專利名稱：一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種精度提高方法，尤其是涉及一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法。
背景技術(shù)：
空間數(shù)據(jù)幾何糾正中，需要首先利用控制點(diǎn)來(lái)計(jì)算轉(zhuǎn)換模型參數(shù)，然后根據(jù)轉(zhuǎn)換參數(shù)實(shí)現(xiàn)地籍圖上所有界址點(diǎn)的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，實(shí)現(xiàn)地籍圖上空間數(shù)據(jù)的更新和精度提高。其中控制點(diǎn)由GPS實(shí)測(cè)的地面控制點(diǎn)坐標(biāo)(X，Y)和對(duì)應(yīng)地籍圖上的同名點(diǎn)圖上坐標(biāo)(x，y)構(gòu)成。常用轉(zhuǎn)換模型包括平移變換、平移加縮放變換、相似變換、仿射變換和多項(xiàng)式變換模型等。平移變換模型為
權(quán)利要求
1. 一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法，該方法同時(shí)考慮實(shí)測(cè)點(diǎn)和圖上點(diǎn)的誤差，考慮系數(shù)陣誤差的總體最小二乘平差模型為
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法，其特征在于，所述的步驟5)中的單位權(quán)方差如下
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于總體最/J· 于，所述的步驟5)中的單位權(quán)方差如下 由權(quán)利要求1推導(dǎo)過(guò)程可知
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法，其特征在于，所述的步驟5)中的檢核點(diǎn)點(diǎn)位中誤差如下把地面控制點(diǎn)劃分成兩部分，一部分作為參與平差計(jì)算轉(zhuǎn)換參數(shù)的控制點(diǎn)，一部分作為未參與平差的檢核點(diǎn)；令圖上點(diǎn)糾正后坐標(biāo)為(χ/，y/ )，設(shè)糾正后坐標(biāo)與檢核點(diǎn)實(shí)測(cè)坐標(biāo)偏差為(AXi， 由此可以得到X，Y方向的坐標(biāo)中誤差以及點(diǎn)位中誤差為
全文摘要
本發(fā)明涉及一種基于總體最小二乘的空間數(shù)據(jù)精度提高方法，1)計(jì)算迭代初值；2)迭代計(jì)算和的值；3)重復(fù)第二步直到滿足條件其中ε是給定的閾值；4)滿足迭代條件后，計(jì)算參數(shù)平差值及觀測(cè)值改正數(shù)；5)通過(guò)單位權(quán)方差與檢核點(diǎn)點(diǎn)位中誤差來(lái)檢驗(yàn)進(jìn)度。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有同時(shí)考慮實(shí)測(cè)點(diǎn)和圖上點(diǎn)的誤差，并能進(jìn)一步提高空間數(shù)據(jù)的精度等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G06F17/00GK102222058SQ201010148258
公開(kāi)日2011年10月19日 申請(qǐng)日期2010年4月15日 優(yōu)先權(quán)日2010年4月15日
發(fā)明者梁丹, 童小華, 金雁敏 申請(qǐng)人:同濟(jì)大學(xué)