專利名稱：確定計算機(jī)系統(tǒng)的確定性性能提升能力的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及確定計算機(jī)系統(tǒng)的確定性性能提升能力。具體地說，本發(fā)明涉及在基準(zhǔn)測試期間獲取器件電壓裕度并利用器件電壓裕度以便確定系統(tǒng)的保證最小性能提升。
背景技術(shù)：
制造商通常根據(jù)諸如計算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行基準(zhǔn)測試所需的時間量之類的特定準(zhǔn)則來保證計算機(jī)系統(tǒng)的性能特性。這些制造商還可能披露超出計算機(jī)系統(tǒng)的保證特性的非保證的性能增加。

發(fā)明內(nèi)容
在第一方面中，本發(fā)明提供了一種計算機(jī)實現(xiàn)的方法，包括在基準(zhǔn)測試器處檢索與系統(tǒng)內(nèi)包括的器件對應(yīng)的電壓裕度，其中所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限；將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值；響應(yīng)于設(shè)置所述輸入電壓，使用所述基準(zhǔn)測試器對所述系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述功率極限的情況下調(diào)整提供給所述器件的器件頻率和所述輸入電壓；以及響應(yīng)于使用等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的輸入電壓對所述系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試，根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果在所述基準(zhǔn)測試器處記錄所述系統(tǒng)的保證最小性能提升。所述方法還可以包括獲取將所述器件頻率設(shè)為等于標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶的和時所述器件的最小電壓；獲取所述器件在所述標(biāo)稱頻率時的最大電壓；通過將所述最小電壓加上所述最大電壓的和除以2來計算所述標(biāo)稱電壓；通過從所述最大電壓減去所述標(biāo)稱電壓來計算所述電壓裕度；以及存儲所述電壓裕度。所述方法還可以包括將所述器件頻率設(shè)為標(biāo)稱頻率并將所述輸入電壓設(shè)為所述標(biāo)稱電壓；遞增地增加所述輸入電壓，直到所述器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；通過確定超出所述標(biāo)稱電壓的導(dǎo)致所述器件工作在所述功率極限的增加的電壓來計算所述電壓裕度；以及存儲所述電壓裕度。所述方法還可以包括通過在所述基準(zhǔn)測試期間將所述器件頻率設(shè)為所述器件頻率所達(dá)到的最高值并使所述器件頻率保持該最高值來將所述器件設(shè)為絕對頻率提升模式。優(yōu)選地，所述保證最小性能提升是從包括基準(zhǔn)完成時間值以及每秒事務(wù)數(shù)值的組中選擇的值。優(yōu)選地，所述系統(tǒng)包括所述器件和其他器件，所述方法還包括在所述基準(zhǔn)測試器處檢索與所述其他器件對應(yīng)的其他電壓裕度，其中所述其他電壓裕度指示要施加于其他標(biāo)稱電壓上的其他額外電壓量，當(dāng)增加所述其他額外電壓量時，將導(dǎo)致所述其他器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；將所述其他器件的其他輸入電壓設(shè)為等于所述其他電壓裕度與所述其他標(biāo)稱電壓的和的其他值；響應(yīng)于設(shè)置所述其他輸入電壓，使用所述基準(zhǔn)測試器對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括調(diào)整提供給所述器件和所述其他器件的器件頻率，以及調(diào)整所述輸入電壓和所述其他輸入電壓，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率極限；以及根據(jù)對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)的基準(zhǔn)測試記錄系統(tǒng)保證最小性能提升。優(yōu)選地，熱功率管理器件在監(jiān)視所述器件的功率輸出的同時執(zhí)行對所述器件頻率和所述輸入電壓的調(diào)整。