申請(qǐng)日期2009年7月15日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月15日
發(fā)明者于治樓, 冉宇峰, 梁智豪 申請(qǐng)人:浪潮電子信息產(chǎn)業(yè)股份有限公司