在第二方面中，提供了一種信息處理系統(tǒng)，包括一個或多個處理器；存儲器，其可由所述處理器中的至少一個處理器訪問；非易失性存儲區(qū)，其可由所述處理器中的至少一個處理器訪問；一組指令，其存儲在所述存儲器中并由所述處理器中的至少一個處理器執(zhí)行以完成以下操作從所述非易失性存儲區(qū)檢索與計算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)包括的器件對應(yīng)的電壓裕度，其中所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限；將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值；響應(yīng)于設(shè)置所述輸入電壓，對所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述功率極限的情況下調(diào)整提供給所述器件的器件頻率和所述輸入電壓；以及響應(yīng)于使用等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的輸入電壓對所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試，根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果記錄所述計算機(jī)系統(tǒng)的保證最小性能提升。優(yōu)選地，所述一組指令完成以下操作獲取將所述器件頻率設(shè)為等于標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶的和時所述器件的最小電壓；獲取所述器件在所述標(biāo)稱頻率時的最大電壓；通過將所述最小電壓加上所述最大電壓的和除以2來計算所述標(biāo)稱電壓；通過從所述最大電壓減去所述標(biāo)稱電壓來計算所述電壓裕度；以及將所述電壓裕度存儲在所述非易失性存儲區(qū)內(nèi)。優(yōu)選地，所述一組指令完成以下操作將所述器件頻率設(shè)為標(biāo)稱頻率并將所述輸入電壓設(shè)為所述標(biāo)稱電壓；遞增地增加所述輸入電壓，直到所述器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；通過確定超出所述標(biāo)稱電壓的導(dǎo)致所述器件工作在所述功率極限的增加的電壓來計算所述電壓裕度；以及將所述電壓裕度存儲在所述非易失性存儲區(qū)內(nèi)。優(yōu)選地，所述一組指令完成以下操作通過在所述基準(zhǔn)測試期間將所述器件頻率設(shè)為所述器件頻率所達(dá)到的最高值并使所述器件頻率保持該最高值來將所述器件設(shè)為絕對頻率提升模式。優(yōu)選地，所述保證最小性能提升是從包括基準(zhǔn)完成時間值以及每秒事務(wù)數(shù)值的組中選擇的值。優(yōu)選地，所述計算機(jī)系統(tǒng)包括所述器件和其他器件，所述一組指令完成以下操作從所述非易失性存儲區(qū)檢索與所述其他器件對應(yīng)的其他電壓裕度，其中所述其他電壓裕度指示要施加于其他標(biāo)稱電壓上的其他額外電壓量，當(dāng)增加所述其他額外電壓量時，將導(dǎo)致所述其他器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；將所述其他器件的其他輸入電壓設(shè)為等于所述其他電壓裕度與所述其他標(biāo)稱電壓的和的其他值；響應(yīng)于設(shè)置所述其他輸入電壓，對包括所述器件和所述其他器件的所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括調(diào)整提供給所述器件和所述其他器件的器件頻率， 以及調(diào)整所述輸入電壓和所述其他輸入電壓，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率極限；以及根據(jù)對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)的基準(zhǔn)測試記錄系統(tǒng)保證最小性能提升。優(yōu)選地，熱功率管理器件在監(jiān)視所述器件的功率輸出的同時執(zhí)行對所述器件頻率和所述輸入電壓的調(diào)整。在第三方面中，提供了一種包括計算機(jī)程序代碼的計算機(jī)程序，當(dāng)所述計算機(jī)程序被加載到計算機(jī)系統(tǒng)中并在其上執(zhí)行時，將導(dǎo)致所述計算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行第一方面的方法的步驟?？梢砸源鎯υ谟嬎銠C(jī)可讀介質(zhì)中的計算機(jī)程序產(chǎn)品的形式提供所述計算機(jī)程序， 所述計算機(jī)程序包括功能描述物質(zhì)，當(dāng)由信息處理系統(tǒng)執(zhí)行時，將導(dǎo)致所述信息處理系統(tǒng)完成以下操作檢索與系統(tǒng)內(nèi)包括的器件對應(yīng)的電壓裕度，其中所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限；將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值；響應(yīng)于設(shè)置所述輸入電壓，對所述系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述功率極限的情況下調(diào)整提供給所述器件的器件頻率和所述輸入電壓；以及響應(yīng)于使用等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的輸入電壓對所述系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試，根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果記錄所述系統(tǒng)的保證最小性能提升。在一個優(yōu)選實施例中，基準(zhǔn)測試器檢索與系統(tǒng)所包括的器件對應(yīng)的電壓裕度。所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，其導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限。接下來，所述基準(zhǔn)測試器(或熱功率管理器件)將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值。然后，所述基準(zhǔn)測試器對所述系統(tǒng)執(zhí)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述器件的功率極限的情況下調(diào)整所述器件的頻率和輸入電壓。接下來，所述基準(zhǔn)測試器根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果記錄所述系統(tǒng)的保證最小性能提升。上述內(nèi)容只是概述，因此必然包含對詳細(xì)內(nèi)容的簡化、概括和省略；因此，本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，所述概述只是示例性的，并非旨在以任何方式進(jìn)行限制。


通過參考附圖，可以更好地理解本發(fā)明，并且本發(fā)明的眾多目的、特性和優(yōu)點對于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言將變得顯而易見，所述附圖是圖1是示出在制造測試期間計算器件的電壓裕度的器件測試器的示意圖；圖2是示出基準(zhǔn)測試器對系統(tǒng)進(jìn)行測試以確定系統(tǒng)的保證最小性能提升能力的示意圖；圖3是將電壓裕度添加到器件的標(biāo)稱電壓-頻率曲線的圖形表示；圖4是示出不同器件使用不同電壓裕度值以便在特定頻率和工作負(fù)荷條件下達(dá)到功率極限的圖形表示；圖5是示出在確定系統(tǒng)的保證最小頻率增加中采取的步驟的高級流程圖；圖6是示出在計算器件的電壓裕度的實施例中采取的步驟的流程圖；圖7是示出在對包括一個或多個器件的系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試以確定系統(tǒng)的保證最小性能提升能力中采取的步驟的流程圖；以及圖8是示出在沒有制造測試信息的情況下獲取器件的電壓裕度中采取的步驟的流程圖。
具體實施例方式下面的說明和附圖列出了某些特定的詳細(xì)內(nèi)容以便全面理解本發(fā)明的各種實施例。但是在下面的披露中，并未給出經(jīng)常與計算和軟件技術(shù)關(guān)聯(lián)的一些公知的詳細(xì)說明以避免不必要地使本發(fā)明的各種實施例模糊不清。進(jìn)而，本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，可以在沒有下文所述的一個或多個細(xì)節(jié)的情況下實現(xiàn)本發(fā)明的其他實施例。最后，盡管參考下文中的步驟和順序描述了各種方法，但是此描述是為了清晰地提供本發(fā)明實施例的實施方式， 所述步驟與步驟序列不應(yīng)被視為實現(xiàn)本發(fā)明的必要條件。相反，下文旨在提供對本發(fā)明的實例的詳細(xì)描述，不應(yīng)被視為對發(fā)明本身的限制。相反，任意數(shù)量的變型都可落入由說明書后的權(quán)利要求限定的本發(fā)明的范圍之內(nèi)。圖1是示出在制造測試期間計算器件的電壓裕度的器件測試器的示意圖。如本文所述，電壓裕度是施加于器件的標(biāo)稱電壓上的導(dǎo)致器件在以標(biāo)稱頻率執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在器件的功率極限的電壓(參見圖6和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。器件測試器100向器件110提供測試程序120、頻率130(例如時鐘信號)以及電壓140。測試程序120是以各種方式(如測試競爭條件和對器件110的各部分加壓)測試器件110的程序。頻率130和電壓140分別為器件測試器100在制造測試期間調(diào)整的系統(tǒng)時鐘和電源電壓。為了確定器件110的最小工作電壓，器件測試器100以等于標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶(例如8% )的速率提供頻率130，并且提供執(zhí)行器件110的最壞情況計時路徑的測試程序120。器件測試器100降低電壓140，直到器件110在計時路徑測試之一處出現(xiàn)故障。 此時，電壓140為器件110的最小工作電壓，器件測試器100記錄該最小工作電壓。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，可以根據(jù)技術(shù)、可靠性要求、電路故障和/或其他準(zhǔn)則來設(shè)置最小工作電壓。為了確定器件110的最大電壓，器件測試器100以等于標(biāo)稱頻率的速率提供頻率 130，并且提供在器件110上執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷的測試程序120。接下來，器件測試器100增大電壓140，直到器件測試器100檢測到功率150達(dá)到器件110的額定功率極限， 此極限是器件110的熱設(shè)計規(guī)范指定的參數(shù)。此時，電壓140是器件110的最大電壓，器件測試器100記錄該最大電壓。器件測試器100使用最小電壓和最大電壓來計算器件110的電壓裕度(參見圖6 和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，用戶可以使用其他方法計算器件110的電壓裕度，如圖8中所示的方法。一旦器件測試器100計算并記錄了器件110的電壓裕度，基準(zhǔn)測試器就測試包括器件110的系統(tǒng)以確定計算機(jī)系統(tǒng)的保證最小性能提升。本領(lǐng)域的技術(shù)人員將理解，計算機(jī)系統(tǒng)可以包括多個器件和/或熱功率管理器件(TPMD)(參見圖2、5、7和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。圖2是示出基準(zhǔn)測試器對系統(tǒng)進(jìn)行測試以確定系統(tǒng)的保證最小性能提升能力的示意圖。系統(tǒng)200包括器件A 210、器件B 220以及熱功率管理器件(TPMD) 230。TPMD 230 控制提供給器件A 210和器件B 220的電壓和頻率。此外，TPMD 230通過功率A 290和功率B 295監(jiān)視每個器件的功耗。電壓裕度存儲區(qū)160包括器件A 210和器件B 220的先前計算的電壓裕度(參見圖1和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)?；鶞?zhǔn)測試器240是一種信息處理系統(tǒng)，它包括一個或多個處理器以及計算機(jī)存儲器，其能夠執(zhí)行此處所述的計算操作?；鶞?zhǔn)測試器240始于初始化系統(tǒng)200并將基準(zhǔn)測試程序沈0、電壓裕度A 265以及電壓裕度B 270提供給系統(tǒng)200。系統(tǒng)200將基準(zhǔn)測試程序260加載到器件A 210和器件B220上，所述程序在各種基準(zhǔn)條件下測試器件。TPMD 230分別將電壓裕度A 265和電壓裕度B 270添加到器件A 210和器件B 220的標(biāo)稱電壓之上。 這樣。TPMD 230將值等于電壓裕度A 265與器件A 210的標(biāo)稱電壓之和的輸入電壓280提供給器件A 210。依次地，TPMD 230將值等于電壓裕度B 270與器件B 220的標(biāo)稱電壓之和的輸入電壓285提供給器件B220。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解，電壓280和285可以是不同的電壓電平。在基準(zhǔn)測試期間，TPMD 230動態(tài)地調(diào)整頻率275、輸入電壓280以及輸入電壓觀5， 同時監(jiān)視功率A 290和功率B 295以確保每個器件都不會超過其功率極限。一旦基準(zhǔn)測試完成，TPMD 230便將基準(zhǔn)測試結(jié)果299提供給基準(zhǔn)測試器M0。例如，基準(zhǔn)測試結(jié)果299可以以完成基準(zhǔn)測試所需的時間量(基準(zhǔn)測試完成時間)、每秒事務(wù)數(shù)或某些其他度量來表示?；鶞?zhǔn)測試器240將該值(其是系統(tǒng)200的保證最小性能提升)存儲在性能存儲區(qū)250 中。因此，制造商可以保證系統(tǒng)200工作在等于測試下基準(zhǔn)的保證最小性能提升的最小性能(參見圖5和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。圖3是將電壓裕度添加到器件的標(biāo)稱電壓-頻率曲線的圖形表示。圖300包括標(biāo)稱曲線320，該曲線插入了器件制造測試所獲取的電壓-頻率圖。由于制造工藝中的異常， 每個器件可能沒有相同的標(biāo)稱曲線320。器件可以將標(biāo)稱曲線320的值存儲為重要產(chǎn)品數(shù)據(jù)或BIOS數(shù)據(jù)，熱功率管理器件將使用這些值來提供特定頻率處的適當(dāng)電壓。電壓裕度340表示要在最壞情況功率工作負(fù)荷條件以及特定頻率下添加到器件的標(biāo)稱電壓上的所計算或測量的電壓值，其將使器件達(dá)到器件的功率極限?？梢钥闯?，將電壓裕度340添加到標(biāo)稱曲線320上將生成新的調(diào)整后的曲線360。在基準(zhǔn)測試期間，熱功率管理器件在監(jiān)視器件功率的同時利用調(diào)整后的曲線360上的點來確定系統(tǒng)的保證最小性能提升(參見圖2、7和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。圖4是示出不同器件使用不同電壓裕度值以便在特定頻率和工作負(fù)荷條件下達(dá)到功率極限的圖形表示。基于制造工藝中的異常，相似的器件類型可能需要不同的標(biāo)稱電壓以達(dá)到最佳功能。這又導(dǎo)致不同的器件在特定的頻率和工作負(fù)荷的情況下產(chǎn)生不同的功率級別。圖4示出了器件A 410、B 430和C 450在其各自的標(biāo)稱電壓下的功率輸出。當(dāng)器件A 410工作在其標(biāo)稱電壓時，它會產(chǎn)生功率An。m 415。當(dāng)器件B 430工作在其標(biāo)稱電壓時，它會產(chǎn)生功率Bn。m 435。當(dāng)器件C 450工作在其標(biāo)稱電壓時，它會產(chǎn)生功率Cn。m 455。在一個實施例中，制造商計算導(dǎo)致每個器件工作在功率極限470的每個器件的電壓裕度?？梢钥闯觯?dāng)器件A 410以等于其標(biāo)稱電壓與電壓裕度的和的電壓電平工作時，器件A 410將產(chǎn)生是功率An。m415加上功率Α·420的和的功率。同樣，當(dāng)器件B 430以等于其標(biāo)稱電壓與電壓裕度的和的電壓電平工作時，器件B 430將產(chǎn)生等于功率Bn。m435加上功率 Β·440的和的功率。以及，當(dāng)器件C 450以等于其標(biāo)稱電壓與電壓裕度的和的電壓電平工作時，器件C 450將產(chǎn)生等于功率Cn。m455加上功率Cma,460的和的功率?？梢钥闯?，由于每個器件在其各自的標(biāo)稱電壓下都產(chǎn)生不同的功率級別，因此每個器件都需要產(chǎn)生不同額外功率量的不同電壓裕度以便達(dá)到功率極限470。圖5是示出在確定系統(tǒng)的保證最小性能提升能力中采取的步驟的高級流程圖。過程從500開始，隨后所述過程在步驟510選擇器件(例如處理器)。所述過程繼續(xù)執(zhí)行一系列步驟以在制造測試期間計算器件的電壓裕度(預(yù)定義的過程方塊520，參見圖6和相應(yīng)的文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。在一個實施例中，所述過程通過遞增地增加器件的電源電壓，直到器件工作在功率極限來確定電壓裕度(參見圖8和相應(yīng)的文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。一旦所述過程計算出電壓裕度，所述過程就判定是否有更多器件要測試(決策 530)。如果有更多器件要測試，則決策530轉(zhuǎn)向“是”分支532，此分支將循環(huán)返回以選擇和處理另一器件。此循環(huán)將一直繼續(xù)，直到?jīng)]有更多的器件需要測試，此時決策530轉(zhuǎn)向“否” 分支538。在步驟M0，所述過程使用一個或多個經(jīng)過測試的器件建立系統(tǒng)。所述系統(tǒng)可以包括多個器件并且還可以包括管理每個器件的電壓、頻率以及功率極限的熱功率管理器件 (參見圖2和相應(yīng)的文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。一旦建立完成，所述過程便繼續(xù)執(zhí)行一系列步驟以對系統(tǒng)執(zhí)行基準(zhǔn)測試。在基準(zhǔn)測試期間，所述過程動態(tài)地更改器件頻率和輸入電壓，同時維持每個器件的功率級別(預(yù)定義的過程方塊550，參見圖7和相應(yīng)的文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。在步驟560，所述過程將基準(zhǔn)測試結(jié)果報告為保證最小性能提升。例如，所述保證最小性能提升可以是基準(zhǔn)測試完成時間值或每秒的事務(wù)數(shù)值。所述過程判定是否將系統(tǒng)配置為絕對頻率提升模式(決策570)。此配置在基準(zhǔn)測試期間將器件頻率設(shè)為器件頻率所達(dá)到的最高值并維持該最高值。例如，如果在基準(zhǔn)測試期間達(dá)到的最高頻率為4. 12GHz，則當(dāng)用戶調(diào)用絕對頻率提升模式時，所述過程將包括每個所述器件的系統(tǒng)配置為恰好工作在4. 12GHz。如果所述過程將系統(tǒng)配置為絕對頻率提升模式，則決策570轉(zhuǎn)向“是”分支572，在該分支上，所述過程將系統(tǒng)配置為當(dāng)用戶將系統(tǒng)置于提升模式時，所述系統(tǒng)工作在固定的增加后的頻率(步驟580)。另一方面，如果所述過程不將系統(tǒng)配置為絕對頻率提升模式，則決策570轉(zhuǎn)向 “否”分支578，繞過配置步驟580，并且所述過程在590結(jié)束。圖6是示出在計算器件的電壓裕度的實施例中采取的步驟的流程圖。器件測試過程從600開始，隨后所述過程在步驟610啟動器件。在步驟620，所述過程獲取最小電壓， 在所述最小電壓時，工作在標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶的器件內(nèi)的電路計時失敗。在步驟 630，所述過程獲取最大電壓，在所述最大電壓時，器件以標(biāo)稱頻率執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時產(chǎn)生達(dá)到器件的額定功率極限的功率量。一旦所述過程獲取了最小電壓和最大電壓，所述過程就通過將最小電壓與最大電壓的和除以2來計算標(biāo)稱電壓(步驟640)。接下來，所述過程通過從最大電壓減去標(biāo)稱電壓來計算電壓裕度(步驟650)。在步驟660，所述過程將器件的電壓裕度存儲在電壓裕度存儲區(qū)160內(nèi)，然后過程在670返回。圖7是示出在對包括一個或多個器件的系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試以確定系統(tǒng)的保證最小性能提升能力中采取的步驟的流程圖。基準(zhǔn)測試過程從700開始，隨后所述過程檢索系統(tǒng)所包括的每個器件的電壓裕度。例如，如果系統(tǒng)包括兩個器件，則所述過程檢索兩個不同的電壓裕度。在步驟720，所述過程通過將每個器件各自的電壓裕度添加到它們各自的標(biāo)稱電壓上來將每個器件的電源電壓設(shè)為它們的最大功率管理電壓。例如，器件“A”可具有1. 2伏的標(biāo)稱電壓和.3伏的電壓裕度以及器件“B”可具有1. 4伏的標(biāo)稱電壓和.4伏的電壓裕度。在此實例中，所述過程將器件A的輸入電壓設(shè)為1.5伏(1.2+. 以及將器件B的輸入電壓設(shè)為1. 8伏(1. 4+. 4)。過程在步驟730開始基準(zhǔn)測試。在基準(zhǔn)測試期間，所述過程(例如，使用熱功率管理器件(TPMD))在步驟740動態(tài)地調(diào)節(jié)器件電壓和頻率，同時維持每個器件的功率極限。一旦基準(zhǔn)測試完成，所述過程便在性能存儲區(qū)250內(nèi)記錄測試性能，所述測試性能包括一個或多個器件達(dá)到其功率極限時的頻率(步驟750)。所述過程在760返回。圖8是示出在沒有來自制造測試的電壓裕度信息的情況下獲取器件的電壓裕度中采取的步驟的流程圖。測試過程從800開始，隨后所述過程在步驟810啟動器件。在步驟820，所述過程將器件頻率設(shè)為標(biāo)稱頻率以及將器件電壓設(shè)為標(biāo)稱電壓。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解，用戶可以從數(shù)據(jù)表或總體公共信息中獲取這些值。所述過程將電壓裕度施加于標(biāo)稱電壓上以使器件工作在更高的電壓(步驟830)。 所述過程執(zhí)行此步驟以便確定器件工作在器件的功率極限時的電壓(參見下文)。在步驟 840，所述過程對器件執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷測試，并且在步驟850，所述過程記錄器件的插座功耗。所述過程判定插座功率是否達(dá)到器件的功率極限(決策860)。如果插座功率未達(dá)到器件的功率極限，則決策860轉(zhuǎn)向“否”分支862，此分支將循環(huán)返回以增大電壓裕度(步驟870)并再次執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷。此循環(huán)將一直繼續(xù)，直到插座功率達(dá)到功率極限，此時決策860轉(zhuǎn)向“是”分支868.所述過程將導(dǎo)致器件達(dá)到功率極限的電壓裕度值存儲在電壓裕度存儲區(qū)160內(nèi) (步驟880)，然后所述過程在890結(jié)束。器件現(xiàn)在可供插入系統(tǒng)內(nèi)以進(jìn)行基準(zhǔn)測試(參見圖7和相應(yīng)文字以了解進(jìn)一步的詳細(xì)信息)。本發(fā)明的優(yōu)選實施方式之一是可以例如駐留在計算機(jī)的隨機(jī)存取存儲器中的一組指令(程序代碼)或位于代碼模塊中的其他功能描述性物質(zhì)。在計算機(jī)需要時，所述一組指令可以存儲在另一計算機(jī)存儲器，例如，硬盤驅(qū)動器中，或存儲在諸如光盤(用于最終在⑶ROM中使用)或軟盤(用于最終在軟盤驅(qū)動器中使用)之類的可移動存儲器中。因此，本發(fā)明可以實現(xiàn)為在計算機(jī)中使用的計算機(jī)程序產(chǎn)品。此外，盡管所述的各種方法可以在由軟件選擇性地激活或重新配置的通用計算機(jī)中方便地實現(xiàn)，但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員還將認(rèn)識到，這些方法可以以硬件、固件或構(gòu)建為執(zhí)行所需方法步驟的更專用的裝置來執(zhí)行。 功能描述性物質(zhì)是將功能賦予計算機(jī)的信息。功能描述性物質(zhì)包括但不限于計算機(jī)程序、 指令、規(guī)則、事實、可計算功能的定義、對象以及數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)。盡管示出并描述了本發(fā)明的特定實施例，但是對本領(lǐng)域的技術(shù)人員將顯而易見的是，基于此處的教導(dǎo)，可以在不偏離本發(fā)明及其更廣的方面的情況下做出更改和修改。
1權(quán)利要求
1.一種計算機(jī)實現(xiàn)的方法，包括在基準(zhǔn)測試器處檢索與系統(tǒng)內(nèi)包括的器件對應(yīng)的電壓裕度，其中所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限；將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值； 響應(yīng)于設(shè)置所述輸入電壓，使用所述基準(zhǔn)測試器對所述系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述功率極限的情況下調(diào)整提供給所述器件的器件頻率和所述輸入電壓；以及響應(yīng)于使用等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的輸入電壓對所述系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試，根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果在所述基準(zhǔn)測試器處記錄所述系統(tǒng)的保證最小性能提升。
2.如權(quán)利要求1中所述的方法，還包括獲取將所述器件頻率設(shè)為等于標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶的和時所述器件的最小電壓；獲取所述器件在所述標(biāo)稱頻率時的最大電壓；通過將所述最小電壓加上所述最大電壓的和除以2來計算所述標(biāo)稱電壓； 通過從所述最大電壓減去所述標(biāo)稱電壓來計算所述電壓裕度；以及存儲所述電壓裕度。
3.如權(quán)利要求1或2中所述的方法，還包括將所述器件頻率設(shè)為標(biāo)稱頻率并將所述輸入電壓設(shè)為所述標(biāo)稱電壓； 遞增地增加所述輸入電壓，直到所述器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；通過確定超出所述標(biāo)稱電壓的導(dǎo)致所述器件工作在所述功率極限的增加的電壓來計算所述電壓裕度；以及存儲所述電壓裕度。
4.如權(quán)利要求1至3中的任一權(quán)利要求中所述的方法，還包括通過在所述基準(zhǔn)測試期間將所述器件頻率設(shè)為所述器件頻率所達(dá)到的最高值并使所述器件頻率保持該最高值來將所述器件設(shè)為絕對頻率提升模式。
5.如任一先前權(quán)利要求中所述的方法，其中所述保證最小性能提升是從包括基準(zhǔn)完成時間值以及每秒事務(wù)數(shù)值的組中選擇的值。
6.如任一先前權(quán)利要求中所述的方法，其中所述系統(tǒng)包括所述器件和其他器件，所述方法還包括在所述基準(zhǔn)測試器處檢索與所述其他器件對應(yīng)的其他電壓裕度，其中所述其他電壓裕度指示要施加于其他標(biāo)稱電壓上的其他額外電壓量，當(dāng)增加所述其他額外電壓量時，將導(dǎo)致所述其他器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；將所述其他器件的其他輸入電壓設(shè)為等于所述其他電壓裕度與所述其他標(biāo)稱電壓的和的其他值；響應(yīng)于設(shè)置所述其他輸入電壓，使用所述基準(zhǔn)測試器對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括調(diào)整提供給所述器件和所述其他器件的器件頻率，以及調(diào)整所述輸入電壓和所述其他輸入電壓，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率極限；以及根據(jù)對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)的基準(zhǔn)測試記錄系統(tǒng)保證最小性能提升。
7.如任一先前權(quán)利要求中所述的方法，其中熱功率管理器件在監(jiān)視所述器件的功率輸出的同時執(zhí)行對所述器件頻率和所述輸入電壓的調(diào)整。
8.一種信息處理系統(tǒng)，包括 一個或多個處理器；存儲器，其可由所述處理器中的至少一個處理器訪問； 非易失性存儲區(qū)，其可由所述處理器中的至少一個處理器訪問； 一組指令，其存儲在所述存儲器中并由所述處理器中的至少一個處理器執(zhí)行以完成以下操作從所述非易失性存儲區(qū)檢索與計算機(jī)系統(tǒng)內(nèi)包括的器件對應(yīng)的電壓裕度，其中所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限；將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值； 響應(yīng)于設(shè)置所述輸入電壓，對所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述功率極限的情況下調(diào)整提供給所述器件的器件頻率和所述輸入電壓；以及響應(yīng)于使用等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的輸入電壓對所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行基準(zhǔn)測試，根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果記錄所述計算機(jī)系統(tǒng)的保證最小性能提升。
9.如權(quán)利要求8中所述的信息處理系統(tǒng)，其中所述一組指令完成以下操作獲取將所述器件頻率設(shè)為等于標(biāo)稱頻率加上頻率保護(hù)頻帶的和時所述器件的最小電壓；獲取所述器件在所述標(biāo)稱頻率時的最大電壓；通過將所述最小電壓加上所述最大電壓的和除以2來計算所述標(biāo)稱電壓； 通過從所述最大電壓減去所述標(biāo)稱電壓來計算所述電壓裕度；以及將所述電壓裕度存儲在所述非易失性存儲區(qū)內(nèi)。
10.如權(quán)利要求8或9中所述的信息處理系統(tǒng)，其中所述一組指令完成以下操作 將所述器件頻率設(shè)為標(biāo)稱頻率并將所述輸入電壓設(shè)為所述標(biāo)稱電壓；遞增地增加所述輸入電壓，直到所述器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；通過確定超出所述標(biāo)稱電壓的導(dǎo)致所述器件工作在所述功率極限的增加的電壓來計算所述電壓裕度；以及將所述電壓裕度存儲在所述非易失性存儲區(qū)內(nèi)。
11.如權(quán)利要求8至10中的任一權(quán)利要求中所述的信息處理系統(tǒng)，其中所述一組指令完成以下操作通過在所述基準(zhǔn)測試期間將所述器件頻率設(shè)為所述器件頻率所達(dá)到的最高值并使所述器件頻率保持該最高值來將所述器件設(shè)為絕對頻率提升模式。
12.如權(quán)利要求8至11中的任一權(quán)利要求中所述的信息處理系統(tǒng)，其中所述保證最小性能提升是從包括基準(zhǔn)完成時間值以及每秒事務(wù)數(shù)值的組中選擇的值。
13.如權(quán)利要求8至12中的任一權(quán)利要求中所述的信息處理系統(tǒng)，其中所述計算機(jī)系統(tǒng)包括所述器件和其他器件，所述一組指令完成以下操作從所述非易失性存儲區(qū)檢索與所述其他器件對應(yīng)的其他電壓裕度，其中所述其他電壓裕度指示要施加于其他標(biāo)稱電壓上的其他額外電壓量，當(dāng)增加所述其他額外電壓量時，將導(dǎo)致所述其他器件在執(zhí)行所述最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在所述功率極限；將所述其他器件的其他輸入電壓設(shè)為等于所述其他電壓裕度與所述其他標(biāo)稱電壓的和的其他值；響應(yīng)于設(shè)置所述其他輸入電壓，對包括所述器件和所述其他器件的所述計算機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括調(diào)整提供給所述器件和所述其他器件的器件頻率，以及調(diào)整所述輸入電壓和所述其他輸入電壓，直到所述器件或所述其他器件工作在所述功率極限；以及根據(jù)對包括所述器件和所述其他器件的所述系統(tǒng)的基準(zhǔn)測試記錄系統(tǒng)保證最小性能提升。
14.如權(quán)利要求8至13中的任一權(quán)利要求中所述的信息處理系統(tǒng)，其中熱功率管理器件在監(jiān)視所述器件的功率輸出的同時執(zhí)行對所述器件頻率和所述輸入電壓的調(diào)整。
15.一種包括計算機(jī)程序代碼的計算機(jī)程序，當(dāng)所述計算機(jī)程序被加載到計算機(jī)系統(tǒng)中并在其上執(zhí)行時，將導(dǎo)致所述計算機(jī)系統(tǒng)執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中的任一權(quán)利要求中所述的方法的所有步驟。
全文摘要
基準(zhǔn)測試器檢索與系統(tǒng)所包括的器件對應(yīng)的電壓裕度。所述電壓裕度指示要施加于標(biāo)稱電壓上的額外電壓量，當(dāng)增加所述額外電壓量時，將導(dǎo)致所述器件在執(zhí)行最壞情況功率工作負(fù)荷時工作在功率極限。接下來，所述基準(zhǔn)測試器(或熱功率管理器件)將所述器件的輸入電壓設(shè)為等于所述電壓裕度與所述標(biāo)稱電壓的和的值。然后，所述基準(zhǔn)測試器對所述系統(tǒng)執(zhí)行動態(tài)基準(zhǔn)測試，所述測試包括在確保所述器件不超過所述器件的功率極限的情況下調(diào)整所述器件的頻率和輸入電壓。接下來，所述基準(zhǔn)測試器根據(jù)所述基準(zhǔn)測試的結(jié)果記錄所述系統(tǒng)的保證最小性能提升。
文檔編號G06F11/24GK102216907SQ200980145205
公開日2011年10月12日 申請日期2009年11月11日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月20日
發(fā)明者H·蔡斯, J·D·弗里德里希, M·S·弗洛伊德, M·S·韋爾, N·K·詹姆斯, R·維拉曼, S·P·哈特曼, S·吉亞斯 申請人:國際商業(yè)機(jī)器公司